「alignment-mark」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

ALIGNMENT MARK AND ALIGNMENT METHOD例文帳に追加

アライメントマーク及びアライメント方法 - 特許庁

ALIGNMENT MARK AND FORMATION OF ALIGNMENT MARK例文帳に追加

アライメントマーク及びアライメントマークの形成方法 - 特許庁

ALIGNMENT AND ALIGNMENT MARK例文帳に追加

位置合わせ、および位置合わせマーク - 特許庁

ALIGNMENT MARK AND ALIGNMENT METHOD例文帳に追加

アライメントマークおよびアライメント方法 - 特許庁

ALIGNMENT MARK FORMING DEVICE例文帳に追加

アライメントマーク形成装置 - 特許庁

PREPARING METHOD OF ALIGNMENT MARK例文帳に追加

アライメントマーク作製方法 - 特許庁

The alignment mark AM consists of a pre-alignment mark AM1 and a fine alignment mark AM2.例文帳に追加

アライメントマークＡＭは、プリアライメントマークＡＭ１と、ファインアライメントマークＡＭ２を有する。 - 特許庁

ALIGNMENT MARK FORMING METHOD例文帳に追加

アライメントマークの形成方法 - 特許庁

ALIGNMENT MARK RECOGNIZING METHOD例文帳に追加

アライメントマークの認識方法 - 特許庁

ALIGNMENT PRECISION MEASURING MARK例文帳に追加

位置合わせ精度計測マーク - 特許庁

METHOD FOR FORMING ALIGNMENT MARK例文帳に追加

アライメントマークの形成方法 - 特許庁

FORMATION METHOD OF ALIGNMENT MARK例文帳に追加

アライメントマークの形成方法 - 特許庁

MARK, ALIGNMENT MARK, ALIGNMENT DISCREPNACY MEASUREMENT MARK AND SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

マーク、アライメントマーク、合わせずれ測定用マーク、フォトマスク、及び、半導体ウェーハ - 特許庁

DETECTING METHOD FOR ALIGNMENT MARK例文帳に追加

アライメントマークの検出方法 - 特許庁

PERIPHERAL STRUCTURE OF ALIGNMENT MARK例文帳に追加

アライメントマークの周辺構造 - 特許庁

ALIGNMENT MARK POSITION CONFIRMING METHOD例文帳に追加

アライメントマーク位置認識方法 - 特許庁

ALIGNMENT MARK OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置のアライメントマーク - 特許庁

ALIGNMENT MARK FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の合わせマーク - 特許庁

ALIGNMENT MARK, ALIGNMENT MARK FORMATION METHOD, AND PATTERN FORMATION METHOD例文帳に追加

アライメントマーク、アライメントマーク形成方法及びパターン形成方法 - 特許庁

FORMATION METHOD OF ALIGNMENT MARK例文帳に追加

位置合わせマークの形成方法 - 特許庁

ALIGNMENT MARK AND SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

アライメントマーク及び半導体ウエハ - 特許庁

FORMING METHOD OF MASK-ALIGNMENT MARK例文帳に追加

マスクアライメントマークの形成方法 - 特許庁

METHOD OF FORMING ALIGNMENT MARK例文帳に追加

アライメントマークを形成する方法 - 特許庁

METHOD OF FORMING ALIGNMENT MARK例文帳に追加

位置合わせマークの形成方法 - 特許庁

ALIGNMENT METHOD, ALIGNMENT SYSTEM, AND PRODUCT WITH ALIGNMENT MARK例文帳に追加

位置合わせ方法、アライメントシステムおよびアライメントマークを有する製品 - 特許庁

ALIGNMENT MARK IMAGE RECOGNITION DEVICE AND ALIGNMENT MARK IMAGE RECOGNITION METHOD例文帳に追加

アライメントマーク画像認識装置およびアライメントマーク画像認識方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR SUBSTRATE WITH ALIGNMENT MARK AND METHOD FOR MANUFACTURING ALIGNMENT MARK例文帳に追加

アライメントマーク付き半導体基板及びアライメントマークの製造方法 - 特許庁

ALIGNMENT APPARATUS, ALIGNMENT AND ADHESION APPARATUS, ALIGNMENT MARK, AND ADHESION METHOD例文帳に追加

アライメント装置、アライメント接着装置、アライメントマーク及び接着方法 - 特許庁

ALIGNMENT MARK AND ITS PRODUCTION例文帳に追加

アライメントマーク及びその製造方法 - 特許庁

ALIGNMENT MARK STRUCTURE AND ITS MANUFACTURING METHOD, AND ALIGNMENT MARK DETECTION METHOD例文帳に追加

アライメントマーク構造およびその製造方法、アライメントマーク検出方法 - 特許庁

ALIGNMENT MARK AND IMAGE FORMING DEVICE USING MARK例文帳に追加

アライメントマークおよびこれを用いた画像形成装置 - 特許庁

ALIGNMENT MARK AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

合せマークおよびその製造方法 - 特許庁

ALIGNMENT MARK FOR METAL WIRING PROCESS例文帳に追加

金属配線工程用アライメントマーク - 特許庁

WAFER ALIGNMENT MARK AND EXPOSURE METHOD例文帳に追加

ウェハアライメントマ−ク及び露光方法 - 特許庁

EXPOSURE METHOD AND POSITION ALIGNMENT MARK例文帳に追加

露光方法および位置合わせマーク - 特許庁

ALIGNMENT MARK AND ITS FORMING METHOD例文帳に追加

アライメントマーク及びその形成方法 - 特許庁

SUB-SEGMENTED ALIGNMENT MARK ARRANGEMENT例文帳に追加

サブセグメント化されたアライメントマーク構成 - 特許庁

ALIGNMENT MARK AND FORMING METHOD THEREOF例文帳に追加

アライメントマーク及びその作成方法 - 特許庁

ALIGNMENT MARK AND ALIGNING METHOD OF SUBSTRATE WITH ALIGNMENT MARK例文帳に追加

アラインメントマーク及びこのようなアラインメントマークを備える基板の位置合わせ方法 - 特許庁

ALIGNMENT MARK, AND POSITION MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

アライメントマークおよび位置計測方法 - 特許庁

ALIGNMENT MARK FOR ALIGNING SUBSTRATE例文帳に追加

基板間の位置合わせ用アライメントマーク - 特許庁

ALIGNMENT MARK STRUCTURE AND ALIGNMENT METHOD USING IT例文帳に追加

アライメントマーク構造およびこれを用いた位置合わせ方法 - 特許庁

ALIGNMENT MARK OF DRIVER IC AND ALIGNMENT ADJUSTING METHOD例文帳に追加

ドライバＩＣのアライメントマークおよびアライメント調整方法 - 特許庁

ALIGNMENT MARK, ALIGNMENT METHOD, ELECTRONIC MEMBER, AND ELECTRONIC MODULE例文帳に追加

アライメントマーク，アライメント方法，電子部材および電子モジュール - 特許庁

DISPLAY METHOD FOR ALIGNMENT MARK IMAGE, AND ALIGNMENT DEVICE例文帳に追加

アライメントマーク画像の表示方法およびアライメント装置 - 特許庁