「SCANNING TUNNELING MICROSCOPE」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

PROBE POSITION CONTROL MECHANISM OF SCANNING TUNNELING MICROSCOPE例文帳に追加

走査型トンネル顕微鏡の探針位置制御機構 - 特許庁

SPIN POLARIZED SCANNING TUNNELING MICROSCOPE例文帳に追加

スピン偏極走査型トンネル顕微鏡 - 特許庁

SCANNING TUNNELING MICROSCOPE EMISSION CONVERGING APPARATUS例文帳に追加

走査トンネル顕微鏡発光集光装置 - 特許庁

SPIN POLARIZED SCANNING TUNNELING MICROSCOPE, AND REGENERATOR例文帳に追加

スピン偏極走査型トンネル顕微鏡及び再生装置 - 特許庁

HIGH-FREQUENCY PULSE SCANNING TUNNELING MICROSCOPE例文帳に追加

高周波パルス走査トンネル顕微鏡 - 特許庁

ULTRA-HIGH-PRESSURE SCANNING TUNNELING MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

超高圧走査型トンネル顕微鏡装置 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING PROBE MADE OF IRIDIUM FOR OBSERVATION OF SCANNING TUNNELING MICROSCOPE例文帳に追加

走査トンネル顕微鏡観察用イリジウム製探針の製作方法 - 特許庁

PRODUCING METHOD OF SILVER NANO-STRUCTURE BY SCANNING TUNNELING MICROSCOPE例文帳に追加

走査トンネル顕微鏡による銀ナノ構造の作製方法 - 特許庁

PROBE FOR SCANNING TUNNELING MICROSCOPE AND METHOD OF FABRICATION例文帳に追加

走査型トンネル顕微鏡用探針およびその作製方法 - 特許庁

SPIN DETECTING SHAFT ROTATING TYPE SPIN POLARIZED SCANNING TUNNELING MICROSCOPE例文帳に追加

スピン検出軸回転型スピン偏極走査型トンネル顕微鏡 - 特許庁

The scanning tunneling microscope emission converging apparatus includes a scanning tunneling microscope and a plurality of optical fibers 2 arranged radially about the end of a scanning tunneling microscope probe 1 and around the scanning tunneling microscope probe 1 to converge emission caused by the operation of the scanning tunneling microscope.例文帳に追加

走査トンネル顕微鏡発光集光装置において、走査トンネル顕微鏡と、この走査トンネル顕微鏡の操作での発光を集光するために、前記走査トンネル顕微鏡探針１の先端を中心として前記走査トンネル顕微鏡探針１の周りに放射状に配置される複数の光ファイバー２を具備する。 - 特許庁

To provide a method of lithography using a scanning tunneling microscope by which exposure can be executed by accurate tunneling current fine flux.例文帳に追加

精密なトンネル電流微細束線による露光を得ることができる走査型トンネル顕微鏡を用いたリソグラフィ方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning tunneling microscope capable of measuring the surface of electrically nonconductive matter which does not conduct electricity.例文帳に追加

電気を通さない非電導性物質表面の測定ができる走査型トンネル顕微鏡の提供。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing an acute probe made of iridium, easy to handle, for the observation of a scanning tunneling microscope.例文帳に追加

取扱が容易な尖鋭な走査トンネル顕微鏡観察用イリジウム製探針の製作方法を提供する。 - 特許庁

To provide a probe used in a scanning tunneling microscope with an extremely sharp tip and high strength and its manufacturing method.例文帳に追加

走査型トンネル顕微鏡に使用する先端が極めて先鋭でかつ強度の大きい探針とその製造方法を提供する。 - 特許庁

Two STM (scanning tunneling microscope) probes 8 are used, brought close to each other, and adjusted to locations at the same height for the tip parts of the probes and at the shortest distance 15 from each other through which a tunneling current does not pass.例文帳に追加

２本のＳＴＭ探針８を使い、探針同士を近づけ、探針の先端部分は同じ高さでなおかつトンネル電流が流れないぎりぎりの距離１５に位置を調整をする。 - 特許庁

When the analyzing area for the scanning atom probe(SAP) is selected, the tip of the extraction electrode for the SAP is used as a probe for a scanning tunneling microscope(STM), and the shape of the sample is plotted thereby, to select the analyzing area.例文帳に追加

走査型アトムプローブ（ＳＡＰ）の分析領域を選定する際、該ＳＡＰの引出電極の先端を走査型トンネル顕微鏡(ＳＴＭ)の探針として用い、試料の表面形状を描き出させて分析領域を選定する。 - 特許庁

To separately measure a tunneling current derived from the uneven surface state of a sample and a tunneling current derived from a magnetized state at every magnetic domain of the sample in a spin polarization scanning tunneling microscope and to observe the surface uneven state of the sample and the magnetized state of each magnetic domain of the sample with high accuracy.例文帳に追加

スピン偏極走査型トンネル顕微鏡に関し、試料の各磁区ごとに試料表面の凹凸状態に起因するトンネル電流と磁化状態に起因するトンネル電流とを別々に測定できるようにし、試料表面の凹凸状態と試料の各磁区の磁化状態とを高精度に観測することができるようにする。 - 特許庁

To provide a new probe for a scanning tunneling microscope and a method of fabrication having high conductivity and high optical transmission, and capable of obtaining high plasmon luminous efficiency.例文帳に追加

高導電性および高光透過性を有するとともに、高いプラズモン発光効率を得ることのできる、新しい走査型トンネル顕微鏡用探針およびその作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning tunneling microscope emission converging apparatus having a higher light converging efficiency in a vacuum without impairing the high space resolution of an STM.例文帳に追加

ＳＴＭのもつ高い空間分解能を犠牲にすることなく、真空中でより高い集光効率をもった走査トンネル顕微鏡発光集光装置を提供する。 - 特許庁

To provide radial clusters of sharp-ended multiwalled carbon nanotubes, which are new carbon nanostructures useful as a probe for STM (scanning tunneling microscope) or AFM (atomic force microscope), a field emission electron source of a display element, a display, or the like, and to provide a method for preparing the radial clusters.例文帳に追加

ＳＴＭやＡＦＭ用探針、表示素子、ディスプレイ等の電界放出電子源などとして有用な、新規なカーボンナノ構造物である鋭端多層カーボンナノチューブ放射状集合体とその製造方法鋭端多層カーボンナノチューブ放射状集合体とその製造方法を提供する。 - 特許庁

Thymine is fixed on a conductive surface of a substrate, a bias voltage applied between a probe and the substrate is varied with a distance between the probe of the scanning probe microscope and thymine fixed, a tunneling current flowing between the probe and thymine is measured, to find an inflection bias voltage wherein a variation rate of the tunneling current logarithmically transformed with respect to the bias voltage varies.例文帳に追加

表面が導電性をもつ基板表面にチミンを固定し、走査型プローブ顕微鏡のプローブとチミン間の距離を固定した状態でプローブと基板間に加えるバイアス電圧を変化させてプローブとチミンとの間に流れるトンネル電流を測定し、バイアス電圧に対する対数変換されたトンネル電流の変化率が変化する変曲バイアス電圧を求める。 - 特許庁

After a resist film 11 is coated on the surface of a substrate 10 and a layer of atom 12 is formed on the resist film 11, atoms 12 is pulled out of the layer of the atoms 12 according to the designed pattern by the use of probe 13 of scanning tunneling microscope.例文帳に追加

基板１０の表面にレジスト膜１１を塗布し、次いで、前記レジスト膜１１上に原子１２の層を形成した後、走査型トンネル顕微鏡の探針１３を用いて設計パターン様に前記原子１２の層から原子１２を引き抜く。 - 特許庁

The stylet 5 of a scanning tunneling microscope (STM) is installed in the vicinity of a point where the DNA 3 is taken into the inside of the RNA polymerase 2 and the distance between the stylet and the DNA 3 is kept to be constant to be metered with a tunnel current.例文帳に追加

走査型トンネル顕微鏡の探針５をピエゾスキャナ６とピエゾスキャナ駆動回路７を用いてＤＮＡ３がＲＮＡポリメラーゼ２の内部に取り込まれる個所の近傍に設置し、ＤＮＡ３との距離をトンネル電流が計測できる一定の距離に保つ。 - 特許庁

To provide a pattern forming method and a pattern forming apparatus by which a pattern in a relatively wide region of a square millimeter or larger can be formed in a short time by electrochemical lithographic pattern forming method and the pattern can be formed without using an expensive apparatus such as an AFM (atomic force microscope) and an STM (scanning tunneling microscope).例文帳に追加

電気化学リソグラフィーによるパターン形成方法において、平方ミリメートル以上の比較的広い領域に渡るパターン形成を、短時間で行うことを可能とするとともに、ＡＦＭ、ＳＴＭなどの高価な装置を用いることなくパターンを形成し得るパターン形成方法及びパターン形成装置を提供する。 - 特許庁

Local density of state (LDOS) of carbon atoms in the organic molecules adsorbed to the metal is observed in an occupation state or non-occupation state using a scanning tunneling microscope (STM), thereby determining the adsorption state of the organic molecules to adjust the adsorption state of the adsorption organic molecules.例文帳に追加

金属に吸着した有機分子について、走査トンネル顕微鏡（ＳＴＭ）を用いて、占有状態または非占有状態で、有機分子中の炭素原子に局在する状態密度（ＬＤＯＳ）の観測を行うことにより、有機分子の吸着状態を決定することを通じて、吸着有機分子の吸着状態を調整する。 - 特許庁

In this method of manufacturing the probe made of iridium, used in the scanning tunneling microscope(STM), a calcium chloride solution incorporated with acetone is used as an electrolyte, and a parallel plate type electrodes made of graphite are used as opposed electrodes in electrolytic grinding to manufacture the acute probe made of iridium, easy to handle, by an electrolytic polishing method.例文帳に追加

走査トンネル顕微鏡（ＳＴＭ）で使用するイリジウム製探針の製作方法において、アセトンを添加した塩化カルシウム溶液を電解液とし、かつ電解研削時の対向電極として黒鉛製平行平板型電極を用いて電解研磨法により、取り扱いが容易な尖鋭なイリジウム製探針を作製する。 - 特許庁

In the probe 10 of the scanning tunneling microscope and its manufacturing method, the probe 10 is formed from metal such as tungsten, a tip surface 12 of the probe 10 has a buffer layer such as a carbonization coating film, and a carbon nanotube 13 is extended from the buffer layer such as the carbonization coating film of the tip surface 12 of the probe 10.例文帳に追加

走査型トンネル顕微鏡の探針１０において、探針１０はタングステン等の金属で形成され、探針１０の先端表面１２は炭化コーティング膜等のバッファー層を有し、探針１０の先端表面１２の炭化コーティング膜等のバッファー層からカーボンナノチューブ１３が延設されている走査型トンネル顕微鏡の探針１０とその製造方法である。 - 特許庁