「不純」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

次に、不純物領域５ｐの抵抗値を測定する。例文帳に追加

Next, a resistance value of the impurity region 5p is measured. - 特許庁

アモルファス化された領域に不純物を注入する。例文帳に追加

Impurities are implanted into the region made amorphous. - 特許庁

不純物分離システム及びその方法例文帳に追加

SYSTEM AND METHOD FOR SEPARATING IMPURITIES - 特許庁

その後、熱処理により、ｐ型不純物を活性化させる。例文帳に追加

Thereafter, a p-type impurity is activated by heat-treatment. - 特許庁

鉄中不純物元素の溶解除去方法例文帳に追加

METHOD FOR MELTING AND REMOVING IMPURITY ELEMENT IN IRON - 特許庁

不純物注入シミュレーション方法例文帳に追加

SIMULATION METHOD FOR IMPURITY IMPLANTATION - 特許庁

排気及び排水には、ガスの不純物が含まれる。例文帳に追加

Impurity of gas is contained in the exhaust gas and in the exhaust water. - 特許庁

シリコンウェハの不純物濃度測定方法例文帳に追加

METHOD FOR MEASURING CONCENTRATION OF IMPURITY IN SILICON WAFER - 特許庁

深さ方向不純物元素濃度分析方法例文帳に追加

CONCENTRATION ANALYZING METHOD OF IMPURE ELEMENT IN DEPTH DIRECTION - 特許庁

セラミックス表面の不純物の除去方法例文帳に追加

METHOD OF REMOVING IMPURITY ON SURFACE OF CERAMIC - 特許庁

基板中の不純物濃度測定方法およびその装置例文帳に追加

METHOD AND INSTRUMENT FOR MEASURING IMPURITY CONCENTRATION IN SUBSTRATE - 特許庁

分光分析装置及びガス中の不純物の分析方法例文帳に追加

SPECTRAL ANALYZER AND METHOD FOR ANALYZING IMPURITY IN GAS - 特許庁

不純物拡散深さの測定方法および測定装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING IMPURITY DIFFUSION DEPTH - 特許庁

燃料電池システム、および不純物除去方法例文帳に追加

FUEL CELL SYSTEM AND IMPURITY REMOVING METHOD - 特許庁

また、Ｐ^−−型不純物層１２は、Ｎ^−型不純物層２と接合するように、かつ接合部から離れるほどＰ型不純物の濃度（含まれる不純物の量）が大きくなる濃度プロファイルとなるように、形成する。例文帳に追加

Further, the P^---type impurity layer 12 is so formed as to be joined with an N^--type impurity layer 2 and has a concentration profile such that the density of P-type impurities (the amount of included impurities) becomes larger with the distance from the junction part. - 特許庁

陽イオン性不純物を含むアルコールの精製方法例文帳に追加

METHOD FOR PURIFYING ALCOHOL CONTAINING CATIONIC IMPURITY - 特許庁

不純物活性化熱処理方法及び熱処理装置例文帳に追加

IMPURITY ACTIVATING THERMAL PROCESSING METHOD AND THERMAL PROCESSING APPARATUS - 特許庁

シリコン結晶中の不純物濃度測定法例文帳に追加

METHOD OF MEASURING CONCENTRATIONS OF IMPURITIES IN SILICON CRYSTAL - 特許庁

領域２１，２２は、Ｐ型の不純物を含む。例文帳に追加

The regions 21, 22 include a p-type impurity. - 特許庁

不純物領域に穴３５０を形成する。例文帳に追加

A hole 350 is formed in the impurity region. - 特許庁

不純物の少ない溶鉄の減圧精錬方法例文帳に追加

METHOD FOR REFINING MOLTEN IRON HAVING LITTLE IMPURITY UNDER REDUCED PRESSURE - 特許庁

Ｓｉウェーハ表面の不純物量の測定方法例文帳に追加

METHOD FOR MEASURING AMOUNT OF IMPURITY OF Si WAFER SURFACE - 特許庁

有機金属化合物中の不純物の分析方法例文帳に追加

ANALYTICAL METHOD FOR IMPURITIES IN ORGANOMETALLIC COMPOUND - 特許庁

シリコン粉の金属不純物の分析方法例文帳に追加

METHOD FOR ANALYZING METAL IMPURITY IN SILICON POWDER - 特許庁

塗装前処理液の不純物除去装置例文帳に追加

APPARATUS FOR REMOVING IMPURITIES FROM COATING PRETREATMENT LIQUID - 特許庁

無機材料中の微量不純物定量方法例文帳に追加

TRACE AMOUNT IMPURITY QUANTIFYING METHOD IN INORGANIC MATERIAL - 特許庁

半導体基板表面の不純物定量方法例文帳に追加

METHOD OF QUANTIFYING IMPURITY IN SEMICONDUCTOR SUBSTRATE SURFACE - 特許庁

非破壊で、且つ簡便に、ＩｎＰ基板の不純物の濃度を測定することが可能な不純物濃度測定システム、不純物濃度測定方法、不純物濃度測定プログラム及びコンピュータ読み取り可能な記録媒体を提供する。例文帳に追加

To provide an impurity concentration measuring system capable of nondestructively, simply measuring a concentration of impurities of an InP substrate, and to provide an impurity concentration measuring method, an impurity concentration measuring program, and a computer-readable record medium. - 特許庁

不純物導入方法、装置および素子例文帳に追加

IMPURITY INTRODUCTION METHOD, DEVICE AND ELEMENT - 特許庁

半導体ウェーハ表面不純物の回収方法例文帳に追加

METHOD FOR RECOVERING IMPURITIES ON SEMICONDUCTOR WAFER SURFACE - 特許庁

キャリア蓄積層４は、高濃度不純物層４ａと低濃度不純物層４ｂとを有し、高濃度不純物層４ａは１．５μｍ以上の厚さであり、この層の不純物濃度が層全体にわたり１．０×１０^１６ｃｍ^−３以上であるようにした。例文帳に追加

The carrier storing layer 4 has a high concentration impurity layer 4a and a low concentration impurity layer 4b. - 特許庁

エミッタ領域15の不純物濃度は低濃度である。例文帳に追加

The emitter region 15 has a low impurity concentration. - 特許庁

ガス不純物除去方法及び装置例文帳に追加

GAS IMPURITY REMOVING METHOD AND APPARATUS - 特許庁

気泡や不純物に起因するノイズ信号を低減する。例文帳に追加

To reduce the noise signal caused by air bubbles or impurities. - 特許庁

オンライン不純物除去装置及び方法例文帳に追加

ONLINE IMPURITY REMOVAL DEVICE AND METHOD - 特許庁

半導体基板表面不純物回収装置例文帳に追加

SEMICONDUCTOR SUBSTRATE SURFACE IMPURITY RECOVERING DEVICE - 特許庁

溶媒抽出液から不純物を除去するための方法例文帳に追加

METHOD FOR REMOVING IMPURITY FROM SOLVENT EXTRACTION SOLUTION - 特許庁

シリコンウェーハの深さ方向の不純物分析方法例文帳に追加

METHOD FOR ANALYZING IMPURITY IN DEPTH DIRECTION OF SILICON WAFER - 特許庁

半導体ウエーハに付着する不純物を減少させる。例文帳に追加

To reduce impurities deposited on a semiconductor wafer. - 特許庁

電極保護層に吸着している不純物を除去する。例文帳に追加

To remove impurity attracted on an electrode protective layer. - 特許庁

ボイラ水系の不純物監視装置及び方法例文帳に追加

IMPURITY MONITORING DEVICE AND METHOD FOR BOILER WATER SYSTEM - 特許庁

シリコン中の不純物の測定方法例文帳に追加

METHOD FOR MEASURING IMPURITY IN SILICON - 特許庁

石英中の不純物の測定方法例文帳に追加

METHOD FOR MEASURING IMPURITY IN QUARTZ - 特許庁

不純物キャリア濃度プロファイルの測定方法例文帳に追加

MEASUREMENT OF IMPURITY CARRIER CONCENTRATION PROFILE - 特許庁

塗料から微細不純物を有効に除去できる。例文帳に追加

As a result, minute impurities can be removed effectively from the coating material. - 特許庁