「アナログ試験」に関連した英語例文の一覧と使い方

本装置は、テストプログラムからアナログ試験モデルに用いるパラメータデータを抽出する抽出手段と、被試験対象のアナログ回路の動作をシミュレーションするアナログＤＵＴモデル、このアナログＤＵＴモデルに接続し、テスタのアナログ試験に用いるアナログ試験部の動作をシミュレーションするアナログ試験モデルを用いて、シミュレーションを行うアナログシミュレーション手段とを有することを特徴とする装置である。例文帳に追加

This device has an extraction means which extract parameter data to be used for an analog test model from the test program, and an analog simulation means which performs simulation using an analog DUT model for simulation of operations of the analog circuit of the test object and an analog test model connected to the analog DUT model for simulation of operations of an analog test part to be used for the analog test of the tester. - 特許庁

外部制御信号によりアナログ特性を制御する半導体集積回路の試験時に外部からアナログ特性の制御用信号を供給することなく所要の試験用のアナログ特性の出力を可能とする。例文帳に追加

To output required analogue characteristics for testing without supplying a control signal for the analogue characteristics from outside, at testing of a semiconductor integrated circuit wherein the analogue characteristics is controlled by an external control signal. - 特許庁

チップ上のアナログ試験信号生成回路を必要とすることなく、非常に高速のヒストグラム測定をアナログ集積回路部品上で行なう。例文帳に追加

To conduct very high-speed histogram measurement on an analog integrated circuit component without requiring an analog test signal generating circuit on a chip. - 特許庁

ＬＳＩ内部に配設されるアナログ差動回路の特性を測定、解析するアナログ差動回路試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide an analog differential circuit tester for measuring/analyzing the characteristics of an analog differential circuit disposed within an LSI. - 特許庁

Ａ／Ｄ変換器３は被試験試料２のアナログ出力データをデジタルデータに変換する。例文帳に追加

An A/D converter 3 converts analog output data from the tested sample 2 into digital data. - 特許庁

アナログ信号処理回路、ＡＤ変換装置、半導体デバイス試験装置およびオシロスコープ例文帳に追加

ANALOG SIGNAL PROCESSING CIRCUIT, A/D CONVERTER, SEMICONDUCTOR DEVICE TEST UNIT AND OSCILLOSCOPE - 特許庁

アナログ・デジタル変換器531-534は、被試験信号のデジタル・サンプルを発生する。例文帳に追加

Analog-to-digital converters 531-534 each generates a digital sample of a signal to be tested. - 特許庁

自動試験装置に適したアナログ・ディジタル変換方法および装置の提供例文帳に追加

To provide an analog-digital converting method and a device suitable for an automatic testing device. - 特許庁

自動試験装置に適したアナログ・ディジタル変換方法および装置の提供例文帳に追加

To provide a method and apparatus for analog to digital conversion suitable to an automatic test device. - 特許庁

アナログ信号を出力する半導体デバイスを試験する、汎用性を有し、信頼性の高い、半導体デバイス試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor device test device which tests a semiconductor test device outputting analog signal, has general usability and high reliability. - 特許庁

汎用性の高いデジタル用テスタを用いて高精度にアナログ素子の試験を行うことができる半導体装置の試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a test method of a semiconductor device capable of testing an analog element highly accurately by using a digital tester having wide versatility. - 特許庁

デジタル試験部とアナログ試験部の同期の改善を図るＩＣテスタを実現することを目的にする。例文帳に追加

To realize an IC tester capable of improving the synchronization between a digital test part and an analog test part. - 特許庁

特性の異なる種々の半導体集積回路の試験を可能にすると共に、ＤＡＣデータの発生機能の充実化を図るなど、アナログ特性試験の多様化に対応できる試験装置及び試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a testing device and a test method capable of testing various semiconductor integrated circuit having different characteristics, and coping with diversification of an analog characteristic test by fulfillment of generation function of DAC data or the like. - 特許庁

ＡＤＣの試験回路に高精度かつ高分解で高価なアナログ電圧発生回路を用いることなく、従来と比較して短時間でＡＤＣの試験を行うことができる試験方法および試験回路を提供する。例文帳に追加

To provide a testing method and a testing circuit, which enable the user to perform the test of ADC in a time shorter than that in conventional ones, without using a high-precision, high-resolution, and expensive analog voltage generating circuit for an ADC testing circuit. - 特許庁

複数個の被試験ＬＳＩを同時に試験する際に、パフォーマンス・ボードの回路構成を複雑化させることなく、被試験ＬＳＩごとに最適化されたアナログ試験信号を簡単な回路構成で生成する技術の提供。例文帳に追加

To provide a technique of a simple circuit constitution for generating analogue test signals optimized for each LSI to be tested without complicating the circuit constitution of a performance board when a plurality of the LSI to be tested are simultaneously tested. - 特許庁

計測器を削減することで試験システムを低価格化でき、かつ、複数の加入者回路単位で試験を行ない、試験時間を短縮できるアナログ加入者回路の伝送特性試験装置および方法を提供する。例文帳に追加

To provide a transmission characteristic test device for an analog subscriber circuit that can reduce the cost of a test system by decreasing number of test devices and conduct a test in the device of subscriber circuits so as to reduce the test time and to provide a transmission characteristic test method. - 特許庁

本装置は、デジタル試験部におけるデジタルクロックの周期長を、周期数により制御し、アナログ試験部のアナログクロックに同期させることを特徴とする装置である。例文帳に追加

The IC tester controls the length of the period of the digital clock in the digital testing part by the number of frequencies and makes it synchronize with the analog clock of the analog testing part. - 特許庁

本発明の課題は、アナログ・ディジタル特性試験の効率を向上し、また、アナログ・ディジタル特性試験回路の製造コストを抑えることである。例文帳に追加

To improve the efficiency of an analog and digital characteristic test and suppress the manufacturing cost of the analog and digital characteristic test circuit. - 特許庁

一系統の出力シーケンス制御部、出力波形データ発生部を備え、アナログ波形生成部に、四系統のポート４０と、各ポートからそれぞれ出力されるアナログ試験信号のゲインを個別に調整する減衰器４３ｂと、アナログ試験信号のオフセット電圧を個別に調整するためのデジタル／アナログ変換器４５とを設けている。例文帳に追加

An analogue waveform generating part provided with a single- circuit output sequence control part and an output waveform data generating part is provided with a four-circuit port 40, an attenuator 43b for individually adjusting the gains of the analogue test signals each outputted from the ports, and a digital/analogue converter 45 for individually adjusting the offset voltage of the analogue test signals. - 特許庁

アナログ信号を出力する被試験対象デバイスを試験する場合において、時間軸上の位置が正確なデジタル波形データを得ることのできる半導体集積回路試験装置及び方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor integrated circuit testing apparatus and a method, capable of acquiring digital waveform data wherein the position on the time base is accurate, when testing a test object device for outputting analog signal. - 特許庁

アナログスイッチ４１１は、遊技機稼働時には可変抵抗器ＶＲ１にかかる電圧を選択し、試射試験装置からの試験切替信号（ローアクティブ）がローレベルになると強度試験信号を選択するように切り替えられる。例文帳に追加

The analogue switch 411 selecting a voltage applied to the variable resistor VR1 in a game machine operation time is switched so as to select a strength test signal when a test switching signal (low active) from a trial shooting test device reaches a low level. - 特許庁

スキャン化できないメモリやアナログ回路などの被試験回路、入出力回路、及び入出力回路と被試験回路間の信号ラインを試験可能にする。例文帳に追加

To enable test of a tested circuit such as a memory or an analog circuit that cannot be scanned, an input/output circuit, and a signal line between the input/output circuit and tested circuit. - 特許庁

試験力が急激に変化したときでも、指針を確実に試験力の最大値を示す位置まで移動させることが可能なアナログ指示計を備える材料試験機を提供する。例文帳に追加

To provide a material testing machine including an analog indicator capable of surely moving a pointer to a position indicating a maximal value of a test force even when the test force is abruptly changed. - 特許庁

所定周波数のアナログ入力信号をディジタル信号に変換するＡ／Ｄコンバータ５を有するアナログ入力回路に、所定周波数のＮ倍（Ｎは自然数）とは異なる試験周波数f_tのアナログ試験信号を連続的に重畳する試験信号重畳部３を設け、重畳部３による重畳信号をＡ／Ｄコンバータ５によりディジタル重畳信号とする。例文帳に追加

The analog input circuit provided with an A/D converter 5 for converting the analog input signals of a prescribed frequency is provided with a test signal superimposing part 3 for continuously superimposing the analog test signals of a test frequency ft different from the N multiple (N is a natural number) of the prescribed frequency and superimposed signals by the superimposing part 3 are converted into digital superimposed signals by the A/D converter 5. - 特許庁

模擬アナログ信号発生装置からのアナログ入力信号Ｓ２６Ａｉと基準アナログ信号Ｓ２６Ｓｉとを比較し、基準アナログ信号Ｓ２６Ｓｉとアナログ入力信号Ｓ２６Ａｉとを演算処理し、または演算処理結果を関数化し、この処理によって得られたデータを基に入出力特性試験を行う。例文帳に追加

An analog input signal S26Ai from a simulation analog signal generator and a reference analog signal S26Si are compared, the reference analog signal S26Si and the analog input signal S26Ai are arithmetically processed or a function is provided on the basis of an arithmetic process result, and an input output characteristic test is carried out on the basis of data acquired by the process. - 特許庁