「Self Test」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

TEST BOARD, TEST SYSTEM AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WITH BUILT-IN CPU, SELF-TEST PROGRAM, AND READABLE RECORDING MEDIUM例文帳に追加

テストボード、ＣＰＵ内蔵半導体集積回路のテストシステム、そのテスト方法、セルフテストプログラムおよび可読記録媒体 - 特許庁

To detect abnormal state of self and a test body at the initial step of a test.例文帳に追加

試験の初期段階で自己及び供試体の異常状態を検出する。 - 特許庁

NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND ITS SELF-TEST METHOD例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置とその自己テスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM OF POGO TOWER ELECTRIC CHANNEL SELF-INSPECTION TYPE例文帳に追加

ポゴタワー電気チャネル自己検査式半導体試験システム - 特許庁

To reduce the number of external terminals of semiconductor integrated circuit required to implement self-test by a self-test circuit.例文帳に追加

自己テスト回路が自己テストを行う上で必要な半導体集積回路の外部端子の数を削減すること。 - 特許庁

METHOD FOR SEARCHING FOR TEST RESPONSE ERROR OF SELF-TEST CIRCUIT AND METHOD FOR EVALUATING DETECTION CAPABILITY OF TEST RESPONSE ERROR例文帳に追加

自己テスト回路のテスト応答エラー探索方法およびテスト応答エラー検出能力評価方法 - 特許庁

SELF ERASE/WRITE DEVICE OF SEMICONDUCTOR MEMORY AND SELF BURN-IN TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体メモリのセルフイレース・ライト装置および半導体メモリのセルフバーンインテスト方法 - 特許庁

A control unit transmits a test instruction to a limit switch, the test instruction triggers an electronic self-test in the limit switch and the control unit monitors the result of the self-test.例文帳に追加

制御ユニットはテスト命令を限界スイッチに送信し、該テスト命令は限界スイッチで電子的自己テストをトリガし、該自己テストの結果を制御ユニットが監視する。 - 特許庁

To provide a self test adapter (STA) (22) for automatic test equipment (ATE).例文帳に追加

自動試験装置（ＡＴＥ）のためのセルフ試験アダプタ（ＳＴＡ）（２２）を提供すること。 - 特許庁

The test control circuit 12 transfers a self-test ROM address 22, self-test ROM control signal 23, and self-test ROM data output 10 or the like with a self-test ROM 6, and transmits a CPU reset signal 24 to the CPU 1 for reset control.例文帳に追加

テスト制御回路１２は、セルフテストＲＯＭ６との間でセルフテストＲＯＭアドレス２２、セルフテストＲＯＭ制御信号２３、セルフテストＲＯＭデータ出力１０などのやり取りを行い、ＣＰＵ１に対してＣＰＵリセット信号２４を送ってリセット制御する。 - 特許庁

SELF-SYNCHRONIZATION LOGIC CIRCUIT HAVING TEST CIRCUIT AND METHOD OF TESTING SELF-SYNCHRONIZATION LOGIC CIRCUIT例文帳に追加

テスト回路を有する自己同期型論理回路および自己同期型論理回路のテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS SELF-TEST FAILURE DETECTION METHOD例文帳に追加

半導体装置及びその自己試験故障検出方法 - 特許庁

SCANNING METHOD 3 WEIGHT-ADDED RANDOM SCAN BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT例文帳に追加

スキャン方式３重み加重ランダムス・ビルトイン・セルフテスト回路 - 特許庁

NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND ITS SELF-TEST METHOD例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置及びその自己テスト方法 - 特許庁

Self soil test kits may be obtained from local yard and garden stores.例文帳に追加

土壌自己診断キットは地元の園芸店で手に入る。 - 旅行・ビジネス英会話翻訳例文

To provide a semiconductor device and its self test method in which test time is reduced.例文帳に追加

テスト時間を短縮できる半導体装置及びその自己テスト方法を提供する。 - 特許庁

Combining multiple such self-test instructions allows a custom test methodology to be built up by a user using a generic self-test controller 10.例文帳に追加

多数のこのような自己テスト命令を組み合わせることにより、ユーザは総称的自己テスト・コントローラ１０を用いて特注のテスト方法を構築できる。 - 特許庁

Combining multiple such self-test instructions allows a user to build up a custom test methodology by using the generic self-test controller 10.例文帳に追加

多数のこのような自己テスト命令を組み合わせることにより、ユーザは総称的自己テスト・コントローラ１０を用いて特注のテスト方法を構築できる。 - 特許庁

Thereby, the self-test circuit 10B is started, this time, a test based on a clock signal CKB is performed by this self-test circuit 10B.例文帳に追加

これにより、自己試験回路１０Ｂが起動され、今度はこの自己試験回路１０Ｂによってクロック信号ＣＫＢに基づく試験が行われる。 - 特許庁

MEMORY CONTROLLER WITH SELF-TEST FUNCTION, AND METHOD OF TESTING MEMORY CONTROLLER例文帳に追加

セルフテスト機能のあるメモリコントローラ及びそれをテストする方法 - 特許庁

SELF-DIAGNOSTIC LOGICAL CIRCUIT AND DYNAMIC FAULT TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

自己診断型論理回路及びその動的故障テスト方法 - 特許庁

The self test circuits 10A, 10B are controlled so that test operation is performed alternately by a test control circuit 20.例文帳に追加

自己試験回路１０Ａ，１０Ｂは、試験制御回路２０によって交互に試験動作を行うように制御される。 - 特許庁

This self-test circuit responds to an external test activating signal WBIZ and activated, generates a test operation command WBI-CMD, generates a test address WBI-ADD, and generates a test data WBI-DATA.例文帳に追加

この自己試験回路は、外部からの試験活性化信号WBIZに応答して活性化し、試験動作コマンドWBI-CMDを発生し、試験アドレスWBI-ADDを発生し、試験データWBI-DATAを発生する。 - 特許庁

A self-test corresponding to a security function of an information processor is performed, and a security function for which self-test has failed and a function relating to the security function for which self-test has failed are made unavailable.例文帳に追加

情報処理装置のセキュリティ機能に対応した自己テストを実施し、自己テストに失敗したセキュリティ機能と自己テストに失敗したセキュリティ機能に関連した機能とを利用不可能にする。 - 特許庁

To execute a self-test by using a signal path which is the same as that in its normal use, and to make it unnecessary to overlap an address space for a self-test ROM, and to reduce a self-test ROM capacity.例文帳に追加

通常使用時と同じ信号経路を用いてセルフテストが実施でき、セルフテストＲＯＭのためにアドレス空間を重複させる必要がなく、セルフテストＲＯＭ容量を削減できるようにすること。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS OF PROGRAMMABLE MEMORY BUILT-IN SELF TEST (MBIST)例文帳に追加

プログラマブル・メモリ・ビルト・イン・セルフ・テスト（ＭＢＩＳＴ）の方法及び装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR WAFER HAVING SELF-SHIELDING CAPABILITY AND TEST METHOD THEREOF例文帳に追加

自己遮蔽機能を有する半導体ウェーハ及びそれのテスト方法 - 特許庁

CONTENTS TRANSMITTING/RECEIVING SYSTEM AND SELF-TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

コンテンツ送受信システムおよびコンテンツ送受信システムのセルフテスト方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR BUILT-IN SELF-TEST FOR RECOVERY TYPE DATA TRANSMISSION SYSTEM例文帳に追加

再生型データ伝送システムの内部自己検査方法及びシステム - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM WITH SELF-INSPECTION FUNCTION OF MEMORY REPAIR ANALYSIS例文帳に追加

メモリ補修分析自己検査機能を具えた半導体検査システム - 特許庁

The other system test comparator 13B compares the input two test data, and when the two test data are not matched as the result of comparison, the other system test comparator 13B notifies a self-system CPU3A of an error.例文帳に追加

他系のテストコンパレータ１３Ｂは、入力される２つのテストデータを比較し、比較の結果、一致しない場合、自系のＣＰＵ３Ａにエラーを通知する。 - 特許庁

To provide a test circuit for a multiplexer by which a test signal generating section and a test signal detection section are self-monitored when no test is conducted.例文帳に追加

試験信号生成部と試験信号検出部を非試験時自己監視することが出来る多重化装置の試験用回路を提供することを目的とする。 - 特許庁

Thus, a test of the partial array self refresh function can be performed without actually entering a self refresh mode.例文帳に追加

これにより、実際にセルフリフレッシュモードにエントリすることなくパーシャルアレイセルフリフレッシュ機能のテストが行える。 - 特許庁

The self-diagnostic result and the test condition are collated each time the self-diagnostic result by a self-diagnostic function is obtained, and the lot information of the product performed with the test on the test condition affected by the self-diagnostic result is output.例文帳に追加

前記自己診断機能による自己診断結果が出る度に、前記自己診断結果と、前記試験条件とを照合し、前記自己診断結果による影響を受ける試験条件にて試験を行った製品のロット情報を出力する。 - 特許庁

To obtain a semiconductor integrated circuit in which the BIST (built in self test) can be performed in a short period of time with respect to a storage section such as a memory or a register.例文帳に追加

メモリやレジスタ等の記憶部に対してＢＩＳＴ（Built In Self Test）を短時間に行うことが可能な半導体集積回路を実現する。 - 特許庁

The secure circuit 20 performs a self-diagnostic test of the secure circuit 20 according to a self-diagnostic test start instruction signal TEST_S from a CPU 18.例文帳に追加

セキュア回路２０が、ＣＰＵ１８からの自己診断テスト開始指示信号ＴＥＳＴ＿Ｓに応じて、セキュア回路２０の自己診断テストを行う。 - 特許庁

SELF-TEST ARCHITECTURE TO IMPLEMENT DATA COLUMN REDUNDANCY IN RAM例文帳に追加

ＲＡＭにおいてデータ列冗長を実施するための自己試験アーキテクチャ - 特許庁

To provide a self test circuit device and its self test method in which a defect part can be specified in a product actual use frequency.例文帳に追加

製品実使用周波数において不良箇所の特定をすることができる自己試験回路装置およびその自己試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a nonvolatile semiconductor memory device and its self-test method, in which a test time can be shortened.例文帳に追加

テスト時間を短縮できる不揮発性半導体記憶装置及びその自己テスト方法を提供する。 - 特許庁

To enable test contents to be changed even after production without restricting test contents in a built-in self test of a memory.例文帳に追加

メモリの組み込み自己テストにおいて、テスト内容に制限を加えることなく、製品化後にもテスト内容を変更できるようにする。 - 特許庁

To provide a test circuit for a semiconductor memory and a semiconductor memory device having an operation verifying function of a built-in self- test circuit (BIST circuit) or a built-out self-test circuit (BOST).例文帳に追加

内臓自己テスト回路（ＢＩＳＴ回路）または外付自己テスト回路（ＢＯＳＴ回路）の動作検証機能を持った半導体メモリのテスト回路および半導体メモリデバイスを提案する。 - 特許庁

To provide a test burn-in device which realizes a self diagnostic test in a low-temperature or high-temperature state and also enables a simpler self diagnostic test.例文帳に追加

本発明の課題は、低温又は高温状態における自己診断試験を実現するとともに、より簡便な自己診断試験を可能とするテストバーンイン装置を提供することである。 - 特許庁

A self-organizing map is created with the clinical test result as learning data.例文帳に追加

臨床検査結果を学習データとして自己組織化マップを作成する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT INCORPORATED WITH SELF-TEST FUNCTION AND SYSTEM COMPRISING IT例文帳に追加

自己テスト機能内蔵半導体集積回路およびそれを備えたシステム - 特許庁

To provide a semiconductor memory device having both of a self-test function and a self-redundancy function with simple constitution.例文帳に追加

自己テスト機能と自己冗長機能とを併せ持つ半導体記憶装置を簡単な構成で提供する。 - 特許庁