「Electron microscopes」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

In the last decade, electron microscopes have significantly advanced with the development of field-emission guns. 例文帳に追加

過去10年間に、電子顕微鏡は電界放出型電子銃の開発で格段に進歩した。 - 科学技術論文動詞集

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, PATTERN MEASURING METHOD USING THE SAME, AND APPARATUS FOR CORRECTING DIFFERENCE BETWEEN SCANNING ELECTRON MICROSCOPES例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及びそれを用いたパターン計測方法並びに走査型電子顕微鏡の機差補正装置 - 特許庁

To provide a high-luminance electron source, using transition metal carbide and having superior mass productivity and being easy to obtain which is used in electron-beam apparatuses, vacuum tubes, and especially, in electron-optical apparatuses, such as, electron microscopes and electron lithographic apparatuses.例文帳に追加

電子線及び電子ビーム機器や真空管、特に、電子顕微鏡や電子ビーム描画装置等の電子光学機器に使用される、量産性に優れ入手の容易な遷移金属炭化物を用いた高輝度電子源を提供する。 - 特許庁

The fundamental principles of optics govern the design and operation of both the light and electron microscopes. 例文帳に追加

光学の根本をなす原理は、光学顕微鏡および電子顕微鏡の両方の設計と操作を支配する。 - 科学技術論文動詞集

Future aberration-corrected electron microscopes will enable sub-Å spatial resolution and sub-eV energy resolution. 例文帳に追加

将来の収差補正電子顕微鏡は、サブオングストロームの空間分解能およびサブeVのエネルギー分解能を可能にするだろう。 - 科学技術論文動詞集

CNT (CARBON NANOTUBE) CHIP AND FABRICATING METHOD FOR IT, ELECTRON GUN, AND STYLET FOR SCAN TYPE PROBE MICROSCOPES例文帳に追加

ＣＮＴ（カーボンナノチューブ）チップ及びその製造方法、並びに電子銃及び走査型プローブ顕微鏡用探針 - 特許庁

A plurality of electron microscopes or charged particle beam apparatuses are arranged to irradiate a wafer with a charged particle beam to inspect it.例文帳に追加

複数の電子顕微鏡装置又は荷電粒子ビーム装置を配置してウェハに荷電粒子線を照射してウェハを検査する。 - 特許庁

Namely, the illuminant 10 has a speed of response and an emission intensity enough for application to scanning electron microscopes and mass spectrometers.例文帳に追加

すなわち、この発光体１０は、走査型電子顕微鏡や質量分析装置への適応に十分な応答速度及び発光強度を有している。 - 特許庁

The detector has improved radiation hardness and it therefore suitable for the detection and imaging of accelerated electrons such as in electron microscopes.例文帳に追加

検出器は改善された放射線耐性を有し、したがってそれは電子顕微鏡のような加速電子の検出および撮像に適する。 - 特許庁

The alternative technology for the device for measuring the remaining life is composed of the electron microscopes 1, 2 for imaging the polished surface of the reference life measurement subject and the computers 6, 8.例文帳に追加

基準寿命計測対象物体の研磨表面を撮影する電子顕微鏡１，２と、計算器６，８とから構成される。 - 特許庁

To provide a corrector which is suitable for transmission electron microscopes and is insensitive to fluctuations in the electrical energy supply.例文帳に追加

透過電子顕微鏡に適し、電気エネルギー供給における変動に感度を有しない補正器を提供する。 - 特許庁

When a plurality of electron microscopes are arranged, they are separated so that optical axes of the microscopes placed in front, in back and on the sides, respectively, may not coincide with one another.例文帳に追加

複数の電子顕微鏡装置を配置する場合、ウェハの表面側に配置した電子顕微鏡装置の光軸と、裏面側に配置した電子顕微鏡装置の光軸と、側面側に配置した電子顕微鏡装置の光軸とが一致しないように複数の電子顕微鏡装置が互いに離して配置されている。 - 特許庁

Electron Microscopes (EMs) function exactly as their optical counterparts except that they use an electron beam instead of light to image the specimen. 例文帳に追加

電子顕微鏡(EM)は、試料を「結像する」ための光の代わりに電子ビームを使うことを除けば、その光学的な対応機器(光学顕微鏡)と同じように機能する。 - 科学技術論文動詞集

To provide a sample preparing device for electron microscopes for observing a three-dimensional structure at a desired place in a finely machined semiconductor device, and to provide an electron microscope and its method.例文帳に追加

微細に加工された半導体デバイス内の所望の箇所の３次元的構造を観察するための電子顕微鏡用試料作製装置、電子顕微鏡及びその方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image luminance adjustment method in a transmission electron microscope that enables the acquisition of image data at the optimum luminance with the same optical conditions as those of transmission electron microscopes, regarding an image luminance adjustment method and system in a transmission electron microscope.例文帳に追加

本発明は透過電子顕微鏡における画像の輝度調整方法及びシステムに関し、透過電子顕微鏡の光学条件は同一のまま、最適な輝度で画像データを取得することができる透過電子顕微鏡における画像の輝度調整方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

A column electron microscope combined device has a structure of arranging: an electron microscope capable of beam tilting for obtaining images by irradiating charged particle beams on an observation defect and detecting electrons emitted from a surface of the observation defect; and compact column electron microscopes enabling imaging from an arbitrary angle on a column of the electron microscope.例文帳に追加

本発明は、上記目的を達成するために、荷電粒子ビームを観察欠陥に照射し、観察欠陥の表面から放出される電子を検出して画像を取得するビームチルトが可能な電子顕微鏡と、当該電子顕微鏡カラムに任意の角度から撮像可能とする小型カラム電子顕微鏡を複数配置した構造とする。 - 特許庁

The overlap evaluation method of the patterns uses an overlap evaluation pattern, acquires an image of the overlap evaluation pattern using electron microscopes 10, 109 (S1), compares the acquired image with layout information in which the overlap evaluation pattern registered in a storage part 111 is to be arranged to calculate the amount and the direction of displacement of each exposure step (S2) and displays an evaluation result (S3).例文帳に追加

重ね合わせ評価パターンを用いるパターンの重ね合わせ評価方法であって、重ね合わせ評価パターンの画像を、電子顕微鏡１０、１０９を用いて取得し（Ｓ１）、取得した画像と、記憶部１１１に登録されていた、重ね合わせ評価パターンが配置されるべきレイアウト情報とを比較して、各露光ステップのずれ量と方向とを算出（Ｓ２）し、評価結果を表示（Ｓ３）する。 - 特許庁