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コンピューター用語辞典での「redundancy row」の意味

redundancy row


「redundancy row」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 25



例文

A word line row redundancy scheme circuit consists of row shift circuits and row decoder circuits.例文帳に追加

ワード線行冗長スキーム回路は行シフト回路および行デコーダ回路からなる。 - 特許庁

NON-VOLATILE MEMORY DEVICE HAVING ROW REDUNDANCY BEING FREELY CONSTITUTED例文帳に追加

構成自在な行冗長性を有する不揮発性メモリデバイス - 特許庁

The corresponding row/column line is replaced to mimic the redundancy replacement of the first block.例文帳に追加

対応するロウ/カラムは第1ブロックの冗長置換を模するように置換される。 - 特許庁

When row shift redundancy is not required, the row shift circuit supplies a first row shift control signal to a row shift control line, and when it is required, the circuits supplied a second row shift control signal to the row shift control line.例文帳に追加

行シフト冗長が必要ない場合には、行シフト回路は、行シフト制御ラインに第一の行シフト制御信号を供給し、必要な場合には、行シフト制御ラインに第二の行シフト制御信号を供給する。 - 特許庁

A defective row/column line in a first array or block is replaced with a redundant row/column line from its own redundancy.例文帳に追加

第1アレイまたはブロック内の欠陥ロウ/カラム線は、専用の冗長部からの冗長ロウ/カラム線で置換される。 - 特許庁

The redundancy circuit preferably includes a plurality of redundancy rows and a redundancy decoder which is configured for the purpose of accessing the redundancy rows whenever a read or write operation involves use of a defective row within the main memory arrays for which a redundant row has been substituted.例文帳に追加

冗長回路は好ましくは、複数の冗長ロウと、読み出しあるいは書き込み動作が、冗長ロウが代用されている主メモリアレイ内の欠陥ロウの使用を含む場合いつでも冗長ロウにアクセスするためにコンフィギュアされた冗長デコーダとを含む。 - 特許庁

例文

The redundancy discriminating section 1200.0 selects a specified redundancy memory cell row in accordance with an address signal when a test mode signal TM and a redundancy control signal RAr are in an activated state.例文帳に追加

冗長判定部1200.0は、テストモード信号TMと冗長制御信号RArが活性である場合に、アドレス信号に応じて、指定された冗長メモリセル行を選択する。 - 特許庁

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日英・英日専門用語辞書での「redundancy row」の意味

redundancy row


「redundancy row」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 25



例文

A redundancy replacement unit 25 of a defective row is set, corresponding to the cell plate electrode line CP.例文帳に追加

不良行の冗長置換単位25は、セルプレート電極線CPに対応して設定される。 - 特許庁

The line of the row address of the failure memory cell count value 3d larger than the number of column redundancy spare lines 1b, and the line of the column address of the failure memory cell count value 3e larger than the number of row redundancy spare lines 1c are set to be a relief decision line for allocating the redundancy spare lines of the row and column.例文帳に追加

行の冗長予備線1bの数よりも大きい不良メモリセルカウント値3dの列アドレスのライン、列の冗長予備線1cの数よりも大きい不良メモリセルカウント値3eの行アドレスのラインを夫々救済確定線として列の冗長予備線、行の冗長予備線を割り付ける。 - 特許庁

A redundant row decoder 14 disables a selection to be made by the normal row decoder 9 and selects any one of redundancy memory cell lines when a specified row address matches a row address of a predetermined normal memory cell, as long as the enable signal is activated.例文帳に追加

冗長ロウデコーダ14は、イネーブル信号が活性化された場合には限り、指定されたロウアドレスと、所定の正規メモリセルのロウアドレスとが一致したときに、正規ロウデコーダ9による選択を禁止し、いずれかの冗長メモリセル行を選択する。 - 特許庁

Prior to normal data read-out operation, redundancy information read out from the program units are latched in a row selection circuit 20.例文帳に追加

通常のデータ読出動作に先立って、プログラムユニットから読出された冗長情報は、行選択回路20内にラッチされる。 - 特許庁

To obtain a non-volatile memory device having row redundancy being freely constituted in which correcting capability of architecture can be reconstituted for each chip.例文帳に追加

アーキテクチャの修正能力をチップ毎に再構成できる構成自在な行冗長性を有する不揮発性メモリデバイスを得る。 - 特許庁

When all the row hit signals are inactivated, a column redundancy selection circuit activates the enable signal according to a block address signal.例文帳に追加

コラム冗長選択回路は、全てのロウヒット信号が非活性化されているとき、ブロックアドレス信号に応じてイネーブル信号を活性化する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device for shortening tRC (Row Cycle Time) without increasing power consumption in the semiconductor storage device mounting a redundancy area.例文帳に追加

リダンダンシ領域を搭載した半導体記憶装置において、消費電力を増加させることなく、tRC(Row Cycle Time)を短縮することが可能な半導体記憶装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

例文

Rows including a defective memory cell are replaced by redundancy memory cells independently in each of a pair of memory block interposing a pair of row decoder 11.例文帳に追加

1対のロウデコーダ11を挟む1対のメモリブロックの各々で独立に、欠陥メモリセルを含む行が冗長メモリセルの行に置換される。 - 特許庁

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