「STRESS TEST」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor memory in which voltage stress can be applied between adjacent column selecting lines in a burn-in test period.例文帳に追加

バーインテスト期間中において、隣接する列選択線間に電圧ストレスを印加することが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

A method for evaluating stress of an animal includes measuring IL-18 using an anti-interleukin-18 (IL-18) antibody in a test animal-derived sample.例文帳に追加

被験動物由来のサンプルにおいて、抗インターロイキン-18(IL-18)抗体を用いてIL-18を測定することを含む、動物のストレス評価方法。 - 特許庁

As a result, the filler layer 53 diffuses and absorbs stress generated during a reliability test, so that the breakage of the main substrate 5 is prevented.例文帳に追加

この結果充填層５３は、信頼性試験時に発生する応力を分散吸収するので、主基板５の破損が防止される。 - 特許庁

This is the system for measuring maximum value of the source voltage applied as stress voltage in burn-in test of the semiconductor device.例文帳に追加

本発明は、半導体装置のバーンインテスト時にストレス電圧として印加される電源電圧の最大値を測定する装置に関する。 - 特許庁

When a nondestructive test on an in-reactor structure 1 results in the detection of a stress corrosion cracking 2, a process is performed for applying compressive residual stresses to a compressive residual stress area 3 which is a surface area involving the stress corrosion cracking 2.例文帳に追加

原子炉炉内構造物１に対して非破壊検査を実施した結果、応力腐食割れ２を発見した場合、この応力腐食割れ２を含む表面領域である圧縮残留応力域３に対して圧縮残留応力を付加する処理を行う。 - 特許庁

O.) are performed between the DC stress test method of the simple body TEG and an aging test method.例文帳に追加

本発明は、単体ＴＥＧのＤＣストレス試験法とエージング試験法との間にＣＭＯＳ動作を想定したＡＣストレス試験とリングオシュレータ（Ｒ．Ｏ．）を用いたＡＣストレス試験を行うことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a press unit for a necessary and enough pressure strength and to minimize the stress to a print plate in an in-circuit test or a function test of the print plate with mounted components.例文帳に追加

部品を実装したプリント板のインサーキット・テストまたはファンクション・テストにおいて、被測定プリント板に与えるストレスを最小限に抑えながら、必要かつ充分な加圧力を与えるプレスユニットを提供する。 - 特許庁

A scan signal Scan 1 for controlling a stress voltage to be inputted or not to be inputted at a burn-in test time and a scan signal Scan 2 for controlling the stress voltage to be inputted or not to be inputted to an interface circuit part are inputted to the semiconductor devices 1 constituting each row on the test board 2.例文帳に追加

また、テストボード２上で各行を構成する半導体装置１には、バーンインテスト時におけるストレス電圧の入力のオン／オフを制御するスキャン信号Ｓｃａｎ１及びインタフェース回路部へのストレス電圧の入力のオン／オフを制御するスキャン信号Ｓｃａｎ２が入力される。 - 特許庁

To provide a test piece and a test method for evaluating accurately hydrogen embrittlement of a steel sheet, in a hydrogen embrittlement evaluation method for loading a tensile stress, while charging hydrogen, or in a hydrogen embrittlement evaluation method for providing a plated layer on the surface and loading a tensile stress after charging hydrogen.例文帳に追加

水素チャージしながら引張応力を負荷する水素脆化評価方法や、水素チャージ後、表面にめっき層を設けて引張応力を負荷する水素脆化評価方法において、薄鋼板の水素脆化を精度良く評価するための試験片及び試験方法を提供する。 - 特許庁

The shearing fatigue characteristics of the metal material are assessed using the relation between shearing stress amplitude and load frequency obtained by the test.例文帳に追加

試験により得られたせん断応力振幅と負荷回数との関係を用いて、前記金属材料のせん断疲労特性を評価する。 - 特許庁

To provide a transformer station monitoring control protection system capable of saving a physically installation space, and easily performing stress analysis and system test.例文帳に追加

物理的な設置スペースを節約でき応動解析やシステム試験が容易に行える変電所監視制御保護システムを提供することにある。 - 特許庁

To generate a uniform bending stress in the whole object, while determining selectively the bending direction of the object, in a bending fatigue test.例文帳に追加

曲げ疲労試験において、対象物の曲げ方向を選択的に決定しつつ対象物全体に均一な曲げ応力を生じさせる。 - 特許庁

The fatigue safety factor test apparatus is provided with a normalized stress calculating section 14, a fatigue safety factor calculating section 15 and a function table 18.例文帳に追加

正規化応力計算部１４、疲労安全率計算部１５及び関数テーブル１８を具備する疲労安全率検査装置を用いる。 - 特許庁

(Re)making the world is an effective way to stress test your hardware, and will frequently throw up memory problems. 例文帳に追加

システムの再構築は、ハードウェアに対する負荷耐久試験を行なうための有効な手段の一つで、メモリに関係する問題がよく報告されます。 - FreeBSD

In the minute test piece, the end face is subjected to high-precision precision machining to form a minute gap prescribed at an area to the tool for loading stress.例文帳に追加

微小試験片は、その端面が高精度精密加工することで応力負荷用治具との間に規定された微小ギャップを形成する。 - 特許庁

To provide an EEPROM in which a data rewriting test can be performed in the worst condition of voltage stress when the device has a verify- function.例文帳に追加

ベリファイ機能を有する場合に電圧ストレスワースト条件でデータ書き換えテストを行うことを可能としたＥＥＰＲＯＭを提供する。 - 特許庁

A model in which a wedge is introduced by receiving the one point load from the surface of the test material is first investigated for taking into account of the stress field, and the calculated residual stress is calculated at the position in which the residual magnetic field is measured.例文帳に追加

先ず、応力場を考えるために試験材料の表面から一点荷重を受けてくさびが導入されるモデルを検討し、残留磁場を測定した位置における計算残留応力を計算した。 - 特許庁

By adding the database on the work hardening to the stress-strain correlation acquired by the tensile test, a stress-strain characteristic model of the terminal- constituting material after the occurrence of the work hardening can be obtained.例文帳に追加

そして、引張試験により得られた応力歪み相関関係に加工硬化のデータベースを加味することによって、加工硬化が生じた後の端子構成材料についての応力−歪み特性モデルを得ることができる。 - 特許庁

In this impact stress measurement method, an impact load is applied to a test strip 5 connected to a bar-like stress measurement section, and the stress is measured based on a stress wave having transmitted through the test strip.例文帳に追加

棒状の応力計測部を接続した試験片に対して衝撃荷重を加え、その試験片を通過した応力波から応力を測定する衝撃応力測定方法において、衝撃引張荷重を加えた時の試験片の弾性応力が２０％から８０％まで増加するのに要する時間ｔ（μsec）と、応力計測部における試験片接続位置から応力計測点までの距離Ｌ（mm）との関係が、下記式(1)〜(3)の条件を満たすことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a practical press-application observation device enabling the observation of a test material while giving stress to the test material in a closed chamber such as a vacuum or a gaseous atmosphere under temperature control.例文帳に追加

温度制御された真空又はガス雰囲気等の密閉室内で試験材料に応力を付与させながら同試験材料の観察を行うことが可能でしかも実用的な応力付与観察装置を提供すること。 - 特許庁

In the transistor including the oxide semiconductor film, the amount of change of threshold voltage of the transistor is reduced before and after a bias-thermal stress test (BT test), and thus the transistor with high reliability can be provided.例文帳に追加

該酸化物半導体膜を用いたトランジスタは、バイアス−熱ストレス試験（ＢＴ試験）前後においてもトランジスタのしきい値電圧の変化量が低減されており、信頼性の高いトランジスタとすることができる。 - 特許庁

To provide a method for measuring a tensile stress capable of applying a large grip force to a grip head and performing a high-speed test.例文帳に追加

掴みヘッドのところに大きな掴み力を及ぼすことができ、高速試験を行うことができる、引張り応力の測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a measuring method with high reproducibility in a bias-thermal stress test of a transistor in which an oxide semiconductor is used as a semiconductor layer.例文帳に追加

酸化物半導体を半導体層に用いたトランジスタのバイアス−熱ストレス試験において、再現性の高い測定方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

The test piece 1 has a prism shape, and a longitudinal-directional neutral axis of a bending stress is positioned on a bonding face between the metal material and the synthetic resin material.例文帳に追加

試験片１は角柱状をなし、長手方向の曲げ応力の中性軸が金属材料と合成樹脂材料との接着面上に位置する。 - 特許庁

A strain gage 20 is installed near a contact end 30 between a test piece 3 and a pad 5 to acquire the peak stress generated at the contact end 30.例文帳に追加

試験片３とパッド５との接触端部３０の近傍に歪ゲージ２０を設けて、当該接触端部３０に生じるピーク応力を取得する。 - 特許庁

The fracture toughness test piece 20 follows the ASTM standard, has a cut 21 in the center, and is set to have a prescribed stress enlargement factor.例文帳に追加

破壊靭性試験片２０はＡＳＴＭ規格に倣っており、中央部に切欠２１を有し、所定の応力拡大係数を持つように設定されている。 - 特許庁

An output determining circuit 16 determines whether a stress is impressed correctly to the circuit to operate the circuit normally without generating troubles or not, when a burn-in test is conducted.例文帳に追加

出力判定回路１６は、バーンインテストを行う際、回路に正しくストレス印加がされ、回路が故障なく正常に動作しているかどうかを判定する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory capable of performing a burn-in test capable of impressing desired voltage stress across bit lines without using a sense amplifier circuit.例文帳に追加

センスアンプ回路を用いることなくビット線間に所望の電圧ストレスを印加可能なバーンインテストを実行可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which a highly reliable stress test can be performed even after a defective memory cell is replaced by a spare memory cell.例文帳に追加

不良メモリセルをスペアメモリセルに置換した後においても信頼性の高いストレステストを行なうことができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To perform efficiently a screening test in a short time by shortening an applying time of stress voltage by varying arbitrarily various internal generation power source voltage.例文帳に追加

各種の内部生成電源電圧を任意に可変することによってストレス電圧の印加時間を短縮し、短時間で効率よくスクリーニングテストを行う。 - 特許庁

6° ≤ first stage taper angle θa≤30°... second stage taper angle θb≤2°... Here, σ0.1 is a true stress at a strain of 0.1 in a tensile test, and E is a Young modulus.例文帳に追加

６°≦１段目テーパ角度θa ≦３０°・・・・・(1) ２段目テーパ角度θb ≦２°・・・・・(2) ここで、σ_0.1 は引張試験における歪みが０．１での真応力、Ｅはヤング率である。 - 特許庁

These random interference figures can be electronically-processed so as to provide a stress-effective video animated film for the test piece 25.例文帳に追加

この無作為の干渉像は電子的に処理して試験物２５における応力効果のビデオ動画を提供し得るように電子的に処理することができる。 - 特許庁

A burn-in test control and pattern generating circuit 503 is provided at periphery of a memory circuit as an exclusive test circuit at the reliability test such as burn-in inside a semiconductor integrated circuit including a memory circuit, the circuit supplies a pattern being able to apply appropriate stress, and it is confirmed whether the stress is applied correctly or not by providing an output discriminating circuit 505 inside the circuit.例文帳に追加

メモリ回路を含む半導体集積回路内部にバーンイン等の信頼性テスト時にメモリ回路周辺に専用のテスト回路としてバーンインテスト制御およびパターン発生回路５０３を設け適切なストレス印加が可能なパターンを供給し、この出力を回路内部に出力判定回路５０５を設けストレスが正しく印加されているか確認する。 - 特許庁

The height of the surface of a test piece is measured by a noncontact distance sensor, and a stage is moved to have the same position, according to a change in the position of the test piece, thus making the irradiation positions with electromagnetic waves identical, even if stress is applied to the test piece during measurement.例文帳に追加

試験片の表面の高さを非接触式の距離センサで計測し、試験片位置の変化に応じて同じ位置になるようにステージを移動することで、測定中に試験片に応力を印加するなどしても電磁波の照射位置が同じになるようにする。 - 特許庁

A semiconductor device having an insulating resin layer in contact with a semiconductor element, in which the insulating resin layer has a breaking stress (D) at cooling temperatures of the heat cycle test of three times or more of the internal stress value (σ) in the heat cycle test.例文帳に追加

半導体素子に接して絶縁樹脂層を有する半導体装置であって、絶縁樹脂層が、温度サイクル試験における内部応力値（σ）に対して、温度サイクル試験の冷却温度における破断応力（Ｄ）が３．０倍以上である絶縁樹脂からなることを特徴とする半導体装置である。 - 特許庁

To make evaluatable the durability by applying the loads of compression stress and tensile stress in three axial directions at the same time to perform a strength and acceleration test.例文帳に追加

三軸方向に圧縮応力及び引張応力の負荷を同時にかけて、強度及び促進試験を行い、耐久性の評価ができるコンクリート等の耐久性評価試験装置及びその耐久性評価方法を提供する。 - 特許庁

A liquid phase-type thermal shock test device comprises a high- temperature tank 1 and a low-temperature tank 2 to add thermal stress to an object to be measured 6 and is provided with a control means 5 to control the surface temperature of the object to be measured 6 in each of the tanks 1 and 2 to control thermal stress.例文帳に追加

被測定対象物６に熱ストレスを加える高温槽１と低温槽２とを有し、各槽１，２における被測定対象物６の表面温度を管理して熱ストレスを制御する制御手段５を設ける。 - 特許庁

(vii) Whether the Business Management Company, based on the results of the stress test, has clearly indicated diverse emergency financing instruments and the like for maintaining liquidity even in times of stress, and has formulated a contingency plan which prescribes specific procedures and so forth. 例文帳に追加

⑦ 指定親会社は、ストレステストの結果も踏まえ、ストレス時においても流動性を維持するための多様・緊急の資金調達手段等を明示し、具体的な手続等も定めたコンティンジェンシー･プランを策定しているか。 - 金融庁

The method for evaluating a degree of awakening makes a test subject brush its teeth after applying mental stress on the test subject, and improving effect on the degree of awakening by the tooth brushing is evaluated based on the variation of event-related potentials before and after the tooth brushing.例文帳に追加

覚醒度の評価方法においては、試験参加者に精神的な負荷を与えた後に歯磨きを行わせ、該歯磨きの前後の事象関連電位の変化から、該歯磨きによる覚醒度の向上効果を評価する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which the reliability of a wafer burn-in test can be improved by detecting whether stress voltage is securely applied to all word lines including redundant word lines at the time of a wafer burn-in test.例文帳に追加

ウェハーバーイン試験時に、冗長ワード線を含むすべてのワード線にストレス電圧が確実に印加されたか否かを検出可能とすることにより、ウェハーバーイン試験の信頼性を向上させ得る半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for predicting deterioration of a semiconductor device in a short period of time and and a method for predicting deterioration of a semiconductor device with high accuracy by finding a correlation between deterioration prediction of an actual semiconductor device and a DC (Direct Current) stress test method for a simple body TEG (Test Element Group).例文帳に追加

本発明により、実際の半導体装置の劣化予測と単体ＴＥＧのＤＣストレス試験法との相関を求めることにより、短時間で半導体装置における劣化予測を行う方法を提供する。 - 特許庁

The water dispersion type acrylic adhesive composition is an adhesive composition containing a water dispersion type acrylic adhesive resin and has ≤10N/cm^2 stress value at 200% strain in a stress-strain curve measured by tensile test machine, 2300-3500% strain at maximum stress and 27-70N/cm^2 maximum stress value.例文帳に追加

水分散型アクリル系粘着樹脂を含有する粘着剤組成物であって、引張試験機で測定される応力—歪み曲線における２００％歪み時の応力値が１０Ｎ／ｃｍ^２以下であり、且つ、最大応力時の歪みが２３００％〜３５００％であり、最大応力値が２７Ｎ／ｃｍ^２〜７０Ｎ／ｃｍ^２であることを特徴とする水分散型アクリル系粘着剤組成物。 - 特許庁

To provide a stress analysis method for rolling fatigue which can obtain stress in the rolling fatigue of a metal base by simulating and obtaining the state of the stress and distortion around a nonmetal inclusion present in the metal base of a mechanical structural component without implementing a rolling fatigue test.例文帳に追加

機械構造部品の金属製基体に内在する非金属介在物の周囲の応力と歪の状態を、シミュレーションにより求めることで、転動疲労試験を実施することなく金属製基体の転動疲労における応力を求め出すことができる転動疲労における応力解析方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

A compound usable for treatment and/or prevention relative to a disease caused by production of the endoplasmic reticulum stress can be screened by selecting a test material for suppressing the generation level of the endoplasmic reticulum stress by utilizing the evaluation method.例文帳に追加

この評価方法を利用して、小胞体ストレスの生成レベルを抑制する被験物質を選択することにより、小胞体ストレスの産生に起因する疾患に対する治療および／または予防に使用し得る化合物をスクリーニングすることができる。 - 特許庁

To carry out a SCC reproducing test for a condenser in an actual environment and to quantitatively grasp a crack developing speed so as to accomplish prevention and maintenance against a stress corrosion crack by using a stress corrosion crack testing device for a condenser.例文帳に追加

復水器の応力腐食割れ試験装置を用いることにより、実環境中で復水器のＳＣＣ再現試験の実施を可能にし、き裂進展速度を定量的に把握して応力腐食割れの予防保全を確実に図ること。 - 特許庁