「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(138ページ目) - Weblio英語例文検索

ELECTRONIC COMPONENT HANDLER AND ITS OPERATION METHOD, AND TESTING TRAY AND PUSHER例文帳に追加

電子部品ハンドリング装置およびその運用方法、ならびに試験用トレイおよびプッシャ - 特許庁

IC SUCTION DEVICE, IC CARRYING DEVICE USING IT AND IC TESTING DEVICE例文帳に追加

ＩＣ吸着装置およびこれを用いたＩＣ搬送装置並びにＩＣ試験装置 - 特許庁

ANISOTROPIC CONDUCTIVE SHEET AND ITS MANUFACTURING METHOD AS WELL AS TESTING DEVICE OF CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

異方導電性シートおよびその製造方法並びに回路装置の検査装置 - 特許庁

To provide a test assembly (2000) for testing product circuitry (202, 302, 304) of a product die (2011, 300).例文帳に追加

製品ダイ(2011,300)の製品回路(202,302,304)をテストするためのテストアセンブリ(2000)を提供すること。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT INCORPORATING SELF-TESTING CIRCUIT, AND METHOD FOR DIAGNOSING FAULT IN THE SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

自己テスト回路内蔵の半導体集積回路およびその故障診断方法 - 特許庁

MOVING IMAGE DISTRIBUTION SERVER TESTER ACCESS GENERATOR AND MOVING IMAGE DISTRIBUTION SERVER TESTING METHOD例文帳に追加

動画配信サーバ試験用アクセス発生装置及び動画配信サーバ試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, AND TYPE-SWITCHING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE FOR THE DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置及び該装置における半導体デバイスの品種切替方法 - 特許庁

MOVABLE STAGE FOR PLACING TEST PIECE, CIRCUIT PATTERN MANUFACTURING APPARATUS, AND CIRCUIT PATTERN TESTING DEVICE例文帳に追加

試料載置用可動ステージ、回路パターンの製造装置、及び回路パターンの検査装置 - 特許庁

MEASURING DEVICE, BIOLOGICAL TESTING DEVICE, FLOW VELOCITY MEASURING METHOD, AND PRESSURE MEASURING METHOD例文帳に追加

測定装置、生体検査装置、流速測定方法、および圧力測定方法 - 特許庁

The improved IC tester for testing an object under test is provided.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

This IC tester for testing devices under test is an improved one.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

a small hammer with a rubber head used in percussive examinations of the chest and in testing reflexes 例文帳に追加

胸の打診の検査や、反射の検査で使用されるヘッドがゴムの小さなハンマー - 日本語WordNet

a structure resembling a tunnel where air is blown at known velocities for testing parts of aircraft 例文帳に追加

飛行機の部品をテストするため既知の強さで風が吹く、トンネルに似た構造物 - 日本語WordNet

a ban on the testing of nuclear weapons that is mutually agreed to by countries that possess nuclear weapons 例文帳に追加

核兵器を所有する国により相互に同意される核兵器試験の禁止 - 日本語WordNet

a person skilled in testing for defects of vision in order to prescribe corrective glasses 例文帳に追加

矯正眼鏡の処方するために視力障害を検査する技術を持つ人 - 日本語WordNet

Testing IPv6 Support After enabling the recommended options, recompile your kernel and reboot into your new IPv6-enabled kernel.例文帳に追加

(IPv6-IPv4変換用にptrd（後述）を使うのであれば、このオプションだけで十分です) - Gentoo Linux

Testing an asynchronous process requires a client that is capable of receiving an asynchronous callback. 例文帳に追加

非同期プロセスのテストには、非同期コールバックを受信できるクライアントが必要です。 - NetBeans

The project includes WSDL and XML schema files, and input files for testing. 例文帳に追加

このプロジェクトには、WSDL ファイル、XML スキーマファイル、およびテスト用の入力ファイルが含まれます。 - NetBeans

TAPE FOR AMMONIA LEAKAGE TEST USING THIN THICKNESS STACKING TAPE, AND LEAKAGE TESTING METHOD例文帳に追加

薄厚積重テープを用いたアンモニア漏れ試験用テープ及び漏れ試験方法 - 特許庁

METHOD OF TESTING WAVELENGTH-TUNABLE LASER, METHOD OF CONTROLLING WAVELENGTH-TUNABLE LASER, AND LASER DEVICE例文帳に追加

波長可変レーザの試験方法、波長可変レーザの制御方法およびレーザ装置 - 特許庁

HUMIDIFICATION SYSTEM AND PERFORMANCE TESTING DEVICE OF ELECTROLYTE MEMBRANE FOR FUEL CELL USING IT例文帳に追加

加湿システム及びそれを用いた燃料電池用電解質膜の性能試験装置 - 特許庁

To provide a pogo pin and a contactor for semiconductor element testing that is equipped with the pogo pin.例文帳に追加

ポゴピン及びそのポゴピンを備える半導体素子テスト用コンタクターを提供する。 - 特許庁

METHOD OF TESTING FOR PRESENCE OF MICROORGANISM IN GASEOUS ENVIRONMENT CONTAINING HYDROGEN PEROXIDE例文帳に追加

過酸化水素を含有する気体環境中の微生物の存在の試験方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, ITS TESTING METHOD, DATABASE FOR ITS DESIGN, AND ITS DESIGNING METHOD例文帳に追加

集積回路装置，そのテスト方法，その設計用データベース及びその設計方法 - 特許庁

GAS LEAKAGE ALARM UNIT HAVING AUTOMATIC TESTING FUNCTION, FIRE SENSOR, AND COMBINED ALARM ANNUNCIATOR例文帳に追加

自動試験機能を備えたガス漏れ警報器、火災感知器及び複合警報器 - 特許庁

There is provided a testing device 1 for evaluating projection ride-over performance of a tyre 10.例文帳に追加

タイヤ１０の突起乗り越し性能を評価するための試験装置１である。 - 特許庁

INSPECTION PROBE OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND MANUFACTURING METHOD FOR THE TESTING PROBE OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の検査プローブ及び半導体装置の検査プローブの製造方法 - 特許庁

CMIP PROTOCOL TEST AUTOMATING DEVICE AND CMIP PROTOCOL TESTING METHOD例文帳に追加

ＣＭＩＰプロトコル試験自動化装置及びそれに用いるＣＭＩＰプロトコル試験方法 - 特許庁

ON-CHIP MODULE, AND SYSTEM AND METHOD FOR TESTING INTERCONNECTION BETWEEN ON-CHIP MODULES例文帳に追加

オンチップモジュ—ルおよびオンチップモジュ—ル間の相互接続をテストするシステムおよび方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING AND CALCULATING PROTOCOL DATA UNIT RANGE APPLIED TO WINDOW-BASED POLLING例文帳に追加

ウィンドウベースポーリングに適用されるプロトコルデータユニット範囲の試験および計算の方法 - 特許庁

TESTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND TEST METHOD OF THE SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の試験装置および半導体集積回路の試験方法 - 特許庁

DEFECT RELEVANCE DISPLAYING APPARATUS, SUBSTRATE TESTING APPARATUS, AND DEFECT RELEVANCE DISPLAYING METHOD例文帳に追加

欠陥関連性表示装置、基板検査装置、および欠陥関連性表示方法 - 特許庁

TESTING METHOD OF FCS INSPECTION PROCESSING IN FLAG SYNCHRONIZING TRANSMISSION SYSTEM AND ITS SYSTEM例文帳に追加

フラグ同期伝送方式におけるＦＣＳ検査処理の試験方法及びそのシステム - 特許庁

TEST METHOD FOR ESTIMATING UNIT WATER AMOUNT OF CONCRETE AND TESTING MACHINE USING IT例文帳に追加

コンクリートの単位水量推定試験方法および同方法に用いる試験装置 - 特許庁

CONTACT TERMINAL FOR MEASUREMENT, MEASURING DEVICE, PROBE CARD SET, WAFER PROBER DEVICE, AND TESTING DEVICE例文帳に追加

測定用コンタクト端子、測定装置、プローブカードセット、ウエハプローバ装置、及び試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置、半導体装置の製造方法、および半導体装置のテスト方法 - 特許庁

DELAY CIRCUIT, TESTING DEVICE, PROGRAM, SEMICONDUCTOR CHIP, INITIALIZATION METHOD, AND INITIALIZATION CIRCUIT例文帳に追加

遅延回路、試験装置、プログラム、半導体チップ、イニシャライズ方法、および、イニシャライズ回路 - 特許庁

The comparator compares the testing voltage and the target voltage and outputs the compared result.例文帳に追加

コンパレーターがテスト電圧と目標電圧とを比較し、比較結果を出力する。 - 特許庁

To provide a machine regarding improvement for testing a contour and wall of bottles.例文帳に追加

瓶の壁及び輪郭を検査するための改良に係る機械を提供すること。 - 特許庁

P2P SYSTEM STABILIZATION TESTING METHOD USING PEER CONTROL TOOL AND PEER CONTROL TOOL例文帳に追加

ピア制御ツールを用いたＰ２Ｐシステム安定化試験方法およびピア制御ツール - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit for scan-testing a path to a macro-block.例文帳に追加

マクロブロックまでのパスをスキャンテストする半導体集積回路を提供すること。 - 特許庁

WIRING PATTERN, PATTERN FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

配線パターン、半導体装置のテスト用パターンおよび半導体装置の製造方法 - 特許庁

The testing head 14 includes a wiper brush for rubbing a test location in the circuit board 16.例文帳に追加

試験ヘッドはプリント回路板の試験位置を擦るためのワイパーブラシ５２を含む。 - 特許庁

The software testing device 2 receives three inputs and carries out one output.例文帳に追加

そしてソフトウェアテスト装置２は、３つの入力を受け取り一つの出力を行なう。 - 特許庁

Electrode patterns for testing for the purpose of insulation inspection are connected to the electrode parts.例文帳に追加

この電極部には絶縁検査のためのテスト用電極パターンが接続される。 - 特許庁