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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > 専門用語対訳辞書 > related defectの意味・解説 

related defectとは 意味・読み方・使い方

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Weblio専門用語対訳辞書での「related defect」の意味

related defect

Weblio専門用語対訳辞書はプログラムで機械的に意味や英語表現を生成しているため、不適切な項目が含まれていることもあります。ご了承くださいませ。

「related defect」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 73



例文

To provide a technique capable of simultaneously reducing a hole related defect and a powder related defect upon the casting of a low carbon steel or the like.例文帳に追加

低炭素鋼等を鋳造するに際し、ホール性欠陥とパウダー性欠陥を同時に低減できる技術を提供する。 - 特許庁

To provide a defect-removing device, etc. capable of quickly removing defect regions over a wide range, preventing deterioration in quality, related to defect removal, and of reducing the expense load related to defect removal.例文帳に追加

広範囲に渡る欠陥領域を迅速に除去すると共に、欠陥除去に係る品質低下を防止し、欠陥除去に係る費用的負担を軽減することを可能とする欠陥除去装置等を提供する - 特許庁

To provide a crystal defect analyzer providing only information related to a defect calculating accurate defect size and depth and facilitating the crystal evaluation.例文帳に追加

正確な欠陥サイズと深さが算出された欠陥に対する情報のみを得て、結晶評価が容易な結晶欠陥解析装置を得る。 - 特許庁

Accordingly, the data transmission from the page buffer set related to the defect is blocked.例文帳に追加

よって、欠陷と関連したページバッファーセットからのデータ伝送は遮断される。 - 特許庁

COMPUTER-IMPLEMENTED METHOD FOR PERFORMING ONE OR MORE DEFECT-RELATED FUNCTIONS例文帳に追加

1つ又は複数の欠陥関連の機能を遂行するコンピュータ実行方法 - 特許庁

The inspection part 3 specifics a defect becoming an inspection target from the defect on the inspection target surface 4a of a substrate 4 so that the inspection coverage related to the defect of the defect size becomes the target inspection coverage of the defect size at each defect size and outputs data related to the specified defect as the inspection result related to the whole of the inspection target surface 4a.例文帳に追加

検査部3は、欠陥サイズごとに、その欠陥サイズの欠陥についての検査カバレッジが、その欠陥サイズの目標検査カバレッジとなるように、基板4の検査対象面4a上の欠陥の中から検査対象となる欠陥を特定し、その特定された欠陥についての情報を、検査対象面4aの全体についての検査結果として出力する。 - 特許庁

例文

The void 35 is related to the high-defect area 15e of the gallium nitride substrate 15, and each high-defect area 17e in the gallium nitride film 17 is related to one of high-defect areas 15e of the gallium nitride substrate 15.例文帳に追加

ボイド35は、窒化ガリウム基板15の高欠陥エリア15eに関連づけられており、窒化ガリウム膜17の各高欠陥エリア17eは窒化ガリウム基板15の高欠陥エリア15eの一つに関連づけられている。 - 特許庁

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「related defect」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 73



例文

To provide a defect inspection device capable of outputting the inspection result of the defect related to the whole of an inspection target surface even if there are many defects, and a defect inspection method.例文帳に追加

欠陥が多くても検査対象面の全体についての欠陥の検査結果を出力可能な欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To overcome a defect related to an aortic aneurysm treatment apparatus utilized at the present time.例文帳に追加

現在利用されている動脈瘤治療装置に関連する欠点を克服する。 - 特許庁

To provide computer-implemented methods for performing one or more defect-related functions.例文帳に追加

1つ又は複数の欠陥関連の機能を遂行するコンピュータ実行方法を提供する。 - 特許庁

To provide a configuration enabling the selective repair, exchange, or the like of one portion related to a defect, when the defect occurs in one portion.例文帳に追加

一部に不具合が生じた場合に、その不具合に係る一部を選択的に修理、交換等することができる構成を提供する。 - 特許庁

A storage part 41 stores an image of a substrate in which a defect is detected by an automatic defect inspection device 2 and defect information showing the information related to the defect in association with a substrate ID identifying the substrate.例文帳に追加

記憶部41は、自動欠陥検査装置2により欠陥の検出された基板の画像と、欠陥に係わる情報を示す欠陥情報とを、基板を識別する基板IDと対応付けて記憶する。 - 特許庁

In a step (b), image information as the image of a component 7 related to the product defect is acquired.例文帳に追加

(b)ステップは、製品の不具合に関わる部品7の画像としての画像情報を取得する。 - 特許庁

First, a review is carried out by an electron microscope unit 2, and only when a first determining section 3 recognizes that a defect exists in a recognized defect part, is related defect information output to a defect information classifying section 6.例文帳に追加

先ず電子顕微鏡ユニット2によるレビュー結果に基づき、第1の判定部3により認定欠陥部位に欠陥が有ると認められる場合のみ、その旨の欠陥情報が欠陥情報分類部6に出力される。 - 特許庁

例文

At reapplication, for example, past related defect information is extracted from applicant data, and the defect information is used to create an application display form.例文帳に追加

再申請時には例えば申請人データから関連する過去の不具合情報を抽出し、該不具合情報を用いて申請用表示フォームを作成する。 - 特許庁

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