「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(144ページ目) - Weblio英語例文検索

To shorten the testing time of the wafer of a semiconductor device.例文帳に追加

この発明は、半導体装置のウェハ・テスト時間の短縮を図ることを特徴とする。 - 特許庁

VIBRATION TESTING APPARATUS FOR CABLE CONNECTING SECTION OF GROUND COIL FOR SUPERCONDUCTING MAGNETIC LEVITATION TYPE RAILWAY例文帳に追加

超電導磁気浮上式鉄道用地上コイルのケーブル接続部振動試験装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING FUNCTIONAL BLOCK FOR SPECIFIC APPLICATION EMBEDDED IN RECONFIGURABLE ARRAY例文帳に追加

リコンフィギャラブルアレイに埋め込まれた特定用途向け機能ブロックのテスト装置及びテスト方法 - 特許庁

The TB testing must be completed thirty days before the start of the student’s program.例文帳に追加

ＴＢテストは生徒のプログラム開始３０日前までに完了していなければならない。 - Weblio Email例文集

PROGRAM, APPARATUS AND METHOD FOR AUTOMATIC SOFTWARE TESTING例文帳に追加

ソフトウェアの自動試験プログラム、ソフトウェアの自動試験装置、およびソフトウェアの自動試験方法 - 特許庁

The traffic generation apparatus 32 sends test traffic data 55 to the testing server apparatus 41.例文帳に追加

トラフィック生成装置３２から試験サーバ装置４１へ試験トラフィックデータ５５を送信する。 - 特許庁

TESTING SOCKET, MANUFACTURING METHOD OF CONTACT TERMINAL, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

テスト用ソケット、接触端子の製造方法、並びに、半導体装置およびその製造方法 - 特許庁

CREATION AND VERIFICATION METHOD OF SEQUENCE FILE OF AUTOMATIC ENGINE TESTING DEVICE USING ENGINE MODEL例文帳に追加

エンジンモデルを用いた自動エンジン試験装置のシーケンスファイルの作成および検証方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING A PLURALITY OF MIXED LOADED MEMORY SITE LOCATED ON COMPUTER CHIP AND INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

コンピュータチップ上にある複数のメモリ混載サイトを試験する方法及び集積回路 - 特許庁

To provide a crossmatch testing container with erythrocyte solid-phased stably and uniformly.例文帳に追加

赤血球が安定かつ均一に固相されたクロスマッチ試験用容器を提供すること。 - 特許庁

ENVIRONMENTAL TESTING APPARATUS CAPABLE OF CONTROLLING AMOUNT OF DEW CONDENSATION AND CONTROL METHOD OF AMOUNT OF DEW CONDENSATION例文帳に追加

結露量の制御可能な環境試験装置およびその結露量制御方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING TRAFFIC AND AUXILIARY CHANNEL IN WIRELESS DATA COMMUNICATION SYSTEM例文帳に追加

無線データ通信システムにおいてトラヒックおよび補助チャネルをテストする方法および装置 - 特許庁

SIGNAL PROCESSOR, FAULT TESTING DEVICE, SIGNAL PROCESSING SYSTEM, SIGNAL PROCESSING METHOD AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

信号処理装置、欠陥検査装置、信号処理システム、信号処理方法、及び記憶媒体 - 特許庁

The internal-combustion engine testing apparatus 1 includes: a radiator 2; and a cooling water supply unit 3.例文帳に追加

内燃機関試験装置１は、ラジエータ２と、冷却水供給ユニット３と、を備えている。 - 特許庁

There are provided methods, port units, and computer readable storage media for testing network connections.例文帳に追加

ネットワーク接続を試験するための方法、ポートユニット、およびコンピュータ可読保存媒体。 - 特許庁

WIRELESS COMMUNICATION SYSTEM, WIRELESS COMMUNICATION TESTING METHOD, AND WIRELESS COMMUNICATION TEST PROGRAM例文帳に追加

無線通信システム及び無線通信試験方法並びに無線通信システム試験プログラム - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of improving cost reduction and timing precision.例文帳に追加

コスト削減及びタイミング精度の向上が可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To select a substituting substance of HFC-134a when performing a similitude testing.例文帳に追加

相似試験を実施するにあたり、ＨＦＣ−１３４ａの代替物質を選択する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE EQUIPPED WITH PROCESS MONITOR CIRCUIT, AND TESTING METHOD AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

プロセスモニタ回路を備えた半導体装置、その試験方法、並びにその製造方法 - 特許庁

A prescribed density of plasma 7 is generated between an electrode 13 on the display substrate 11 including the TFT array of a tested circuit and a testing electrode 16, and a testing signal is transmitted between the electrode 13 and the testing electrode 16.例文帳に追加

被試験回路であるＴＦＴアレイを含むディスプレイ基板（１１）上の電極（１３）と試験電極（１６）との間に所定の密度を有するプラズマ（７）を生成し、このプラズマ（７）を介して電極（１３）と試験電極（１６）との間に試験信号を伝送させる。 - 特許庁

This invention relates to a method for testing constitution elements of a semiconductor memory.例文帳に追加

本発明は、半導体メモリー構成要素の試験のための方法に関するものである。 - 特許庁

METHOD FOR DECIDING PARAMETER FOR RADIO WAVE ENVIRONMENT IN RADIO TERMINAL TEST AND RADIO TERMINAL TESTING DEVICE例文帳に追加

無線端末試験における電波環境のパラメータ決定方法、無線端末試験装置 - 特許庁

METHOD OF CLEANING NEEDLE TIP OF PROBE CARD, WAFER-TESTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR DEVICE, DATA RECORDING MEDIUM例文帳に追加

プローブカードの針先クリーニング方法，半導体装置のウエハ検査装置，データ記録媒体 - 特許庁

To shorten a test time is a semiconductor test device testing a semiconductor memory.例文帳に追加

半導体メモリの試験を行う半導体試験装置に於いて、試験時間を短縮する。 - 特許庁

AIRCRAFT LANDING DEVICE HAVING SEVERAL ELECTROMECHANICAL ACTUATORS, AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加

複数の電気機械式アクチュエータを含む飛行機用着陸装置およびその試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路、半導体記憶装置及び半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING CAPABILITY OF IRREVERSIBLY INHIBITING ENZYME HAVING MEDICINE-METABOLIZING FUNCTION例文帳に追加

薬物代謝能力を有する酵素を不可逆的に阻害する能力を検定する方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR, METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR, AND SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体試験装置、半導体試験方法、半導体製造方法、ならびに半導体メモリ - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, ITS TESTING METHOD AND ADJUSTING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

半導体集積回路およびその検査方法、半導体集積回路の調整方法 - 特許庁

SCALP TESTING METHOD USING MATRIX METALLOPROTEASE 11 AS INDEX AND HAIR RESTORER SCREENING METHOD例文帳に追加

マトリックスメタロプロテアーゼ１１を指標とした頭皮検査方法及び育毛剤のスクリーニング方法 - 特許庁

DISEASE MARKER, DNA MICRO-ARRAY, METHOD FOR SCREENING DRUG AND METHOD FOR TESTING UVEITIS例文帳に追加

疾患マーカー、ＤＮＡマイクロアレイ、薬剤スクリーニング方法及びぶどう膜炎検査方法 - 特許庁

SPECIES-SPECIFIC ANTIGEN OF TRICHINELLA AND METHOD FOR TESTING INFECTION OF TRICHINELLA UTILIZING THE ANTIGEN例文帳に追加

旋毛虫の種特異的抗原、及び該抗原を利用した旋毛虫感染の検査法 - 特許庁

To easily understand testing contents by searching a packet from vector patterns (long patterns).例文帳に追加

ベクタ・パターン（ロジックパターン）からパケットを探してテスト内容を理解することを容易にする - 特許庁

RADIO COMMUNICATION TERMINAL TESTING METHOD, RADIO COMMUNICATION TERMINAL TEST SYSTEM, AND RADIO COMMUNICATION TERMINAL例文帳に追加

無線通信端末試験方法、無線通信端末試験システム、および無線通信端末 - 特許庁

Then, the overcurrent detection result of the semiconductor device is outputted to testing equipment.例文帳に追加

そして、半導体装置に対する過電流検出結果をテスト装備に出力する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR SYSTEM, METHOD OF TESTING CONNECTION OF SEMICONDUCTOR SYSTEM, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR SYSTEM例文帳に追加

半導体システム、半導体システムの接続テスト方法及び半導体システムの製造方法 - 特許庁

ELECTRODE NEEDLE, PROBE CARD, PROBE DEVICE, PROBE TESTING METHOD, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

電極針、プローブカード、プローブ装置、プローブ試験方法、半導体装置及びその製造方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM AND TEST METHOD CAPABLE OF EFFICIENTLY TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE WITH MANY PINS例文帳に追加

多数ピンの半導体装置を効率よくテストできる半導体テストシステム及びテスト方法 - 特許庁

To provide a method for testing the effectiveness of ion implantation in a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウェハにおけるイオン注入の有効性をテストする方法を提供する。 - 特許庁

CONTROL DEVICE OF GAS TURBINE ENGINE, AND TESTING METHOD OF OVER SPEED PREVENTIVE FUNCTION PART OF GAS TURBINE ENGINE例文帳に追加

ガスタービンエンジンの制御装置およびガスタービンエンジンの過回転防止機能部の試験方法 - 特許庁

ETHERNET (R) TRANSMISSION APPARATUS AND METHOD OF TESTING ITS LINE QUALITY MONITORING FUNCTION例文帳に追加

イーサネット（登録商標）伝送装置及びその回線品質監視機能の試験方法 - 特許庁

To provide a testing device which integrates a mixed signal processing circuit with a test interface.例文帳に追加

本発明は、混合信号処理回路をテストインターフェースに統合する試験機を提供する。 - 特許庁

SATELLITE INFORMATION AUTONOMOUS DISTRIBUTION SATELLITE, SATELLITE INFORMATION GATHERING SYSTEM AND SATELLITE GROUND TESTING SYSTEM例文帳に追加

衛星情報自律配信衛星、衛星情報収集システム、衛星地上試験システム - 特許庁

MULTIPLE LINE GRID FOR TESTING, SEMICONDUCTOR CHIP, AND TEST ELEMENT FOR CHECKING PERFORMANCE OF SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加

テスト用マルティプルライングリッド、半導体チップ、並びに、半導体チップの性能チェック用テスト素子 - 特許庁

NONDEFECTIVE POLYSILICON MOLDING AND METHOD FOR TESTING POLYSILICON MOLDING WITHOUT CONTAMINATION NOR DESTRUCTION例文帳に追加

ポリシリコン成形体の汚染および破壊のない試験法および欠陥のないポリシリコン成形体 - 特許庁