STRESS TESTの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 365件
(4) Stress Test 例文帳に追加
④【ストレス・テスト】 - 金融庁
a submaximal stress test 例文帳に追加
準最大なストレステスト - Weblio英語基本例文集
(3) Utilization of Stress Test Results 例文帳に追加
③【ストレス・テスト結果の活用】 - 金融庁
STRESS CORROSION CRACKING TEST PIECE AND STRESS CORROSION CRACKING TEST METHOD例文帳に追加
応力腐食割れ試験片及び応力腐食割れ試験方法 - 特許庁
DYNAMIC MEMORY DEVICE PERFORMING STRESS TEST例文帳に追加
ストレス試験を行うダイナミックメモリデバイス - 特許庁
- Appropriateness of stress test scenarios, etc. 例文帳に追加
・ ストレス・テストにおけるシナリオ等の妥当性 - 金融庁
CHARGE GAIN STRESS TEST CIRCUIT FOR NON-VOLATILE MEMORY AND CHARGE GAIN STRESS TEST METHOD例文帳に追加
不揮発性メモリの電荷利得ストレステスト回路及び電荷利得ストレステスト方法 - 特許庁
To provide a stress test fixture for preventing a test piece from being buckled in a tensile and compression stress test, and a tensile and compression stress test method using it.例文帳に追加
引張圧縮応力試験において座屈の発生を防止できる応力試験治具及びこれを用いた引張圧縮応力試験方法の提供。 - 特許庁
To provide a flash memory device wherein time required for a stress test can be reduced and to provide a stress test method.例文帳に追加
ストレステスト時間を減らすことができるフラッシュメモリ装置とそのストレステスト方法を提供する。 - 特許庁
MINUTE TEST PIECE STRESS LOADING DEVICE AND METHOD例文帳に追加
微小試験片応力負荷装置及び方法 - 特許庁
STRESS TEST METHOD FOR MEMORY CELL OXIDE FILM OF DRAM例文帳に追加
DRAMのメモリセル酸化膜のストレステスト方法 - 特許庁
The stress test circuit (11) outputs control signals (TM1-TM3) for performing a stress test to a test object (2) and the stress test determination circuit (12).例文帳に追加
ここにおいて、ストレス試験回路(11)は、ストレス試験を実行するための制御信号(TM1〜TM3)を試験対象(2)とストレス試験判定回路(12)とに出力する。 - 特許庁
TEST SUBSTRATE AND STRESS MEASURING METHOD OF JOINT例文帳に追加
テスト基板及び接合部の応力測定方法 - 特許庁
RESIDUAL STRESS MEASURING TEST PIECE AND HEAT TREATMENT METHOD FOR THE TEST PIECE例文帳に追加
残留応力測定試験体および試験体の熱処理方法 - 特許庁
TEST PIECE MOUNTING JIG FOR HALF-DIPPING STRESS CORROSION CRACK TEST AND DEVICE例文帳に追加
半浸漬応力腐食割れ試験用試験片取付治具および装置 - 特許庁
Instead of a bias temperature-stress test (BT test), a simple test having a correlation with the BT test is performed.例文帳に追加
バイアス−熱ストレス試験(BT試験)のかわりに、当該試験と相関関係を有する簡便な試験を行う。 - 特許庁
A semiconductor device (1) includes a stress test circuit (11) and a stress test determination circuit (12).例文帳に追加
ストレス試験回路(11)と、ストレス試験判定回路(12)とを具備する半導体装置(1)を構成する。 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD OF STRESS CORROSION CRACKING SAMPLE AND TEST PIECE FOR NON-DESTRUCTIVE TEST例文帳に追加
応力腐食割れサンプルの作製方法および非破壊試験用試験片 - 特許庁
TEST METHOD OF STRESS CORROSION CRACK DEVELOPMENT AND TESTING EQUIPMENT THEREFOR例文帳に追加
応力腐食割れ進展試験方法及びその装置 - 特許庁
So we go in for a stress test and after 20 minutes例文帳に追加
ストレステストを始めて20分後 医者が来てこう言います - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
To efficiently perform a stress test of a gradation selection circuit.例文帳に追加
階調選択回路のストレステストを効率的に行う。 - 特許庁
To reduce an increase in current consumption during a stress test.例文帳に追加
ストレス印加テスト時の消費電流の増大を抑制する。 - 特許庁
To provide a test method of a ferroelectric memory in which a stress test can be performed at high speed.例文帳に追加
ストレス試験を高速に行うことができる強誘電体メモリの試験方法。 - 特許庁
ANALYSIS ON THE DEGREE OF ALLOWABLE GROUND STRESS USING SUBSURFACE SOUNDING TEST例文帳に追加
サウンディング試験を用いた地盤の許容応力度解析法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR MANUFACTURING STRESS CORROSION CRACK TEST SPECIMEN例文帳に追加
応力腐食割れ試験体の製作方法及び製作装置 - 特許庁
To provide a semiconductor memory device and its test method capable of simplifying the stress test.例文帳に追加
ストレステストを簡略化出来る半導体記憶装置及びそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a jig for stress corrosion cracking test and capable of easily mounting a plurality of test pieces.例文帳に追加
より簡易に複数の試験片を設置できる応力腐食割れ試験用ジグを提供する。 - 特許庁
To increase the number of word lines to be simultaneously started in a stress test.例文帳に追加
ストレステストにおいて同時に立ち上げるワード線の本数を増やす。 - 特許庁
METHOD AND SYSTEM OF STRESS TEST SIMULATION OF BEHAVIOR OF FINANCIAL PRODUCT例文帳に追加
金融商品の挙動のストレステスト・シミュレーションの方法およびシステム - 特許庁
SEMICONDUCTOR CIRCUIT, SEMICONDUCTOR CIRCUIT STRESS TEST METHOD, AND SEMICONDUCTOR CIRCUIT例文帳に追加
半導体回路、及び半導体回路のストレス試験方法、半導体回路 - 特許庁
The stress test determination circuit (12) outputs the determination result indicating whether or not the stress test has been performed based on the control signals (TM1-TM3).例文帳に追加
そして、ストレス試験判定回路(12)は、制御信号(TM1〜TM3)に基づいて、ストレス試験が実行されたか否かを示す判定結果を出力する。 - 特許庁
To perform a stress test detecting defect between a pair of bit lines in a short time.例文帳に追加
ビット線対間の不良を顕在化するストレス試験を短時間で行う。 - 特許庁
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