「Defect Analysis」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor memory device in which high speed operation can be performed stably, while performing detail defect analysis.例文帳に追加

高速動作を安定してできるとともにメモリセルの詳細不良解析が可能である半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To accomplish a portable telephone tester which attains improvement in workability of a test and can easily perform defect analysis.例文帳に追加

試験の作業性の向上を図り、不良解析を容易に行なうことができる携帯電話機テスタを実現することにある。 - 特許庁

A memory LSI is tested, the number of defect bits are counted for bit map data for each address coordinate, a histogram of the number of defect is made, and wavelet analysis making harl function a base function is performed by assuming the made histogram of the number of defect as a discrete signal.例文帳に追加

メモリＬＳＩを試験し、ビットマップデータに対してアドレス座標毎に不良ビット数をカウントし、不良数ヒストグラムを作成し、作成した不良数ヒストグラムを離散信号とみなして、ハール関数を基底関数としたウェーブレット解析を行う。 - 特許庁

An analysis processing part 23 of an analyzing device 12 performs analysis processing for specifying a processor that has caused the defect based on the placement position information on the processed body in each processor 13 and defect information detected by the inspecting device 14.例文帳に追加

そして、解析装置１２における解析処理部２３が、各処理装置１３における被処理体の載置位置情報と、検査装置１４によって検出された欠陥情報とに基づいて、欠陥を生じさせた処理装置を特定する解析処理を行う。 - 特許庁

To provide a defect analysis support system which can readily specify factors of defect and factors of a characteristic variation by carrying out coordination of defect sorting information classified for each factor of defect and characteristic data information to material batch information, manufacturing condition batch information and manufacturing process batch information, and summarizing and analyzing them.例文帳に追加

不良の要因毎に分類した不良区分情報や特性データ情報を、材料バッジ情報、製造条件バッジ情報、製造工程バッジ情報と対応付け及び集計、解析し、不良の要因特定、及び特性変動の要因特定を容易に可能とする不良解析支援システムを提供すること。 - 特許庁

To provide a defect analysis system, a recording medium, a defect analyzing method and a process controlling method, which are capable of operating a criticality in a short period of time and, further, capable of raising the operating accuracy thereof.例文帳に追加

短時間で致命率を算出することができ、且つその算出精度を高めることができる欠陥解析システム、記録媒体、欠陥解析方法、及び工程管理方法を提供すること。 - 特許庁

In a static analysis device 10, a defect information generation part 12 extracts a place which is determined that it cannot be confirmed whether or not it is a defect because it includes an unconfirmed element, from a source program.例文帳に追加

静的解析装置１０において，欠陥情報生成部１２は，ソースプログラムから，未確定要素を含むために欠陥であるか否かを確定できないと判定された箇所を抽出する。 - 特許庁

To facilitate specification of a trouble caused by an inspection equipment or process by performing defect distribution state analysis based on defect data detected by the inspection equipment in the production process of a semiconductor substrate.例文帳に追加

半導体基板の製造工程において、検査装置によって検出された欠陥データに基づいて欠陥分布状態解析を行い、装置あるいはプロセス起因の不良原因の特定を容易にする。 - 特許庁

To shorten a supply time of an address signal from a pattern generator to a defect analysis memory in a memory test device.例文帳に追加

メモリ試験装置において、パターン発生器から不良解析メモリまでのアドレス信号の供給時間を短縮することを目的とする。 - 特許庁

To obtain fail pattern data in a spare area on a must repair line without spending much time in the process of the defect relief and analysis processing of a memory.例文帳に追加

メモリの不良救済解析処理の過程において、マストリペアライン上のスペア領域のフェイルパターンデータを時間を掛けることなく取得する。 - 特許庁

Since a rejectable device is not spotted with ink, a trouble due to ink is eliminated at the time of incomplete analysis regardless of the location of the defect in the semiconductor device.例文帳に追加

また、インクを打点しないので半導体装置のどの場所に欠陥があっても、不良解析時インクによる障害となることはない。 - 特許庁

A nondefective/defective discrimination section 9 reads the fail/pass signal written in the defect analysis memory 8 to discriminate the propriety of the tested sample 2.例文帳に追加

良／不良判定部９は、不良解析メモリ８に書き込まれたフェイル／パス信号を読み出して被試験試料１２の良／不良を判定する。 - 特許庁

A defect analysis memory 8 writes an output of the OR circuit 7 corresponding to the input data S1 to an address corresponding to the input data S1.例文帳に追加

不良解析メモリ８は入力データＳ１に対応するオア回路７の出力を、入力データＳ１に対応するアドレスに書き込む。 - 特許庁

Thereafter, analysis of the digital data TD comprising only the digital data D2 externally outputted discriminates a defect of the pulse selector 6.例文帳に追加

この後、外部に出力させたデジタルデータＤ２のみで構成されるデジタルデータＴＤを解析することにより、パルスセレクタ６の不具合を判定する。 - 特許庁

The work station (WS) 4 executes defect examination and defect analysis by segments, with respect to failure information on semiconductor memories measured by a memory tester 1, segment-classified prior to testing, and stored in the data storage part 3.例文帳に追加

ワークステーション（ＷＳ）４は、テスト前にセグメント分類され、データ格納部３に格納されているメモリテスタ１で測定した半導体メモリのフェイル情報をセグメントごとに不良調査及び不良解析を実行する。 - 特許庁

To facilitate a developer of a software specifying a defect part of the software and effectively conducting a defect analysis work in a short time even in a combined test or a real test.例文帳に追加

結合テストや本番テストを行う場合であっても、ソフトウェアの開発者が容易にソフトウェアの不具合箇所を特定することができ、不具合分析作業を短時間に効率的に行うことができるようにする。 - 特許庁

In a test by tester handler, the defective mode stored in the nonvolatile memory circuit for a defective product is read out during defect analysis, a defective product having a defective mode required for analysis is selected.例文帳に追加

テスタ・ハンドラによる試験において、上記不良解析時に不良製品について不揮発性記憶回路に記憶された不良モードを読み出して、解析に必要な不良モードを持つ不良製品を選別する。 - 特許庁

To provide a characteristic measuring method useful for analysis of generation of a defect of an element found after shipping, and a substrate used for this method.例文帳に追加

出荷後に発見された素子の欠陥につき、その欠陥発生の解析に有用な特性測定方法及びこの方法に用いられる基板を得る。 - 特許庁

The processor (13) is provided with a function for retrieving the analysis data (22, 23) based on the defect information and detecting the failure modes associated with respective defects.例文帳に追加

演算処理装置（１３）には、不良情報を基に解析データ（２２，２３）を検索して各不良と関連付けされた故障モードを検出する機能を付加する。 - 特許庁

DEVICE, METHOD, AND PROGRAM FOR SPECIFYING DEFECT ANALYSIS PART, AND RECORDING MEDIUM RECORDING THE PROGAM例文帳に追加

不良分析箇所特定装置、不良分析箇所特定方法、不良分析箇所特定用プログラム、および不良分析箇所特定用プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

To provide a semiconductor defect analysis support device which supports improvement of fail bit map preparation efficiency in the test device of a semiconductor device, and a support method.例文帳に追加

半導体デバイスのテスト装置におけるフェイルビットマップ作成効率の向上を支援する半導体不良解析支援装置および支援方法を提供する。 - 特許庁

To obtain a method for analyzing defect and a method for verifying chip sorting data in which reliability of the results of analysis based on chip sorting data can be enhanced.例文帳に追加

チップ分類データに基づく解析結果の信頼性を高めることができる欠陥解析方法及びチップ分類データ検証方法を得る。 - 特許庁

To provide a technology for confirming a detective location within a short period of time during physical analysis in the in-line defect inspecting process of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置のインライン欠陥検査工程において、物理解析時に短時間で故障箇所の位置を確認することのできる技術を提供する。 - 特許庁

To provide a display device for IC defect analysis which can generate circuit diagram data without data input of pin input/output attribute information.例文帳に追加

第１に、ピン入出力属性情報のデータ入力が不要で回路図データを生成可能とするＩＣ不良解析用表示装置を提供する。 - 特許庁

The defect information management device is used which has a display unit 13, a first database 31, a second database 33, a data analysis part 24 and a data retrieval part 25.例文帳に追加

表示装置１３、第１データベース３１、第２データベース３３、データ解析部２４及びデータ検索部２５を備える不具合情報管理装置を用いる。 - 特許庁

A series of information related with one panel 11 is preserved in the data base 25 without being overlapped with each other, and the information preserved in the data base 25 is utilized for defect analysis.例文帳に追加

１つのパネル11に関しての情報を重複することなく一連にデータベース25に保存し、データベース25に保存された情報を不良解析に活用する。 - 特許庁

To assure defect analysis and to shorten defect analyzing time by generating surely auto-power-down control signal in a short time by electrical control from the outside of a semiconductor memory, and suppressing forcedly an auto-power-down function.例文帳に追加

半導体メモリの外部からの電気的な制御により短時間で確実にオートパワーダウン制御信号を生成してオートパワーダウン機能を強制的に抑止し、不良解析の確実化、不良解析時間の短縮化を図る。 - 特許庁

The salesperson knows its own characteristics (advantage and disadvantage) or defect on business operation by confirming the analysis results outputted to the sub PC 1C, and considers an improvement plan for developing the advantage or overcoming the defect.例文帳に追加

外交員は、サブＰＣ１Ｃに出力された分析結果を確認することにより自分の営業活動上の特性（長所と短所）や欠落点に気づき、その長所を伸ばしたり欠落点を克服するための改善案を考慮する。 - 特許庁

The diagnostics engine includes an analysis module to determine features of the signals captured by the data acquisition device and a decision module for determining whether the pulse represents a defect in the wire and the location of the defect.例文帳に追加

診断エンジンは、データ収集装置によって捕捉された信号の特徴を判定する解析モジュールと、パルスがワイヤにおける欠陥及び該欠陥の位置を表しているか否かを決定するための判定モジュールとを含む。 - 特許庁

While the defect information of the DUT 10 is written into the memory 7 under the control of the CPU 1. the defect information of the DUT 10, that is tested previously and stored in the memory 8, is read by the CPU 2 and a defect analysis of the DUT 10, which was tested previously, is conducted.例文帳に追加

試験用ＣＰＵ１の制御下でＤＵＴ１０の不良情報を第１不良解析メモリ７に書き込んでいる間に、第２不良解析メモリ８から前回試験したＤＵＴ１０の不良情報を不良解析用ＣＰＵ２に読み込んで、前回試験したＤＵＴ１０の不良解析をする。 - 特許庁

In a defect analyzing computer 10, the number of defective bits are counted for each coordinate based on defective data (bit map data) BD obtained by an electrical test by a tester 2 and a defect numbers histogram is made (means 12), wavelet analysis is performed for the defect numbers histogram and a wavelet coefficient is calculated (means 13).例文帳に追加

不良解析計算機１０は、テスタ２による電気的試験により得られた不良データ（ビットマップデータ）ＢＤに基づいて座標ごとに不良ビット数をカウントして不良数ヒストグラムを作成し（手段１２）、不良数ヒストグラムについてウェーブレット解析を行ないウェーブレット係数を算出する（手段１３）。 - 特許庁

Thus, the failure of the contact plug specific to the logic circuit which is caused by crude density (randomness) of a diffusion layer, wiring layer, and contact plug layer, is easily detected for the defect analysis.例文帳に追加

これにより、拡散層と配線層及びコンタクトプラグ層の粗密（ランダム性）に起因するロジック回路特有のコンタクトプラグ不良を容易に検出し、不良解析できる。 - 特許庁

A defect information management device is used which has a display unit 13, a first database 31, a transmission/reception part 21, a second database 33, a data analysis part 24 and an access monitor part 26.例文帳に追加

表示装置１３、第１データベース３１、送受信部２１、第２データベース３３、データ解析部２４及びアクセス監視部２６を備える不具合情報管理装置を用いる。 - 特許庁

The stored defect information is collated with the consumable information used in the analysis when obtaining the each measured result, or the consumable information set in the analyzer.例文帳に追加

記憶した欠陥ロット情報と、各測定結果を得る際の分析に使用した消耗品情報、あるいは分析装置内に設置された消耗品情報とを照合する。 - 特許庁

An image of a weld zone 4 welded with a laser welding is picked up with an image pick up means 1 and a texture analysis is performed for the obtained image with a defect decision device 2.例文帳に追加

レーザ溶接による溶接部４の画像を撮像手段１により撮像し、不良判定装置２において、得られた画像についてテクスチャ解析を行う。 - 特許庁

Thereafter, it is judged in which area the defect exists from the result of the numerical analysis and thus, this process is used as a means for automatically judge the suitability to this casting plan.例文帳に追加

その後、数値解析の結果から欠陥の存在があらかじめ設定したどちらの領域にあるかを判定し、その方案の適正を自動判定させる手法。 - 特許庁

To highly accurately evaluate a defect identification pattern without requiring any destructive analysis involving visual check with regard to a multilayer wiring board and its test method.例文帳に追加

多層配線基板及び多層配線基板の試験方法に関し、目視を伴った破壊解析を要することなく欠陥識別パターンの評価を精度良く行う。 - 特許庁

To provide an evaluation method of a semiconductor device capable of accurately monitoring the variations in a local region and efficiently executing the cause analysis of product defect occurrence.例文帳に追加

局所領域のばらつきを精度良く監視でき、製品不良発生の原因解析を効率的に実施することができる半導体装置の評価方法を提供する。 - 特許庁

A quantitative element analysis of foreign matter and defective portion of an object is carried out (steps S2 and S4), elements meeting decision conditions are selected out from the analysis result (step S5), the names of the selected elements are registered in a defect database(DB) lined with information on the foreign matter and defective portion (step S6).例文帳に追加

対象物の異物・欠陥部位における定量的な元素分析が行われ（ステップＳ２，Ｓ４）、その結果から判定条件を満たす元素名が選び出され（ステップＳ５）、異物・欠陥部位の情報とリンクして、欠陥データベース(DB)に登録される（ステップＳ６）。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory which can perform defect analysis without affecting system operation even if a system is being operated while the device is incorporated in a system.例文帳に追加

システムに搭載された状態で、システムが動作中であっても、システムの動作に影響を及ぼすことなく不良解析を行なうことができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a broadcast television lens apparatus for facilitating the analysis of a cause to a problematic operation by detecting a state of a lens moving part and recording the state at a point of time when the occurrence of a fault or a defect is discriminated.例文帳に追加

レンズ可動部の状態を検出して、異常や故障が発生したと判断した時点で、この状態の記録行い、問題動作の原因解析を容易にする。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit with a built-in memory in which defect analysis by a device actual operation frequency can be easily realized using an internal BIST circuit and an external memory tester.例文帳に追加

内部のＢＩＳＴ回路と外部のメモリテスタを用いて、デバイス実動作周波数での不良解析が容易に実現できるメモリ内蔵半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To manage an observation image, and to efficiently operate a defect analysis in a semiconductor substrate using the observation image by capturing the observation image together with acquisition information.例文帳に追加

観察画像を取得情報と合せてコンピュータに取り込むことで、観察画像の管理、及び、観察画像を用いた半導体基板の欠陥解析の効率の良い運用を可能とする。 - 特許庁

Also, the mini-disk used at the occurrence of the error does not exists, analysis of the defect is performed using the mini-disk 2 having a property similar to that of the mini-disk 2 specified by the unique ID.例文帳に追加

また、エラー発生時に使用していたミニディスクがない場合等は、ユニークＩＤで特定されるミニディスク２と類似する特性を持つミニディスク２を用いて不良解析を行う。 - 特許庁

To provide an integrated circuit apparatus in which the frequency of erasing in which erasing voltage being comparatively large voltage is applied is stored for defect analysis or the like, and erasing operation is restricted.例文帳に追加

不良解析等のため、比較的大電圧である消去電圧が印加される消去回数を記憶し、加えて消去動作を制限する集積回路装置を提供すること。 - 特許庁