「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(140ページ目) - Weblio英語例文検索

To materialize a toroidal type continuously variable transmission testing apparatus in an inexpensive and small configuration.例文帳に追加

安価で小型に構成できるトロイダル型無段変速機用試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a testing apparatus which can examine the jitterproof strength of an electronic device, with precision.例文帳に追加

電子デバイスのジッタ耐力を精度よく試験することができる試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide systems and methods for testing samples, particularly biological samples.例文帳に追加

サンプル、好ましくは生物学的サンプルを試験するためのシステムおよび方法を提供する。 - 特許庁

The collected data is transmitted to the data processor 200 from the testing machine body 100.例文帳に追加

採取されたデータは試験機本体１００からデータ処理装置２００に伝送される。 - 特許庁

TESTING APPARATUS AND METHOD FOR EVALUATING EFFECTS OF SCALE DEPOSITION PREVENTION例文帳に追加

スケール付着防止効果評価用試験装置及びスケール付着防止効果を評価する方法 - 特許庁

COMPOSITION,KIT, AND METHOD FOR TESTING DISEASE ACCOMPANYING AGEING AND BLOOD VESSEL DISORDER例文帳に追加

老化、および血管障害を伴う疾患の検定のための組成物、キットおよび方法 - 特許庁

METHOD AND A GENERATING MODULE FOR DETERMINING FILTER MASK FOR RELEVANCE TESTING OF IDENTIFIERS例文帳に追加

識別子の関連性テスト用のフィルタマスクを決定するための方法及び作成モジュール - 特許庁

WEIGHT DROP TYPE PERFORMANCE TESTING MACHINE FOR FIBER REINFORCED PLASTIC PRODUCT AND REBOUND PERFORMANCE TEST METHOD THEREOF例文帳に追加

繊維強化プラスチック製品の落錘式性能試験機及び反発性能試験方法 - 特許庁

To provide a semiconductor device that can improve the testing accuracy of an MCP.例文帳に追加

ＭＣＰの試験精度を向上させることのできる半導体装置を提供すること。 - 特許庁

TIMING CALIBRATION METHOD FOR IC TESTING DEVICE, AND SHORT- CIRCUIT DEVICE USED FOR THE CALIBRATION METHOD例文帳に追加

ＩＣ試験装置のタイミング校正方法及びこの校正方法に用いるショートデバイス - 特許庁

More than 100 students took part in designing and testing Kanta-kun during the 10 years of its development. 例文帳に追加

10年の開発の間，100人以上の学生が観太くんの設計や検査に参加した。 - 浜島書店 Catch a Wave

MATERIAL TESTING APPARATUS AND SETTING METHOD FOR ORIGIN OF SENSOR OUTPUT THEREIN例文帳に追加

材料試験装置におけるセンサ出力の原点設定方法および材料試験装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING ADHESION STRENGTH OF FILM AND MANUFACTURING METHOD OF PRODUCT例文帳に追加

膜の付着力検査方法、膜の付着力検査装置、および製品の製造方法 - 特許庁

COMPONENT RECOGNITION APPARATUS AND SURFACE-MOUNTING MACHINE MOUNTED THEREWITH, AND COMPONENT TESTING APPARATUS例文帳に追加

部品認識装置及び同装置を搭載した表面実装機並びに部品試験装置 - 特許庁

SOCKET FOR TEST, ITS MANUFACTURE, TESTING METHOD USING SOCKET FOR TEST, AND MEMBER TO BE TESTED例文帳に追加

テスト用ソケット、その製造方法、テスト用ソケットを用いたテスト方法、及び被テスト部材 - 特許庁

To provide a battery charging protection circuit and a power supply device for shortening a wafer testing time.例文帳に追加

ウェハーテスト時間を短縮する電池充電保護回路および電源装置の提供。 - 特許庁

To provide a system and a method for compressing effectively a test data for testing a device to be tested (DUT).例文帳に追加

試験対象デバイス(DUT)をテストするためのテストデータをより効果的に圧縮する。 - 特許庁

To reduce the abrasion of brake shoes, and to provide a simple brake testing device for an elevator.例文帳に追加

ブレーキシューの摩擦を減少させると共に、簡易なエレベータのブレーキ試験装置を得ること。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING QUALITY OF GLASS PLATE, AND METHOD OF MANUFACTURING GLASS PLATE例文帳に追加

ガラス板の品質試験方法、ガラス板の品質試験装置、およびガラス板の製造方法 - 特許庁

The control test support system 1 is provided with the testing tool 3 and a test device body 4.例文帳に追加

制御テスト支援システム１は、テスト治具３と、テスト装置本体４とを備えている。 - 特許庁

To provide a diluent well produced in card format for immunodiagnostic testing.例文帳に追加

免疫診断試験のためのカード形式に作られた希釈剤ウェルを提供すること。 - 特許庁

In the method of manufacturing the semiconductor device, the semiconductor package is conveyed to a testing socket while the periphery of the semiconductor package is being held, for electrical testing of a dual-face type package to perform the electrical testing; then, the semiconductor package is taken out.例文帳に追加

本願の一つの発明は、デュアルフェイス型パッケージの電気的なテストにおいて、半導体パッケージの周辺部を保持した状態で、半導体パッケージをテスト用ソケットに搬送し、電気的なテストの後、そこから搬出する半導体装置の製造方法である。 - 特許庁

To image a structure shape in a welded part quickly and accurately (clearly) by a nondestructive testing.例文帳に追加

溶接部の組織形状を非破壊検査で迅速かつ正確（明瞭）に画像化する。 - 特許庁

To provide a protective radio system testing a protection radio device during running.例文帳に追加

運行中に防護無線装置の試験を行うことができる防護無線システムを提供する。 - 特許庁

The paper sheet, if given the function of litmus testing paper, can be used for health checking.例文帳に追加

また各ペーパーに、リトマス試験紙の役割を持たせれば体調を調べる事が出来る。 - 特許庁

To provide a labeled compound supply system suitable for an O-15 labeled gas-PET rapid testing method.例文帳に追加

O-15標識ガス-PET迅速検査法に適した標識化合物供給システムを提供する。 - 特許庁

To provide an extensometer for an automatic material testing machine, with measurement accuracy of about ±3 μm.例文帳に追加

±３μｍ程度の計測精度を持つ自動材料試験機用の伸び計を提供する。 - 特許庁

To facilitate inspection work by reducing the capacity of a testing device for inspecting a digital protection relay.例文帳に追加

デジタル保護リレーを点検する試験装置を小容量化し、点検作業を容易にする。 - 特許庁

To provide a software test method and program, reduced in testing time.例文帳に追加

テスト時間を短縮することができるソフトウェアのテスト方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

METHOD OF TESTING INSULATION PROPERTY OF WAFER-LEVEL CSP, AND TEG PATTERN USED IN THE METHOD例文帳に追加

ウエハレベルＣＳＰにおける絶縁性テスト方法及びこれに用いるＴＥＧパターン - 特許庁

SEMICONDUCTOR MANUFACTURING APPARATUS MOUNTED WITH MASS-FLOW-RATE CONTROLLER HAVING FLOW-RATE TESTING FUNCTION例文帳に追加

流量検定機能付質量流量制御装置を搭載した半導体製造装置 - 特許庁

METHOD FOR CALIBRATING OR TESTING LITHOGRAPHIC DEVICE OR PART THEREOF AND METHOD FOR MANUFACTURING DEVICE例文帳に追加

リソグラフィ装置又はその一部を較正又は検定する方法及びデバイス製造方法 - 特許庁

Then temporal change of the depressurization is measured to conduct testing, and then testing is efficiently achieved without requiring in-chamber depressurization, etc. after completion of testing.例文帳に追加

被試験機器の筐体に真空ポンプで吸引する穴を設けて、この穴に真空ポンプからのエアー吸引ケーブルを接続して、減圧して、減圧の経時変化を測定して試験をすることにより、試験終了後にチャンバー内を減圧する等の必要がなく効率的に試験ができる。 - 特許庁

To make precise measurements by excluding the influence of shock vibration in material testing.例文帳に追加

材料試験における衝撃振動の影響を排除し、高精度測定を可能にする。 - 特許庁

To provide an automatic penetration testing machine which can always quickly carry out change of a load.例文帳に追加

荷重の変更を常に迅速に行うことができる自動貫入試験機の提供。 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD USING TARGETED VARIANT INPUT FOR TESTING DATA FORMAT例文帳に追加

ターゲットとされるバリアント入力を使用して、データフォーマットをテストするためのシステムおよび方法 - 特許庁

An IC tester for testing objects to be tested is improved in the present invention.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a semiconductor wafer having self-shielding capability, and to provide a testing method of the wafer.例文帳に追加

自己遮蔽機能を有する半導体ウェーハおよびそれのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a system and a method for testing broadcast video signals that are analog/digital converted or digital/analog converted during operation.例文帳に追加

Ａ／Ｄ及びＤ／Ａ変換された放送ビデオ信号の稼働中テストを行う。 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING POWER SUPPLY VARIATION OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND PROGRAM THEREOF例文帳に追加

半導体集積回路の電源変動検証装置及び方法並びにそのプログラム - 特許庁

To abridge setup time of a semiconductor testing device, and abridge its measurement and evaluation time.例文帳に追加

半導体テスト装置のセットアップ時間を短縮し、その測定・評価時間を短くする。 - 特許庁

EXPOSURE METHOD, DEVICE MANUFACTURING AND PROCESSING METHOD, DEVICE MANUFACTURING AND PROCESSING SYSTEM, AND MEASURING AND TESTING APPARATUS例文帳に追加

露光方法、デバイス製造処理方法、デバイス製造処理システム及び測定検査装置 - 特許庁

TESTING TOOL FOR EXECUTING SIDE FLOW TEST CONTAINING ANALYZED OBJECTS OF TWO OR MORE SORTS例文帳に追加

２種以上の分析対象物を含む側流検定を実施するための試験具 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of taking large-capacity failure data.例文帳に追加

大容量のフェイルデータを取り込むことを可能にする半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

GENERATION OF COMPRESSION TEST PLAN FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT, AND TEST SERIES GENERATION AND TEST例文帳に追加

集積回路のテストのための圧縮テストプランの生成、テスト系列生成およびテスト - 特許庁