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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Fermi-levelの意味・解説 > Fermi-levelに関連した英語例文

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Fermi-levelの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 62



例文

The gate electrode 17 in the p-channel MIS transistor (Qp) is constituted of a Pt silicide film, where the ratio of Si atoms to Pt atoms is less than 1 (PtSi_x:x<1) in the vicinity of the region adjacent to the gate insulating film 5, and Fermi level pinning of the gate electrode 17 is suppressed.例文帳に追加

pチャネル型MISトランジスタ(Qp)のゲート電極17は、ゲート絶縁膜5と接する領域の近傍において、Pt原子に対するSi原子の比が1未満(PtSi_x:x<1)のPtシリサイド膜で構成され、ゲート電極17のフェルミレベルピニングが抑制されている。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a semiconductor device capable of stabilizing long-term reliability of a product by suppressing occurrence of Fermi level pining so as to furthermore suppress a leak current or the like while suppressing variations in a threshold voltage, and to provide the semiconductor device.例文帳に追加

フェルミレベルピニングの発生を抑制することにより、しきい値電圧の変動を抑制しつつ、さらにリーク電流等の発生を抑制することにより、製品の長期的な信頼性を安定させることの可能な半導体装置の製造方法および半導体装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a desired work function by especially suppressing a reaction between a high dielectric constant material and a gate electrode material, which causes a fermi level pinning phenomenon, and to increase uniformity and yield in a CMOS transistor structure employing a full silicide gate or a metal gate.例文帳に追加

フルシリサイドゲート又はメタルゲートを用いたCMOSトランジスタ構造であって、特にフェルミ・レベル・ピニング現象の原因となる高誘電率材料とゲート電極材料との反応を抑制して所望の仕事関数を得られるようにし、且つ均一性及び歩留まりを高くできるようにする。 - 特許庁

Transition of paramagnetism to ferromagnetism or transition of ferromagnetism to paramagnetism is controlled by providing a laminated structure of an electrode 1/insulating film 2/conductor layer 3 consisted of transition metal, and shifting the position of a Fermi level by applying voltage to the conductor layer 3 via the insulating film 2.例文帳に追加

電極1/絶縁膜2/遷移金属からなる導電体層3の積層構造を有するとともに、導電体層3に絶縁膜2を介して電圧を印加してフェルミ準位の位置を移動させることによって、常磁性−強磁性遷移或いは強磁性−常磁性遷移を制御する。 - 特許庁

例文

To provide a semiconductor device of MIS structure, where thermal excitation current at a limited temperature and current from the vicinity of a Fermi level are suppressed, the leakage current can be reduced and an insulating layer in which the insulating film of a high permittivity and the insulating film of the low permittivity are stacked is used.例文帳に追加

有限温度における熱励起電流とフェルミ準位近傍からの電流の両方を抑え、リーク電流の低減をはかることができる、誘電率の高い絶縁膜と誘電率の低い絶縁膜を積層した絶縁層を用いたMIS構造の半導体装置を提供する。 - 特許庁


例文

In readout operation, electrons are made to flow from the first ferromagnetic layer to the second ferromagnetic layer, and a ferromagnetic body used for the first ferromagnetic layer has two minority spin bands on a high-energy side and a low-energy side and a Fermi level on an energy side higher than the center of the gap of the two minority spin bands.例文帳に追加

読み出し動作時に第1強磁性層から第2強磁性層へ電子を流し、かつ、第1強磁性層に用いる強磁性体は、高エネルギー側と低エネルギー側に二つのマイノリティースピンバンドを有し、二つのマイノリティースピンバンドのギャップの中央よりも高エネルギー側にフェルミ準位を有する。 - 特許庁

An external electron system which is the electric connection destination of each first electronic region 10 in a connection state is configured such that the electronic energy level of the excitation subband of each of the plurality of first electronic regions 10 in a shut-off state becomes sufficiently higher than a Fermi level in each second electronic region 20 facing each first electronic region 10 in a conduction channel 120.例文帳に追加

遮断状態における複数の第1電子領域10のそれぞれの励起サブバンドの電子エネルギーレベルが、伝導チャネル120において第1電子領域10のそれぞれに対向する第2電子領域20のそれぞれにおけるフェルミ準位よりも十分に高くなるように、接続状態における第1電子領域10のそれぞれの電気的な接続先である外部電子系が構成されている。 - 特許庁

To provide a semiconductor device with a MOS structure capable of solving problems such as fermi-level pinning, gate electrode depletion, and diffusion phenomena; and capable of appropriately adjusting (controlling) a threshold voltage by using a material suitable for respective gate electrodes of the MOS structure with different threshold voltages by a more simplified manufacturing process.例文帳に追加

本発明は、フェルミレベルピニング、ゲート電極空乏化、拡散現象等の各問題を解決することができ、より簡略化した製造プロセスにより、閾値電圧が異なるMOS構造のそれぞれのゲート電極に適した材料を採用して閾値電圧を適切に調整(制御)することができる、MOS構造を有する半導体装置を提供する。 - 特許庁

A p-type ohmic electrode is provided with an Se layer to maximally lower a barrier Φb of an Se Fermi level Ef and a wide band gap p-type semiconductor valence, so that the wide band gap p-type semiconductor can have an ohmic contact with a resistance far lower than that of a conventional ohmic electrode provided with a metal layer having a high work function.例文帳に追加

p型オーミック電極にSe層を有することにより、SeのフェルミレベルEfとワイドバンドギャップp型半導体の価電子帯との障壁Φbが最も低い構成となり、ワイドバンドギャップのp型半導体に従来の高い仕事関数を有する金属層を設けたものよりもはるかに低い抵抗を有するオーミックコンタクトを実現することが可能となる。 - 特許庁

例文

In a semiconductor device having MIS structure where an electrode is formed on a silicon substrate through an insulating layer, the insulating layer is formed by stacking a Si3N4 film 2 whose band gap for reducing tunnel current by thermally excited electrons is not less than 4.5 eV, and a TiO2 film 3 whose permittivity for reducing tunnel current from the vicinity of a Fermi level is not less than 30.例文帳に追加

シリコン基板上に絶縁層を介して電極を形成したMIS構造を有する半導体装置において、絶縁層は、熱励起した電子によるトンネル電流を低くするバンドギャップが4.5eV以上のSi_3 N_4 膜2と、フェルミ準位近傍からのトンネル電流を低くする誘電率30以上のTiO_2 膜3とを積層した構造からなる。 - 特許庁

例文

To provide a semiconductor element that can naturally implement a cut-off state of a transistor and increase driving current by selecting the Fermi level of a source region so that the Schottky barrier can be substantially reduced with suppressing the generation of a depletion layer in the neighborhood of the interface with a metal region in a semiconductor region, and a semiconductor element structure having the semiconductor element.例文帳に追加

本発明は、かかる事情に鑑み、トランジスタの遮断状態を自然に実現し、半導体領域に金属領域との界面近傍の空乏層の形成を抑制しつつ、ショットキー障壁を実質的に下げることができるようにソース領域のフェルミ準位を選択することにより、駆動電流を増加させる半導体素子及び該半導体素子を備える半導体素子構造を提供することを課題とする。 - 特許庁

例文

To use a metal gate electrode to prevent depletion of majority carriers and Fermi level pinning which will occur in a gate electrode made by using polysilicon or silicide, and to easily form the metal gate electrode for an n-type MOSFET and for a p-type MOSFET separately by a simple process, in manufacturing a semiconductor device including the n-type MOSFET and the p-type MOSFET.例文帳に追加

半導体装置の製造方法に関し、n型MOSFETとp型MOSFETを含む半導体装置を作製する場合、ポリシリコンもしくはシリサイドを用いたゲート電極で発生する空乏化やフェルミレベルピンニングを抑止する為、メタルゲート電極を用い、しかも、n型MOSFETとp型MOSFETの各メタルゲート電極を簡単な工程で、且つ、容易に作り分けることを可能にする。 - 特許庁




  
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