「Defect Analysis」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a defect analyzer for a memory LSI which can efficiently detect regularity of defect caused partially, and a defect analysis method.例文帳に追加

部分的に発生した不良の規則性を効率良く検出することができるメモリＬＳＩの不良解析装置及び不良解析方法を提供する。 - 特許庁

To improve the yield of semiconductor device manufacture by enhancing DSA (Defect Source Analysis) accuracy.例文帳に追加

ＤＳＡ精度を高めて半導体装置製造の歩留まりを向上させる。 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD AND SYSTEM FOR DEFECT ANALYSIS例文帳に追加

欠陥解析方法、半導体装置の製造方法および欠陥解析システム - 特許庁

To provide a defect analysis method and a defect analysis apparatus for a semiconductor apparatus, and a computer program for the same capable of determining defect points, without the comparison with a non-defective product in a noncontact manner by the defective product itself.例文帳に追加

非接触で良品との比較なしに不良品単独で不良箇所を判定できる半導体装置の不良解析方法、不良解析装置、及びそれらのコンピュータプログラムを提供する。 - 特許庁

On the basis of the said analysis, the monitoring device identifies a cycle unit that is not correctly operated, displays the conceivable causes of the defect or abnormality of the faulty cycle unit and provides an analysis report and the correction advice.例文帳に追加

そのコンピュータは、各個別サイクルユニットの各サイクルが開始したか、完結したかの情報を記録する。 - 特許庁

To facilitate defect analysis work by executing defect analysis for a semiconductor integrated circuit by using a more simplified analyzer.例文帳に追加

本発明は、半導体集積回路不良解析をより簡略化された解析装置にて実施することを可能とし、不良解析作業の簡便化を図ることを目的とする。 - 特許庁

APPARATUS, METHOD, AND PROGRAM FOR DEFECT PROCESSING ANALYSIS例文帳に追加

不具合処理分析装置、不具合処理分析方法および不具合処理分析プログラム - 特許庁

In the reconstructed defect numbers histogram, needless noise is suppressed without losing regularity to be analyzed, and analysis accuracy of defect analysis can be improved.例文帳に追加

再構築された不良数ヒストグラムは、解析すべき規則性を失うことなく不必要なノイズが抑圧されており、不良解析の解析精度を高めることが可能になる。 - 特許庁

To provide improved defect detection and analysis using infrared thermography.例文帳に追加

赤外線サーモグラフィを使用して改善された欠陥検出及び解析を提供する。 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR DEFECT ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR AS WELL AS MANUFACTURE OF SEMICONDUCTOR例文帳に追加

半導体不良解析システムおよびその方法並びに半導体の製造方法 - 特許庁

The beam F irradiates a sample LA placed on an analysis plane P_D and having a defect D_1.例文帳に追加

ビーム（Ｆ）は、解析平面（Ｐ_Ｄ）上で欠陥（Ｄ_１）を有したサンプル（ＬＡ）を照射する。 - 特許庁

In a defect analysis memory part 100, a data storage memory 110 and a compact memory 120 are provided.例文帳に追加

不良解析メモリ部１００が、データ格納メモリ１１０とコンパクトメモリ１２０を備える。 - 特許庁

A defect analysis memory retrieved section 3B of a defect analysis memory section 3A provided in a main body 3 of an IC tester continuously retrieves a changing point in data indicating whether each bit is defective or not, to obtain an address corresponding to the changing point from a defect analysis memory 3C.例文帳に追加

ＩＣ試験装置本体３に設けられた不良解析メモリ部３Ａの不良解析メモリ検索部３Ｂにより、各ビットの良否を表すデータの変化点を連続的に検索し、不良解析メモリ３Ｃから前記変化点に対応するアドレスを取得する。 - 特許庁

To provide a method for verifying the precision of solidification defect prediction analysis, in which the temperature distribution of a die is easily reproduced to enable solidification defect prediction analysis with high precision in a short time, and further, the precision of the solidification defect prediction analysis is verified.例文帳に追加

型の温度分布を容易に再現することにより、短時間で高精度の凝固欠陥予測解析が可能となり、さらに、該凝固欠陥予測解析の精度を検証することができる、凝固欠陥予測解析の精度検証方法を提供する。 - 特許庁

A method for defect analysis includes identifying single-class classifiers for a plurality of defect classes, the plurality of defect classes being characterized by respective ranges of inspection parameter values.例文帳に追加

欠陥解析方法は、検査パラメータ値のそれぞれの範囲によって特徴付けられる複数の欠陥部類に対する単一部類分類子を識別する段階を含む。 - 特許庁

To shorten analysis time and increase analysis accuracy by arranging and providing a vast amount of defect inspection data ready for use.例文帳に追加

膨大な欠陥検査データを整理して使い易い形とすることにより、解析時間の短縮及び解析精度を高める。 - 特許庁

To provide an electronic device which has improved efficiency in analysis of a defect compared to the conventional device by sufficiently acquiring information useful for analysis of the defect.例文帳に追加

不具合の解析に有用な情報を十分に取得することによって、従来よりも不具合の解析の効率を向上させることが出来る電子機器を提供することを目的とする。 - 特許庁

To analyze retrieval of various kinds of defect items by simplifying setting of analysis conditions.例文帳に追加

解析条件の設定を単純化させ多種類の不良項目の検索について解析すること。 - 特許庁

SYSTEM, METHOD, AND PROGRAM FOR DEFECT ANALYSIS, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

不良解析システム、不良解析方法、不良解析プログラム、及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

To improve operation reliability by preventing development of transportation defect and information reading defect by returning a position of a dry analysis element when position of the dry analysis element stored in a element cartridge for loading at an element loading part of an automatic analysis device is deviated such that the dry analysis element pops out of an ejection port.例文帳に追加

自動分析装置の素子搭載部に搭載する素子カートリッジに収容した乾式分析素子が取出口より飛び出るように位置がずれたときに、その位置を戻して搬送不良、情報読み取り不良の発生を防止し、動作信頼性を向上する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device along with a defect analyzing method for LSI using the same capable of detecting, at high sensitivity, failure of a contact plug which is specific to the logic circuit of a defect analysis LSI, with the defect analysis LSI having the logic circuit periodically manufactured.例文帳に追加

ロジック回路を有する不良解析用LSIを定期的に製造し、不良解析用LSIのロジック回路特有のコンタクトプラグの不良を、高感度に検出することができる半導体装置及びこれを用いたLSIの不良解析方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image analysis means, an image analysis device and an inspection device enabling to detect a defect of a display panel at high detection sensitivity.例文帳に追加

表示パネルの欠陥を高い検出感度で検出することができる画像解析方法および画像解析装置、検査装置を提供する。 - 特許庁

Mathematical transformation applied to improved images further expedites defect detection and analysis.例文帳に追加

改善された画像に数学的変換を適用することにより、欠陥検出及び解析をさらに加速する。 - 特許庁

Then, in a step (f), the analysis result information, the image information and the product defect information are stored.例文帳に追加

そして、（ｆ）ステップは、解析結果情報、画像情報及び製品不具合情報の保存を行う。 - 特許庁

To provide a filling-solidifying analysis method which can duplicate a shrinkage cavity defect at high precision.例文帳に追加

収縮巣欠陥を高精度に再現できる溶融材料の充填凝固解析方法を提供する。 - 特許庁

To reduce the testing time by conducting the test of a memory to be tested and the analysis of a defect in parallel.例文帳に追加

被試験メモリの試験と不良解析を並行処理することによって試験時間を短縮する。 - 特許庁

To output information necessary for a defect analysis to a dump file while reducing the size of a dump file.例文帳に追加

ダンプファイルのサイズを小さくしつつ、障害解析に必要な情報をダンプファイルに出力すること。 - 特許庁

DEFECT ANALYSIS METHOD USING EMISSION MICROSCOPE AND ITS SYSTEM, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

エミッション顕微鏡を用いた不良解析方法およびそのシステム並びに半導体装置の製造方法 - 特許庁

To provide a device holding a semiconductor chip in a probing condition integrally with a probe card for performing a defect analysis and a burn-in test on a semiconductor integrated circuit in a bear chip condition.例文帳に追加

ベアチップ状態で、半導体集積回路の不良解析やバーンイン試験を可能にする。 - 特許庁

To provide an apparatus and method for analysis of a semiconductor device, capable of easily specifying defect locations.例文帳に追加

不具合箇所を容易に特定することのできる半導体装置の解析装置及び解析方法の提供。 - 特許庁

METHOD FOR PREPARING DATA FOR DEFECT ANALYSIS IN EXAMINATION OF ELECTRONIC DEVICE AND SYSTEM FOR ANALYZING EXAMINATION DATA FOR ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

電子デバイスの検査における欠陥解析用データ作成方法、および、電子デバイスの検査データ解析システム - 特許庁

To reduce erroneous detection to enhance reliability, in automatic defect recognition for a test piece using nondestructive analysis.例文帳に追加

非破壊分析を用いたテストピースの自動欠陥認証において、誤った検出を少なくし信頼性を高める。 - 特許庁

To provide a failure analysis system for inspecting a defect in a blank and a photomask, determining a degree of coincidence between a defect in the blank and a defect in the photomask, and reliably establishing correspondence between the quality of the photomask and a quality level of the blank, and to provide a failure analysis method using the system.例文帳に追加

ブランクス及びフォトマスクの欠陥検査を行い、ブランクスの欠陥とフォトマスクの欠陥との一致度を判定し、フォトマスクの品質とブランクスの品質レベルとの確実な対応が取れる不良解析システム及びそれを用いた不良解析方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a system and a method for pattern defect inspection which can speed up detailed analysis of detected pattern defect in semiconductor circuit pattern formation process, by skipping visual reinspection through a review device.例文帳に追加

半導体回路パターン形成工程において、レビュー装置による目視再検査を省略して、検出したパターン欠陥の詳細な解析を迅速化する。 - 特許庁

Moreover, inspection data by a plurality of inspection devices about one defect are allowed to be registered, and classification information of a defect which is an object for analysis is allowed to be arbitrarily selected.例文帳に追加

また、ひとつの欠陥について複数の検査装置による検査データを登録可能とし、解析対象である欠陥の分類情報を任意に選択可能とした。 - 特許庁

To quicken the defect analysis of a semiconductor memory by automatically updating a defect mode criterion when the number of defects of the FMB data of the semiconductor memory is equal to or more than a threshold value.例文帳に追加

半導体メモリのＦＢＭデータの不良数が閾値以上の場合に、不良モード判定基準を自動更新し、半導体メモリの不良解析を早める。 - 特許庁

Based on any one of infrared images, pattern analysis is performed by an infrared image defect part decision means 12 by using a density difference of an image to determine a defect part.例文帳に追加

赤外画像欠陥部位特定手段１２は、当該赤外画像のいずれか１枚に基づいて、画像の濃度差によってパターン解析を行い、欠陥部位を特定する。 - 特許庁

To specify the cause of a defect and to grasp the generating conditions of defect readily and surely by quickening analysis of composition at a defective part based on an X-ray spectrum.例文帳に追加

Ｘ線スペクトルに基づいて欠陥部の組成分析の迅速化を図り、欠陥の発生原因の特定や欠陥の発生状況の把握を容易に的確に行う。 - 特許庁

To conduct a test such as defect analysis normally by decreasing the wiring of the semiconductor device which has a plurality of banks.例文帳に追加

複数のバンクを有する半導体記憶装置の配線数を削減し、不良解析等のテストを正常に行う。 - 特許庁

In the analysis process 126, the defect position is specified three-dimensionally from such two pieces of mutually different planar information.例文帳に追加

解析工程１２６では，かかる相異なる２の平面的な情報から，欠陥位置が３次元的に特定される。 - 特許庁

The first address signal 62 and the second address signal 64 are supplied to the defect analysis memory 20 independently each other.例文帳に追加

第１アドレス信号６２および第２アドレス信号６４は、互いに独立して不良解析メモリ２０に供給される。 - 特許庁

To facilitate defect analysis of a semiconductor memory by performing a probe test for wafer and a chip test for single chip.例文帳に追加

ウェハ用のプローブ試験および単体チップ用のチップ試験が実施可能で半導体メモリの不良解析を容易にする。 - 特許庁

Thereby processing efficiency can be improved and specification of a defective level which cannot be relieved is made possible by performing defect analysis and defect relieving discrimination processing independenlty of the tester and a defect analyzing device.例文帳に追加

このように、不良解析及び不良救済判定処理をテスタ及び不良解析装置から独立して行うことで、処理効率を向上させることができ、また不良救済不可となった不良レベルの特定が可能である。 - 特許庁

In a data analytical mechanism 21 inside an EWS for device analysis, a defect generation part 11 generates in a pseudo manner defect shape data assumed to be generated in the actual semiconductor device.例文帳に追加

データ解析用ＥＷＳ内のデータ解析機構２ａにおいて、不良発生部１１は、実際の半導体デバイスに発生すると想定される不良形状データを擬似的に発生する。 - 特許庁

To provide an inspection device of solid-state imaging element and an inspection method thereof capable of conducting an electric pixel defect inspection and a pixel defect inspection through image analysis, thereby improving yield.例文帳に追加

本発明は、電気的画素欠陥検査と、画像分析による画素欠陥検査を行うことができ、歩留まりを向上させる固体撮像素子の検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁