test parametersとは 意味・読み方・使い方

In the device, test recording is conducted for an optical disk and characteristics related to the parameters having correlation with spherical aberration are obtained by the test recording.例文帳に追加

球面収差補正装置は、光ディスクに対してテスト記録を行い、テスト記録により球面収差と相関を有するパラメータに関する特性を取得する。 - 特許庁

An evaluation device 104 evaluates the test prediction result, determines parameters for actual prediction according to the evaluation result, and stores the parameters in a parameter storage device 111.例文帳に追加

評価装置１０４がテスト予測結果を評価し、上記評価結果に基づいて実予測用パラメータを決定し、上記パラメータをパラメータ記憶装置１１１に格納する。 - 特許庁

1. Test equipment designed for testing S-parameters of transistors at frequencies exceeding 31.8 gigahertz発音を聞く 例文帳に追加

（一）　三一・八ギガヘルツを超える周波数でトランジスタのエスパラメータを試験することができるように設計したもの - 日本法令外国語訳データベースシステム

In the mean time, when pit level, pit ratio or the like are used as the parameters, characteristics during the test recording are obtained.例文帳に追加

一方、パラメータとしてピットレベル、ピットレシオなどを使用する場合には、テスト記録中の特性を得ることができる。 - 特許庁

To determine a mode spectrum of optical characteristics in main state of polarization of a device under test according to spectral parameters.例文帳に追加

被検デバイスの偏光の主要状態の光学特性のモードスペクトルをスペクトルパラメータに従って求めること。 - 特許庁

The method comprises the steps of: collecting data from a system under test; identifying quality of service parameters; calculating values for quality of service parameters based on the data collected from the system under test; graphing the values on a three-dimensional graph having a first axis indicating the parameters, a second axis indicating values of the parameters, and a third axis indicating time.例文帳に追加

被試験システムからデータを収集するステップと、サービス品質パラメータを識別するステップと、前記被試験システムから収集した前記データに基づいてサービス品質パラメータの値を生成するステップと、前記値を、パラメータを示す第１の軸と、 パラメータの値を示す第２の軸と、時間を示す第３の軸とを有する三次元グラフ上にグラフ化するステップとを含む。 - 特許庁

Parameters required for operating the IC tester are sequentially set up to a register in a test header using the normal built-in software using the built-in software built in a pin electronics 1 of the test head 12 according to a test program 30 created by a user, and a parameter management system 34 saves the normal parameters as reference parameters 44.例文帳に追加

ユーザの作成したテストプログラム３０に従って、テストヘッド１２のピンエレクトロニクス１８に組み込まれている組み込みソフトウェアを用いて、テストヘッド内のレジスタに、ＩＣテスタの駆動に必要なパラメータを、正常な組み込みソフトウェアを用いて順次設定し、パラメータ管理システム３４は、この正常なパラメータを、リファレンスパラメータ４４として保存する。 - 特許庁

At the time of receiving the transfer of the waveform parameters of test waves for insertion from a host computer 81, a control part 14 generates test waves for insertion in a test wave generating part 1 by outputting one cycle of waveform parameters of test waves for insertion to the test wave generating part 1 and a level comparator 13 at every completion timing of one cycle outputted from the level comparator 13.例文帳に追加

制御部１４は、ホストコンピュータ８１から挿入用試験波の波形パラメータの転送を受けたときには、レベルコンパレータ１３から出力される１サイクルの終了タイミングごとに、挿入用試験波の波形パラメータを１サイクルずつ、試験波発生部１およびレベルコンパレータ１３に出力することにより、試験波発生部１に挿入用試験波を発生させる。 - 特許庁