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"function tests"を含む例文一覧と使い方
該当件数 : 15件
The electronic control device 2 for the vehicle executes function tests following the command transmitted from the test machine 4, and transmits the execution result of the function tests to the test machine 4.例文帳に追加
車両用電子制御装置2が、試験機4から送信されたコマンドに従って機能検査を実行し、機能検査の実行結果を試験機4に送信する。 - 特許庁
To provide a testing device for performing various function tests in a comparatively simple configuration.例文帳に追加
比較的簡易な構成により多様なファンクションテストを行うことができる試験装置を提供する。 - 特許庁
function tests whether the multi-byte representation of the wide character c, starting in the initial state, consists of a single byte. 例文帳に追加
関数は、ワイド文字 c のマルチバイト表現(初期状態で開始)がシングルバイト文字だけでできているかどうかを調べる。 - JM
The function tests of the testing-objective chip are repeated till generation of NG (Fail), using the delay characteristic held in the memory.例文帳に追加
そして、メモリに保持した遅延特性を用いて、試験対象チップのファンクション試験をNG(Fail)が発生するまで繰り返し行なう。 - 特許庁
To provide a testing device for an arbitration circuit capable of more easily conducting function tests on the arbitration circuit that arbitrates access by a plurality of CPUs.例文帳に追加
複数のCPUによるアクセスを調停する調停回路の機能テストをより簡単に行なうことができる調停回路のテスト装置を提供する。 - 特許庁
To obtain an exchange system which easily and also surely performs function tests of various devices which constitute the exchange system.例文帳に追加
本発明は、交換機システムを構成する各種装置の機能試験を容易且つ確実に行なえる交換機システムを提供とすることを課題とする。 - 特許庁
The test machine 4 determines the quality of the function of the electronic control device 2 for the vehicle based on the execution result of the function tests transmitted from the electronic control device 2 for the vehicle.例文帳に追加
試験機4が、車両用電子制御装置2から送信された機能検査の実行結果に基づいて、車両用電子制御装置2の機能の良否を判定する。 - 特許庁
A memory test system is disclosed in which easy function tests are carried out once or twice first to obtain fail bit data, and an OR calculation result of the obtained fail bit data is stored in a buffer memory B108.例文帳に追加
メモリテストシステムは、最初に1〜2回のイージーファンクションテストを行って、得られたフェイルビットデータのOR演算結果をバッファメモリB108に記憶しておく。 - 特許庁
To provide a visual function testing apparatus which can perform a plurality of visual function tests necessary for daily life by one apparatus by applying an image providing procedure designed according to the way of viewing (visual characteristics) of a human being.例文帳に追加
人間の眼の見え方(視覚特性)に応じて設計された映像提示手法を活用し、日常生活に重要な複数の視機能検査を一台で実行できる視機能検査装置を提供する。 - 特許庁
The verification program 111 transmits the control code to the learning remote controller 120 on the basis of the scenario data 112, the iteration condition data 113, and the control code information 114 in order to apply function tests to a built-in program 131.例文帳に追加
検証プログラム111は、組込みプログラム131の機能テストをおこなうため、シナリオデータ112、反復条件データ113および制御コード情報114に基づいて、学習リモコン120に対して制御コードを送信する。 - 特許庁
The testing apparatus carries out function tests for network relays installed in respective circuits of the network, in which a plurality of circuits led out via respective transformers are connected to a common network bus separately via a protective breaker.例文帳に追加
本発明は、それぞれ変圧器を介して導出された複数の回線がそれぞれ保護遮断器を介して共通のネットワーク母線に接続されるネットワークの各回線ごとに設けられたネットワークリレーの機能試験を行う試験装置に関する。 - 特許庁
To provide a semiconductor integrated circuit device in which the device is constituted of a BIST circuit without changing its constitution, a decision on the result of target address access time performance and a decision on conventional function tests are simultaneously performed without providing needless external terminals.例文帳に追加
BIST回路の構成を変更せずにそのままの構成にし、かつ余分な外部端子を設けずに目標アドレスアクセスタイム性能の合否判定を、従来の機能テスト判定と同時に判定させるようにした半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁
After the NG is generated, the function tests are repeated until the number of NGs in the testing-objective chip comes to the first prescribed number, processes hereinbefore are repeated starting from executions of the edge search when the number of NGs exceeds the first prescribed number, and the testing- objective chip is regarded as a defective to finish the test when the number of NGs reaches to the second prescribed number.例文帳に追加
NGが発生すると試験対象チップにおけるNGの回数が第1の所定回数になるまではファンクション試験を繰り返し行ない、NGの回数が第1の所定回数を超えると、上述の工程をエッジサーチ実行から繰り返し、NGの数が第2の所定回数に達すると、試験対象チップを不良品とみなし試験を終了する。 - 特許庁
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