「STRESS TEST」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

The operation test or stress test conducted by using a terminal provided on the driver 1 for driving displays and dust detecting test using measuring terminals 6, 7 of the dust detecting circuit are conducted with the wafer test in the same step.例文帳に追加

上記表示装置駆動用ドライバ１上に設置された端子を使用して行う動作テストまたはストレステストと、ダスト検知用回路の測定端子６，７を使用して行うダスト検知テストとを、同工程のウエハテストにて行う。 - 特許庁

A minute test piece stress loading device comprises a tool 10 for loading stress; a minute test piece 14 inserted into a sample insertion hole 12; and a heating device 16 that accommodates them and is capable of simultaneously increasing temperature at nearly the same temperature increase rate.例文帳に追加

応力負荷用治具１０と、その試料挿入穴１２に挿入される微小試験片１４と、それらを収納し且つ等しい昇温率で同時昇温可能な加熱装置１６とを具備している。 - 特許庁

To provide a delayed destructive test method and a delayed destructive tester for eliminating a necessity for applying a fixed tensile stress, and eliminating a necessity for processing a test piece into a predetermined shape to apply the tensile stress.例文帳に追加

一定の引張り応力を付与する必要のない、従って引張り応力を付与するために試験片を所定の形状に加工する必要のない遅れ破壊試験方法および遅れ破壊試験装置を提供する。 - 特許庁

A yield stress estimating part 140 calculates the theoretical values of the load applied to the test piece with the displacement of the test piece with respect to the different coefficients of friction, determines the theoretical value becoming minimum in the error with the test result of the respective calculated theoretical values, and calculates the yield stress on the basis of the determined theoretical value and the test result.例文帳に追加

そして、降伏応力推定部１４０が、試験片に加える荷重と変位との理論値を異なる摩擦係数毎に算出し、算出した各理論値のうち、試験結果との誤差が最小となる理論値を判定するとともに、判定した理論値と試験結果とを基にして降伏応力を算出する。 - 特許庁

A pair of these test piece holding members are provided with bearing members held turnably centered on an axial line passing through a bending stress providing point of the test piece held between the test piece holding members, respectively.例文帳に追加

そして、これらの一対の試験片保持部材に、該試験片保持部材間に保持される試験片の曲げ応力付与点を通る軸線を中心にそれぞれ回動自在に保持した軸受部材を設ける。 - 特許庁

To provide an integrated circuit apparatus which has a ferroelectric memory and of which the test time can be shortened, and a test method therefore in a test in which stress voltage is applied to a ferroelectric capacitor.例文帳に追加

強誘電体キャパシタにストレス電圧を与える試験において、試験時間を短縮することができる強誘電体メモリを有する集積回路装置及びその試験方法を提供する。 - 特許庁

Data on a stress-strain characteristic of the terminal-constituting material are acquired by a normal tensile test.例文帳に追加

また、端子を構成する材料についての応力−歪み特性のデータを通常の引張試験により取得する。 - 特許庁

The yield can be improved by performing a threshold value test of a memory cell after batch stress applying tests of a plurality of kinds.例文帳に追加

複数種類の一括ストレス印加試験後にメモリセルの閾値検査を行うことで歩留向上が図れる。 - 特許庁

Data on stress-strain characteristic of the terminal strength are obtained by a normal tensile test.例文帳に追加

また、端子を構成する材料についての応力−歪み特性のデータを通常の引張試験により取得する。 - 特許庁

The quality of the prepared test pattern is verified, based on the calculated stress activation rate.例文帳に追加

このように算出したストレス活性化率に基づいて、作成したテストパターンの良否を検証することができる。 - 特許庁

To omit a high temperature tensile test by estimating a stress-strain relation ranging from a room temperature region to a high temperature region from yield stress and tensile strength obtained by a tensile test at a room temperature or the yield stress or yield strength and tensile strength at the room temperature entered in the mill sheet of a steel material.例文帳に追加

室温での引張試験で得られる降伏応力と引張強度から、又は、鋼材のミルシートに記載される室温での降伏応力若しくは耐力と引張強度から、室温域から高温域に至るまでの応力−歪み関係を予測し、高温引張試験を省略する。 - 特許庁

The ground evaluation system is formed of a test value data file in which test numerical values corresponding to a plurality of depths collected by the SWS test, are stored, and an evaluation value data file in which evaluation values determined in proportion to stress functions corresponding to the respective depths of the test values are stored.例文帳に追加

ＳＷＳ試験で収集した複数深度ごとの試験数値を格納する、試験値データファイルと、試験値の各深さに応じる応力関数に比例して決定した評価値を格納する、評価値データファイルとによって構成する。 - 特許庁

To properly estimate the plateau stress when the dimension of a required test piece is different from that of a standard test piece with respect to a porous metal having a closed cell structure, without performing the static compression test in the dimension of the required test piece.例文帳に追加

クローズドセル構造のポーラス金属について標準試験片寸法とは異なる所要試験片寸法の場合でのプラトー応力を、該所要試験片寸法での静的圧縮試験を行うことなく適正に予測できるようにすること。 - 特許庁

PMOS and NMOS transistors for composing the transistor switches 45 are alternately selected, and a stress voltage is applied for specific time, thus executing the stress test of all the transistors in two stress application cycle times.例文帳に追加

トランジスタスイッチ４５を構成するＰＭＯＳトランジスタ・ＮＭＯＳトランジスタを交互に選択して、ストレス電圧を所定時間印加することで、２回のストレス印加サイクル時間で上記全トランジスタのストレス試験を実施できる。 - 特許庁

The reflected light is received by two color cameras for the shearing stress liquid crystal for verification applied onto a test body to photograph an image of the shearing stress liquid crystal.例文帳に追加

検定物体に塗布された検定用の剪断応力液晶に対して２つのカラーカメラにより反射光を受光して剪断応力液晶の画像を撮影する。 - 特許庁

To provide a test circuit, a semiconductor device and a method for manufacturing the same, for applying a stress to a node of a combination circuit to which the stress is not applied by only F/F in a burn-in test or a leak test of the semiconductor device, and inhibiting circuit overhead of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置のバーンインテストまたはリークテストの際に、F/Fだけではストレスを印加できない組み合わせ回路のノードにストレスを与えるとともに、半導体装置の回路オーバーヘッドを抑えることができるテスト回路、半導体装置及びその製造方法を提供すること。 - 特許庁

A strength H of a stress singular field near a contact end is determined from a maximum stress distribution obtained by a finite element method, and a fatigue test result is organized by a ratio of a strength ΔH of the stress singular field and a strength ΔHc of a crack initiation critical stress singular field.例文帳に追加

接触端近傍の応力特異場の強さＨを、有限要素法から得られる最大応力分布から求めて、応力特異場の強さΔＨとき裂発生限界応力特異場の強さΔＨｃの比率で、疲労試験結果を整理した。 - 特許庁

The tool for loading stress is made of a material having a smaller thermal coefficient of expansion than that of the minute test piece, and loads the minute test piece with compressive stress only by high-temperature heating, by utilizing the difference in the thermal coefficients of expansion between materials of different kind.例文帳に追加

応力負荷用治具は微小試験片よりも熱膨張率が小さな材料からなり、異種材料の熱膨張率の差を利用して、高温加熱のみで微小試験片に圧縮応力が負荷されるように構成する。 - 特許庁

To provide an impact test device and an impact test method capable of obtaining an impact stress-strain characteristic or the like when applying impact force onto an impact absorbing material.例文帳に追加

衝撃吸収材料の衝撃力作用時における衝撃応力—歪み特性等を得ることができる衝撃試験装置及び衝撃試験方法を提供する。 - 特許庁

The internal stress measuring device also comprises a calculation section having an expression for correcting the material and structure of the resin test strip and a test strip restricting section such as the clamp based on a load value acquired from the load cell.例文帳に追加

ロードセルから得られた荷重値から、樹脂試験片とクランプなどの試験片拘束部の材質と構造を補正する式が設けられた計算部を有する。 - 特許庁

The fixed displacement is imparted forcibly to an opening part of the test piece, prescribed repeated compression loads are loaded to the test piece under a fixed displacement condition to be returned thereafter to the fixed displacement, and a stress corrosion cracking test is carried out.例文帳に追加

試験片の開口部に強制的に一定変位を付与し、一定変位状態の試験片に所定の繰り返し圧縮荷重を与え、その後に一定変位に戻し、応力腐食割れ試験を行う。 - 特許庁

To provide a biaxial tension test device which gives tensile force to a thin tabular test piece to obtain experimental data on even stress-strain at the center part in the surface direction of a part to be measured of the test piece.例文帳に追加

薄肉板状の試験片に引張り力を付与し、試験片の被測定部の面方向中央部に均一な応力−ひずみの実験データを得ることができる二軸引張り試験装置を提供する - 特許庁

To reduce an assembly cost by making chips defective before assembly instead of making them defective in a stress test after assembly.例文帳に追加

組立後のストレス試験で不良化させていたチップを組立前において不良化させて、組み立てコストを削減すること。 - 特許庁

To provide a breaking test piece capable of evaluating an influence of plastic constraint under the same welding residual stress distribution.例文帳に追加

同じ溶接残留応力分布下における塑性拘束の影響を評価できる破壊試験片を提供すること。 - 特許庁

To provide a system used for a stress corrosion cracking test capable of obtaining an accurate crack numeral value, and useful for evaluating and measuring tube inner wall crack.例文帳に追加

亀裂数値が正確で、管内壁亀裂の評価と計測に役立つ応力腐食割れ試験に用いるシステム。 - 特許庁

The polyether copolymer has a yield stress of 1.0-8.0 MPa measured by a tensile test at 20°C.例文帳に追加

温度２０℃での引張試験における降伏応力が、１．０〜８．０ＭＰａであることを特徴とするポリエーテル共重合体。 - 特許庁

Thus, a stress test can be performed with a smaller area than when separating the precharge voltage VBLPL into two lines for each sub-array SARY.例文帳に追加

サブアレイＳＡＲＹ毎にプリチャージ電圧ＶＢＬＰＬを２系統に分離するよりも少ない面積で実現できる。 - 特許庁

FLASH MEMORY DEVICE HAVING COLUMN PRE-DECODER WHICH CAN CHOOSE ALL COLUMN SELECTING TRANSISTOR AND ITS STRESS TEST METHOD例文帳に追加

全てのコラム選択トランジスタを選択することができるコラムプリデコーダを有するフラッシュメモリ装置とそのストレステスト方法 - 特許庁

To provide a support leg vibration test device capable of accurately measuring the stress of a cantilever support leg for a wheel.例文帳に追加

車輪を片持ち保持する支持脚の正確な応力測定が可能な支持脚振動試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a stress-testing circuit and a stress-testing method for quickly and easily executing the stress test of a transistor switch in a semiconductor integrated circuit for selecting a multiple-value analog gradation voltage by a plurality of transistor switches for outputting.例文帳に追加

多値のアナログ階調電圧を複数のトランジスタスイッチで選択して出力する半導体集積回路において、トランジスタスイッチのストレス試験を短時間且つ容易に実施できるストレス試験回路及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test method of stress corrosion crack development capable of evaluating a crack developing speed even under a condition of a low load/low stress magnification coefficient, and to provide testing equipment therefor.例文帳に追加

低荷重・低応力拡大係数の条件の下であってもき裂進展速度評価をすることができる応力腐食割れ進展試験方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test substrate and a stress measuring method capable of measuring accurately a stress caused by drop impact applied to a joint between an electronic component and a substrate.例文帳に追加

電子部品と基板との接合部に加わる落下衝撃による応力を、精度良く測定することができるテスト基板並びに接合部の応力測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a stress corrosion cracking sample capable of easily manufacturing a sample into which the stress corrosion cracking formed in an actual machine is introduced with good reproducibility on the basis of the elucidation result of a mechanism of stress corrosion cracking in low-carbon stainless steel, and a test piece for a non-destructive test.例文帳に追加

低炭素ステンスレス鋼での応力腐食割れのメカニズムを解明した結果に基づき、実機に発生する応力腐食割れを再現性良く導入したサンプルを容易に作製することができる応力腐食割れサンプルの作製方法および非破壊試験用試験片を提供すること。 - 特許庁

To provide a test method of side slip or the like of a vehicle and its testing device having a simple formation and a small size, capable of improving test precision by releasing before the test an initial stress of wheels loaded on a test roller, being manufactured inexpensively, and improving its service life.例文帳に追加

テスト用ローラに乗り込んだ車輪の初期応力を試験前に解放し、試験精度の向上を図るとともに、構成が簡単で小形かつ安価に製作でき、その寿命の向上を図れるようにした、車両のサイドスリップ等の試験方法及びその試験装置の提供。 - 特許庁

Then, based on the stress-strain correlation obtained by the tensile test, terminal strength is analyzed by finite element method.例文帳に追加

そして、引張試験により得られた応力歪み相関関係に基づいて、端子強度を有限要素法により解析する。 - 特許庁

To provide a test device for testing a semiconductor integrated circuit in a short time without applying excessive stress.例文帳に追加

過剰なストレスを付加することなく、短時間で半導体集積回路を試験することが可能な試験装置を提供する。 - 特許庁

On the European front as well, I heard that before dawn on the 24th, the results of a stress test covering 91 banks will be announced. 例文帳に追加

あわせて欧州の方では24日の未明だと思うのですが、91行に対するストレステストの結果が公表されると聞いています。 - 金融庁

To automatically conduct stress impression at the time of burn-in test by adding only a few circuits to a scan-designed circuit.例文帳に追加

スキャン設計された回路に対し若干の回路を追加するだけで、バーンインテスト時の適切なストレス印加を自動的に行う。 - 特許庁

A test value of a relation between a direction of a fluid and a hue value of the shearing stress liquid crystal for the test is stored in a memory, based on the image photographed concurrently by the two color cameras.例文帳に追加

２つのカラーカメラにより同時に撮影された画像に基づいて、流体の方向と前記検定用の剪断応力液晶の色相値との関係の検定値をメモリに格納する。 - 特許庁

The test body whose corrosion resistance is maintained by passivation is kept in contact with a tetrathionate solution to generate and develop the intergranular stress corrosion cracking in the test body.例文帳に追加

不働態化により耐蝕性を維持する試験体をテトラチオン酸塩溶液と接触させて、前記試験体に粒界型応力腐食割れを発生、進展させることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a liquid phase-type thermal shock test device capable of eliminating the fluctuation of thermal stress to add to an object to be measured and implementing an original thermal shock test with high precision and reproducibility.例文帳に追加

被測定対象物に加える熱ストレスの変動を無くし、本来の熱衝撃試験を正確で且つ高い再現性で実施できる液相式熱衝撃試験装置を提供する。 - 特許庁

Thus, the permeability test can be simultaneously applied to the plurality of samples W1, W2, W3, etc. in a triaxial stress state, and the test time can be shortened.例文帳に追加

このようにして、複数の供試体Ｗ１、Ｗ２、Ｗ３、…について、三軸応力状態下において同時に透水試験を行うことができ、試験時間を短縮することができる。 - 特許庁

To provide a sham test piece for non-destructive inspection capable of easily and inexpensively obtaining a sham test piece having a grain boundary stress corrosion crack and a non-destructive inspection method applied to this technique.例文帳に追加

粒界応力腐食割れを有する模擬試験体を容易且つ安価に得ることができる非破壊検査用模擬試験体及びこの技術を応用した非破壊検査方法の提供。 - 特許庁

Further, the combination of the metal material having resistance in the surface stress corrosion cracking is discovered by observing the state of the surface stress corrosion cracking of the stainless steel test piece by removing the plurality of the test pieces (set) in a time series by using the testing apparatus for evaluating it.例文帳に追加

さらに、その評価試験装置を使用し、複数の試験片（組）を時系列に取り外して、ステンレス鋼試験片の外面応力腐食割れ状況を観察することにより、外面応力腐食割れに抵抗性のある金属材料の組み合わせを見出す。 - 特許庁

To make exactly measurable the thermal resistance between pellet cases of a test piece during impressing a thermal stress to the test piece consisting of a semiconductor for electric power in the case of testing durability of the semiconductor for electric power against thermal stress.例文帳に追加

電力用半導体の熱ストレスに対する耐久性を調べる熱ストレス試験装置において、電力用半導体から成るテストピースＴＰへの熱ストレス印加時におけるテストピースＴＰのペレット・ケース間の熱抵抗を正確に測定できるようにする。 - 特許庁