「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(141ページ目) - Weblio英語例文検索

DEVICE AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT USING WEIGHTED PSEUDO-RANDOM TEST PATTERN例文帳に追加

重み付けされた擬似ランダム試験パターンを用いた集積回路試験装置および試験方法 - 特許庁

METHOD AND TEST STAND FOR TESTING HYBRID DRIVE SYSTEM OR SUBCOMPONENT OF THE SAME例文帳に追加

ハイブリッド駆動システムまたはそのシステムのサブコンポーネントを試験するための方法および試験台 - 特許庁

A plurality of testing terminals 10 housed in a terminal body 1 are covered with a lid part.例文帳に追加

ターミナル本体１に収納された複数の試験用端子１０は、蓋部で覆われる。 - 特許庁

WORD LINE DRIVING CIRCUIT, SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE INCLUDING THE SAME, AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

ワードライン駆動回路及びこれを備える半導体メモリ装置並びにそのテスト方法 - 特許庁

CONTINUITY TESTING DEVICE AND ITS MECHANISM FOR PRINTED CIRCUIT BOARD WITH SURFACE MOUNTED COMPONENT例文帳に追加

表面実装部品を搭載したプリント回路基板の導通検査装置およびその機構 - 特許庁

To provide a method and apparatus for testing a plurality of sensor devices efficiently and sequentially.例文帳に追加

複数のセンサデバイスを連続的に効率よく試験する方法、装置を提供する。 - 特許庁

CALIBRATION DEVICE, TESTING DEVICE, CALIBRATION METHOD, BAND MEASURING DEVICE, AND BAND MEASURING METHOD例文帳に追加

キャリブレーション装置、試験装置、キャリブレーション方法、帯域測定装置、及び帯域測定方法 - 特許庁

In the pad for probe sensing for testing electrically the semiconductor device without attacking the device, the substrate having the semiconductor device, the method of testing the semiconductor device and the tester for testing the semiconductor device, the probe pad includes a probing region with which a probe needle makes contact.例文帳に追加

半導体素子にアタックを加えなく素子を電気的にテストするためのプローブセンシング用パッド、半導体素子の搭載された基板、半導体素子検査方法及び半導体素子テスターにおいて、前記プローブパッドはプローブ針が接触するプローブ領域を含む。 - 特許庁

SCAN PATH CIRCUIT, AND METHOD OF TESTING LOGIC CIRCUIT AND INTEGRATED CIRCUIT EQUIPPED WITH THE SAME例文帳に追加

スキャンパス回路およびそれを備える論理回路ならびに集積回路のテスト方法 - 特許庁

To provide a handling device for samples and reagents to be used in testing in a system.例文帳に追加

システムにおける試験に使用されるサンプルおよび試薬用の処理装置を提供する。 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING AND EVALUATING MACHINE COMPONENT UNDER SIMULATED IN-SITU THERMAL OPERATING CONDITIONS例文帳に追加

模擬現場熱作動条件下で機械部品を試験及び評価する装置及び方法 - 特許庁

DEVICE FOR INITIALIZING DIGITAL SIGNAL PROCESSING CIRCUIT, TEST PATTERN, TESTING APPARATUS, MEDIUM, AND INFORMATION AGGREGATE例文帳に追加

デジタル信号処理回路初期化装置、テストパターン、テスト装置、媒体及び情報集合体 - 特許庁

LSI, TEST PATTERN CREATING METHOD FOR TESTING SCAN PATH, LSI INSPECTION METHOD AND MULTICHIP MODULE例文帳に追加

ＬＳＩ、スキャンパステスト用テストパターン生成方法、ＬＳＩ検査方法およびマルチチップモジュール - 特許庁

To conduct timing calibration using a built-in circuit, in an IC testing device.例文帳に追加

ＩＣ試験装置において内蔵されている回路を用いてタイミングキャリブレーションをすること。 - 特許庁

To improve efficiency of a testing operation for verifying a control logic of a plant controller.例文帳に追加

プラント制御装置の制御ロジックを検証する試験作業の効率向上を図る。 - 特許庁

To achieve a high speed and high functionalization of an existing testing device at a low cost by means of an addition circuit.例文帳に追加

付加回路を用いて既存の試験装置を低コストで高速および高機能化する。 - 特許庁

To provide a test jig for a metal-enclosed switch gear which is used for testing a current transformer.例文帳に追加

変流器試験などを試験する金属閉鎖型スイッチギヤ用試験治具を提供する。 - 特許庁

To shorten the tank cooling period and to shorten the testing process period.例文帳に追加

タンク冷却時間を短縮し、ひいては試験工程時間を短縮することを可能とする。 - 特許庁

This IC tester is acquired by improving an IC tester for testing a test object.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a gas shielded welding torch in which false defects in MT (magnetic particle testing) can be reduced.例文帳に追加

ＭＴ検査における擬似欠陥を低減できるガスシールド溶接トーチを提供する。 - 特許庁

To provide an alcohol testing device capable of making it difficult for impersonators to be examined as someone else in alcohol testing and rationalizing roll call by specifying subjects through the use of biological information even when no roll caller is present during the alcohol testing of breath.例文帳に追加

生体情報を利用して被験者を特定することにより、呼気中のアルコール検査時に点呼者の立ち会いがなくても、なりすましによりアルコール検査を受けることが困難であり、点呼作業の合理化を図ることのできるアルコール検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device which shortens pattern-data loading time.例文帳に追加

パターンデータのロード時間を短縮することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a testing method for demonstrating the efficacy of a topically applied active ingredient.例文帳に追加

局所的に塗布された活性成分の効能を立証する試験法を提供する。 - 特許庁

This food testing system includes a first belt conveyor 5 and a second belt conveyor 7.例文帳に追加

本発明の食品検査システムは、第１のベルトコンベア５と第２のベルトコンベア７とを備える。 - 特許庁

According to the derived testing position, the test of each electrode pattern part is executed.例文帳に追加

そして、この導出された検査位置に応じて各電極パターン部の検査が実施される。 - 特許庁

The yield analyzing means 16 calculates the yield based on a result from the testing apparatus 20.例文帳に追加

テスト装置２０の結果から歩留まり解析手段１６は歩留まりを算出する。 - 特許庁

To improve accuracy of detecting defect of a BIST circuit testing memories incorporated in ECC.例文帳に追加

ＥＣＣ搭載メモリをテストするＢＩＳＴ回路の不良検出精度を向上させる。 - 特許庁

To provide a highly reliable device for testing a stud that permits easy and steady access to it.例文帳に追加

スタッドに容易かつ確実にアクセスでき、信頼性の高いスタッド検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing apparatus capable of easily extracting a simulation model of a transmission line.例文帳に追加

伝送線路のシミュレーションモデルを簡易に抽出可能な試験装置を提供する。 - 特許庁

TEST SOCKET, METHOD OF MANUFACTURING IT, METHOD OF TESTING BY USING IT, AND TESTED MEMBER例文帳に追加

テスト用ソケット、その製造方法、テスト用ソケットを用いたテスト方法、及び被テスト部材 - 特許庁

To provide a optical cable testing apparatus or the like capable of inhibiting the occurrence of a fluctuation.例文帳に追加

揺らぎの発生を抑制することができる光線路試験装置等を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING ADHESIVE CELL COUNT AND METHOD FOR TESTING EFFECT OF DRUG USING THE SAME METHOD例文帳に追加

接着細胞数の計測方法および該方法を用いた薬剤効果試験方法 - 特許庁

Further, a testing mechanism is provided to test the redundant error detection (RED) capability itself.例文帳に追加

更に、冗長エラー検出(Redundant Error Detection, 「RED」)能力自体をテストするためのテストメカニズムが提供される。 - 特許庁

I/O timing is made programmable and subject to adjustment as part of wafer probe testing.例文帳に追加

Ｉ／Ｏタイミングをプログラム可能にして、これにウェハ・プローブ・テストの一環として調整を施す。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device shortening a loading time of a test program.例文帳に追加

テストプログラムのロード時間を短くすることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To simplify data of whole equipment, when using a fire detecting equipment with an automatic testing function.例文帳に追加

自動試験機能付きの火災感知器を用いる際に、設備全体のデータを簡便とする。 - 特許庁

Thus, the defect of the data track is effectively detected, and also the testing period is shortened.例文帳に追加

これにより、データ・トラックの欠陥を効果的に検出し、また、そのテスト時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a surge tester for performing a surge test corresponding to the characteristics of a testing object.例文帳に追加

被試験対象の特性に応じたサージ試験を行うサージ試験装置を提供する。 - 特許庁

EXCHANGING APPARATUS FOR WORK TABLE RECEIVING DISPLAY-USE SUBSTRATE AND TESTING DEVICE FOR DISPLAY-USE SUBSTRATE例文帳に追加

表示用基板を受けるワークテーブルの交換装置及び表示用基板の検査装置 - 特許庁

PRINTED CIRCUIT BOARD TESTER, PRINTED CIRCUIT BOARD ASSEMBLING AND TESTING LINE SYSTEM AND PROGRAM例文帳に追加

プリント回路基板検査装置とプリント回路基板組み立て検査ラインシステムおよびプログラム - 特許庁

In the device for testing a wafer level, control means for controlling the moving means is provided.例文帳に追加

ウェハレベル試験装置には、更に、移動手段を制御する制御手段が設けられている。 - 特許庁

A logic signal for testing is outputted from a logic tester 5 to the analog circuit IC 3.例文帳に追加

ロジックテスタ５からアナログ回路ＩＣ３に向けて、テスト用のロジック信号を出力する。 - 特許庁

To provide a finger tester for testing a circuit board not formed into a component.例文帳に追加

本発明は、コンポーネント化されていない回路基板を試験するためのフィンガー・テスターに関する。 - 特許庁

The operation module receives an image for testing and creates a plurality of signals for adjustment.例文帳に追加

動作モジュールは、試験用画像を受信して複数の調整用信号を生成する。 - 特許庁

REWRITING METHOD OF SUBSCRIBER IDENTITY MODULE FOR TESTING, MOBILE COMMUNICATION TERMINAL, AND CONTROL DEVICE例文帳に追加

試験用の加入者識別モジュールの書換方法、移動通信端末及び制御装置 - 特許庁