「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(139ページ目) - Weblio英語例文検索

SHOCK-RESISTANCE TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR WAFER AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体ウェハの耐衝撃性試験方法および半導体デバイスの製造方法 - 特許庁

METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR CHIP AND SEMICONDUCTOR WAFER, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体チップ、半導体ウエハのテスト方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, RECORDING MEDIUM, TEST DATA GENERATING APPARATUS, AND LSI TESTING APPARATUS例文帳に追加

半導体集積回路、記録媒体、テストデータ生成装置およびＬＳＩ試験装置 - 特許庁

CRITICAL VULCANIZATION DEGREE TESTING DEVICE FOR FOAMING IN RUBBER SAMPLE AND ITS METHOD FOR DETERMINING VULCANIZATION LIMIT例文帳に追加

ゴムサンプルの発泡限界加硫度試験装置およびその加硫限界特定方法 - 特許庁

SOIL POLLUTANT ELUTION TESTING METHOD AND SOIL POLLUTANT ELUTION PROMOTING APPARATUS例文帳に追加

土壌汚染物質溶出試験方法および土壌汚染物質溶出促進装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, DELAY TEST CIRCUIT, AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路、ディレイテスト回路、及び半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁

CIRCUIT FOR SYNCHRONOUSLY EXCHANGING DATA IN BOTH DIRECTIONS AND ITS SCAN TESTING METHOD例文帳に追加

双方向データを同期的に交換するための回路およびその走査テスト方法 - 特許庁

6) Sterility and mycoplasma testing例文帳に追加

⑥に規定する試験結果が被験者への投与後に陽性となることが想定される場合 - 厚生労働省

Therefore, it is difficult to determine the full extent of such testing.例文帳に追加

当該検査の受検状況の実態を把握することは困難な状況にある。 - 厚生労働省

In the Edo period, there was no chance to use a sword in an actual war, so testing sharpness was often done. 例文帳に追加

また、江戸時代には実戦に供する機会がなくなりが多々行われた。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

To test the application, run the project as described in section Testing index.php. 例文帳に追加

アプリケーションをテストするには、「index.php のテスト」節の説明に従ってプロジェクトを実行します。 - NetBeans

It's true that you could write extensive comments in code-based testing, but few programmers do.Many have found that using doctest approaches instead leads to much clearertests.例文帳に追加

doctest のアプローチをとった方がきれいにテストを書けると気づいています。 - Python

Useful constants representing leaf nodes of the parse tree and functions for testing node values.例文帳に追加

便利な解析木の葉のノードを表す定数とノード値をテストするための関数。 - Python

To provide a semiconductor memory device which achieves speed up of a testing operation.例文帳に追加

テスト動作の高速化を図ることが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To compensate for thermally induced motion of probe cards used in testing die on a wafer.例文帳に追加

ウエハ上のダイをテストする際に用いるプローブカードの熱誘発動作を補償する。 - 特許庁

Accordingly, field testing of the connection can be made at the site of termination.例文帳に追加

従って、末端処理を行った場所で連結部を現場試験することができる。 - 特許庁

At this time, testing data such as temperature in the furnace and burning duration is obtained.例文帳に追加

そして、この際に、炉内温度及び焼却時間等の試験データを取得する。 - 特許庁

One of them, a lawyer, asked him a question, testing him. 例文帳に追加

彼らのうちの一人の律法学者が，彼を試そうとして一つのことを尋ねた。 - 電網聖書『マタイによる福音書 22:35』

Of this, $80,000 is for the labor of designing, integrating, and testing the DES Cracker. 例文帳に追加

このうち8万ドルはDESクラッカーの設計、組み立て、テストにかかった労働コストである。 - Electronic Frontier Foundation『DESのクラック：暗号研究と盗聴政策、チップ設計の秘密』

Article 60 (1) In case an Accredited Testing Laboratory Operator has assigned all of its business pertaining to said accredited testing laboratory or in case an inheritance, merger or split of an Accredited Testing Laboratory Operator (limited to cases of all of the business related to the relevant accredited testing laboratory is being succeeded to) has occurred, the assignee or heir of all of such business related to the accreditation testing laboratory, or the judicial person surviving the merger, or the judicial person founded after the merger, or the judicial person which has inherited all of its business pertaining to the accredited testing laboratory due to the split shall succeed to the position of the Accredited Testing Laboratory Operator. 例文帳に追加

第六十条　登録試験事業者が当該登録を受けた試験所に係る事業の全部を譲渡し、又は登録試験事業者について相続、合併若しくは分割（当該登録を受けた試験所に係る事業の全部を承継させるものに限る。）があつたときは、その登録を受けた試験所に係る事業の全部を譲り受けた者又は相続人、合併後存続する法人若しくは合併により設立した法人若しくは分割によりその登録を受けた試験所に係る事業の全部を承継した法人は、その登録を受けた試験所に係る登録試験事業者の地位を承継する。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

Article 58 (1) When a person who received the Accreditation of Paragraph 1 of the preceding Article (hereinafter referred to as the "Accredited Testing Laboratory Operator") has conducted product testing pertaining to Division of the Testing Method that has been accredited at an accredited testing laboratory, he/she may issue a certificate on which the matters as specified in the Ordinance of the competent ministry are entered and the accreditation symbol as designated by the Ordinance of the competent ministry is affixed. 例文帳に追加

第五十八条　前条第一項の登録を受けた者（以下「登録試験事業者」という。）は、登録を受けた試験所において登録を受けた試験方法の区分に係る製品試験を行つたときは、主務省令で定める事項を記載し、主務省令で定める標章を付した証明書を交付することができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To prevent deterioration of measurement accuracy, even when testing an analog-digital converting circuit with a tester for exclusive use for logic, concerning an integrated circuit, a tester for the integrated circuit, a testing method for the integrated circuit, a program of the testing method for the integrated circuit, and a recording medium having recorded the program for the testing method of the integrated circuit.例文帳に追加

本発明は、集積回路、集積回路の試験装置、集積回路の試験方法、集積回路の試験方法のプログラム及び集積回路の試験方法のプログラムを記録した記録媒体に関し、ロジック専用の試験装置でアナログディジタル変換回路を試験する場合でも、測定精度の劣化を防止することができるようにする。 - 特許庁

In this semiconductor integrated circuit test device having a test station 21 and a test station 31, when the test station 31 is in the standby state of being ready for testing during testing of the test station 21, testing of the test station 21 is forcibly ended, and then testing at the test station 21 and the test station 31 is simultaneously started.例文帳に追加

テストステーション２１とテストステーション３１とを備える半導体集積回路試験装置において、テストステーション２１が試験を行っている最中にテストステーション３１がテストをすることが可能な待機状態になった場合に、テストステーション２１のテストを強制的に終了した後で、テストステーション２１及びテストステーション３１における試験を同時に開始する。 - 特許庁

APPARATUS FOR MEASURING DISPLACEMENT AMOUNT AND APPARATUS FOR MEASURING DISPLACEMENT AMOUNT OF DROP FORM IMPACT-TESTING APPARATUS例文帳に追加

変位量計測装置及び落下式衝撃試験装置の変位量計測装置 - 特許庁

To provide a method for testing a hardware circuit block described in a hardware description language.例文帳に追加

ハードウエア記述言語が記述したハードウエア回路ブロックをテストする方法の提供。 - 特許庁

Accordingly, this enables corrosion testing, with the atmospheric corrosion environment being fully reflected.例文帳に追加

これにより、大気腐食環境を十分に反映した腐食試験を行うことができる。 - 特許庁

To reduce chip occupied area by contracting a circuit scale and to reduce testing time.例文帳に追加

回路規模を縮小してチップ占有面積を削減し、さらに試験時間を短縮する。 - 特許庁

ELECTRIC-POWER CAPACITY SETTING METHOD, POWER SUPPLY DEVICE, AND POWER SUPPLY DEVICE FOR SEMICONDUCTOR-DEVICE TESTING DEVICE例文帳に追加

電力容量設定方法、電源装置、半導体デバイス試験装置用電源装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING OF BONDING STRENGTH OF STRAND CONNECTION PART IN SMALL ELECTRIC COMPONENT例文帳に追加

小型電気部品におけるストランド接続部の接着強度試験装置及び方法 - 特許庁

One testing mode is specified by n data held in the n registers.例文帳に追加

ｎ個のレジスタに保持されているｎ個のデータによって１つのテストモードが特定される。 - 特許庁

To provide a method for testing cytotoxicity, by using a new established fish cell line.例文帳に追加

新規な魚類株化細胞を用いた細胞毒性試験方法を提供すること。 - 特許庁

POLYELECTROLYTE FUEL CELL AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加

高分子電解質型燃料電池の試験方法、および高分子電解質型燃料電池 - 特許庁

The first and second access ports are made to adapt that should be interposed in a testing circuit.例文帳に追加

第１及び第２アクセスポートは、試験回路内に介在するべく適合されている。 - 特許庁

To provide a more inexpensive interface between a testing device and an application device.例文帳に追加

試験装置とアプリケーション装置の間におけるより低コストのインターフェイスを提供する。 - 特許庁

To provide a method 200 and a system 300 of testing an overspeed protection system of a turbomachine.例文帳に追加

ターボ機械の過速度防止システムの試験方法（２００）及びシステム（３００）を提供する。 - 特許庁

To provide a heated platen assembly for use in a biological testing device.例文帳に追加

生物学的試験デバイスにおいて使用するための加熱プラテンアセンブリを提供すること。 - 特許庁

To facilitate testing and adjustment after an optical semiconductor package is hermetically sealed.例文帳に追加

光半導体パッケージを密封封止した後のテストや調整を容易に行えるようにする。 - 特許庁

To provide a technique capable of easily manufacturing a package used in testing.例文帳に追加

試験に用いられるパッケージを容易に製造することが可能な技術を提供する。 - 特許庁

To provide adjustment of the characteristic unbalance of FETs using a DBM circuit and simplification of a testing system.例文帳に追加

DBM回路を用いたFETの特性のアンバランスを調整と検査系の簡略化を提供する。 - 特許庁

FASTENING FIXTURE OF COMMUNICATION CONNECTORS AND METHOD OF TESTING PORT COMMUNICATION OF COMMUNICATION EQUIPMENT USING THE SAME例文帳に追加

通信用コネクタ固定器具及びそれを用いた通信機器のポート通信試験方法 - 特許庁

For each testing item on the semiconductor device, setting processes for respectively setting a voltage, an input/output level, and a plurality of measurement patterns are combined mutually for setting a testing condition, power is turned on, testing and result determination is carried out for a plurality of measurement patterns, and then, the power is turned off.例文帳に追加

半導体デバイスのテスト項目ごとに、電圧，入出力レベル，複数の測定パターンをそれぞれ設定する処理を組み合わせてテスト条件を設定し、パワーオンを行い、複数の測定パターンに対してテスト実行，結果判定を行い、パワーオフを行う。 - 特許庁

A probing device 100 for testing an object W in a vacuum state is provided.例文帳に追加

被検査体Ｗを真空状態で検査するプローブ装置１００が提供される。 - 特許庁

A CPU 41 displays a testing image in a testing mode, gradually increases the output of a color applied to the testing image on the basis of an instruction signal input by a user, acquires a rising value when a testing user can recognize a boundary between a predetermined color bars while watching the testing image and performs processing for highlighting the output of the color in image display on the basis of the acquired rising value.例文帳に追加

ＣＰＵ４１は、検査モードにおいて検査用画面を表示させ、ユーザが入力する指示信号に基づいて検査用画面にかかる色の出力を段階的に上昇させていくとともに、、検査用画面を見ながら検査を行なうユーザが所定のカラーバー間の境界が認識できるようになったときの上昇値を取得し、同取得した上昇値に基づいて、画像表示における上記色の出色を強調する処理を行う。 - 特許庁

To obtain a light beam path testing device with a simple structure, without reducing test items.例文帳に追加

試験項目を減らすことなく簡易な構成の光線路試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a booster circuit efficiently testing a section applied with high voltage.例文帳に追加

高電圧印加部分についての効率的なテストを可能にする昇圧回路等の提供。 - 特許庁