si detectorとは 意味・読み方・使い方

The identification and quantification of the α-rays emission nuclides uses a method which determines the stopping power of the sample with respect to α-rays and determines from an α-ray spectrum measured by a Si-semiconductor detector.例文帳に追加

α線放射核種の同定と定量は、試料のα線に対する阻止能を求め、Ｓｉ半導体検出器により測定したα線スペクトルから求める手法を用いる。 - 特許庁

A cross talk correction section 41 calculates a projection data difference ratio Rij between projection data Si of a first detecting element 23i and projection data Sj of a second detection element 23j of a detector array 23.例文帳に追加

検出器アレイ２３の第１検出素子２３ｉによる投影データＳｉと第２検出素子２３ｊによる投影データＳｊとにおいて相違する投影データ相違率Ｒｉｊをクロストーク補正部４１が算出する。 - 特許庁

The determining unit 34 determines the properness of marker arrangement and outputs the determining result by determining whether or not the photographing positions of the marker M1 to M4 in all of the beam source positions Si are positioned in the detecting range A0 of the detector 14.例文帳に追加

判定部３４はすべての線源位置ＳｉにおけるマーカＭ１〜Ｍ４の投影位置が、検出器１４の検出範囲Ａ０内に位置するか否かを判定することにより、マーカ配置の適否を判定して判定結果を出力する。 - 特許庁

An interference detector 7 detects interference light of reflected light from the surface of a single crystal Si film grown on a substrate 20 and reflected light from a reference lens 73 with a Michelson interferometer by using a laser beam of wavelength λ.例文帳に追加

干渉検出装置７は、波長λのレーザ光を用いて、基板２０上に成長された単結晶Ｓｉ膜の表面から反射光と、リファレンスレンズ７３からの反射光との干渉光をマイケルソン干渉計によって検出する。 - 特許庁

The multiple phase voltage converter (2) comprises a plurality of phases (P1 to P3) capable of independently changing objective control volume (IL), a detector (Si) detecting the state of each phase, and a control unit (200) supplying a control signal to specify the objective control volume relative to each phase.例文帳に追加

電圧を変換する多相コンバータ（２）であって、独立して制御対象量（ＩＬ）を変更可能な複数の相（Ｐ１〜Ｐ３）と、各相の状態を検出する検出装置（Ｓｉ）と、各相に対する制御対象量を規定する制御信号を供給する制御部（２００）と、を備える。 - 特許庁

An Si membrane, having a fine aperture 11, is provided on a reticle stage 9, a current density of the beam which passes through the aperture 11 is measured by a current detector 19 provided on a wafer stage, by scanning the illumination beam on the fine aperture 11.例文帳に追加

レチクルステージ上９に微小開口１１を有するＳｉメンブレン１０を設置し、微小開口１１上で照明ビームを走査して開口１１を通過したビームの電流密度をウエハステージ上に設置した電流検出器１９で計測する。 - 特許庁

The optical transmission/reception circuit 101 is provided with a Si substrate 103 forming a Y-shaped optical wave-guide 102, a semiconductor laser 104 and the photo-detector 105, and a wavelength conversion element 106 arranged on the way of the optical wave-guide 102, and for converting the wavelength λ1 to another wavelength #2.例文帳に追加

光送受信回路１０１は、Ｙ字型をした光導波路１０２を形成したＳｉ基板１０３と、半導体レーザ１０４および受光素子１０５と、光導波路１０２の途中に配置され、波長λ_1を他の波長λ_2に変換する波長変換素子１０６とを備えている。 - 特許庁

In this ID plate (ID card), projecting and recessing shapes corresponding to ID information (ID codes)are patterned on the surface of a substrate (e.g. Si substrate) to obtain the ID plate (ID card), the projecting and recessing shapes are read by using a detector using a laser or stylus, and the read results are converted into digital signals thereby performing the collation.例文帳に追加

基板（例えばＳｉ基板）表面にＩＤ情報（ＩＤコード）に応じた凹凸形状をパターン化してＩＤプレート（ＩＤカード）とし、その凹凸形状をレーザー、又は触針を用いた検出器で読み取り、読み取り結果をデジタル信号化して照合を行う照合装置とする。 - 特許庁