「alignment-mark」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

ALIGNMENT MARK DETERMINING DEVICE, ALIGNMENT MARK GENERATING DEVICE, DRAWING DEVICE, AND DRAWING METHOD例文帳に追加

アライメントマーク判定装置、アライメントマーク生成装置、描画装置及び描画方法 - 特許庁

ALIGNMENT MARK, ELECTRONIC BOARD, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD OF FORMING ALIGNMENT MARK例文帳に追加

位置合わせマーク、電子基板、半導体装置及び位置合わせマークの形成方法 - 特許庁

ALIGNMENT MARK, REGISTRATION MARK, AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

アラインメントマーク、合わせマーク及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

Then relative shift amounts, between the real mask alignment mark M1a and a cut-out mask alignment mark M2a, and between the real mask alignment mark M1b and a cut-out mask alignment mark M2b are calculated.例文帳に追加

次に、実マスクアライメントマークＭ１ａ及び抜けマスクアライメントマークＭ２ａと、実マスクアライメントマークＭ１ｂ及び抜けマスクアライメントマークＭ２ｂの相対的なずれ量を算出する。 - 特許庁

DETECTING DEVICE AND METHOD OF ALIGNMENT MARK例文帳に追加

アライメントマークの検出装置及び方法 - 特許庁

METHOD OF FORMING ALIGNMENT MARK FOR GLASS PLATE AND ALIGNMENT MARK FORMED BY THE METHOD例文帳に追加

ガラス板のアライメントマーク形成法、及び該形成法により形成されたアライメントマーク - 特許庁

METHOD OF FORMING ALIGNMENT MARK例文帳に追加

位置合わせマークを形成するための方法 - 特許庁

Since the alignment mark structure protects the alignment mark against damage and prevents the alignment mark from being deteriorated through CMP process, definite quality of the alignment mark 102 can be sustained visually.例文帳に追加

このアライメントマーク構造によってアライメントマークが損なわれかつＣＭＰプロセスによって劣化するのを防止するため、アライメントマークの視覚的に明瞭な品質が保たれる。 - 特許庁

To identify a target alignment mark among a plurality of alignment marks.例文帳に追加

複数のアライメントマークの中からターゲットアライメントマークを識別する。 - 特許庁

METHOD FOR FORMING ALIGNMENT MARK OF SEMICONDUCTOR ELEMENT例文帳に追加

半導体素子の整列マーク製造方法 - 特許庁

Radiation is transmitted toward the alignment mark and diffracted by a pattern in the alignment mark.例文帳に追加

放射がアライメントマークに向かって伝送され、アライメントマーク内のパターンによって回折される。 - 特許庁

Similarly, the alignment mark of the next process is formed upward of the alignment mark of the preceding process.例文帳に追加

同様にして、前工程のアライメントマークの上方に次工程のアライメントマークを形成する。 - 特許庁

With the alignment mark, an alignment is performed by observing an alignment mark on the wafer side of a shot different from an imprinting shot.例文帳に追加

該アライメントマークにより押印ショットとは異なるショットのウェハー側アライメントマークを観察してアライメントを行う。 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING COLOR FILTER, AND ALIGNMENT MARK例文帳に追加

カラーフィルタの製造方法およびアライメントマーク - 特許庁

ALIGNMENT MARK AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

アライメントマークおよびアライメントマークの製造方法 - 特許庁

To optimize alignment mark detection conditions.例文帳に追加

アライメントマークの検出条件を最適化する。 - 特許庁

ALIGNMENT MARK STRUCTURE IN ELECTRIC CIRCUIT BOARD例文帳に追加

電気回路基板におけるアライメントマーク構造 - 特許庁

ALIGNMENT-MARK SEARCH DEVICE AND SEARCH TECHNIQUE例文帳に追加

アライメントマーク探索装置および探索手法 - 特許庁

To optimize alignment mark detection conditions.例文帳に追加

アライメントマークの検出条件を最適化する。 - 特許庁

ALIGNMENT MARK AND ITS DETECTION METHOD例文帳に追加

アライメントマーク及びアライメントマークの検出方法 - 特許庁

ALIGNMENT MARK POSITION DETECTING DEVICE AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

アライメント・マーク位置検出装置および方法 - 特許庁

HOLOGRAM ALIGNMENT MARK AND ITS MANUFACTURE例文帳に追加

ホログラム位置合わせマーク及びその作製方法 - 特許庁

METHOD FOR FORMING ALIGNMENT MARK IN SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置のアライメントマーク形成方法 - 特許庁

SUBSTRATE WITH ALIGNMENT MARK, ALIGNMENT METHOD, PROGRAM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

アライメントマーク付き基板、位置合わせ方法、プログラムおよび記録媒体 - 特許庁

ALIGNMENT MARK, ELECTRICAL CIRCUIT BOARD INSTALLED WITH ALIGNMENT MARKS AND MOUNTING COMPONENT例文帳に追加

アライメントマークとこれを設けた電気回路基板及び実装部品 - 特許庁

ALIGNMENT DEVICE, SUBSTRATE TO BE EXPOSED AND ALIGNMENT MARK IN ALIGNER例文帳に追加

露光装置におけるアライメント装置、被露光基板、及びアライメントマーク - 特許庁

To reduce an alignment offset causing difference in each alignment device or each alignment mark.例文帳に追加

アライメント装置毎あるいはアライメントマーク毎に差が生じているアライメントオフセットを低減する。 - 特許庁

ALIGNMENT SENSOR, ALIGNMENT SENSOR SYSTEM, IMAGE ROTARY INTERFEROMETER AND METHOD FOR DETECTING ALIGNMENT MARK例文帳に追加

アライメントセンサ、アライメントセンサシステム、イメージ回転形干渉計及びアライメントマーク検出方法 - 特許庁

METHOD OF DETECTING MARK POSITION OF MARK OF ALIGNMENT MARK SECTION AND METHOD OF MANUFACTURING SUBSTRATE WITH COLOR FILTER FORMED THEREON例文帳に追加

アライメントマーク部のマーク位置検出方法およびカラーフィルタ形成基板の作製方法。 - 特許庁

STRUCTURE OF ALIGNMENT MARK AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

アライメントマークの構造およびその製造方法 - 特許庁

The wiring substrate 20 has a second alignment mark at a position corresponding to the first alignment mark.例文帳に追加

配線基板２０は第１のアライメントマークと対応する位置に第２のアライメントマークを有している。 - 特許庁

PHASE SHIFT MASK HAVING ALIGNMENT MARK FOR DRAWING例文帳に追加

描画用アライメントマークを有する位相シフトマスク - 特許庁

Rough alignment using the alignment mark M1 is conducted, a first conductive layer 3 is patterned, and the alignment mark M2 is constituted.例文帳に追加

アライメントマークＭ_1を用いたラフアライメントを行い、第１の導電層３をパターンニングしてアライメントマークＭ_2を構成する。 - 特許庁

Exposure alignment using a substrate alignment mark 22 is performed to simultaneously form a red filter 24 and a red alignment mark 25.例文帳に追加

下地アライメントマーク２２を用いた露光アライメントを行って、赤色フィルタ２４と赤色アライメントマーク２５を同時に形成する。 - 特許庁

ALIGNMENT MARK AND SYSTEM AND METHOD FOR EXPOSURE ALIGNMENT USING THE SAME例文帳に追加

整列マーク並びにこれを用いた露光整列システム及び整列方法 - 特許庁

The position of each alignment mark after alignment is detected (step 302) to obtain a shot offset component (step 303) from the position of the alignment mark on the mask after alignment and from the position of the alignment mark on the substrate after alignment.例文帳に追加

位置合わせ後の各アライメントマークの位置を検出し（ステップ３０２）、位置合わせ後のマスクのアライメントマークの位置と位置合わせ後の基板のアライメントマークの位置とから、ショットオフセット成分を求める（ステップ３０３）。 - 特許庁

To enhance accuracy of reading alignment mark position.例文帳に追加

アライメントマーク位置読み取り精度を向上させる。 - 特許庁

REFERENCE MARK MOVING APPARATUS AND SUBSTRATE ALIGNMENT APPARATUS例文帳に追加

基準マーク移動装置及び基板アライメント装置 - 特許庁

ALIGNMENT MARK AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

アライメントマーク及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

PRINTING POSITION ALIGNMENT MARK IN PLASTIC VESSEL例文帳に追加

プラスチック容器における印刷用位置合わせマーク - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR DETECTION AND REGISTRATION OF ALIGNMENT MARK例文帳に追加

アライメントマークの検出、登録方法及び装置 - 特許庁

IMAGE ALIGNMENT MARK DETECTOR FOR PRINTER例文帳に追加

印刷装置の画像位置合わせマーク検出装置 - 特許庁

To shorten a time for forming an alignment mark while detecting the alignment mark by light, in manufacturing a board formed with the alignment mark.例文帳に追加

アライメントマークが形成された基板を作製するにあたって、光によるアライメントマークの検出を可能としつつ、アライメントマークを形成する時間を短縮させる。 - 特許庁

ALIGNMENT METHOD, ALIGNMENT MARK RECOGNITION DEVICE AND CREATION METHOD AND INSPECTION DEVICE FOR ALIGNMENT INSPECTION FILE例文帳に追加

アライメント方法、アライメントマーク認識装置およびアライメント検査ファイルの作成方法と検査装置 - 特許庁

To improve alignment accuracy by securely detecting an alignment mark.例文帳に追加

アライメントマークの確実な検出を可能にしてアライメント精度を向上させる。 - 特許庁