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cop-1の部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 19



例文

Once a dirty cop, always a dirty cop, right?例文帳に追加

1度汚れた警官は いつもまでも汚い警官、だろう? - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

Walter will be one dead fake cop.例文帳に追加

ウォルターは1人の死んだ偽警官だ - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

Kuretakesan was an amazing cop in unit 1.例文帳に追加

かつては 1課の すごい刑事だったんですよね。 - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

Come on. I can smell a cop a mile away.例文帳に追加

おい 1マイル離れてても 警官の臭いは分かる - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

例文

Nobody does business there. there's a cop to every eight residents.例文帳に追加

誰も仕事をしない 住民8人に1人の警官と - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書


例文

Fake cop needs one for his day job and one for special assignments.例文帳に追加

偽警官は本業で1つを必要とする そして 特別な任務のために1つ - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

About an hour ago, gail bertram killed a cop at a gas station in east sac.例文帳に追加

1時間ほど前 ゲイル・バートラムが 東サクラメントのガソリンスタンドで 警官を殺した - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

It is judged that it is not the crystal originated COP when a COP distribution is judged as not a ring state or a disk state with the following procedure 1-procedure 3.例文帳に追加

下記の手順1〜手順3によりCOPの分布がリング状またはディスク状ではないと判定した場合は、結晶起因のCOPではないとする。 - 特許庁

The procedure 1: The object is a wafer wherein a number of entire COP is below the minimum value (for example 100).例文帳に追加

手順1:全面のCOPの個数が下限値(例えば100個)以下のウェーハを対象とする。 - 特許庁

例文

COP of the entire system by every prescribed unit time (t) is calculated by using the measured values and calculated values on the basis of a formula (1).例文帳に追加

これらの計測値及び演算値を用いて、所定の単位時間(t)ごとのシステム全体のCOPが(1)式に基づいて演算される。 - 特許庁

例文

The silicon epitaxial wafer W has a silicon single crystal substrate 1 having the COP in the main surface 11 and a silicon epitaxial layer 2 grown in a vapor phase on the main surface 11 of the silicon single crystal substrate 1.例文帳に追加

シリコンエピタキシャルウェーハWは、主表面11にCOPを有するシリコン単結晶基板1と、該シリコン単結晶基板1の主表面11に気相成長されたシリコンエピタキシャル層2とを備えている。 - 特許庁

To adjust a capacity ratio of a compressor (1) in which a plurality of compression mechanisms (20, 30) are mechanically connected by one drive shaft and enable optimal COP operation, in a refrigerating device performing a refrigerating cycle of two-stage compression.例文帳に追加

二段圧縮の冷凍サイクルを行う冷凍装置において、複数の圧縮機構(20,30)が1本の駆動軸で機械的に連結された圧縮機(1)の容積比を調整できるようにし、ひいては最適COPの運転を可能にする。 - 特許庁

The procedure 3: When the disk region is divided in the plurality of fan shapes (for example, 4), and the COP number is less than the set value (for example, 1) in at least one fan shape region, it is judged as not the disk state.例文帳に追加

手順3:ディスク領域を複数個(例えば4個)の扇形に分割し、少なくとも1つの扇形領域においてCOPの個数が設定値(例えば1個)未満である場合は、ディスク状ではないとする。 - 特許庁

When the Peltier element is driven by PWM, as the PWM frequency is made higher within a saturated frequency Fs (e.g. 1 kHz) or less, a higher COP can be obtained as long as there is no inconvenience in terms of cost and noise.例文帳に追加

ペルチェ素子をPWM駆動する際には、価格や雑音の不都合がない限り、飽和周波数Fs(例:1kHz)以下の範囲でPWM周波数を高くするほど、より高いCOPが得られる。 - 特許庁

The oxygen ion-implanted silicon substrate has preferably a void defect or COP crystal defect density of ≥1×10^5 cm^-3, and a maximum frequency of ≤0.12 μm in the crystal defect size distribution.例文帳に追加

酸素イオンが注入されるシリコン基板は、ボイド欠陥又はCOPからなる結晶欠陥密度が1×10^5cm^-3以上でありかつ結晶欠陥のサイズ分布の最大頻度が0.12μm以下であることが好ましい。 - 特許庁

A control section 40 of a control device 4 determines a time zone when an electric storage device 3 stores/supplies electricity, and a time zone when a heat pump water heater 1 is operated, on the basis of a power conversion efficiency η in the electric storage device 3 and coefficients of performance COP of the heat pump water heater 1 of the day and the next day.例文帳に追加

制御装置4の制御部40は、蓄電装置3における電力変換効率ηと、本日と翌日のヒートポンプ給湯機1の成績係数COPとに基づいて蓄電装置3を蓄電/給電する時間帯並びにヒートポンプ給湯機1を運転する時間帯を決定する。 - 特許庁

To provide a capacity control mechanism of lower cost in comparison with an invertor control type compressor, and to improve COP in comparison with a capacity control mechanism by an unloading mechanism and bypass piping, in a refrigerating device comprising a refrigerant circuit performing a vapor compression type refrigerating cycle.例文帳に追加

蒸気圧縮式冷凍サイクルを行う冷媒回路(10)を備えた冷凍装置(1)において、インバータ制御の圧縮機(11)を用いるよりも低コストの容量制御機構を実現し、しかもアンロード機構やバイパス配管による容量制御機構よりCOPが高くなるようにする。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a silicon substrate with a lifetime of 500 μsec or more that includes neither oxygen precipitates nor defects (RIE defect) detected by an RIE method such as COP or OSF at a depth of at least 1 μm from a surface serving as a device manufacture region, and to provide the silicon substrate manufactured by such method.例文帳に追加

デバイス作製領域となる表面から少なくとも1μmの深さに、酸素析出物、COP、OSF等のRIE法により検出される欠陥(RIE欠陥)が存在せず、かつ、ライフタイムが500μsec以上のシリコン基板の製造方法及び当該方法により製造されたシリコン基板を提供することを目的とする。 - 特許庁

例文

In a printing device 1 equipped with a printer 20, a DVD recorder 10 and a data processing device 15 as an integral body, when original image data ORG being RGB data is input from a peripheral device, the data processing device 15 writes copy image data COP being the same RGB data as the original image data ORG on a DVD-RW.例文帳に追加

プリンタ20,DVDレコーダ10およびデータ処理装置15を一体として備えた印刷装置1では、周辺機器からRGBデータであるオリジナル画像データORGが入力されたとき、データ処理装置15が、オリジナル画像データORGと同一のRGBデータであるコピー画像データCOPをDVD−RWに書き込む。 - 特許庁




  
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