photo-resist orとは 意味・読み方・使い方
追加できません
(登録数上限)
意味・対訳 光抵抗器
「photo-resist or」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 61件
A photo resist pattern formation process of forming the photo resist pattern by exposing the photo resist film 18 in a pattern form and further developing the photo resist film 18 is performed separately two or more times.例文帳に追加
そして、フォトレジスト膜18をパターン形状に露光し、更に、フォトレジスト膜18を現像することによりフォトレジストパターンを形成するフォトレジストパターン形成工程を、2回以上に分けて行う。 - 特許庁
The photo-resist 20 can be used as negative or positive according to its purpose.例文帳に追加
フォトレジスト20は、その目的により、ネガまたはポジを使い分ける。 - 特許庁
After a gate electrode or the like is formed on a semiconductor substrate 1, a photo resist film is formed on the entire face of the substrate 1, an opening 21a is formed to the photo resist film to form a photo resist pattern 21.例文帳に追加
半導体基板1上にゲート電極等を形成した後、フォトレジスト膜を全面に形成し、このフォトレジスト膜に開口部21aを形成することにより、フォトレジストパターン21を形成する。 - 特許庁
A diamond-like carbon(DLC) film 4 or photo-resist is used for the protective film.例文帳に追加
保護膜には、ダイヤモンドライクカーボン(DLC)膜や、フォトレジストが使用できる。 - 特許庁
As a result, formation of a spherical or mushroom-like photo-resist mask is avoided.例文帳に追加
その結果、球状のまたはキノコ状のフォトレジストマスクの形成が回避される。 - 特許庁
The concentration of H_2O_2 in a SPM solution other than the time of cleaning a substrate 1 (removing the photo resist film) is controlled at a first concentration or above which is the minimum capable of removing at least a part of the photo resist film.例文帳に追加
基板1の洗浄(フォトレジスト膜の除去)時以外のSPM液中のH_2O_2の濃度は、フォトレジスト膜の少なくとも一部を除去できる最低限の第1濃度以上で制御する。 - 特許庁
Here, the erosion-preventive plug is formed of an organic material such as photo-resist or organic polymer.例文帳に追加
この時、侵蝕防止用プラグはフォトレジストまたは有機ポリマーなどのような有機物質で形成される。 - 特許庁
-
履歴機能過去に調べた
単語を確認! -
語彙力診断診断回数が
増える! -
マイ単語帳便利な
学習機能付き! -
マイ例文帳文章で
単語を理解!
ウィキペディア英語版での「photo-resist or」の意味 |
Photoresistor
出典:『Wikipedia』 (2011/06/04 14:58 UTC 版)
「photo-resist or」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 61件
To provide a method for removing a residual substance after photo resist peeling conforming to the definition of a metal or via pattern.例文帳に追加
金属パターン又はビアパターンの定義に適合するフォトレジスト剥離後の残留物質を除去する方法を提供する。 - 特許庁
Then, a mask layer 102 such as a photo-resist layer or a diffusion barrier layer is formed on the heat-resistant metal oxide layer 101.例文帳に追加
特定の範囲の抵抗値を付与するために、抵抗を形成すべき前記耐熱性金属酸化物層の選択した部分に水素処理を行う。 - 特許庁
To provide a photo acid generator, one component of a chemical amplification photo resist which has spectral sensitivity in the visible light region, especially argon laser light (488 nm or 514 nm) and can improve workability.例文帳に追加
可視域に、特にアルゴンレーザー光(488nm又は514nm)に分光感度を持ち、作業性を向上できる化学増幅系フォトレジストの一成分系光酸発生剤を提供するものである。 - 特許庁
Unnecessary parts without a trench in an unequal pattern formed on the photo resist 7 are covered with a cover resist 8 or 8' to form a normal and unequal-pitch deep trench pattern.例文帳に追加
フォトレジスト7に形成された均等なパターンの内、トレンチを形成しない不要な部分をカバーレジスト8又は8′で被覆して通常の不均等なピッチのディープトレンチパターンを形成する。 - 特許庁
The photosensitive resin composition which demonstrates such an effect is suitably usable for a highly sensitive photo curing material or a resist material or the like for instance.例文帳に追加
かかる効果を奏する本発明の感光性樹脂組成物は、例えば、高感度の光硬化材料やレジスト材料等に好適に用いることができる。 - 特許庁
The photo mask 3 is constituted of a pattern 3a which is formed on a region where the resist 2 is to be eliminated and has line width more than or equal to resolution limit and a pattern 3b having line width rougher than or equal to the resolution limit.例文帳に追加
フォトマスク3は、レジスト2を除去しようとする領域に形成した解像限界以上の線幅のパターン3aと、解像限界以下の線幅のパターン3bとからなる。 - 特許庁
To provide a laminated film suitable for a dry film photo resist (DFR) or so called a coverless DFR which satisfies the transparency capable of being used for a high resolution DFR, UV transmission property and handling property (slippage), eliminates a process for providing a protective film on a photo resist layer and contributes to the reduction of an industrial waste.例文帳に追加
高解像度DFRに使用し得る透明性、UV透過性と取扱い製(滑り性)を満足し、フォトレジスト層の上に保護フィルムを設ける工程を省略し、かつ産業廃棄物の軽減に寄与するドライフィルムフォトレジスト(DFR)、いわゆるカバーレスDFRに有用な積層フィルムを提供する。 - 特許庁
A chemically amplified resist material comprising a base resin and a photo acid generator having sensitivity at the wavelength of patterning exposure; wherein, the chemically amplified resist material further comprising an activator that generates an acid or a radical by a treatment other than the patterning exposure.例文帳に追加
基剤樹脂と、パターニング露光の波長に感度を有する光酸発生剤とを含むレジスト材料であって、当該パターニング露光とは別の処理により酸又はラジカルを発生する活性剤を更に含む化学増幅レジスト材料とする。 - 特許庁
|
photo-resist orのページの著作権
英和・和英辞典
情報提供元は
参加元一覧
にて確認できます。
Copyright (C) 1994- Nichigai Associates, Inc., All rights reserved. | |
All Rights Reserved, Copyright © Japan Science and Technology Agency | |
Copyright © 2024 CJKI. All Rights Reserved | |
Text is available under Creative Commons Attribution-ShareAlike (CC-BY-SA) and/or GNU Free Documentation License (GFDL). Weblio英和・和英辞典に掲載されている「Wiktionary英語版」の記事は、Wiktionaryのphotoresistor (改訂履歴)の記事を複製、再配布したものにあたり、Creative Commons Attribution-ShareAlike (CC-BY-SA)もしくはGNU Free Documentation Licenseというライセンスの下で提供されています。 |
|
Text is available under Creative Commons Attribution-ShareAlike (CC-BY-SA) and/or GNU Free Documentation License (GFDL). Weblio英和・和英辞典に掲載されている「Wikipedia英語版」の記事は、WikipediaのPhotoresistor (改訂履歴)の記事を複製、再配布したものにあたり、Creative Commons Attribution-ShareAlike (CC-BY-SA)もしくはGNU Free Documentation Licenseというライセンスの下で提供されています。 |
ピン留めアイコンをクリックすると単語とその意味を画面の右側に残しておくことができます。 |
ログイン |
Weblio会員(無料)になると 検索履歴を保存できる! 語彙力診断の実施回数増加! |
「photo-resist or」のお隣キーワード |
weblioのその他のサービス
ログイン |
Weblio会員(無料)になると 検索履歴を保存できる! 語彙力診断の実施回数増加! |