「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(141ページ目) - Weblio英語例文検索

Then temporal change of the depressurization is measured to conduct testing, and then testing is efficiently achieved without requiring in-chamber depressurization, etc. after completion of testing.例文帳に追加

被試験機器の筐体に真空ポンプで吸引する穴を設けて、この穴に真空ポンプからのエアー吸引ケーブルを接続して、減圧して、減圧の経時変化を測定して試験をすることにより、試験終了後にチャンバー内を減圧する等の必要がなく効率的に試験ができる。 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD USING TARGETED VARIANT INPUT FOR TESTING DATA FORMAT例文帳に追加

ターゲットとされるバリアント入力を使用して、データフォーマットをテストするためのシステムおよび方法 - 特許庁

An IC tester for testing objects to be tested is improved in the present invention.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a semiconductor wafer having self-shielding capability, and to provide a testing method of the wafer.例文帳に追加

自己遮蔽機能を有する半導体ウェーハおよびそれのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a system and a method for testing broadcast video signals that are analog/digital converted or digital/analog converted during operation.例文帳に追加

Ａ／Ｄ及びＤ／Ａ変換された放送ビデオ信号の稼働中テストを行う。 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING POWER SUPPLY VARIATION OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND PROGRAM THEREOF例文帳に追加

半導体集積回路の電源変動検証装置及び方法並びにそのプログラム - 特許庁

To abridge setup time of a semiconductor testing device, and abridge its measurement and evaluation time.例文帳に追加

半導体テスト装置のセットアップ時間を短縮し、その測定・評価時間を短くする。 - 特許庁

EXPOSURE METHOD, DEVICE MANUFACTURING AND PROCESSING METHOD, DEVICE MANUFACTURING AND PROCESSING SYSTEM, AND MEASURING AND TESTING APPARATUS例文帳に追加

露光方法、デバイス製造処理方法、デバイス製造処理システム及び測定検査装置 - 特許庁

TESTING TOOL FOR EXECUTING SIDE FLOW TEST CONTAINING ANALYZED OBJECTS OF TWO OR MORE SORTS例文帳に追加

２種以上の分析対象物を含む側流検定を実施するための試験具 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of taking large-capacity failure data.例文帳に追加

大容量のフェイルデータを取り込むことを可能にする半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

GENERATION OF COMPRESSION TEST PLAN FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT, AND TEST SERIES GENERATION AND TEST例文帳に追加

集積回路のテストのための圧縮テストプランの生成、テスト系列生成およびテスト - 特許庁

NONDESTRUCTIVE COMPRESSIVE STRENGTH TESTING METHOD, STRESS ESTIMATING METHOD AND TEST DEVICE FOR CONCRETE例文帳に追加

コンクリートの非破壊圧縮強度試験方法及び応力推定方法及び試験装置 - 特許庁

THIN FILM TEST PIECE STRUCTURE, ITS MANUFACTURING METHOD, ITS TENSILE TEST METHOD, AND TENSILE TESTING DEVICE例文帳に追加

薄膜試験片構造体、その製造方法、その引張試験方法及び引張試験装置 - 特許庁

To provide an inexpensive monitoring circuit element for testing an analogue/mixed signal IC.例文帳に追加

アナログ及び混合信号ＩＣをテストする廉価なシステムと回路要素を提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR GENERATING TEST PATTERN AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

テストパターン発生方法、テストパターン発生装置及び半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁

To provide a compact and light weighted cable system for crash testing dummy use.例文帳に追加

衝突試験用ダミーで使用するための軽量でコンパクトなケーブルシステムを提供する。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT USING WEIGHTED PSEUDO-RANDOM TEST PATTERN例文帳に追加

重み付けされた擬似ランダム試験パターンを用いた集積回路試験装置および試験方法 - 特許庁

METHOD AND TEST STAND FOR TESTING HYBRID DRIVE SYSTEM OR SUBCOMPONENT OF THE SAME例文帳に追加

ハイブリッド駆動システムまたはそのシステムのサブコンポーネントを試験するための方法および試験台 - 特許庁

A plurality of testing terminals 10 housed in a terminal body 1 are covered with a lid part.例文帳に追加

ターミナル本体１に収納された複数の試験用端子１０は、蓋部で覆われる。 - 特許庁

WORD LINE DRIVING CIRCUIT, SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE INCLUDING THE SAME, AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

ワードライン駆動回路及びこれを備える半導体メモリ装置並びにそのテスト方法 - 特許庁

CONTINUITY TESTING DEVICE AND ITS MECHANISM FOR PRINTED CIRCUIT BOARD WITH SURFACE MOUNTED COMPONENT例文帳に追加

表面実装部品を搭載したプリント回路基板の導通検査装置およびその機構 - 特許庁

To provide a method and apparatus for testing a plurality of sensor devices efficiently and sequentially.例文帳に追加

複数のセンサデバイスを連続的に効率よく試験する方法、装置を提供する。 - 特許庁

CALIBRATION DEVICE, TESTING DEVICE, CALIBRATION METHOD, BAND MEASURING DEVICE, AND BAND MEASURING METHOD例文帳に追加

キャリブレーション装置、試験装置、キャリブレーション方法、帯域測定装置、及び帯域測定方法 - 特許庁

In the pad for probe sensing for testing electrically the semiconductor device without attacking the device, the substrate having the semiconductor device, the method of testing the semiconductor device and the tester for testing the semiconductor device, the probe pad includes a probing region with which a probe needle makes contact.例文帳に追加

半導体素子にアタックを加えなく素子を電気的にテストするためのプローブセンシング用パッド、半導体素子の搭載された基板、半導体素子検査方法及び半導体素子テスターにおいて、前記プローブパッドはプローブ針が接触するプローブ領域を含む。 - 特許庁

SCAN PATH CIRCUIT, AND METHOD OF TESTING LOGIC CIRCUIT AND INTEGRATED CIRCUIT EQUIPPED WITH THE SAME例文帳に追加

スキャンパス回路およびそれを備える論理回路ならびに集積回路のテスト方法 - 特許庁

To provide a handling device for samples and reagents to be used in testing in a system.例文帳に追加

システムにおける試験に使用されるサンプルおよび試薬用の処理装置を提供する。 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING AND EVALUATING MACHINE COMPONENT UNDER SIMULATED IN-SITU THERMAL OPERATING CONDITIONS例文帳に追加

模擬現場熱作動条件下で機械部品を試験及び評価する装置及び方法 - 特許庁

DEVICE FOR INITIALIZING DIGITAL SIGNAL PROCESSING CIRCUIT, TEST PATTERN, TESTING APPARATUS, MEDIUM, AND INFORMATION AGGREGATE例文帳に追加

デジタル信号処理回路初期化装置、テストパターン、テスト装置、媒体及び情報集合体 - 特許庁

LSI, TEST PATTERN CREATING METHOD FOR TESTING SCAN PATH, LSI INSPECTION METHOD AND MULTICHIP MODULE例文帳に追加

ＬＳＩ、スキャンパステスト用テストパターン生成方法、ＬＳＩ検査方法およびマルチチップモジュール - 特許庁

To conduct timing calibration using a built-in circuit, in an IC testing device.例文帳に追加

ＩＣ試験装置において内蔵されている回路を用いてタイミングキャリブレーションをすること。 - 特許庁

To improve efficiency of a testing operation for verifying a control logic of a plant controller.例文帳に追加

プラント制御装置の制御ロジックを検証する試験作業の効率向上を図る。 - 特許庁

To provide a test jig for a metal-enclosed switch gear which is used for testing a current transformer.例文帳に追加

変流器試験などを試験する金属閉鎖型スイッチギヤ用試験治具を提供する。 - 特許庁

To achieve a high speed and high functionalization of an existing testing device at a low cost by means of an addition circuit.例文帳に追加

付加回路を用いて既存の試験装置を低コストで高速および高機能化する。 - 特許庁

To shorten the tank cooling period and to shorten the testing process period.例文帳に追加

タンク冷却時間を短縮し、ひいては試験工程時間を短縮することを可能とする。 - 特許庁

This IC tester is acquired by improving an IC tester for testing a test object.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a gas shielded welding torch in which false defects in MT (magnetic particle testing) can be reduced.例文帳に追加

ＭＴ検査における擬似欠陥を低減できるガスシールド溶接トーチを提供する。 - 特許庁

To provide an alcohol testing device capable of making it difficult for impersonators to be examined as someone else in alcohol testing and rationalizing roll call by specifying subjects through the use of biological information even when no roll caller is present during the alcohol testing of breath.例文帳に追加

生体情報を利用して被験者を特定することにより、呼気中のアルコール検査時に点呼者の立ち会いがなくても、なりすましによりアルコール検査を受けることが困難であり、点呼作業の合理化を図ることのできるアルコール検査装置を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING INTEGRITY OF VIBRATION OF STEAM DRYER AND STEAM DRYER TESTING DEVICE例文帳に追加

蒸気乾燥器の振動健全性を評価する方法及び蒸気乾燥器の試験装置 - 特許庁

PICTURE PROCESSING METHOD AND DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

画像処理方法、画像処理装置およびそれらを用いた半導体デバイス試験装置 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device which shortens pattern-data loading time.例文帳に追加

パターンデータのロード時間を短縮することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To improve accuracy of detecting defect of a BIST circuit testing memories incorporated in ECC.例文帳に追加

ＥＣＣ搭載メモリをテストするＢＩＳＴ回路の不良検出精度を向上させる。 - 特許庁

To provide a highly reliable device for testing a stud that permits easy and steady access to it.例文帳に追加

スタッドに容易かつ確実にアクセスでき、信頼性の高いスタッド検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing apparatus capable of easily extracting a simulation model of a transmission line.例文帳に追加

伝送線路のシミュレーションモデルを簡易に抽出可能な試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a optical cable testing apparatus or the like capable of inhibiting the occurrence of a fluctuation.例文帳に追加

揺らぎの発生を抑制することができる光線路試験装置等を提供する。 - 特許庁

The yield analyzing means 16 calculates the yield based on a result from the testing apparatus 20.例文帳に追加

テスト装置２０の結果から歩留まり解析手段１６は歩留まりを算出する。 - 特許庁