「alignment-mark」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

A foreign matter inspection device including analysis means which can measure the pattern width and can acquire the luminance distribution for image data of an alignment mark, and image processing means which enables integration processing, subtraction processing, binarization processing, expansion processing and contraction processing includes processing the image data to make the alignment mark clear, and then pattern-matching the alignment mark.例文帳に追加

アライメントマークの画像データのパターン幅計測、輝度分布取得が可能な解析手段と、積算処理、減算処理、２値化処理、膨張処理、収縮処理が可能な画像処理手段を備え、画像データに処理を加えて、アライメントマークを明瞭にした後にパターンマッチングを行うようにする。 - 特許庁

In the case of the alignment, when the work mark does not exist inside either of the visual fields of the two alignment microscopes, an alignment mark detecting means 21 provided on a control part 20 spirally moves the work W, and detects the work mark.例文帳に追加

上記アライメントに際し、２個のアライメント顕微鏡のうちのいずれの顕微鏡の視野内にもワークマークＷＡＭが入らないとき、制御部２０に設けられたアライメントマーク検出手段２１により、ワークＷを渦巻き状に移動させワークマークＷＡＭを検出する。 - 特許庁

A method includes the steps of laminating a new interlayer film 3C on an interlayer film 3A on the undersurface, of which an alignment mark 2B is formed, subjecting the top surface to planarization, and forming a new alignment mark 2C in a portion 32, located directly above the alignment mark 2B of the top surface of the interlayer film 3C.例文帳に追加

下面にアライメントマーク２Ｂが形成された層間膜３Ａの上に、新たな層間膜３Ｃを積層してその上面を平坦化処理し、層間膜３Ｃの上面のうち、上記アライメントマーク２Ｂの直上に位置する部分３２に新たなアライメントマーク２Ｃを形成する。 - 特許庁

Such an inspecting mark is narrower in the monitoring range than the conventional inspecting mark, and an accurate alignment can be performed with high accuracy and with small aberration.例文帳に追加

このような検査マークは従来の検査マークより、モニター範囲が狭くなり、収差が小さく高精度な位置合わせができる。 - 特許庁

To shorten the depth of a printing apparatus to shorten a processing time in a printing apparatus aligning an alignment mark with the reference mark of a passbook.例文帳に追加

位置合せマークと帳票の基準マークを合わせる印字装置において、装置の奥行きを短くし、かつ処理時間を短縮する。 - 特許庁

In the semiconductor chip constituting an LCD driver, a mark MK1 is formed in an alignment mark forming area on a semiconductor substrate 1S.例文帳に追加

ＬＣＤドライバを構成する半導体チップにおいて、半導体基板１Ｓ上のアライメントマーク形成領域にマークＭＫ１を形成する。 - 特許庁

An alignment mark structure having a protective dummy pattern for production of semiconductor is provided wherein the alignment mark on a wafer is protected such that the mark is not damaged definite quality is not deteriorated visually by chemical mechanical polishing(CMP).例文帳に追加

保護ダミーパターンを有する半導体製造用アライメントマーク構造が提供され、ウェハ上のアライメントマークを保護し、該マークが損なわれることなくかつ化学機械研磨（ＣＭＰ）によって視覚的に明瞭な品質が劣化しないようにする。 - 特許庁

In order to inspect a plate to be inspected, an inspection apparatus photographs with a camera the alignment mark on the surface of the plate to be inspected and matches the alignment mark and a standard mark for aligning the plate to be inspected.例文帳に追加

検査対象板を検査するために、カメラで前記検査対象板の表面のアライメントマークを撮影し当該アライメントマークと基準マークとを整合させて前記検査対象板の位置合わせを行う検査装置である。 - 特許庁

No fluctuation in position of the alignment mark 5a between at the time of alignment of the substrate 5 and the mask 6, and at the time of close contact of the substrate 5 and the mask 6 after the alignment, improve the alignment accuracy.例文帳に追加

基板５とマスク６の位置合わせを行うときと、位置合わせ後に基板５とマスク６を密着させたときとで、アライメントマーク５ａの位置変動が生じないようにすることで、位置合わせ精度を向上させる。 - 特許庁

The alignment mark of the mask and the alignment mark of the panel to be attached are detected while being shifted timewise without moving the position of an alignment microscope in the XYθ directions and, as the result, the mask and the panel are relatively moved such that the detected both alignment marks comes to a prescribed positional relation.例文帳に追加

マスクのアライメントマークと貼り合せを行なうパネルのアライメントマークとを、アライメント顕微鏡の位置をＸＹθ方向には移動させないで時間的にずらして検出し、検出した両アライメントマークが所定の位置関係になるように、マスクとパネルとを相対的に移動させる。 - 特許庁

The alignment mark 31 is arranged on a surface of a transparent substrate 21 in a color filter substrate 3.例文帳に追加

カラーフィルタ基板３において、透明基板２１の表面上にアライメントマーク３１を設ける。 - 特許庁

To satisfactorily read an image such as an alignment mark in a variety of evaluation objects.例文帳に追加

種々の評価対象においてアライメントマーク等の画像を良好に読み取ることを可能にする。 - 特許庁

A mother sealing sheet 400 and a mother element board 100 are adhered by using an alignment mark +.例文帳に追加

マザー封止シート４００とマザー素子基板１００を目合わせマーク＋を用いて接着する。 - 特許庁

The alignment mark 16 is provided at a position opposing to a region where the semiconductor chip 12 is mounted.例文帳に追加

アライメントマーク１６は、半導体チップ１２搭載領域に対向する位置に設けられてなる。 - 特許庁

Outside a lens area set in a lens base material 11, a mark for alignment is formed.例文帳に追加

レンズ基材１１に設定されたレンズ領域の外側に、位置合わせ用のマークを形成する。 - 特許庁

METHOD AND LITHOGRAPHY FOR DECIDING CONDITION OF POSITION DETECTION FOR ALIGNMENT MARK, AND METHOD FOR MANUFACTURING DEVICE例文帳に追加

アライメントマークの位置検出の条件を決定する方法、露光装置及びデバイスの製造方法 - 特許庁

To reduce the size of a thermal head substrate by providing an alignment mark for mounting an integrated circuit on a heat generating region.例文帳に追加

ＩＣ実装用のアライメントマークを発熱部領域に設け、サーマルヘッド基板の小型化を図る。 - 特許庁

To provide a position measurement apparatus with an advantage in which time for measuring a position of an alignment mark is short.例文帳に追加

アライメントマークの位置を計測する時間の短さの点で有利な位置計測装置の提供。 - 特許庁

On a silicon substrate 2, a memory cell area 70 and an alignment mark area 80 are set.例文帳に追加

シリコン基板２には、メモリセル領域７０およびアライメントマーク領域８０が設定されている。 - 特許庁

An alignment mark 12 made from a metal film is formed in one blank region 6.例文帳に追加

１つのブランク領域６には、金属膜で形成されたアライメントマーク１２が形成されている。 - 特許庁

Then, an alignment mark 10 is formed by so forming a carbon film 3 as to cover the groove portion with it.例文帳に追加

そして、溝部を覆うようにカーボン膜３を形成してアライメントマーク１０を形成する。 - 特許庁

As a result, the alignment mark can be detected in an optical method and an electronic line scanning method.例文帳に追加

よって、光学式でも電子線走査方式でも、アライメントマークを検出することができる。 - 特許庁

When the alignment mark of a work piece W is detected, the work stage 3 shifts to the location of the drawing.例文帳に追加

ワークＷのアライメントマークを検出する際は、ワークステージ３が図示の位置に移動する。 - 特許庁

To provide a method, an apparatus, and the like, which form an alignment mark precise and good in quality on a substrate.例文帳に追加

正確で高品質のアラインメントマークを基板に設ける方法及び装置などを提供する。 - 特許庁

To provide a slit plate in which a time required to draw an alignment mark is short, and a manufacturing cost is low.例文帳に追加

アライメントマークを描画する時間が短く、製造コストの低いスリット板を提供する。 - 特許庁

The alignment mark is a cross the center of which is punched as a positioning reference.例文帳に追加

また、アライメントマークは、真中が位置決め基準部として抜かれた十字形状を呈したものとする。 - 特許庁

The void 3 formed in the n^+-type substrate 1 can be used as the alignment mark.例文帳に追加

このＮ^+型基板１に形成したボイド３をアライメントマークとして利用することが可能となる。 - 特許庁

The pattern image of the work mark is imaged by an alignment microscope and the image is transmitted to a control unit.例文帳に追加

アライメント顕微鏡によりワークマークのパターンの画像を受像し、この画像を制御部に送る。 - 特許庁

To reduce interruptions in an exposure process by successfully recognizing an image of an alignment mark with high probability.例文帳に追加

アライメントマークの画像認識を高い確率で成功させて、露光処理の中断を少なくする。 - 特許庁

To provide means for reducing epitaxial layer corrosion in an alignment mark formation step.例文帳に追加

アライメントマーク形成工程時のエピタキシャル層の侵食を低減させる手段を提供すること。 - 特許庁

An undercladding layer 1, a core 2, and an alignment mark 1a are formed on a surface of a metallic substrate 10.例文帳に追加

金属製基板１０表面にアンダークラッド層１，コア２，アライメントマーク１ａを形成する。 - 特許庁

OVERLAY MARK, METHOD FOR MEASURING OVERLAY ACCURACY AND ALIGNMENT METHOD, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

重ね合わせ用マーク、重ね合わせ精度測定方法およびアライメント方法、並びに半導体装置 - 特許庁

The resist formed as the alignment mark 20C is baked to impart solvent resistance.例文帳に追加

アライメントマーク２０Ｃとして形成されたレジストに対しては、焼成処理によって耐溶剤性を与える。 - 特許庁

A blackened layer is formed on a wiring layer, except an alignment mark part in the multi-layer printed wiring board.例文帳に追加

配線層がアライメントマーク部分を除き黒化処理層が形成された多層プリント配線板。 - 特許庁

In this case, the tungsten silicide film 10 has been eliminated at the contact part 14 and the alignment mark part 16.例文帳に追加

コンタクト部１４及びアライメントマーク部１６では、タングステンシリサイド膜１０が除去されている。 - 特許庁

At least one alignment mark 40 is arranged on each one of the array shot regions 30.例文帳に追加

１個のアレイショット領域３０には、少なくとも１個のアライメントマーク４０が設けられている。 - 特許庁

This allows a manufacturing step of the semiconductor element to be simplified using the alignment mark.例文帳に追加

このため、アライメントマークを用いた半導体素子の製造工程を簡略化することができる。 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING MACROMOLECULAR OPTICAL WAVEGUIDE WITH ALIGNMENT MARK AND LAMINATED TYPE MACROMOLECULAR OPTICAL WAVEGUIDE例文帳に追加

アライメントマーク付き高分子光導波路及び積層型高分子光導波路の製造方法 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a semiconductor laser element capable of accurately recognizing an alignment mark during a formation of a waveguide structure.例文帳に追加

導波路構造を形成する際にアライメントマークを正確に認識することを可能にする。 - 特許庁

A part of the first nitride gallium layer 6 is etched down to such a depth as not to reach the alignment mark 4.例文帳に追加

次に、第１の窒化ガリウム層６の一部をアライメントマーク４に達しない深さまでエッチングする。 - 特許庁

A first opening 2a is formed on the first interlayer insulation film 2, and this alignment mark M1 is constituted.例文帳に追加

第１の層間絶縁膜２に第１の開口２ａを形成し、アライメントマークＭ_1を構成する。 - 特許庁

In a cell outside a display region 100, a bus alignment mark 50 is formed on a bus electrode 12.例文帳に追加

表示領域１００外のセルにおいて、バス電極１２にバスアライメントマーク５０を形成する。 - 特許庁

The new mark image is compared with a reference image, prespecified from alignment marks prior to the process.例文帳に追加

新しいマークイメージを工程前の整列マークから予め設定された基準イメージと比較する。 - 特許庁

A mask position computing section 18h creates mask position information based on information of the alignment mark.例文帳に追加

マスク位置演算部１８ｈは、アライメントマークの情報に基づいてマスク位置情報を生成する。 - 特許庁

The alignment mark 3 may be a combination of parallelepiped patterns shown in Figures a, b.例文帳に追加

図２（ａ），（ｂ）に示す平行四辺形のパターン３を組み合わせたものをアライメントマーク３としてもよい。 - 特許庁