「テストモード」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

テストモード判別回路２６は、既に活性化されているテストモード信号に加えて別のテストモード信号を活性化する。例文帳に追加

The test mode discriminating circuit 26 activates other test mode signals in addition to a test mode signal already activated. - 特許庁

不用意にテストモードに移行してしまった場合でも、そのテストモードを簡単に解除することが出来るテストモード回路を提供する。例文帳に追加

To provide a test mode circuit capable of easily resetting test mode, even when the circuit is carelessly shifted to the test mode. - 特許庁

テストモード判定回路１２は、半導体記憶装置にテストモードを設定する。例文帳に追加

A test mode decision circuit 12 sets a test mode in the semiconductor memory. - 特許庁

ＦＤＤ装置用ＩＣのテストモード切換方法およびテストモード切換装置、ＦＤＤ装置例文帳に追加

TEST MODE CHANGEOVER METHOD AND TEST MODE CHANGEOVER DEVICE FOR IC FOR FDD, FDD DEVICE - 特許庁

テストモード生成部２は外部からの入力選択に応じて少なくともテストモードを生成する。例文帳に追加

A test mode generating part 2 at least generates a test mode according to input selection from the outside. - 特許庁

半導体集積回路およびそのテストモード設定回路例文帳に追加

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TEST MODE SETTING CIRCUIT THEREFOR - 特許庁

半導体集積回路のテストモード回路装置例文帳に追加

TEST MODE CIRCUIT DEVICE FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁

半導体装置、テストモード制御回路例文帳に追加

SEMICONDUCTOR DEVICE AND TEST MODE CONTROL CIRCUIT - 特許庁

半導体装置のテストモード制御回路例文帳に追加

TESTING MODE CONTROL CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

集積回路及び境界走査テストモードに入る方法例文帳に追加

INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR ENTERING BOUNDARY SCANNING TEST MODE - 特許庁

半導体メモリ装置及びそのテストモード時の読出方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND READING METHOD AT ITS TEST MODE - 特許庁

エラー修正コード（ＥＣＣ）回路テストモード例文帳に追加

ERROR CORRECTION CODE (ECC) CIRCUIT TEST MODE - 特許庁

テストモード動作を有するマルチサンプル読み出し回路例文帳に追加

MULTI-SAMPLE READ CIRCUIT HAVING TEST MODE OPERATION - 特許庁

半導体記憶装置及びそのテストモード設定方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR MEMORY, AND METHOD FOR SETTING TEST MODE FOR THE SAME - 特許庁

メディアコンバータおよびそのテストモード起動方法例文帳に追加

MEDIA CONVERTER AND TEST MODE START METHOD THEREFOR - 特許庁

通常モードとテストモードを適宜切り替える。例文帳に追加

To appropriately switch a normal mode and a test mode. - 特許庁

テストモードを迅速容易に起動させること。例文帳に追加

To start a test mode quickly and easily. - 特許庁

テストモード信号は、ラッチ回路に保持される。例文帳に追加

A test mode signal is held in the latch circuit. - 特許庁

各デコード回路からテストモード信号が発生する。例文帳に追加

A test mode signal is generated by each decoding circuit. - 特許庁

プリンタ装置のテストモード起動方法例文帳に追加

METHOD OF STARTING TEST MODE OF PRINTER APPARATUS - 特許庁

ホストプログラムにはまたテストモードも持つ。例文帳に追加

The host program will also have a test mode,  - Electronic Frontier Foundation『DESのクラック：暗号研究と盗聴政策、チップ設計の秘密』

次に、テストモード設定用入力ピン４からテストモード信号が入力され、その状態は、シフトレジスタ７に記憶される。例文帳に追加

Then, a test mode signal is input by the test mode setting input pin 4, and its state is stored by the shift register 7. - 特許庁

複数種類のテストモードを任意の順番で実施することができる半導体装置のテストモード制御回路を提供する。例文帳に追加

To provide a testing mode control circuit of a semiconductor device that can execute plural kinds of test mode in an arbitrary order. - 特許庁

テストモードが設定されると、バスコントローラ２からハイレベルのテストモード信号ＴＭが出力される。例文帳に追加

When a test mode is set, a high-level test mode signal TM is outputted from a bus controller 2. - 特許庁

テストモードレジスタ５をテストモードに設定して、半導体集積回路装置１を電圧フォースモードにし、所定の電圧をフォースする。例文帳に追加

A test mode register 5 is set to a test mode, a semiconductor integrated circuit device 1 is made a voltage force mode and the prescribed voltage is forced. - 特許庁

誤ってテストモードに入りにくく、かつ複数のテストモードに同時に入ることができるＤＲＡＭを提供する。例文帳に追加

To provide a DRAM which hardly to be put in test-operation erroneously and can be operated simultaneously in plural test modes. - 特許庁

テストモード指定信号Ｎｏｒｍ／Ｔｅｓｔ Ｍｏｄｅにより半導体集積回路ＩＣ＿Ｃｈｉｐは、テストモードに設定される。例文帳に追加

By a test mode designation signal (Norm/Test Mode), a semiconductor integration circuit (IC_Chip) is set to the test mode. - 特許庁

出力走査セル１０２は、入力テストモード、または出力テストモードを指示するモード選択信号１２２を受ける。例文帳に追加

An output scan cell 102 receives a mode selection signal 122 which indicates an input test mode or output test mode. - 特許庁

制御部３はテストモード生成部２で生成したテストモードに基づいてテスト用プログラムを実行する。例文帳に追加

A control part 3 executes a program for test on the basis of the test mode generated at the test mode generating part 2. - 特許庁

テストモードエントリ回路１００は、ｎビットシフトレジスタ１０１、制御回路１０２及びテストモード信号発生回路１０３を備える。例文帳に追加

The test-mode entry circuit 100 includes an n-bit shift register 101, a control circuit 102 and a test mode signal generation circuit 103. - 特許庁

限定された端子を用いて所望のテストモードへ設定するとともに、設定されたテストモードを確認できる。例文帳に追加

Along with setting to a desired test mode by the use of a limited number of terminals, confirmation of the set test mode can be performed. - 特許庁

テストモード専用の端子を備えることなく、テストモードに設定できる構成を有する集積回路を提供する。例文帳に追加

To provide an integrated circuit having a configuration in which a test mode is set without providing a terminal exclusive for the test mode. - 特許庁

ノイズなどの誤信号によるテストモードへの移行を防止し、さらにテストモードから容易に抜け出るようにする。例文帳に追加

To prevent transition to a test mode by an erroneous signal such as a noise, and to be easily released from the test mode. - 特許庁

確認のためテストモード信号を出力するテスト端子を増やさずに、テストモードに設定されているか否かを確認することができる。例文帳に追加

It can be confirmed whether a test mode is set or not without increasing test terminals from which a test mode signal for confirmation is outputted. - 特許庁

テストモード設定方法とテスト回路およびマイクロコントローラ例文帳に追加

TEST MODE SETTING METHOD AND TEST CIRCUIT AND MICROCONTROLLER - 特許庁

テストモード設定回路およびそれを備えた半導体集積回路例文帳に追加

TEST MODE SETTING CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT COMPRISING THE SAME - 特許庁

半導体集積回路装置およびテストモード設定方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND TEST MODE SETTING METHOD - 特許庁

半導体装置、半導体記憶装置及びテストモードエントリー方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR DEVICE, SEMICONDUCTOR MEMORY, AND TEST MODE ENTRY METHOD - 特許庁

個別リセットが可能なテストモード半導体メモリ装置を提供する。例文帳に追加

To provide a test mode semiconductor memory device in which individual reset can be performed. - 特許庁

保護回路誤動作確認用テストモードを備えたテレビジョン受像機例文帳に追加

TELEVISION SET WITH PROTECTION CIRCUIT MALFUNCTION CONFIRMING TEST MODE - 特許庁

遊技用装置がテストモードのまま放置されることを防止すること。例文帳に追加

To prevent a device for games from being left alone in a test mode. - 特許庁

電子デバイス（１００）は、生産テストモードと診断テストモードを備えたＢＩＳＴハードウェア（１０２、１０４）を有し、スキャンパターンを提供すると、生産テストモードで応答シグネチャを出力し、診断テストモードで生応答データを出力する。例文帳に追加

The electronic device 10 has BIST hardwares 102, 104 provided with a production test mode and a diagnostic testing mode, outputs a response signature by the production mode, and outputs a raw response data by the diagnostic test mode, when the scanning pattern is provided. - 特許庁

監視アプリケーション１１２は、その非テストモード信号を記録する。例文帳に追加

A monitoring software application 112 records the non-test mode signal. - 特許庁

ピンＸ０に高電圧が印加されると、テストモードに入る。例文帳に追加

When high voltage is applied to the pin X0, a test mode is started. - 特許庁

テストモード動作を有するマルチサンプル読みだし回路の提供。例文帳に追加

To provide a multi-sample read circuit having a test mode operation. - 特許庁