si detectorとは 意味・読み方・使い方

That is, the frame length detector segments data of a detection object, calculates coefficients {ai} in the AR model and thereafter calculates a summed average AVsi (=si/N) (steps S2 to S5).例文帳に追加

すなわち、フレーム長検出器は、検出対象のデータを切り出して、ＡＲモデルにおける係数｛ａｉ｝を計算した後、加算平均ＡＶｓｉ（＝ｓｉ／Ｎ）を算出する（ステップＳ２〜Ｓ５）。 - 特許庁

A cross talk correction section 41 calculates a projection data difference ratio Rij between projection data Si of a first detecting element 23i and projection data Sj of a second detection element 23j of a detector array 23.例文帳に追加

検出器アレイ２３の第１検出素子２３ｉによる投影データＳｉと第２検出素子２３ｊによる投影データＳｊとにおいて相違する投影データ相違率Ｒｉｊをクロストーク補正部４１が算出する。 - 特許庁

An Si membrane, having a fine aperture 11, is provided on a reticle stage 9, a current density of the beam which passes through the aperture 11 is measured by a current detector 19 provided on a wafer stage, by scanning the illumination beam on the fine aperture 11.例文帳に追加

レチクルステージ上９に微小開口１１を有するＳｉメンブレン１０を設置し、微小開口１１上で照明ビームを走査して開口１１を通過したビームの電流密度をウエハステージ上に設置した電流検出器１９で計測する。 - 特許庁

The determining unit 34 determines the properness of marker arrangement and outputs the determining result by determining whether or not the photographing positions of the marker M1 to M4 in all of the beam source positions Si are positioned in the detecting range A0 of the detector 14.例文帳に追加

判定部３４はすべての線源位置ＳｉにおけるマーカＭ１〜Ｍ４の投影位置が、検出器１４の検出範囲Ａ０内に位置するか否かを判定することにより、マーカ配置の適否を判定して判定結果を出力する。 - 特許庁

An interference detector 7 detects interference light of reflected light from the surface of a single crystal Si film grown on a substrate 20 and reflected light from a reference lens 73 with a Michelson interferometer by using a laser beam of wavelength λ.例文帳に追加

干渉検出装置７は、波長λのレーザ光を用いて、基板２０上に成長された単結晶Ｓｉ膜の表面から反射光と、リファレンスレンズ７３からの反射光との干渉光をマイケルソン干渉計によって検出する。 - 特許庁

Each pixel (pixel sizes: a 2.2 μm square) in the solid-state imaging element 100 has a light-transmitting film 1 having a first refractive-index distribution, the light-transmitting film 2 having a second refractive-index distribution, a photo-detector 3, wiring 4, a wavelength selective filter 5, and an Si board 6.例文帳に追加

固体撮像素子１００における各画素（画素サイズ□２．２μｍ）は、第１の屈折率分布を有する光透過膜１、第２の屈折率分布を有する光透過膜２、受光素子３、配線４、波長選択フィルタ５およびＳi基板６を備える。 - 特許庁

The multiple phase voltage converter (2) comprises a plurality of phases (P1 to P3) capable of independently changing objective control volume (IL), a detector (Si) detecting the state of each phase, and a control unit (200) supplying a control signal to specify the objective control volume relative to each phase.例文帳に追加

電圧を変換する多相コンバータ（２）であって、独立して制御対象量（ＩＬ）を変更可能な複数の相（Ｐ１〜Ｐ３）と、各相の状態を検出する検出装置（Ｓｉ）と、各相に対する制御対象量を規定する制御信号を供給する制御部（２００）と、を備える。 - 特許庁

A pixel structure for a flat panel detector is constructed in which the diode silicon and the FET silicon are simultaneously etched to form isolated structures (array photodiodes, I/O elements, and so on) in which the edges or perimeters of the diode silicon structures are self-aligned to the underlying FET Si structures.例文帳に追加

フラット・パネル検出器のピクセル構造の構築において、ダイオード・シリコン及びＦＥＴシリコンを同時に蝕刻して、分離した構造（アレイ・フォトダイオード及び入出力素子等）を形成し、このときダイオード・シリコン構造の端辺又は外周が直下のＦＥＴＳｉ構造に自動整列される。 - 特許庁