「STRESS TEST」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor integrated circuit device which has a nonvolatile semiconductor memory capable of performing a bit line stress test even without any circuit for bit line stress test.例文帳に追加

ビット線ストレス試験用回路が無くても、ビット線ストレス試験を行うことができる不揮発性半導体メモリを有した半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

SACRIFICE TEST PIECE AND FATIGUE LOSS PREDICTION AND STRESS INFORMATION ACQUISITION METHOD USING THE SAME例文帳に追加

犠牲試験片およびそれを用いた疲労損傷予知および応力情報取得方法 - 特許庁

NONDESTRUCTIVE COMPRESSIVE STRENGTH TESTING METHOD, STRESS ESTIMATING METHOD AND TEST DEVICE FOR CONCRETE例文帳に追加

コンクリートの非破壊圧縮強度試験方法及び応力推定方法及び試験装置 - 特許庁

To restrain the peeling of an electrode pad by suppressing stress concentration in a loop pull test.例文帳に追加

ループプル試験時に応力集中を抑制し、電極パッドの剥がれを抑制する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which stress can be applied effectively by a burn-in test.例文帳に追加

バーンインテストにより効果的にストレスを印加可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To improve a yield in a method of stress test of a nonvolatile semiconductor memory.例文帳に追加

不揮発半導体記憶装置のストレス検査方法において歩留向上を目的とする。 - 特許庁

a test measuring how a system functions when subjected to controlled amounts of stress 例文帳に追加

制御量の圧力にかけられる際に、システムがどのように機能かを測定する試験 - 日本語WordNet

When the residual stress exists in the film, the test piece is deformed according to its degree.例文帳に追加

皮膜に残留応力が存在すると、その程度に応じて試験片は変形する。 - 特許庁

CALCULATION METHOD FOR ALLOWABLE STRESS AND SETTLEMENT OF IMPROVED GROUND MAKING USE OF SOUNDING TEST例文帳に追加

サウンディング試験を用いた改良地盤の許容応力度と沈下量の算定法 - 特許庁

SACRIFICIAL TEST PIECE FOR MONITORING LONG-TERM STRESS INTENSITY OF STRUCTURE AND METHOD FOR USING THE SAME例文帳に追加

構造物の長期応力度モニタリングのための犠牲試験片及びその使用方法 - 特許庁

Restriction of capital, fluidity and leverage; Strict stress test; Strengthening the corporate governance (Hong Kong and Singapore)例文帳に追加

•資本、流動性、レバレッジ規制、ストレステスト強化、コーポレートガバナンス強化（香港、シンガポール） - 経済産業省

To shorten the applied time of stress voltage, and to conduct a screening test efficiently in a short time.例文帳に追加

ストレス電圧の印加時間を短縮し、短時間で効率よくスクリーニングテストを行う。 - 特許庁

Deterioration of the semiconductor device can be predicted with high accuracy by separating off-stress and on-stress in the AC stress test assuming the CMOS operation.例文帳に追加

またＣＭＯＳ動作を想定したＡＣストレス試験においてオフストレスやオンストレスを分離することにより、半導体装置の劣化予測を高精度で行うことができる。 - 特許庁

This fatigue tester for testing fatigue of a test body includes an X-ray residual stress measuring device capable of measuring a residual stress of a portion to be measured in the test body, and a stress concentration gage for measuring a stress amplitude of the portion to be measured in the test body.例文帳に追加

試験体の疲労を試験する疲労試験装置であって、試験体における被測定部位の残留応力を測定するＸ線残留応力測定装置と、試験体における被測定部位の応力振幅を測定する応力集中ゲージを備えることを特徴とする、疲労試験機が提供される。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus, for the test of the sideslip, etc., of a vehicle, wherein a drop in test accuracy due to the initial stress of the wheel of the test vehicle is prevented and a drop in test accuracy due to the unnatural posture of the test vehicle is prevented.例文帳に追加

被験車両の車輪の初期応力による試験精度の低下を防止し、又被験車両の不自然な姿勢による試験精度の低下を防止する、車両のサイドスリップ等の試験方法及びその試験装置の提供。 - 特許庁

A metallic material is machined into the cube shape of the test piece 1, and stress is applied to each side of the test piece 1, or the test piece 1 is subjected to quenching treatment.例文帳に追加

テストピース１は、金属材料で正立方体の形状に加工した後、テストピース１の各辺に応力を加え、又は、テストピース１を焼入れする処理を行う。 - 特許庁

Further, a parameter estimating part 150 calculates the relation between the stress and strain of the test piece on the basis of the elastic modulus and the yield stress.例文帳に追加

また、パラメータ推定部１５０が、弾性率および降伏応力に基づいて試験片の応力とひずみとの関係を算出する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory provided with an auto-power down circuit which can give sufficient stress to chips in performing a stress test.例文帳に追加

ストレステスト実施時にチップに十分なストレスを与えることのできるオートパワーダウン回路を備えた半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device for performing a stress-applied test according to the voltage boosted in stress mode.例文帳に追加

ストレスモードにおいて昇圧された電圧に応じたストレス印加テストを行うことができる半導体装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

In this semiconductor device, desired stress can be applied to each capacitor of a constituted pump circuit in stress test, efficiency of a stress test and reliability of a semiconductor integrated circuit can be improved.例文帳に追加

本発明による半導体記憶装置によれば、ストレステスト時に構成するポンプ回路の各キャパシタに対して所望のストレスを掛けることができ、ストレステストの効率向上および半導体集積回路の信頼性向上が図れる。 - 特許庁

To evaluate the propagating speed of a crack in a test piece under a fixed stress intensity factor while a desired arbitrary load is applied to the test piece.例文帳に追加

任意所望な荷重が試験片に負荷されつつ、一定応力拡大係数下で亀裂進展速度を高精度に評価すること。 - 特許庁

A fatigue test is performed by applying a prescribed residual stress and a stress amplitude to the portion to be measured in the test body so as to reproduce the residual stress and the stress amplitude measured in the actual structure, to thereby evaluate accurately the fatigue strength of the structure.例文帳に追加

実構造物で測定された残留応力および応力振幅を再現させるように、試験体の被測定部位に所定の残留応力および応力振幅を加えて疲労試験を行うことにより、構造物の疲労強度を正確に評価できるようになる。 - 特許庁

To provide a technique to determine from outside whether or not a stress test was actually performed.例文帳に追加

ストレス試験が実際に実行されたかどうかを、外部から判定する技術を提供する。 - 特許庁

ANALYZING METHOD FOR CONSOLIDATION YIELD STRENGTH AND ALLOWABLE STRESS OF GROUND USING SOUNDING TEST例文帳に追加

サウンディング試験を用いた地盤の圧密降伏応力解析法および許容応力度解析法 - 特許庁

a stress test in which the patient walks on a moving treadmill while the heart and breathing rates are monitored 例文帳に追加

心臓の呼吸数がモニターされる間、患者が可動トレッドミルの上を歩くストレス試験 - 日本語WordNet

INTEGRATED CIRCUIT HAVING FUNCTION TESTING MEMORY USING VOLTAGE FOR STRESS AND ITS MEMORY TEST METHOD例文帳に追加

ストレス用電圧を用いてメモリをテストする機能を有する集積回路及びそのメモリテスト方法 - 特許庁

LEVEL SHIFTER CIRCUIT, DRIVE CIRCUIT OF DISPLAY DEVICE, DISPLAY DEVICE AND STRESS TEST METHOD OF GRADATION SELECTION CIRCUIT例文帳に追加

レベルシフタ回路、表示装置の駆動回路、表示装置、及び階調選択回路のストレステスト方法 - 特許庁

(ii) Does the Comprehensive Risk Management Division grasp the stress status of various risks individually and the risks as a whole through stress tests based on a comprehensive and appropriate stress scenarios and make appropriate use of the test results? 例文帳に追加

（ⅱ）統合的リスク管理部門は、包括的で適切なストレス・シナリオに基づくストレス・テストにより、各種リスク及びリスク全体のストレス状況を把握し、適切に活用しているか。 - 金融庁

(ii) Does the Comprehensive Risk Management Division grasp the stress status of various risks individually and the risks as a whole through stress tests based on a comprehensive and appropriate stress scenarios and make appropriate use of the test results? 例文帳に追加

（ⅱ）統合的リスク管理部門は、包括的で適切なストレス・シナリオに基づくストレス・テストにより、各種リスク及びリスク全体のストレス状況を把握し、適切に活用しいるか。 - 金融庁

The tube material is exposed to a stress corrosion cracking condition to generate the stress corrosion crack, by the inner pressure and the axial stress simulated with an operation condition, and the evaluation by an acceleration test is possible by this manner.例文帳に追加

管材は、操業条件に模した上記内圧と軸方向の応力により、応力腐食条件に晒されて腐食割れを発生し、加速試験による評価ができる。 - 特許庁

To set the test condition of a material strength test reduced in the error of a test time by enabling setting a wide range of a well-balanced test condition without damaging the material characteristics due to an excessive temperature/stress test to perform correction, based on a short-time test result under the testing condition.例文帳に追加

過剰な温度・応力試験による材料特性を損なわないで、かつ広範囲でバランスの良い試験条件設定が可能となり、その試験条件で短時間試験結果により補正することで、試験時間の誤差が少ない材料強度試験の試験条件設定が可能となる。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for testing a stress-resistance of an out-door signboard, which are used to test the stress-resistance for the out-door signboard.例文帳に追加

野立看板に対してその耐力を検査するための野立看板耐力検査装置と野立看板耐力検査方法を提供すること。 - 特許庁

To precisely calculate stress-strain characteristics after a material exceeds yield stress from the displacement-load curve obtained from a three-point bending test.例文帳に追加

３点曲げ試験から得られる変位−荷重曲線から材料が降伏応力を超えた後の応力ひずみ特性を精度よく求めること。 - 特許庁

To provide a stress test circuit which can apply stress to a MOSFET within a semiconductor circuit efficiently and without damaging it.例文帳に追加

半導体回路内のＭＯＳＦＥＴに対して、ダメージを与えることなく効率的にストレス印加が可能なストレス試験回路を提供する。 - 特許庁

To provide a material test machine capable of conducting a material test applying alternating displacement (bending stress) to fatigue pre-crack provided in a test piece and observing the state of fatigue pre-crack easily even during test.例文帳に追加

試験片に設けた疲労予亀裂に対して両振りの変位（曲げ応力）を加える材料試験を可能とし、かつ、試験中でも疲労予亀裂の状態を容易に観察できる材料試験機を提供する。 - 特許庁

The method for screening the endoplasmic reticulum stress-related substance includes culturing cells by changing the concentration of the endoplasmic reticulum stress-inducing substance stepwise, and by evaluating the influence of the test substance on the endoplasmic reticulum stress from the difference of the recovering concentration of the cell survival rate by the presence or absence of the test substance.例文帳に追加

小胞体ストレス誘導物質の濃度を段階に変えて細胞の培養を行い、被検物質の有無による細胞生存率回復濃度の相違に基づいて当該被検物質の小胞体ストレスへの影響を評価する。 - 特許庁

With test pieces different in stress conditions from each other being supported/fixed on the plurality of support mechanisms, fatigue test is performed at the same time on the plurality of test pieces by giving vibration to the support body.例文帳に追加

そして、複数の支持機構に互いに応力条件が異なる試験片を支持固定して、支持体に振動を与えて、複数の試験片について同時に疲労試験を行う。 - 特許庁

The jig 10 for stress corrosion cracking test has both a ceiling 18 for supporting both ends of a test piece 20 from above and an intermediate point support part 12 for supporting a center part of the test piece from below.例文帳に追加

応力腐食割れ試験用ジグ１０は、試験片２０の両端を上側から支持する天壁１８と、試験片の中心部を下側から支持する中点支持部１２を有する。 - 特許庁

To provide a nondestructive testing system that uses an ultrasonic wave to evaluate stress within a test object or stress distribution in a nondestructive manner.例文帳に追加

超音波を用いた非破壊検査装置において、被検査体内部の応力あるいは応力分布を非破壊で評価する非破壊検査装置を提供する。 - 特許庁

To load sufficient stress to a minute test piece at high temperature by a simple mechanism.例文帳に追加

微小試験片に対して、簡単な機構によって高温時に十分な応力負荷ができるようにする。 - 特許庁

To obtain the accurate viscoelastic characteristic value of a test piece itself in consideration of the viscoelastic characteristics of a stress rod.例文帳に追加

応力棒の粘弾性特性を考慮して、試験片そのものの正確な粘弾性特性値を得る。 - 特許庁

Therefore, for example, normal stress can be given to the adjacent memory cell in a burn-in test.例文帳に追加

したがって、たとえばバーンインテストにおいて隣接メモリセルに対して正規のストレスを与えることができる。 - 特許庁

To prevent generation of burn-in stress deficiency during a burn-in operation test of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置のバーンイン動作試験中におけるバーンインストレス不足の発生を防止できるようにする。 - 特許庁

To realize stable operation by lightening a load for a measuring system at the time of a burn-in test or at the time of a stress test, and reducing a peak current, in a DRAM.例文帳に追加

ＤＲＡＭにおいて、バーンイン試験時又はストレス試験時での測定系の負荷を軽減し、ピーク電流を低減して、安定した動作を実現する。 - 特許庁

To provide a nonvolatile memory test method and a memory test device capable of giving stress to a reading circuit as well as to a data holding part.例文帳に追加

データ保持部だけでなく、読出し回路にも同じようにストレスを与えることができる不揮発性メモリの試験方法及びメモリ試験装置を提供する。 - 特許庁