Testingを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 14405件
According to the derived testing position, the test of each electrode pattern part is executed.例文帳に追加
そして、この導出された検査位置に応じて各電極パターン部の検査が実施される。 - 特許庁
TEST SOCKET, METHOD OF MANUFACTURING IT, METHOD OF TESTING BY USING IT, AND TESTED MEMBER例文帳に追加
テスト用ソケット、その製造方法、テスト用ソケットを用いたテスト方法、及び被テスト部材 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING ADHESIVE CELL COUNT AND METHOD FOR TESTING EFFECT OF DRUG USING THE SAME METHOD例文帳に追加
接着細胞数の計測方法および該方法を用いた薬剤効果試験方法 - 特許庁
Further, a testing mechanism is provided to test the redundant error detection (RED) capability itself.例文帳に追加
更に、冗長エラー検出(Redundant Error Detection, 「RED」)能力自体をテストするためのテストメカニズムが提供される。 - 特許庁
SPINDLE STAGE FOR TESTING MAGNETIC HEAD HAVING VCM MECHANISM AND MAGNETIC HEAD AUTOMATIC LOADING/UNLOADING DEVICE例文帳に追加
VCM機構を有する磁気ヘッド試験用スピンドルステージおよび磁気ヘッド自動着脱装置 - 特許庁
GUIDE FOR PROBE CARD, PROBE CARD MOUNTING THE SAME, AND METHOD FOR TESTING ELECTRONIC CIRCUIT DEVICE例文帳に追加
プローブカード用ガイド、これを装着したプローブカード及び電子回路デバイスの検査方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING DEVICE UNDER TEST, AND TOOL FOR CUTTING AND CONNECTING TRANSMISSION CABLE例文帳に追加
被試験機器テスト装置、被試験機器テスト方法及び通信ケーブル切断/接続治具 - 特許庁
To more accurately perform positioning operation of an irradiation target and the positioning accuracy testing.例文帳に追加
照射対象の位置決め操作や位置決め精度確認をより正確に実行すること。 - 特許庁
To provide a semiconductor testing device shortening a loading time of a test program.例文帳に追加
テストプログラムのロード時間を短くすることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a testing method increased in the correlation with the actual adhesion release strength of actual cardboard.例文帳に追加
実際の板紙の接着剥離強度と相関の高い、試験方法を提供すること。 - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR TESTING COMPONENT IN COMPUTER SYSTEM USING FREQUENCY MARGIN例文帳に追加
周波数マージンを使用してコンピュータシステム内のコンポーネントをテストするシステムおよび方法 - 特許庁
This continuity testing device is provided with an auxiliary part U having an outline shape allowing fitting in the connector.例文帳に追加
検査器に、コネクタに嵌合できる外形形状を有する補助部Uを備えた。 - 特許庁
ADAPTIVE LEARNING OF SET OF ACTUAL TIME MEASUREMENT VALUE AND AUTOMATIC TESTING SYSTEM THEREOF例文帳に追加
実時間測定値の集合を適応学習するための方法及び自動試験システム - 特許庁
To fix an LSI to a testing device easily and surely without using an expensive IC socket.例文帳に追加
高価なICソケットを使用せず、LSIを容易かつ確実に試験装置に固定する。 - 特許庁
The trimming codes for testing are different from the adequate trimming code and used only when a test is conducted.例文帳に追加
テスト用トリミングコードは、適正トリミングコードと異なっており、テスト時にのみ用いられる。 - 特許庁
To measure the output timing precisely more than the resolving power of the IC testing device.例文帳に追加
当該装置の具える分解能以上の細かさで出力タイミングを測定する。 - 特許庁
To provide an improved circuit and a method for testing deterioration of a ferroelectric memory cell.例文帳に追加
強誘電体メモリセルの劣化をテストする改良した回路及び方法を提供する。 - 特許庁
This game machine testing device is provided with a lower roller 61 and an upper roller 71.例文帳に追加
この遊技機検査装置は下側ローラ61及び上側ローラ71を備えている。 - 特許庁
(iv) methods for testing, analyzing, appraising, inspecting, assaying or measuring with regard to mineral or industrial products 例文帳に追加
四 鉱工業品に関する試験、分析、鑑定、検査、検定又は測定の方法 - 日本法令外国語訳データベースシステム
v) In case the person accredited has a laboratory in which he/she is personally to conduct product testing pertaining to the Certification, name and address of the laboratory and the division of testing method to be conducted in such laboratory (meaning the division of the testing method prescribed in Paragraph 1 of Article 57 例文帳に追加
五 登録を受けた者が自ら認証に係る製品試験を行う試験所を有する場合にあつては、その名称及び所在地並びに当該試験所で行う試験方法の区分(第五十七条第一項に規定する試験方法の区分をいう。) - 日本法令外国語訳データベースシステム
(i) When the testing laboratory no longer complies with the standards of Paragraph 2 of Article 57. 例文帳に追加
一 その試験所が第五十七条第二項の基準に適合しなくなつたとき。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
(xv) Equipment and devices used in the production or testing of military propellants, or parts thereof 例文帳に追加
(十五) 軍用火薬類の製造設備若しくは試験装置又はこれらの部分品 - 日本法令外国語訳データベースシステム
(xli) Goods listed below and usable for the detonation or testing of nuclear weapons 例文帳に追加
(四十一) 核兵器の起爆又はその試験に用いられる貨物であつて、次に掲げるもの - 日本法令外国語訳データベースシステム
(ii) Where a person intends to manufacture or import a new substance for testing and research purposes 例文帳に追加
二 試験研究のため新規化学物質を製造し、又は輸入しようとするとき。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
To provide a highly reliable apparatus for electrical test and an electrical testing method.例文帳に追加
信頼性の高い電気的試験用装置及び電気的試験方法を提供すること。 - 特許庁
A testing body 20 was heated with a gas burner 11 and its surface temperature reached 1,000°C after 6 minutes.例文帳に追加
試験体20はガスバーナ11で加熱し、表面は6分後1000℃を達した。 - 特許庁
To provide a semiconductor device for reducing power consumption at testing.例文帳に追加
本発明は、テスト時における消費電力を小さくする半導体装置を提供する。 - 特許庁
To shorten the testing time of the wafer of a semiconductor device.例文帳に追加
この発明は、半導体装置のウェハ・テスト時間の短縮を図ることを特徴とする。 - 特許庁
VIBRATION TESTING APPARATUS FOR CABLE CONNECTING SECTION OF GROUND COIL FOR SUPERCONDUCTING MAGNETIC LEVITATION TYPE RAILWAY例文帳に追加
超電導磁気浮上式鉄道用地上コイルのケーブル接続部振動試験装置 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING FUNCTIONAL BLOCK FOR SPECIFIC APPLICATION EMBEDDED IN RECONFIGURABLE ARRAY例文帳に追加
リコンフィギャラブルアレイに埋め込まれた特定用途向け機能ブロックのテスト装置及びテスト方法 - 特許庁
To provide a method for testing an integrated circuit by using an automatic test device.例文帳に追加
自動テスト装置12を使用して、集積回路10をテストする方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a flip-chip semiconductor package for testing bumps, and to provide a mothod of manufacturing the same.例文帳に追加
バンプテストのためのフリップチップ半導体パッケージ及びその製造方法を提供する。 - 特許庁
Additionally, the testing device 82 is furnished with a filling container 84 in which gas for fuel is filled.例文帳に追加
また、試験装置82は、燃料用ガスが充填される充填容器84を備える。 - 特許庁
To provide a method and equipment for testing a tire under a reproducible situation.例文帳に追加
再現可能な様態でタイヤを試験するための方法及び機器を提供すること。 - 特許庁
SPECIMEN SIMULATING REDUCTION IN THICKNESS OF PIPE INTERIOR, MANUFACTURING METHOD OF TEST SPECIMEN AND TESTING METHOD例文帳に追加
減肉の発生した配管を模した試験体、試験体の作成方法、試験方法 - 特許庁
To provide a probe and a method for easily and accurately testing HLA genes.例文帳に追加
簡便かつ正確な、HLA遺伝子の検査のためのプローブおよび方法の提供。 - 特許庁
The light is received by a light receiving part 80 of the testing device 70, and the address information of the fire detector in the alarm-sounding state is specified by a control part 81 of the testing device 70, and simultaneously the address is displayed on a display part 82 of the testing device 70.例文帳に追加
そして、その光が試験装置70の受光部80で受光され、試験装置70の制御部81によって前記発報状態にある火災感知器のアドレス情報が特定されると共に、そのアドレスが試験装置70の表示部82に表示される。 - 特許庁
To test a base station, without providing an extra setting place for a base station testing apparatus.例文帳に追加
基地局試験装置の設置場所を別途設けることなく基地局試験を行う。 - 特許庁
To provide an automatic penetration testing machine capable of automatically carrying out hammering work of a penetration rod.例文帳に追加
貫入ロッドの打撃作業を自動的に行える自動貫入試験機の提供。 - 特許庁
To realize a network access management technique with high reliability and a minimized testing load.例文帳に追加
信頼性が高く設計やテストの負担の少ないネットワークアクセス管理技術を実現する。 - 特許庁
To provide a game machine testing device which facilitates its connection with a game machine.例文帳に追加
遊技機と遊技機試験装置との接続を容易にした遊技機試験装置を提供する。 - 特許庁
SURFACE-HOLDING MOVEMENT/GUIDING MECHANISM AND CONTINUITY TESTING DEVICE FOR WIRING BOARD AND THE LIKE BY USING THE MECHANISM例文帳に追加
面保持移動案内機構およびこれを用いた配線基板等の導通試験装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR CALIBRATING VOLTAGE GENERATOR OF IC TESTING DEVICE例文帳に追加
IC試験装置における電圧発生器の校正方法・電圧発生器の校正装置 - 特許庁
METHOD OF CONTROLLING ELECTRIC POWER SOURCE FOR DEVICE IN SEMICONDUCTOR-TESTING DEVICE, AND ELECTRIC POWER SOURCE UNIT FOR DEVICE THEREIN例文帳に追加
半導体試験装置のデバイス用電源制御方法及びデバイス用電源装置 - 特許庁
To realize an apparatus for testing sealability which can surely text the sealability for a short time.例文帳に追加
短時間で確実に密封性の検査を行い得る密封性検査装置を実現する。 - 特許庁
TRAVEL CONDITION SIMULATION TESTING SYSTEM AND TRAVEL CONDITION SIMULATOR FOR VEHICLE MOUNTED WITH DRIVE MOTOR例文帳に追加
駆動モータを搭載した車両の走行模擬試験システムおよび走行状態模擬装置 - 特許庁
This invention makes an improvement in the IC tester for testing an object to be tested.例文帳に追加
本発明は、被試験対象を試験するICテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁
TESTER FOR TESTING MAGNETIC CHARACTERISTIC OF VENEER OF ELECTROMAGNETIC STEEL PLATE AND METHOD OF MEASURING MAGNETIC CHARACTERISTICS例文帳に追加
電磁鋼板の単板磁気特性試験用試験器および磁気特性測定方法 - 特許庁
To provide a means for sensitively, rapidly, simply and inexpensively testing a microorganism.例文帳に追加
高感度で迅速簡便であり、なおかつ安価な微生物検査の手段を提供すること。 - 特許庁
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| ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。 |
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