partial defectとは 意味・読み方・使い方

To accurately recognize a defect even under presence of a part of different pattern or a partial shading part.例文帳に追加

パターンの違い部分や、部分的な濃淡部分の存在のもとでも、欠陥を正確に認識できるようにする。 - 特許庁

METHOD FOR PARTIALLY FORMING THIN FILM, THIN FILM FORMING MATERIAL, METHOD FOR RESTORING PARTIAL DEFECT OF THIN FILM, COLOR FILTER FOR LIQUID CRYSTAL PANEL AND DEVICE FOR RESTORING DEFECT OF THIN FILM例文帳に追加

部分的薄膜形成方法、薄膜形成材料および薄膜の部分的欠陥修復方法、液晶パネル用カラーフィルタならびに薄膜の欠陥修復装置 - 特許庁

When defect information is not contained in the data which is read out from the compact memory 120, data in the corresponding partial address space is not transferred.例文帳に追加

コンパクトメモリ１２０から読み出されたデータに不良情報がなければ、対応する部分アドレス空間のデータは転送されない。 - 特許庁

To provide a system for detecting, particularly, a wiring defect, a partial discharge of a cable, or an arc discharge, and its method for a system and a method, for detecting the wiring defect generally.例文帳に追加

本発明は、一般に、配線の欠陥を検出するシステム及び方法に関し、より詳細には、配線又はケーブルの部分放電又はアーク放電を検出するシステム及び方法に関する。 - 特許庁

To provide a display panel and manufacturing method therefor, capable of easily detecting a partial defect generated in an external part of a substrate.例文帳に追加

基板の外形部分に発生した部分的な欠陥を容易に検出することができる表示パネル、及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect-free method for the both-side emboss processing of a sheet based on partial acetalized polyvinyl alcohol.例文帳に追加

部分アセタール化ポリビニルアルコールを基礎とするシートの両側エンボス加工のための方法であって、前記の欠点を有さない方法を提供する。 - 特許庁

Inspection results detected under the plurality of defect detecting conditions are found preliminarily by changing a parameter of the defect detecting condition for detecting the defect based on a Gray level difference between corresponding partial images in the two inspection images, and the optimum inspection result is selected out of the plurality of inspection results.例文帳に追加

２つの検査画像の対応する部分画像のグレイレベル差から欠陥を検出するための欠陥検出条件のパラメータを変えて、複数の欠陥検出条件で検出した検出結果を求めておき、これら複数の検査結果のうちから選んで最適な検出結果を得る。 - 特許庁

To provide a defect inspection method discovering early a VA pattern formation defective substrate by detecting a partial VA deficiency of VA having a line width of 5-10 μm, and improving a line production efficiency, and also to provide a defect inspection device to which the defect inspection method is adapted.例文帳に追加

線幅５μｍ〜１０μｍのＶＡの、部分ＶＡ欠損を検出することで、ＶＡパターン形成不良基板を早期に発見し、ラインの生産効率を向上させることが可能な欠陥検査方法、および、この欠陥検査方法を適応した欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁