例文 (999件) |
評価測定の部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 2804件
絶縁膜の評価方法および測定回路例文帳に追加
EVALUATING METHOD AND MEASURING CIRCUIT FOR INSULATING FILM - 特許庁
耐擦傷性の評価方法及び測定装置例文帳に追加
EVALUATING METHOD AND MEASURING DEVICE OF ABRASION RESISTANCE - 特許庁
3次元形状測定システムおよび強度評価システム例文帳に追加
THREE-DIMENSIONAL SHAPE MEASUREMENT SYSTEM AND STRENGTH EVALUATION SYSTEM - 特許庁
漏洩磁場の測定方法及び素子評価方法例文帳に追加
MEASURING METHOD OF MAGNETIC LEAKAGE FIELD AND EVALUATION METHOD OF ELEMENT - 特許庁
シート状物の物性評価方法および測定装置例文帳に追加
PHYSICAL PROPERTY EVALUATION METHOD OF SHEET-LIKE ARTICLE AND MEASUREMENT DEVICE - 特許庁
磁界特性評価装置及び測定方法例文帳に追加
MAGNETIC FIELD CHARACTERISTIC EVALUATING DEVICE AND MEASURING METHOD - 特許庁
クリープ寿命の評価方法及び硬さの測定方法例文帳に追加
EVALUATION METHOD OF CREEP LIFE AND MEASURING METHOD OF HARDNESS - 特許庁
半導体装置1は、評価用トランジスタ10(第1の特性評価用素子)、評価用トランジスタ(第2の特性評価用素子)、測定パッド30(第1の測定パッド)、および測定パッド40(第2の測定パッド)を備えている。例文帳に追加
The semiconductor device 1 includes a transistor 10 for evaluation (a first element for characteristic evaluation), a transistor for evaluation (a second element for characteristic evaluation), a measurement pad 30 (a first measurement pad), and a measurement pad 40 (a second measurement pad). - 特許庁
光測定装置、照明装置、および、評価システム例文帳に追加
LIGHT MEASUREMENT INSTRUMENT, LIGHTING SYSTEM, AND EVALUATION SYSTEM - 特許庁
アンテナ評価装置とそれを用いた測定方法例文帳に追加
ANTENNA EVALUATION DEVICE, AND MEASURING METHOD USING THE SAME - 特許庁
測定装置および光学素子の評価方法例文帳に追加
MEASUREMENT APPARATUS AND EVALUATION METHOD OF OPTICAL ELEMENT - 特許庁
変換器、無線機、測定器、評価試験方法例文帳に追加
CONVERTER, RADIO EQUIPMENT, MEASURING INSTRUMENT, AND EVALUATION TEST METHOD - 特許庁
反射シートの評価方法及び輝度測定装置例文帳に追加
EVALUATION METHOD FOR REFLECTION SHEET AND ITS BRIGHTNESS MEASURING DEVICE - 特許庁
トランス測定法、評価設備、これを用いたトランス例文帳に追加
TRANSFORMER MEASURING METHOD, EVALUATION FACILITIES, AND TRANSFORMER USING THE SAME - 特許庁
アンテナ特性評価方法及び測定装置例文帳に追加
ANTENNA CHARACTERISTICS EVALUATION METHOD AND MEASURING DEVICE - 特許庁
細胞の評価方法、細胞測定用システム、及び細胞測定用プログラム例文帳に追加
CELL EVALUATION METHOD, CELL MEASURING SYSTEM, AND CELL MEASURING PROGRAM - 特許庁
音響測定装置及び音響評価システム並びに音響測定方法例文帳に追加
ACOUSTIC MEASUREMENT DEVICE, ACOUSTIC EVALUATION SYSTEM, AND ACOUSTIC MEASUREMENT METHOD - 特許庁
絶縁膜測定装置、絶縁膜測定方法及び絶縁膜評価装置例文帳に追加
INSULATING FILM MEASUREMENT DEVICE, INSULATING FILM MEASURING METHOD, AND INSULATING FILM EVALUATION DEVICE - 特許庁
硬さ測定器および硬さ測定装置、ならびに硬さ評価方法例文帳に追加
HARDNESS MEASURING INSTUMENT, HARDNESS MEASURING DEVICE, AND HARDNESS EVALUATION METHOD - 特許庁
周波数特性評価装置、TDR波形測定器、および周波数特性評価装置用のプログラム例文帳に追加
FREQUENCY CHARACTERISTIC EVALUATING DEVICE, TDR WAVEFORM MEASURING INSTRUMENT, AND PROGRAM FOR FREQUENCY CHARACTERISTIC EVALUATING DEVICE - 特許庁
試料表面形状・赤外分光複合評価装置および評価方法並びに測定方法例文帳に追加
SAMPLE SURFACE SHAPE/INFRARED SPECTROSCOPE COMBINED EVALUATION APPARATUS, EVALUATION METHOD, AND MEASUREMENT METHOD - 特許庁
イオン交換膜の評価方法、有機物の評価方法及びX線測定装置例文帳に追加
ION EXCHANGE MEMBRANE EVALUATING METHOD, ORGANIC MATERIAL EVALUATING METHOD, AND X-RAY MEASUREMENT DEVICE - 特許庁
評価パターン2aと評価パターン2bとの重ね合わせ時のズレ量を測定する。例文帳に追加
A shift between the evaluation pattern 2a and the evaluation pattern 2b upon the overlapping thereof is measured. - 特許庁
測定環境に応じた客観評価値の変動を回避し、より普遍的な客観評価を可能とする。例文帳に追加
To obtain more universal and objective evaluation by eliminating variations in objective evaluation, based on the measuring environments. - 特許庁
評価手段15は、前記各センサの測定値に応じて気管挿管手技の評価値Zを算出する。例文帳に追加
The evaluation means 15 calculates an evaluation value Z of tracheal intubation technique according to values measured by the sensors. - 特許庁
安全性評価試験方法、安全性評価試験装置、および熱電対付破壊測定器具例文帳に追加
SAFETY EVALUATION TEST METHOD, SAFETY EVALUATION TEST DEVICE, AND DESTRUCTIVE MEASURING INSTRUMENT WITH THERMOCOUPLE - 特許庁
評価式に入力する値を測定する評価ポイントは、複数設けられる。例文帳に追加
A plurality of evaluation points are provided, for measuring the value to be input in the evaluation formula. - 特許庁
モータ2の動作評価方法は、振動測定ステップと、動作評価ステップとを備えている。例文帳に追加
This operation evaluation method of a motor 2 has a vibration measuring step and an operation evaluation step. - 特許庁
比較評価ステップ23,24は、評価基準に達した構造を測定結果と決定する。例文帳に追加
Comparison and evaluation steps 23 and 24 determine a structure reaching an evaluation criterion as the measured result. - 特許庁
電気特性測定用端子機構、電気特性評価方法および電気特性評価装置例文帳に追加
TERMINAL MECHANISM FOR MEASURING ELECTRIC CHARACTERISTIC AND ELECTRIC CHARACTERISTIC EVALUATION METHOD AND APPARATUS - 特許庁
動作評価ステップは、測定された振動に基づいて、モータ2の動作を評価する。例文帳に追加
In the operation evaluation step, the operation of the motor 2 is evaluated based on the measured vibration. - 特許庁
被測定面における歪を定量的に評価可能な歪評価装置を提供する。例文帳に追加
To provide a strain evaluation device capable of quantitatively evaluating strain on a measured face. - 特許庁
時刻補正方法、ネットワーク品質評価測定方法およびネットワーク品質評価装置例文帳に追加
METHOD OF CORRECTING TIME AND METHOD AND APPARATUS FOR EVALUATING NETWORK QUALITY - 特許庁
評価手段15は、前記各センサの測定値に応じて気管挿管手技の評価を行う。例文帳に追加
The evaluation means 15 evaluates the tracheal intubation technique according to the measured value of each sensor. - 特許庁
輝度斑について得た評価を測定者が官能検査した際の評価により近づけることができる。例文帳に追加
Evaluation obtained for luminance spots can be approximated to evaluation at the time of measurer's functional examination. - 特許庁
光ファイバ評価装置1は、評価対象である光ファイバFに対してOTDR波形を測定する波形測定部2と、測定された波形を用いて光ファイバの異常を評価する波形評価部3とを備える。例文帳に追加
This optical fiber evaluation device 1 is provided with a waveform measurement part 2 measuring the OTDR waveform to the optical fiber F as an evaluation object and a waveform evaluation part 3 evaluating an abnormal condition of the optical fiber by using a measured waveform. - 特許庁
振れ測定装置において、真にふれの測定評価が必要な位置、すなわち、加工位置近傍での振れ測定評価を行う。例文帳に追加
To carry out deflection measurement evaluation in a position of requiring the true deflection measurement evaluation, i.e., in the vicinity of working position, in a deflection measuring instrument. - 特許庁
本発明は、視線測定装置の測定精度を適切に評価できるようにする視線測定精度評価技術の提供を目的とする。例文帳に追加
To provide sight line measuring accuracy evaluation techniques appropriately evaluating the measuring accuracy of a sight line measuring instrument. - 特許庁
放電過電流検出電流値を高精度に測定する評価装置、評価方法および評価プログラムを提供する。例文帳に追加
To provide an evaluation device, evaluation method and evaluation program for high precision measuring of a discharge overcurrent detection current value. - 特許庁
像質評価装置の収差による測定誤差を低減することができ、像質評価装置を用いたパターン評価の精度向上をはかる。例文帳に追加
To decrease a measurement error due to aberration of an image quality evaluation apparatus, and to improve accuracy of pattern evaluation using the image quality evaluation apparatus. - 特許庁
非破壊硬さ評価方法、非破壊硬さ評価装置および非破壊硬さ評価に用いられる硬さ測定装置例文帳に追加
NONDESTRUCTIVE HARDNESS EVALUATION METHOD, NONDESTRUCTIVE HARDNESS EVALUATING APPARATUS AND HARDNESS-MEASURING DEVICE USED FOR NONDESTRUCTIVE HARDNESS EVALUATION - 特許庁
ガスセンサの測定電極に塗布された卑金属の状態を評価するガスセンサの評価方法及び評価装置を提供する。例文帳に追加
To provide an evaluation method and an evaluation apparatus of a gas sensor for evaluating the state of a base metal coating the measurement electrode of the gas sensor. - 特許庁
ガスセンサの測定電極を被覆する保護層の状態を評価するガスセンサの評価方法及び評価装置を提供する。例文帳に追加
To provide a method and device for evaluating a gas sensor that evaluates the state of a protective layer for covering the measurement electrode of the gas sensor. - 特許庁
ガスセンサの測定電極の状態を評価するガスセンサの評価方法及び評価装置を提供する。例文帳に追加
To provide a gas sensor evaluation method and an evaluator for evaluating the state of a measurement electrode of a gas sensor. - 特許庁
各評価デバイス40の動作を定期的に測定評価し、その結果を評価デバイス40毎に表示回路25にて表示する。例文帳に追加
The actions of each evaluation device 40 are measured to evaluate periodically, and then the results are displayed with a display circuit 25 for each evaluation device 40. - 特許庁
被評価面の抗菌性評価方法において、測定値のばらつきが少なく、抗菌機能を正確に評価する。例文帳に追加
To provide a method for evaluating antimicrobial property of surface to be evaluated, by which antimicrobial function of the surface can accurately be evaluated, having slight dispersion of measured values. - 特許庁
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