「Defect Analysis」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

An address generating section 110 incorporated in a pattern generator 60 outputs a first address signal 62 and a second address signal 64 to a defect analysis memory 20 in two systems.例文帳に追加

本発明において、パターン発生器６０に組み込まれるアドレス発生部１１０が、不良解析メモリ２０に対して、第１アドレス信号６２および第２アドレス信号６４を２系統で出力する。 - 特許庁

To provide a semiconductor crystal defect testing method, etc. which uses cathode luminescence (CL) that enables checking of the measurement position at a high spacial resolution, and a sample analysis at a high spacial resolution.例文帳に追加

高空間分解能で測定位置の確認ができ、且つ高空間分解能で試料分析ができるカソードルミネッセンス（ＣＬ）を用いた半導体結晶欠陥検出方法等を提供する。 - 特許庁

The detailed address signal 142 is incremented by the address generation control part 125, and data in the partial address space in which a fail signal is stored is transferred to a memory defect relief analysis part 200.例文帳に追加

詳細アドレス信号１４２は、アドレス発生制御部１２５によりインクリメントされ、フェイル信号が格納された部分アドレス空間のデータが、メモリ不良救済解析部２００に転送される。 - 特許庁

To provide a measurement and analysis method capable of acquiring accurately a true signal caused by a defect by preventing a measurement result from being influenced by the fluctuation of a measuring state, in a leakage flux flaw detection method.例文帳に追加

漏洩磁束探傷方法において、測定した結果が測定状態の変動に影響されることなく、欠陥による真の信号が精度良くとらえられる計測及び解析方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for detecting terminal system abnormality, wherein the apparatus detects an abnormality, such as a connection defect of a transmission line which is difficult to be detected by protocol analysis by means of a conventional protocol analyzer.例文帳に追加

従来のプロトコルアナライザによるプロトコル解析では検出の困難な伝送線の接続不良等の異常を検出することのできる端末システム異常検出装置を提供する。 - 特許庁

In response to “Condition 3,” changing the context of D2 from a facsimile to a disc drive would not change the analysis, as the defect is in the teaching not the field of use. 例文帳に追加

「条件３」については、引用文献２の教示内容の欠陥は、技術分野ではないため、引用文献２の内容をファクシミリからディスクドライブに変えたとしても、分析結果が変わるものではない。 - 特許庁

To provide a bit map data generating apparatus and a method for an IC tester, capable of generating bit map data at high speed without reading out data itself recorded in a defect analysis memory.例文帳に追加

不良解析メモリに記録されたデータ自体を外部に読み出すことなく、高速にビットマップデータを作成することのできるＩＣ試験装置のビットマップデータ作成装置および方法を提供すること。 - 特許庁

To detect contact failure between a probe pin of a prober frame and an electrode of a liquid crystal glass substrate through a software by processing measurement signals in a liquid crystal array inspection apparatus, and to detect contact failure in the stage of measurement signals prior to defect analysis.例文帳に追加

液晶アレイ検査装置において、プローバフレームのプローブピンと液晶ガラス基板の電極との接触不良を、測定信号を信号処理することでソフトウエアによって検出する。 - 特許庁

To provide a method for detecting the position of a PN junction in the semiconductor substrate of a micro semiconductor device by predicting and controlling the device characteristics of a transistor precisely and performing defect analysis of a specific part.例文帳に追加

トランジスタ等のデバイス特性を精確に予測、制御し、特定部位の不良解析を行う、微細な半導体デバイスの半導体基板内のＰＮ接合位置を検出する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a crystal analysis method in material science for use in a computer which accurately, quickly and sterically analyzes a deformation mode and a lattice defect of a material indicated by an atom model.例文帳に追加

原子模型で表示される物質の変形モード及び格子欠陥を正確、迅速且つ立体的に解析可能な計算機援用材料科学における結晶解析方法を提供する。 - 特許庁

To enable to eliminate products having lower reliability out of initial good products by testing margin for a reference potential of a bit line in the case that storage data is read out from a memory cell in a ferroelectric memory, improving reliability of products shipped, and to perform efficiently analysis of defect by making easy to discriminate whether defect of an initial defective product is caused by margin defect or by defect of a manufacturing process.例文帳に追加

強誘電体メモリに関し、メモリセルからビット線に記憶データが読み出された場合におけるビット線の電位の基準電位に対するマージンを試験し、初期良品からの信頼性の低い製品の除去を可能とし、出荷する製品の信頼性の向上を図ると共に、初期不良品については、その不良がマージン不良を原因とするものなのか、あるいは、製造プロセスの欠陥によるものなのかの識別を容易にし、不良解析の効率化を図る。 - 特許庁

An analysis part AN detects foreign object defect data from the first and second surface data, and the foreign object defect data are classified into three categories of a first mode which is indicated only in the first surface data, a second mode which is indicated only in the second surface data, and a third mode which is indicated in both the first and second surface data.例文帳に追加

解析部ＡＮは、第１及び第２表面情報から異物欠陥情報を検出し、異物欠陥情報を、第１表面情報のみに示された第１モード、第２表面情報のみに示された第２モード、第１及び第２表面情報の両方に示された第３モードに区別する。 - 特許庁

When entering is not permitted, as an operation history inside the system, collation NG factor analysis information ('out of validity of card', 'no coincidence of password number' and 'read defect of personal ID') is written on the IC card 1.例文帳に追加

入室の許可を与えない場合、システム内での動作履歴として、照合ＮＧ原因分析情報（「カード有効期限切れ」、「暗証番号の不一致」、「個人ＩＤの読み取り不良」など）をＩＣカード１へ書き込む。 - 特許庁

To provide the manufacture information managing method of a cathode ray tube capable of preserving information related with one panel 11 in a data base 25 without overlapping it, and validly utilizing information preserved in a data base 25 for defect analysis.例文帳に追加

１つのパネル11に関しての情報を重複することなくデータベース25に保存し、データベース25に保存した情報を不良解析に有効に活用できる陰極線管の製造情報管理方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect analysis support system for a game machine, capable of easily and accurately analyzing the defects of the game machine by making various kinds of information relating to the game machine referrable.例文帳に追加

遊技機に関する各種の情報を参照可能とすることで、この遊技機の不良解析を容易かつ正確に行うことを可能にする、遊技機の不良解析支援システムを提供すること等を課題とする。 - 特許庁

To provide a technology which reduces labor of a user to confirm indication, when presenting the indication about a place which is determined that it cannot be confirmed whether or not it is a defect, in static analysis of a source program.例文帳に追加

ソースプログラムの静的解析において，欠陥であるか否かを確定できないと判定された箇所の指摘を提示する際に，それらの指摘を確認するユーザの手間を軽減する技術を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which a ferroelectric capacitor having a defect can be specified efficiently by electrical analysis without analyzing physically in a ferroelectric capacitor having 2Tr2C constitution.例文帳に追加

２Ｔｒ２Ｃ構成の強誘電体キャパシタにおいて、物理的な解析をすること無く、電気的解析により効率良く欠陥が存在する強誘電体キャパシタを特定することができる半導体メモリ装置を提供する。 - 特許庁

To provide an analysis method for dynamic computed tomography to detect a latent defect in the heart of a patient, which can show an illustration for easier correlation of actually obtained values with anatomical information.例文帳に追加

患者の心臓の潜在的欠陥を検出する多時相計算機式断層写真法解析手法において、解剖学的情報に対して実測値を相関付けることを容易にする表現を形成する。 - 特許庁

To provide a bond graph analysis system for blocking such a defect as much as possible that a work loss or input preparation error occurs since an analyzer temporarily prepares a bond graph on paper when analyzing the physical phenomenon of machine, fluid or electricity while expressing it with the bond graph and information required for analysis is constructed in an input file for analysis while watching the relevant bond graph.例文帳に追加

本発明は、機械，流体，電気等の物理的現象をボンドグラフで表現して解析する際に、解析者は一旦紙にボンドグラフ作成し、当該ボンドグラフを見ながら解析に必要な情報を解析用入力ファイルに構築させるようにしているために、作業ロスや入力作成ミスを生じさせており、このような欠点を可及的に阻止するボンドグラフ解析システムを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a device for collecting fault analysis information which can collect as much fault information as possible after it is rebooted even when a temporary defect or malfunction occurs on a main storage device or an HDD device.例文帳に追加

主記憶装置やＨＤＤ装置に一時的に不具合、誤動作が発生した場合においても、再起動後に障害情報を可能な限り収集することができる障害解析情報収集装置を得ることを目的とする。 - 特許庁

When an inspection result of a previous step is included in the chip ID, level identification on a defective or acceptable chip can be carried out by only reading the chip ID and thus this can quickly cope with the defect-cause analysis, shipping by characteristics, or the like.例文帳に追加

チップＩＤに前工程の検査結果を含ませる事で、不良品や良品のレベル識別がチップＩＤの読み取りをおこなうだけで可能となり、不具合の原因解析や特性別の出荷などに迅速に対応できる。 - 特許庁

To provide an analysis element chip that is unlikely to have a defect in a metal thin film even when the metal thin film is placed in a high-humidity environment so as to keep active a physiological active substance fixed to a surface of the metal thin film.例文帳に追加

金属薄膜の表面に固定された生理活性物質の活性を維持するために当該金属薄膜が多湿環境下におかれても、金属薄膜に欠陥が生じ難い分析素子チップを提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a defect analysis method of a silicon single crystal, by which distribution of crystal defects in a silicon single crystal can be easily analyzed even in pulling a silicon single crystal by MCZ (Magnetic Czochralski) method in which a magnetic field is applied in a horizontal direction.例文帳に追加

水平方向に磁場を印加するＭＣＺ法によるシリコン単結晶の引上げにおいても、シリコン単結晶の結晶欠陥の分布を容易に解析することが可能なシリコン単結晶の欠陥解析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid chromatograph capable of performing analysis without causing defect even when sending a moving phase in a wide flow range, concerning a liquid chromatograph wherein the moving phase is formed by mixing a plurality of kinds of solvents.例文帳に追加

複数種類の溶媒を混合したものを移動相とする液体クロマトグラフにおいて、幅広い流量範囲で移動相を送液しても不具合を生じさせることなく分析を行なうことが可能な液体クロマトグラフを提供する。 - 特許庁

Inspection processes 31, 32, etc., and 3N are provided for every prescribed manufacturing processes 21, 22, etc., and 2N of a wafer 1, and a historical defect list 8 is created in an analysis unit 6 by each time inspection results 51, 52, etc., and 5N are obtained from the respective inspection processes 31, 32, etc., and 3N.例文帳に追加

ウエハ１の所定の製造工程２_1,２_2,……,２_N 毎に検査工程３_1,３_2,……,３_Nを設け、夫々の検査工程３_1,３_2,……,３_Nから検査結果５_1,５_2,……,５_Nが得られる毎に、解析ユニット６で欠陥来歴リスト８が作成される。 - 特許庁

The use of the historical defect list enables to obtain accurately within a short period of time, a selection of each manufacturing process with defects, a variation of defects in the manufacturing process, and the analysis result of a growth process and the like.例文帳に追加

従って、かかる欠陥来歴リストを用いることにより、欠陥の発生した製造工程毎の選別や製造プロセスでの欠陥の変化，成長過程などの解析結果を短時間でかつ正確に得ることが可能となる。 - 特許庁

To provide an intelligent ultrasonic flaw detection system by utilizing a neural network that automatically inspects defect of an object to be inspected with the analysis of an ultrasonic pulse echo waveform from the object.例文帳に追加

本発明の課題は、検査対象物からの超音波のパルスエコー波形の分析により、自動的に検査対象物の欠陥等を検査することが可能なニューラルネットワークを利用した知能化超音波探傷システムを提供することにある。 - 特許庁

One method for selecting defects for defect analysis includes binning defects into group(s) based on proximity of the defects to each other and spatial signatures formed by the group(s).例文帳に追加

欠陥解析のために欠陥を選択する一方法は、これらの欠陥の互いの近接性、及び、グループ（１つ又は複数）により形成される空間シグネチャに基づいて、欠陥をこのグループ（１つ又は複数）にビン分類することを含む。 - 特許庁

To sample quickly a slice specimen processed for analyzing by observation, instrumental analysis or the like by means of TEM or STEM, a foreign matter or a defect existing on the surface of a semiconductor wafer or the like or inside thereof.例文帳に追加

本発明の目的は、半導体ウェハ等の表面や内部にある異物や欠陥などをＴＥＭもしくはＳＴＥＭで観察や分析など解析するために加工された薄片試料を迅速に採取することに関する。 - 特許庁

To provide an imaging device (a device according to an aberration correction device) for a charge particle beam device as an electron microscope or the like used for the inspection and measurement of a semiconductor, in which a small deviation beam with a high probe current is formed to improve the resolution and throughput in EDX analysis, WDX analysis, or defect inspection.例文帳に追加

半導体の検査および計測に使用される電子顕微鏡等の荷電粒子ビーム装置用の「撮像装置」（収差補正装置に準ずる装置）であって、ＥＤＸ分析、ＷＤＸ分析、欠陥検査等の分解能およびスループットを向上させるために高プローブ電流で分散の小さいビームを形成できるようにする。 - 特許庁

This semiconductor device testing device 100 is provided with a pattern generator 10, a reference clock generator 60, a timing generator 62, a wave-form shaper 70, a signal input/output section 80, a comparing unit 90, and a defect analysis memory section 110.例文帳に追加

本発明の半導体デバイス試験装置１００のパターン発生器１０は、パターン発生器１０、基準クロック発生器６０、タイミング発生器６２、波形整形器７０、信号入出力部８０、比較ユニット９０、不良解析メモリ部１１０を備える。 - 特許庁

A microphone 30 detects a continuous hammering sound at the working time generated by the hammering body 26, and a sound analyzing device 36 executes defect diagnosis by waveform analysis of the continuous hammering sound by filtering by means of 1/f fluctuation conversion and a wavelet.例文帳に追加

マイクロフォン３０は打撃体２６による作業時の連続打音を検出し、音響分析装置３６は１／ｆゆらぎ変換とウェーブレットによるフィルタリングによってって連続打音における波形解析による欠陥の診断を行う。 - 特許庁

The data analysis part 24, on the basis of inputted extraction condition, extracts information meeting the extraction condition from the image information, the product defect information and the history information, and generates a graph with the image of the component 7 being a graph element.例文帳に追加

データ解析部２４は、入力された抽出条件に基づいて、画像情報、製品不具合情報及び履歴情報からその抽出条件を満たす情報の抽出を行い、部品７の画像をグラフ要素としてグラフを生成する。 - 特許庁

The aluminum nitride sintered compact is characterized in that, in defect analysis in positron annihilation method, the ratio of positrons annihilated within 180 ps (picosecond) in aluminum nitride crystals is ≥90%, and preferably has thermal conductivity of ≥200 W/mK.例文帳に追加

本発明に係る窒化アルミニウム焼結体は、陽電子消滅法における欠陥分析において、窒化アルミニウム結晶中で、180ps(ピコ秒)内に消滅する陽電子の割合が90%以上であることを特徴とし、好ましくは200W／ｍK以上の熱伝導率を有する。 - 特許庁

A determining portion 6 determines the presence of defect in a sentence in the input document data, that is, the paragraph for establishing grammatically correct sentence is not described, when the paragraph corresponding to a route of the syntax tree indicating a result of syntax analysis is not found.例文帳に追加

判定部６は構文解析結果を示す構文木のルートに対応する文節がない場合には、入力文書データ中の文に欠損がある、つまり文法上の正しい文として成立するための文節が記述されていないと判定する。 - 特許庁

This monitoring device of a structure includes the detecting sensor for detecting a defect causing a trouble of the structure, the analyzer for analyzing and evaluating the status obtained by the sensor, and the display device for displaying the analysis and evaluation results.例文帳に追加

本発明は、構造物の不具合となる欠陥を検出する検出センサーと、このセンサーで得られた状況を解析・評価する解析装置と、この解析・評価結果を表示する表示装置とを具備した構造物の監視装置にある。 - 特許庁

A defect display section 12 displays display information, denoting the cause discriminated by the signal discrimination analysis section 11 as the cause to the disabled reception among a plurality of kinds of the display information items stored in the display information storage section 13.例文帳に追加

不具合表示部１２は、表示情報記憶部１３に記憶された複数種の表示情報のうち、信号判定解析部１１が受信不良の原因と判別した原因を示す表示情報をテレビ受像機１９に表示する。 - 特許庁

To provide an electro-optical device capable of surely forming display indicating information to be used for defect analysis or traceability management in a space-saving area other than a transistor forming area on a substrate even when the device is miniaturized and capable of improving yield in manufacturing.例文帳に追加

不良解析やトレーサビリティ管理に用いる情報を示す表示を、装置の小型化を図っても確実に基板に対し、省スペースにてトランジスタ形成領域外に形成でき、製造時の歩留まりを向上させることができる電気光学装置を提供する。 - 特許庁

To enable an analysis to hardware-like troubles to be performed by accumulating data for tracking at which step a defect in the hardware is generated in a course of a printer from the receipt of a printing job to the discharge of a printing paper from the printer.例文帳に追加

プリンタが印刷ジョブを受け付けてからプリンタから用紙が排出されるまでの経路において、どのステップでハードウェア上の欠陥が発生しているかを追跡するためのデータを蓄積することにより、ハードウェア的な障害に対しての解析を可能にする。 - 特許庁

Dies 11, 11 are heated, and thereafter, the dies 11, 11 are left and heat-dissipated so as to uniformize the temperature of the dies 11, 11, and then, the casting of a crude material for verifying is performed, and while the temperature is set to the above uniformized one, solidification defect prediction analysis is performed.例文帳に追加

型１１・１１を加熱した後に、前記型１１・１１を放置して放熱させ、型１１・１１の温度を均一にしてから検証用粗材の鋳込みを行い、前記均温化した温度に設定して凝固欠陥予測解析を行う構成とした。 - 特許庁

To provide a method and a device for evaluating a semiconductor wafer, which highly accurately evaluate the BMD (Bulk Micro Defect) density distribution by obtaining the BMD density over the entire surface of the semiconductor wafer in a short time period for impurity analysis of a silicon substrate.例文帳に追加

シリコン基板の不純物分析をするために、半導体ウェーハ全面のＢＭＤ密度を短時間で取得し、ＢＭＤ密度分布を高精度に評価することができる半導体ウェーハの評価方法及び半導体ウェーハの評価装置を提供する。 - 特許庁

In other words, once the entrainment defect that has occurred in the cavity element is detected as a closed region surrounded by a mold element or the like and the amount of the gas contained inside is made to correspond to the closed region, the amount of the gas trapped in the closed region can be maintained even during the analysis.例文帳に追加

つまり、一度、キャビティ要素内で発生した巻き込み欠陥を型要素等で囲繞された閉領域として検出し、内部に含まれる気体の量をその閉領域に対応づけることで、閉領域内に閉じこめられた気体の量を解析中も保持することができる。 - 特許庁

The data analysis part 24, on the basis of the input of extraction condition by the permitted access, extracts information meeting the extraction condition from the image information, the product defect information and the history information to generate a graph showing the extraction result with the image of the component 7 being a graph element.例文帳に追加

データ解析部２４は、許可されたアクセスによる抽出条件の入力に基づいて、画像情報、製品不具合情報及び履歴情報から抽出条件を満たす情報を抽出し、部品７の画像をグラフ要素として抽出の結果を示すグラフを生成する。 - 特許庁

A defect analyzing section 30 performs relief analysis of a memory device based on the test result stored in the storage device section 40 and a test result performed for a memory device under second environment (e.g. environment in which temperature is set to 0°C) being different from the first environment.例文帳に追加

不良解析部３０は、保存装置部４０に保存された試験結果と、第１環境とは異なる第２環境（例えば、温度が１００℃に設定された環境）下においてメモリデバイスに対して行う試験結果とに基づいて、冗長メモリを用いたメモリデバイスの救済解析を行う。 - 特許庁

Furthermore, when the discrimination indicates that the possibility of the abnormality exists in the connection state of the connection cable, a defect analysis time can be reduced with this report (S8), and the faulty location can easily be identified and the repair can be completed in a short time.例文帳に追加

また、接続ケーブルの接続状態が異常である可能性があるものと判断された場合にはその旨を報知することにより（Ｓ８）、不具合解析時間の短縮化を図ることができるので、故障箇所の特定がしやすく、短時間で修理を済ませることができる。 - 特許庁