To provide an inexpensive semiconductor testing device which saves a test pattern storage memory by generating a fast clock while generating a test pattern in slow test cycles and is further slow and small in the storage capacity of a test pattern storage circuit, and a semiconductor testing method using the device.例文帳に追加

低速なテスト周期でテストパターンを作成しながら高速なクロックを発生させることでテストパターン格納メモリの節約を実現し、さらに低速かつテストパターン記憶回路の記憶容量が少ない安価な半導体試験装置及びその装置を用いた半導体試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a synchronization-type semiconductor storage device having a test mode suitable for a DDR SDRAM, which allows a test to be conducted even with an inexpensive tester with a slow operating frequency.例文帳に追加

動作周波数の遅い安価なテスタでも検査が可能な、ＤＤＲ ＳＤＲＡＭに適したテストモードを備える同期型半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

The embodiments of the invention include a method to identify a compound (or "test compound") with a potential to treat, slow the progression of, slow the onset of or ameliorate a metabolic disorder or a symptom thereof in a human or another mammal.例文帳に追加

本発明の実施形態は、ヒトまたは別の哺乳動物における代謝障害またはその症状を処置するか、進行を遅延させるか、発症を遅延させるか、改善する可能性を有する化合物（または「試験化合物」）を同定する方法を含む。 - 特許庁

However,since each test must be run to completion at least once, some slow servers may take a very long time, particularly on the window moving and resizingtests, and on the arc drawing tests.例文帳に追加

しかし、それぞれのテストは少なくとも1度は実行しなくてはならないので、遅いサーバでは非常に長い時間がかかることがある(特にウィンドウの移動やサイズ変更のテストや円弧の描画テスト)。 - XFree86

Since the test system path can continuously transfer data by every clock by pipeline processing, the filter coefficients are rewritten at high speed without interposing an internal common bus with slow transfer rate.例文帳に追加

試験系経路はパイプライン処理によってクロック毎に連続してデータを転送することが可能であるため、転送速度の遅い内部共通バスを介すことなく、高速にフィルタ係数の書替えが可能になる。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor device, by which a precise test corresponding to an actual using state can be performed to an accelerated semiconductor device, even if using a testing device of slow operation which is used conventionally.例文帳に追加

従来から使用していた動作速度の遅いテスト装置を用いても高速化された半導体装置に対して実際の使用状態に即した正確なテストを行うことができる半導体装置のテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a circuit and a method for testing a semiconductor integrated circuit, which can easily test a limitation of an operation cycle, i.e., a delay characteristic of the semiconductor integrated circuit device at an arbitrary cycle in a function test pattern of the semiconductor integrated circuit, by using the function test pattern and a relatively slow clock signal input from the outside.例文帳に追加

半導体集積回路の機能試験パタンと、外部からの比較的遅いクロック信号とを用いて、機能試験パタンの任意のサイクルでの動作周期の限界、つまり本半導体集積回路装置の遅延性能を容易に試験することができる半導体集積回路の試験回路およびその試験方法を提供する。 - 特許庁

In terms of the content for dispatch of lecturers, for site visits the companies indicated that it would be possible to dispatch lecturers to plants, research facilities, water quality test laboratories, water purification plants (rapid and slow filtration), advanced processing facilities and effluent treatment facilities.However, no companies responded positively concerning the possibility for the dispatch of a lecturer to pipe installation sites.例文帳に追加

その講師派遣分野の内容としては、施設見学については、工場、研究施設、水質試験所、浄水場（急速ろ過、緩速ろ過）、高度処理施設、排水処理施設についての派遣が可能であったが、配管施工現場については対応可能との回答が無かった。 - 厚生労働省

In terms of the content for training, the companies indicated that it would be possible to accept trainees to visit facilities, including plants, research facilities, water quality test laboratories, water purification plants (rapid and slow filtration), advanced processing facilities, effluent treatment facilities, and also to view the management of supply and drainage facilities in large buildings.However, no companies responded positively concerning the possibility for visits to pipe installation sites.例文帳に追加

その受入れ内容としては、施設見学では、工場、研究施設、水質試験所、浄水場（急速ろ過、緩速ろ過））、高度処理施設、排水処理施設、その他として、大規模ビルの給・排水設備管理の受け入れが可能であったが、配管施工現場については対応可能との回答が無かった。 - 厚生労働省