「alignment-mark」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

DEVICE AND METHOD FOR MEASURING ALIGNMENT MARK POSITION AND DRAWING DEVICE例文帳に追加

アライメントマーク位置測定装置及び方法、及び描画装置 - 特許庁

Firstly, a trench 31 is formed, and the alignment mark is constituted.例文帳に追加

第一に溝３１を形成し、アライメントマークを構成する。 - 特許庁

An alignment mark 26 is formed on the passivation film 20.例文帳に追加

パッシベーション膜２０上に位置決めマーク２６を形成する。 - 特許庁

A stripe-like periodic structure is formed on a mark body region 15 of the alignment mark 11.例文帳に追加

アライメントマーク１１のマーク本体領域１５にストライプ状の周期構造を形成する。 - 特許庁

To provide an alignment mark including a periodic structure formed by mark lines.例文帳に追加

マークラインによって形成される周期的構造を含むアラインメントマークについて説明する。 - 特許庁

To achieve high-accuracy alignment of a sample and high-sensitivity inspection for a semiconductor wafer having an alignment mark which is under the condition where the alignment mark is hard to be pattern-matched.例文帳に追加

パターンマッチングし難い条件にあるアライメントマークを持つ半導体ウエハについて、高精度な試料の位置合わせ、高感度な検査を実現する。 - 特許庁

To provide a preparing method of such an alignment mark that can be easily removed from the surface of a substrate without leaving traces after using the alignment mark for alignment.例文帳に追加

アライメントマークを位置あわせに用いた後、痕跡を残さずに基板表面から容易に除去することができるアライメントマークの作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid injection head alignment unit which can perform high precision alignment even if a distance between a reference mark and an alignment mark is long.例文帳に追加

基準マークとアライメントマークとの距離が離れている場合でも高精度の位置決めを行うことができる液体噴射ヘッドのアライメント装置を提供する。 - 特許庁

A mask M and a work W are brought into contact, positions of a mask alignment mark MAM and a work alignment mark WAM are detected, and a first alignment amount is obtained.例文帳に追加

マスクＭとワークＷを接触させて、マスク・アライメントマークＭＡＭとワーク・アライメントマークＷＡＭの位置を検出し第１のアライメント量を求める。 - 特許庁

Alignment is conducted, by using the alignment mark M2, a second opening 4a is formed at the part of the second interlayer insulation film 4, and the alignment mark M3 is constituted.例文帳に追加

アライメントマークＭ_2を用いてアライメントを行い、第２の層間絶縁膜４の部分に第２の開口４ａを形成し、アライメントマークＭ_3を構成する。 - 特許庁

To provide an alignment mark that can achieve desired accuracy in alignment, and the manufacturing of a semiconductor device using the alignment mark.例文帳に追加

所望のアライメント精度を出すことができるアライメントマークと、前記アライメントマークを用いる半導体装置の製造方法とを提供することを目的とする。 - 特許庁

The optics direct the alignment beam to the mark M3, receive alignment radiation back from the mark M3, and transmit the alignment radiation to the detector.例文帳に追加

光学的要素は、マークＭ３へ位置合わせビームを向け、マークＭ３から戻った位置合わせ放射を受け取り、位置合わせ放射を検出器に送る。 - 特許庁

In the mask 4, an alignment mark table 12 is joined with the both sides of the micro lens array 3, and an alignment mark 11 is formed in the surface opposite to the substrate 1 of the alignment mark table 12.例文帳に追加

マスク４には、マイクロレンズアレイ３の両側にアライメントマーク台１２が接合されており、このアライメントマーク台１２の基板１との対向面にアライメントマーク１１が形成されている。 - 特許庁

Prior to the removal of the provisional alignment mark, the relative position between the provisional alignment mark and the other mark on the same surface of the substrate can be determined.例文帳に追加

暫定位置合せマークの除去に先立って、暫定位置合せマークと、基板の同じ面の他のマークとの相対位置を決定することができる。 - 特許庁

In the alignment mark measuring method, the alignment mark 13 is configured to reflect or transmit light modulated by the modulating means, the light reflected by or transmitted through the alignment mark 13 is detected to acquire the position of the alignment mark 13 based upon a detection signal thereof.例文帳に追加

アライメントマーク１３を、変調手段により変調された光を反射または透過するものとし、アライメントマーク１３を反射または透過した光を検出し、その検出した信号に基づいてアライメントマーク１３の位置を取得する。 - 特許庁

A first alignment mark arrangement region 8 and a second alignment mark arrangement region 9 are provided on both sides of a multi-chip region 2, so that a sum of a size of the first alignment mark arrangement region and a size of the second alignment mark arrangement region is made the same as a size of a chip region 1.例文帳に追加

複数チップ領域２の両側に第１アライメントマーク配置領域８と第２アライメントマーク９を設け、第1アライメントマーク配置領域と第２アライメント配置領域とを合わせた大きさとチップ領域１の大きさを同じにする。 - 特許庁

To detect a position of an alignment mark on a mask and a position of an alignment mark in a base pattern of a substrate with high accuracy by acquiring sharp images of the alignment mark on the mask and of the alignment mark in the base pattern of the substrate and carrying out an image recognition process.例文帳に追加

マスクのアライメントマークの画像及び基板の下地パターンのアライメントマークの画像をそれぞれ鮮明に取得して画像認識を行い、マスクのアライメントマークの位置及び基板の下地パターンのアライメントマークの位置を精度良く検出する。 - 特許庁

According to the measuring method by one embodiment, the relative mark between the provisional alignment mark of one surface in a substrate and the alignment mark of the other surface thereof is determined, and the provisional alignment mark is removed.例文帳に追加

本発明の一実施例による測定方法によれば、基板の一方の面の暫定位置合せマークと、基板のもう一方の面の位置合せマークの相対位置が決定され、暫定位置合せマークが除去される。 - 特許庁

Prior to that, alignment of the substrate 1 and the second mold 11 is conducted by conducting the alignment of the alignment mark 5 of the substrate holder 2 and an alignment mark 14 of the second mold 11.例文帳に追加

その前に、基板ホルダー２のアライメントマーク５と第２の型１１のアライメントマーク１４との位置合わせを行うことにより、基板１と第２の型１１との位置合わせを行う。 - 特許庁

Since alignment is performed using only the alignment mark of high contrast, accuracy in positioning by alignment is improved.例文帳に追加

高コントラストのアライメントマークのみを用いて位置合わせを行うので、アライメントによる位置合わせの精度を向上できる。 - 特許庁

REFERENCE MARK FOR PRINTING PLATE AND METHOD FOR ALIGNMENT USING THE SAME例文帳に追加

印刷版の基準マーク及びこれを用いるアライメント方法 - 特許庁

The alignment mark M1 is used for positioning at exposure.例文帳に追加

アライメントマークＭ１は、露光時の位置合わせのために用いられる。 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING PLASMA DISPLAY PANEL, AND ALIGNMENT MARK DETECTING DEVICE例文帳に追加

プラズマディスプレイパネルの製造方法及びアライメントマーク検出装置 - 特許庁

METHOD FOR FORMING ALIGNMENT MARK AND SUBSTRATE ON WHICH DEVICE IS FORMED例文帳に追加

アライメントマークの形成方法、およびデバイスが構成される基板 - 特許庁

ALIGNMENT MARK FOR DEVIATION LITHOGRAPHY AND ITS DETECTING METHOD例文帳に追加

偏向リソグラフィーのためのアライメントマークおよびその検出方法 - 特許庁

ALIGNMENT MARK AND SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

アライメントマーク、半導体装置および半導体装置の製造方法 - 特許庁

ALIGNMENT MARK, METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND MASK SET例文帳に追加

位置合わせマーク、半導体装置の製造方法およびマスクセット - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR PHOTOGRAPHING ALIGNMENT MARK, AND EXPOSURE METHOD AND DEVICE例文帳に追加

アライメントマーク撮影方法と装置及び露光方法と装置 - 特許庁

ALIGNMENT MARK STRUCTURE HAVING PROTECTIVE DUMMY PATTERN FOR PRODUCTION OF SEMICONDUCTOR例文帳に追加

保護ダミ—パタ—ンを有する半導体製造用アライメントマ—ク構造 - 特許庁

To provide a method of forming an alignment mark with little contamination.例文帳に追加

汚染の少ない位置合わせマークの形成方法を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR CHIP HAVING ALIGNMENT MARK AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

アライメントマークを有する半導体チップおよびその製造方法 - 特許庁

To efficiently form an alignment mark having excellent shape accuracy.例文帳に追加

形状精度に優れたアライメントマークを効率良く形成させる。 - 特許庁

To fill a recess part of an area having an alignment mark in a mold, with an uncured resin, and to detect the alignment mark, compatibly.例文帳に追加

型におけるアライメントマークを有する領域の凹部への未硬化樹脂の充填と該アライメントマークの検出とを両立する。 - 特許庁

To easily put an alignment mark of a mask in a field of view of an image acquiring device that acquires an image of the alignment mark, in a short period of time.例文帳に追加

アライメントマークの画像を取得する画像取得装置の視野内に、マスクのアライメントマークを短時間で容易に入れる。 - 特許庁

To provide an imprint lithography template with an alignment mark for preventing the alignment mark from being filled with an imprintable medium.例文帳に追加

インプリント可能な媒体がアライメントマークを充填することを防止するアライメントマークを備えたインプリントリソグラフィテンプレートを提供する。 - 特許庁

To provide a wiring substrate hard to misidentify a foreign substance as an alignment mark even when a protrusion distance of the alignment mark is small.例文帳に追加

アライメントマークの突出距離が少なくても、近傍の異物をアライメントマークと誤認識し難い配線基板を提供する。 - 特許庁

The reticle 20 and the reference treated substrate 30 are alignment with each other, so as to have the 3rd reference alignment mark 31 aligned with the 2nd reference alignment mark 21, the offset of the alignment is measured, and alignment is corrected.例文帳に追加

第２の基準アライメントマーク２１に第３の基準アライメントマーク３１を一致させるようにレチクル２０と基準処理基板３０との間でアライメントを行い、そのアライメントオフセットを測定し、アライメントを修正する。 - 特許庁

To provide an alignment error detection apparatus for detecting a position detection error of an alignment mark due to change of alignment distribution of scattering light from the alignment mark, and to provide an alignment error detection method.例文帳に追加

アライメントマークからの散乱光の配向分布が変化することによるアライメントマークの位置検出誤差を検出することができるアライメント誤差検出装置およびアライメント誤差検出方法を提供する。 - 特許庁

On the alignment mark formed on a semiconductor substrate, an inhibition pattern is arranged, which has an edge in the functional region of the alignment mark and inhibits the alignment mark to be recognized as the alignment mark by an image detector of an exposure device.例文帳に追加

半導体基板上に形成されたアライメントマーク上に、前記アライメントマークのマーク機能領域内にパターンのエッジを有し、前記アライメントマークが露光装置の画像検出器により前記アライメントマークとして認識されるのを阻害する阻害パターンを配置する。 - 特許庁

The alignment mark 4I of an IC chip 3 is photographed with a CCD (charge-coupled device) camera 9 with the alignment mark hole 4K in between and the position of the IC chip 3 is adjusted so that the IC side alignment mark 4I has a prescribed positional relationship to the board side alignment mark hole 4K.例文帳に追加

ＣＣＤカメラ９によってアライメントマーク穴４Ｋ越しにＩＣチップ３のアライメントマーク４Ｉを撮影し、ＩＣ側アライメントマーク４Ｉが基板側アライメントマーク穴４Ｋに対して所定の位置関係になるようにＩＣチップ３の位置を調節する。 - 特許庁

To speed up the measurement of an alignment mark and simultaneously to measure a mark position precisely.例文帳に追加

アライメントマークの計測の高速度化を図りつつ、マーク位置を高精度に計測できるようにする。 - 特許庁

The inspection device is positioned so as to be brought into contact with the IC socket with the alignment mark as a mark.例文帳に追加

このアライメントマークを目印に検査デバイスをＩＣソケットにコンタクトするように位置決めする。 - 特許庁

The alignment mark (Rm) is detected by the mark sensor (16) of a 2nd printer (P2).例文帳に追加

この位置合せマーク（Ｒｍ）)を第２印刷装置（Ｐ２）のマーク検出手段（１６）で検出する。 - 特許庁

To provide a method for forming a new alignment mark, having a precise configuration for avoiding the affects of the ruggedness of a lower alignment mark and for avoiding a large expansion of an alignment mark formation area.例文帳に追加

下側アライメントマークの凹凸の影響を避けて新たなアライメントマークを正確な形状で形成することができるとともに、アライメントマーク形成領域の大幅な面積拡大を回避する。 - 特許庁

The alignment mark 304 on the surface is observed through a microscope 210 and is matched to an alignment mark 104 for a back surface provided on a photomask 310, then an alignment mark is provided on the back surface of the magnetic recording medium 404.例文帳に追加

表面のアライメントマーク３０４を顕微鏡２１０で観察し、フォトマスク３１０に設けられた裏面用アライメントマーク１０４と合致させて、磁気記録媒体４０４の裏面にアライメントマークを設ける。 - 特許庁