「Defect Analysis」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method and a device of inspecting a semiconductor device by charged particle beams and focused ion beams, for detecting, from a potential contrast difference of secondary electron images, a failure point such as leakage due to a defect in the semiconductor device, which cannot be detected merely through appearance shape observation in conventional semiconductor analysis.例文帳に追加

従来の半導体解析において外観形状観察だけでは検出することが不可能な、半導体装置内部の欠陥に基づくリーク等の不良箇所を、二次電子像の電位コントラスト差から検出する、荷電粒子ビームおよび集束イオンビームによる半導体装置の検査方法および検査装置を提供する。 - 特許庁

A bit map data generating section 2B provided in a control device 2 of the IC tester sequentially generates bit map data in accordance with progress of a predetermined address sequence, and further generates a bit map data file by inverting a logic value of the bit map data in accordance with the address obtained by the defect analysis memory retrieval section 3B.例文帳に追加

ＩＣ試験装置の制御装置２に設けられたビットマップデータ作成部２Ｂは、所定のアドレスシーケンスの進行に従ってビットマップデータを順次生成すると共に、不良解析メモリ検索部３Ｂにより取得されたアドレスに基づきビットマップデータの論理値を反転させてビットマップデータファイルを作成する。 - 特許庁

To provide an inspection/analysis system which can use an infrared imaging device or both it and a laser imaging device to automatically measure the float or both the floats and cracks of wall surface in a single process and then automatically analyze the pick-up image to extract/determine a defect, in failure check of wall surface for tunnels, etc. by using an inspection vehicle.例文帳に追加

計測車によるトンネル等の壁面の不具合計測において、赤外線撮像装置或は該撮像装置とレーザ撮像装置の両方を使用して壁面の浮き或は浮きとひび割れの両方を１工程で自動計測し、撮像画像を自動解析して不具合を抽出・判定できるシステムを提供する。 - 特許庁

Vibration sounds generated when exciting the thin sheet W by each hammer 2a-2d are collected by capacitor microphones 3a-3d provided corresponding to the excitation portions A-D on the thin sheet W, and frequency analysis of the collected vibration sounds is performed, to thereby operate existence of a defect on the excitation portions A-D on the thin sheet W.例文帳に追加

そして、前記各ハンマー２ａ〜２ｄが前記薄板Ｗを加振したときに発生した振動音を、前記薄板Ｗの加振部位Ａ〜Ｄに対応して設けられたコンデンサーマイク３ａ〜３ｄで集音し、前記集音された振動音を周波数分析して前記薄板Ｗの加振部位Ａ〜Ｄにおける欠陥の有無を演算するようにした。 - 特許庁

A print platform includes: a plurality of marking engines 20 that process jobs; a marking engine analyzer (analysis component) 14 that determines image quality defects of the marking engine; and a scheduler 18 that creates a plan to process a job with the marking engine based on each image quality defect of the marking engine in order to minimize visibility of the defects in images reproduced by the marking engine.例文帳に追加

印刷プラットフォームは、ジョブを処理する複数のマーキングエンジン２０と、マーキングエンジンの画質欠陥を判断するマーキングエンジンアナライザ（分析コンポーネント）１４と、マーキングエンジンにより複製された画像における欠陥の可視性を最小にするように、マーキングエンジンの各々の画質欠陥に基づいて、マーキングエンジンによってジョブを処理する計画を生成するスケジューラ１８と、を含む。 - 特許庁