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Testingを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 14414



例文

To provide data inversion register technique for integrated circuit memory testing in which data input signals are selectively inverted in a predetermined patten to maximize the probability of identifying failures during testing.例文帳に追加

データ入力信号が所定のパターンに選択的に反転され、検査時に不具合を特定する確率を最大限にする集積回路メモリ検査用のデータ反転レジスタ技術を提供する。 - 特許庁

To provide a pitch converting jig capable of easily testing semiconductors having a narrow lead pitch by enlarging the pitch through the use of a testing device having a wide-pitch terminal.例文帳に追加

リードピッチの狭い半導体の試験を、ピッチを拡大することにより、ピッチの広い端末を有する試験装置を用いて容易に行うことができるピッチ変換治具を提供する。 - 特許庁

The Python unit testing framework, often referred to as ``PyUnit,'' is a Python language version of JUnit, by Kent Beck and Erich Gamma.JUnit is, in turn, a Java version of Kent's Smalltalk testing framework.例文帳に追加

このPython単体テストフレームワーク は``PyUnit''とも呼ばれ、Kent Beck とErich GammaによるJUnitのPython版です。 JUnitはまたKentのSmalltalk用テストフレームワークのJava版で、どちらもそれぞれの言語で業界標準の単体テストフレームワークとなっています。 - Python

On a server 209, which is connected, via a network 208, to a tool personal computer 201 which executes a testing program 202 for a machine 200 to be tested, testing state information 210 on all the machines to be tested is stored.例文帳に追加

被試験機200の試験プログラム202を実行する冶具パソコン201とネットワーク208で接続されたサーバ209上に、全被試験機の試験状況情報210を保持する。 - 特許庁

例文

To provide a test disk and a drive testing method capable of smoothly testing whether an HD DVD drive can properly record/play a two-layer type DRAW type HD DVD.例文帳に追加

HDDVDドライブが2層タイプの追記型HDDVDに対し記録再生を適正に行えるかを円滑に検査できるテストディスクおよびドライブ検査方法を提供する。 - 特許庁


例文

Because the companys top productsair tightness testing equipment and image testing equipment – are produced in small quantities by order, large reductions in production costs cannot be expected from overseas manufacturing. 例文帳に追加

主力製品である気密性検査装置や画像検査装置は、受注少量生産品であるため、海外生産によって、製造コストを大幅に引き下げることは、期待できない。 - 経済産業省

The memory test system is equipped with a memory testing device 10 having the fail memory 15 for storing a test result of the memory to be tested and a controller 1 for controlling the memory testing device 10.例文帳に追加

メモリ試験システムは、被試験メモリの試験結果を格納するフェイルメモリ15を有するメモリ試験装置10と、メモリ試験装置10を制御する制御装置1とを備える。 - 特許庁

Thus, because notifying the testing machine about the start of the next variable display after 1 ms corresponding to a decision time of an input signal of the testing machine lapses, the testing machine does not erroneously recognize the error having occurred in the preceding variable display as the error of the next variable display.例文帳に追加

このように次の変動表示の開始を、試験機の入力信号の確定時間に相当する1ms経過後に試験機へ報せるので、前回の変動表示で発生したエラーを、次回の変動表示のエラーとして、試験機に誤って認識させてしまうことはない。 - 特許庁

This testing device is equipped with a testing device body for applying a prescribed load repeatedly on the test piece having a notch for cracking to develop a crack on the test piece, and an imaging means for imaging the cracking surface of the test piece mounted on the testing device body and served for a fatigue crack test.例文帳に追加

亀裂発生用の切欠きを備えた試験片に所定の負荷を繰り返し加えて該試験片に亀裂を生起する試験装置本体と、この試験装置本体に装着されて疲労亀裂試験に供されている試験片の亀裂発生面を撮像する撮像手段とを備える。 - 特許庁

例文

To provide a method and a testing system capable of generating common test-condition data to a plurality of testing apparatuses, and generating the test-condition data in each apparatus by taking into consideration a difference in the performance of an apparatus in a short period of time, in the method for generating the test-condition data of the wafer visual testing apparatus.例文帳に追加

ウエーハ外観検査装置の検査条件データを生成する方法において、複数台の検査装置に対する共通の検査条件データを生成し、機差を考慮した装置毎の検査条件データを短時間で生成できる方法及び検査システムを提供する。 - 特許庁

例文

To provide a method of earthquake resistance testing for an elevating body of an elevator which allows to carry out an earthquake resistance testing that is equivalent to a conventional earthquake resistance testing with a simpler configuration, in which a vibration of a car or of a counterweight is evaluated by forcibly vibrating and displacing a hoistway itself with a vibration table.例文帳に追加

この発明は、加振テーブルにより昇降路自体を強制変位加振して、かご、あるいはつり合いおもりの振動を評価する従来の耐震試験と等価の耐震試験を、より簡便な構成で実施できるエレベータの昇降体の耐震試験方法を得る。 - 特許庁

To provide a method of testing whiskers in a tinning film where the testing of whiskers is performed for a short period through, regarding the testing of the growing conditions of whiskers for securing the reliability of a tinned electronic component or the like, an extremely long period in the range from a half year to two years (in the case it is long) has been taken heretofore.例文帳に追加

錫めっきを施した電子部品などの信頼性を確保するためにウイスカの成長状態を検査するには、従来は半年から長い場合は2年間の非常に長い時間がかかっていたが、錫ウイスカを短期間で行う錫めっき皮膜のウイスカ検査方法を提供する。 - 特許庁

This electric channel self-inspection semiconductor testing system includes: a tester head; a plurality of parameter detection units; and a self-inspection controller, the tester head having a plurality of testing circuit boards inserted therein, the plurality of testing circuit boards being provided with a plurality of power channels, a plurality of I/O channels, and a plurality of drive channels.例文帳に追加

本電気チャネル自己検査式半導体試験システムは、試験ヘッド、複数のパラメータ検出ユニット、自己検査コントローラを包含し、該試験ヘッド内に複数の試験回路板が挿入され、それは複数の電源チャネル、複数の伝送チャネル、及び複数の駆動チャネルを具備する。 - 特許庁

To provide a sealing testing device for an air conditioning pipe capable of conducting a precise sealing test and recording pressure change during the sealing test and a sealing testing method of the air conditioning pipe using the sealing testing device for the air conditioning pipe.例文帳に追加

精度のよい気密試験を達成することができ、かつ、気密試験を実施している間の圧力変化を記録することができる空調配管用気密試験装置と、その空調配管用気密試験装置を用いた空調配管の気密試験方法を提供すること。 - 特許庁

Thus, since a start of the next variable display is informed to the testing machine after passing 1 ms corresponding to deciding time of an input signal of the testing machine, an error caused in the last time variable display is not erroneously recognized by the testing machine as an error of the next time variable display.例文帳に追加

このように次の変動表示の開始を、試験機の入力信号の確定時間に相当する1ms経過後に試験機へ報せるので、前回の変動表示で発生したエラーを、次回の変動表示のエラーとして、試験機に誤って認識させてしまうことはない。 - 特許庁

The urine testing paper test bar for testing human urine, is made by print-applying an ink composition containing a urine testing indicator to a part of the surface of paper bar formed by threading a piece of paper with water solubility or water dispersibility.例文帳に追加

人間の尿を検査するための尿検査紙製試験棒であって、水溶解性乃至は水分散性の紙を撚ってなる紙製棒状体の表面の一部に尿検査用指示薬を含有するインク組成物を印刷により塗布したことを特徴とする尿検査紙製試験棒。 - 特許庁

An exhaust gas control device 32 for sucking the exhaust gas discharged from a muffler 4 of a testing vehicle 2 to be discharged to the outside is provided in a position, that is a rear position of the testing vehicle, deviated from an area connecting microphones 8d-8g provided in a vehicular rear side of the testing vehicle and the muffler.例文帳に追加

試験車両2のマフラ4から排出した排ガスを吸引して外部に排出する排ガス処理装置32を、試験車両の後方位置であって、試験車両の車両後方側に設置したマイクロホン8d〜8gとマフラとの間を結んだ領域から外れた位置に設置した。 - 特許庁

To provide a closed vessel that a pinhole test (i.e., gas leakage test) is accurately carried out using a small quantity of testing gas and that a filling process of contents and the testing gas and a testing process of pinhole can be carried out continuously at the same place, and to provide a pinhole detecting method using the closed vessel.例文帳に追加

少量の検査用ガスによってピンホール検査(ガス漏れ検査)を正確に行うことができ、また、内容物・検査用ガスの充填工程とピンホールの検査工程とを同じ場所で連続的に行うことのできる密閉容器と、該密閉容器を用いたピンホール検出方法を提供する。 - 特許庁

To enhance testing accuracy by sufficiently and uniformly releasing heat generated by semiconductor elements during aging test and to improve the mounting efficiency of the semiconductor elements by reducing the size of testing jigs and increasing the number of the testing jigs to be stored in a constant-temperature tank.例文帳に追加

本発明は、エージング試験に伴い半導体素子から発生する熱を十分、且つ均一に放熱させて、試験精度を高めると共に、試験用治具を小型化して恒温槽に収容できる試験用治具の数を増加させ、半導体素子の実装効率を向上させる。 - 特許庁

By making the focused address not only the single address but also a designated address range, the total number of times of testing as a whole is reduced by performing screening testing for the address range in which the failure occurred when the failure occurs after the testing of the whole address range concerned.例文帳に追加

又、本発明は、着目アドレスを単一アドレスではなく所定のアドレス範囲とすることにより、当該全アドレス範囲の試験後に故障が発生した場合には、故障が発生したアドレス範囲についてスクリーニング試験を行うことにより、全体として試験回数を抑えることを目的とする。 - 特許庁

This semiconductor integrated circuit includes a functional block comprising a functional flip-flop tested in scan testing, the macro-block with a signal outputted from the functional flip-flop inputted thereinto and not tested in scan testing, and a flip-flop for observation for obtaining the result of scan testing from the inputted signal.例文帳に追加

半導体集積回路は、スキャンテスト時にテストされる機能フリップフロップを有する機能ブロックと、機能フリップフロップから出力された信号が入力され、スキャンテスト時にテストされないマクロブロックと、入力された信号からスキャンテストの結果を得る観測用フリップフロップとを備える。 - 特許庁

A photoreceptor degrading acceleration testing device, when in use for degrading acceleration testing, causes air feeding means to blow air into a gap between a photoreceptor 1 for electronic photography and first electrifying means 13 for the purpose of blowing off a discharge product generated from the first electrifying means 13 for degrading acceleration testing.例文帳に追加

劣化加速試験時には、劣化加速試験用の第1の帯電手段13から発生する放電生成物を吹き飛ばす目的で、エアー供給手段によって電子写真用感光体1と劣化加速試験用の第1の帯電手段13との隙間にエアーを吹きつける。 - 特許庁

The forming workability evaluation system is composed of an extrusion testing machine 1 for testing kneadability and extrusion workability of a resin material and a fluidity analyzer 2 of a resin for analyzing the fluidity of the resin material in the scaled-up extruder using measurement data measured by the extrusion testing machine 1.例文帳に追加

樹脂材料の混練性、押出加工特性を試験する押出試験機1と、該押出試験機1で測定した測定データを使用してスケールアップした押出機における前記樹脂材料の流動解析を行う樹脂流動解析装置2とから構成してある。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detection method and a device therefor, capable of detecting with a high S/N ratio, micro defects at a surface layer part of a material to be inspected having a coarse surface like a slab, by using immersion testing (full immersion testing, partial immersion testing, and a water-column ultrasonic method).例文帳に追加

水浸法(全没水浸法、局部水浸法、水柱超音波法)を用いて、スラブのように表面が粗い検査材の表層部にある微小欠陥を高いS/Nで探傷することが可能な超音波探傷方法および装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The testing jig 90 is fabricated with such an accuracy that, for example, it can be known that the coplanarity testing equipment is not in a state qualified for testing coplanarity correctly if all the heights of the plurality of reflection planes 98 exceed a set value of height which is supposed to be obtained.例文帳に追加

検査用治具90は精度良く作られており、例えば、複数の反射面98の各高さがいずれも取得されるべき高さに対して設定値を超えて外れているのであれば、コプラナリティ検査装置が正常にコプラナリティを検査可能な状態にないことがわかる。 - 特許庁

To provide the testing method of a semiconductor integrated circuit which can more easily and accurately test an integrated circuit on a semiconductor wafer, while eliminating post-processes, etc. after testing as well as a testing substrate, and to provide a semiconductor integrated circuit that is used in the method.例文帳に追加

テスティング基板はもとより、検査後の後処理等も不要としながら、より簡易且つ的確に半導体ウエハ上の集積回路を検査することのできる半導体集積回路の検査方法およびその方法の実施に使用される半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

The method for testing the product character inputs the identification number of the product 13 into a classifier 18 by a memory 11, inputs the testing data to the classifier 18 by a personal computer 14 and classifies the product 13 to each characteristic rank, corresponding to the testing data according to the classifier 18.例文帳に追加

メモリ11により製品13の識別番号を層別器18に入力するとともに、検査データをパソコン14により層別器18に入力し、さらに層別器18により製品13を検査データに応じた特性ランク毎に層別する製品特性の検査方法とした。 - 特許庁

To provide a function liquid delivering property testing method for suppressing waste consumption of the function liquid and capable of determining whether or not the function liquid is normally delivered from a nozzle of a delivery head, a function liquid delivering property testing apparatus and a liquid drop delivery apparatus provided with the function liquid delivering property testing apparatus.例文帳に追加

機能液を無駄に消費することを抑え、機能液が吐出ヘッドのノズルから正常に吐出されるか否かを判定できる機能液吐出性試験方法、機能液吐出性試験装置および機能液吐出性試験装置を備えた液滴吐出装置を提供する。 - 特許庁

A control part 141 executes external force calculation control for calculating an external force df taken into consideration with the interaction of the testing object mounted on the testing object mounting part with respect to the testing object mounting part, and a modeling error based on a damping coefficient Cd of a damper and an elastic modulus Kd of a spring.例文帳に追加

制御部141は、試験体載置部に載置された試験体が当該試験体載置部に対して与える相互作用、及び、ダンパーの減衰係数Cd及びバネの弾性係数Kdに基づくモデル化誤差、を考慮した外力値dfを算出する外力算出制御を実行する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and a testing method thereof wherein complexity in configuration for testing can be reduced, in a circuit to be tested corresponding to a signal terminal in which inter-chip wiring is formed, and a test equivalent to the case of testing a single semiconductor chip can be performed.例文帳に追加

チップ間配線がなされた信号端子に対応するテスト対象回路について、テストを行うための構成が複雑化することを抑制しつつ、半導体チップ単体の場合と同等のテストを行うことができる半導体装置およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

Blowers 22 are disposed on the opposite sides of a testing tire 18 of drum durability testing equipment 10 and a drum durability test is performed by exposing a bead part of the testing tire 18 to the air sent from the blowers 22 to be cooled therewith so that the temperature of the bead part of the tire 18 be within the range of 50-80°C.例文帳に追加

ドラム耐久試験装置10の試験タイヤ18の両側に、送風機22を配置し、試験タイヤ18のビード部の温度が50〜80°Cの範囲内となるように、送風機22から吹き出す風をビード部に当ててビード部を空冷しながらドラム耐久試験を行う。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detection method and an apparatus, having a high S/N ratio and capable of detecting micro defects at a surface layer part of a material to be inspected having a coarse surface, such as a slab via immersion testing (full immersion testing, partial immersion testing, and a water-column ultrasonic method).例文帳に追加

水浸法(全没水浸法、局部水浸法、水柱超音波法)を用いて、スラブのように表面が粗い検査材の表層部にある微小欠陥を高いS/Nで探傷することが可能な超音波探傷方法および装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To perform delay testing in an actual operating condition for a semiconductor integrated circuit having a plurality of logical circuits that respectively operate on the basis of testing clocks having different frequencies without trouble which may occur when the testing clocks are set to a high-frequency side or a low-frequency side.例文帳に追加

テストクロックを高周波側及び低周波側のいずれかに設定した場合に生じる不都合を伴うことなく、互いに異なる周波数のクロックに基づいて動作する複数の論理回路を備える半導体集積回路に対して実動作条件で遅延テストを実行すること。 - 特許庁

To provide a satellite testing system that does not require much manpower for operation, and eliminates the necessity of procuring the minimum components required for launching a satellite or dedicated testing systems for each satellite, thereby the satellite testing is conducted automatically and efficiently with a shorter period of time.例文帳に追加

人工衛星を立上げるのに必要な最低のコンポーネントや各人工衛星毎に試験装置の調達を必要とすることなく、人工衛星の試験の自動化や効率化、及び試験期間の短縮を図り、少人数で対応可能な衛星試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a method for confirming the operation of a crusher, a method for managing the accuracy of a pretreatment device for testing genes, and a sample analysis system, improving the reliability of the data of gene testing, by improving the reliability of crushing process as a pretreatment of gene testing.例文帳に追加

遺伝子検査の前処理である破砕処理の信頼性を向上させることにより遺伝子検査のデータの信頼性を高めることができる破砕装置の動作確認方法、遺伝子検査用前処理装置の精度管理方法及び試料分析システムを提供する。 - 特許庁

To provide a ground property testing method and a ground property testing device capable of measuring with high accuracy a displacement amount of the ground displaced by directly applying a load on a ground surface reached by an excavation head, and performing highly reliable ground property testing.例文帳に追加

掘削により到達した地盤表面に直接荷重をかけることで変位した地盤の変位量を高精度で測定することができ、信頼性の高い地盤の特性試験を行うことが可能な地盤特性試験方法及び地盤特性試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a penetration testing device securing high reliability of measurement data as the penetration testing device applied to a Swedish sounding test, the penetration testing device being capable of penetrating a penetration test rod into the ground in a mechanically clamped state and automatically conducting loading, load separation, and rotary excavation by mechanical means.例文帳に追加

スウェーデン式サウンディング試験に適用する貫入試験装置として、貫入試験用ロッドを機械的にクランプした状態で地盤中に貫入でき、荷重の負荷及び切り離し、回転掘進を機械的手段で自動的に行って測定データの高い信頼性を確保する。 - 特許庁

Thus, based on the signals of the testing wires OP1 to OP4 and ON1 to ON4, whether a circuit pattern is formed to enable switching of the driving capability is inspected, and testing time is shortened by setting and testing all current loads corresponding to respective driving capabilities by a tester.例文帳に追加

これにより、試験配線OP1〜OP4,ON1〜ON4の信号から、ドライブ能力の切り換えが可能なように回路パターンが形成されているか検査でき、各ドライブ能力に対応する電流負荷を全てテスタで設定して試験するより、試験時間を短縮できる。 - 特許庁

The performance determination testing medium having a recorded area 102 and an unrecorded area 103 is used, performance determination testing data is read from the recorded area 102 in the performance determination testing of the information recording/reproducing device, and the data is temporarily stored in a buffer memory, whereby the performance testing is carried out without making any performance determination test data in the information recording/reproducing device.例文帳に追加

既記録領域102と未記録領域103とを有する性能判定試験媒体を用い、情報記録再生装置の性能判定試験時に既記録領域102から性能判定試験データを読み出し、該データをバッファメモリに一時的に格納することで、情報記録再生装置内で性能判定試験データを作成することなく性能判定試験を実行する。 - 特許庁

The second and third testing circuits may have respectively a plurality of testing elements provided electrically in parallel, a selection part for controlling each testing element in the on-state successively at the test time of the electronic device, and a discrimination information output part for outputting each terminal voltage of the testing element controlled in the on-state successively by the selection part as discrimination information of the electronic device.例文帳に追加

第2および第3のテスト用回路は、電気的に並列に設けられた複数のテスト用素子と、電子デバイスの試験時において、それぞれのテスト用素子を順次オン状態に制御する選択部と、選択部が順次オン状態に制御したテスト用素子のそれぞれの端子電圧を、電子デバイスの識別情報として出力する識別情報出力部とを有してよい。 - 特許庁

The semiconductor-testing apparatus that is requested to generate a timing edge pulse of a period M that is different from a period N that is the testing period of the semiconductor-testing apparatus has a period- converting means for generating a timing edge pulse of a period M that is different from a period N of a test rate without applying a specific number of plurality of timing sets that the semiconductor-testing apparatus has.例文帳に追加

半導体試験装置の試験周期である周期Nとは異なる異周期Mのタイミングエッジパルスの発生を行うことが求められる半導体試験装置において、半導体試験装置が備える所定複数個のタイミングセットを適用すること無く、テストレートの周期Nとは異なる異周期Mのタイミングエッジパルスが発生できる周期変換手段を備える、半導体試験装置。 - 特許庁

(3) In the event that any officer or examiner of the designated testing agency has violated this Act, orders based on this Act or the testing procedure rule in paragraph (1) of Article 52, or committed a significantly inappropriate conduct in the testing procedures, the Minister of Land, Infrastructure, Transport and Tourism may order the designated testing agency to dismiss the said officer or examiner. 例文帳に追加

3 国土交通大臣は、指定試験機関の役員又は試験員が、この法律、この法律に基づく命令若しくは処分若しくは第五十二条第一項の試験事務規程に違反したとき、又は試験事務に関し著しく不適当な行為をしたときは、その指定試験機関に対し、その役員又は試験員を解任すべきことを命ずることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

Moreover, before the start of testing, the switch S3 is switched off, to stop the power supply to the subscriber terminal 4.例文帳に追加

また、試験の開始前、スイッチS3をオフとして加入者端末4への給電を停止する。 - 特許庁

To provide a method for testing a secondary battery by which the secondary battery can be tested safely at low cost.例文帳に追加

安全かつ低コストで二次電池を検査できる二次電池の検査方法を提供すること。 - 特許庁

This testing device comprises a mounting plate 20, a mounting fixture 22, a connecting member 24 and a spacer 26.例文帳に追加

試験装置は、載荷板20と、取付治具22と、連結部材24と、スペーサ26とを備えている。 - 特許庁

To provide an electronic circuit board which improves a mounting density of the board and a testing device for the same.例文帳に追加

基板の実装密度を向上させる電子回路基板とそのテスト装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a system, an apparatus and a method for testing about a high-speed data transmission error.例文帳に追加

高速データ伝送エラーに関して試験するためのシステム、装置、及び方法を提供する。 - 特許庁

To attain downsizing and retaining of high-frequency characteristics, and to improve the easiness of testing and a design alteration.例文帳に追加

小型化、高周波特性の維持を図り、試験や設計変更の容易性を高めること。 - 特許庁

To share efficiently a plurality of measuring devices of an identical type by a plurality of testing systems.例文帳に追加

複数の同一種類の測定機器を複数の試験システムによって効率よく共用する。 - 特許庁

例文

To provide a method for testing a gas leak alarm capable of performing a test easily and speedily.例文帳に追加

試験を容易且つ迅速に行うことができるガス漏れ警報器の試験方法の提供。 - 特許庁




  
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日本法令外国語訳データベースシステム
※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。
  
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