1153万例文収録!

「electronic test」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索


小窓モード

プレミアム

ログイン
設定

設定

Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > electronic testに関連した英語例文

セーフサーチ:オフ

不適切な検索結果を除外する

不適切な検索結果を除外しない

セーフサーチについて

electronic testの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 539



例文

ELECTRONIC CIRCUIT DEVICE AND ITS PERFORMANCE TEST METHOD例文帳に追加

電子回路装置およびその動作試験方法 - 特許庁

TEST METHOD FOR ELECTRONIC WATTHOUR METER AND ELECTRONIC WATTHOUR METER例文帳に追加

電子式電力量計のテスト方法及び電子式電力量計 - 特許庁

METHOD OF TEST OF CLOCK GENERATION CIRCUIT IN ELECTRONIC DEVICE, AND ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

電子装置のクロック発生回路の検査方法及び電子装置 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT, ELECTRONIC CIRCUIT BOARD AND TEST METHOD例文帳に追加

集積回路、電子回路基板及び検査方法 - 特許庁

例文

MEASURING APPARATUS, TEST APPARATUS, PROGRAM AND ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

測定装置、試験装置、プログラム、及び電子デバイス - 特許庁


例文

METHOD AND SYSTEM FOR ADJUSTMENT TEST OF ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加

電子部品の調整検査方法および装置 - 特許庁

MOUNTING BOARD FOR ELECTRONIC COMPONENT AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

電子部品実装基板及びその試験方法 - 特許庁

PERFORMANCE TEST APPARATUS, ELECTRONIC EQUIPMENT, AND PERFORMANCE TEST SYSTEM USING THEM例文帳に追加

動作試験装置及び電子機器並びにこれらを使用する動作試験システム - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR PICKING UP TEST-STANDBY ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

試験待機電子装置のピックアップ方法と装置 - 特許庁

例文

To test the performance of an electronic component such as a battery mounted on a test substrate, while applying a pressure to the electronic component.例文帳に追加

試験基板の上に載置した電池などの電子部品に圧力を加えながら性能試験を行う。 - 特許庁

例文

ELECTRONIC TEST PROGRAM CAPABLE OF DISTINGUISHING RESULT例文帳に追加

結果を識別することのできる電子試験プログラム - 特許庁

To provide a test system for an electronic device test having a selectable specification.例文帳に追加

選択可能な仕様を有する、電子デバイス試験用テストシステムを提供する。 - 特許庁

TEST METHOD OF DEVICE, AND ELECTRONIC EQUIPMENT USING IT例文帳に追加

デバイスのテスト方法およびそれを用いた電子機器 - 特許庁

PACKAGE FOR ELECTRONIC COMPONENT AND AIRTIGHTNESS TEST METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

電子部品用パッケージ及びその気密試験方法 - 特許庁

TEST SYSTEM FOR ELECTRONIC APPARATUS HAVING SELF-TESTING FUNCTION例文帳に追加

自己試験機能を有する電子装置の試験方式 - 特許庁

The class relationships define the function of the electronic test system.例文帳に追加

クラス関係は、電子テストシステムの機能を定義する。 - 特許庁

TEST DEVICE AND METHOD FOR ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加

電子機器用試験装置および電子機器試験方法 - 特許庁

TEST SET FOR ELECTRONIC DEVICE, AND TERMINAL USED THEREFOR例文帳に追加

電子装置のテストセット及びそれに用いられる端子 - 特許庁

ELECTRONIC COMPONENT SUCKING DEVICE, AND ELECTRONIC COMPONENT TEST APPARATUS HAVING THE SUCKING DEVICE例文帳に追加

電子部品吸着装置及びこれを備えた電子部品の試験装置 - 特許庁

To provide electronic equipment capable of performing a test by low-cost test equipment.例文帳に追加

低コストの試験用装置で試験を実行可能とする電子装置を提供する。 - 特許庁

TEMPERATURE TEST DEVICE AND TEMPERATURE SETTING METHOD FOR ELECTRONIC EQUIPMENT例文帳に追加

電子機器の温度試験装置および温度設定方法 - 特許庁

To register an electronic business form file stored as test data in an electronic business form system to be distinguished from the test data.例文帳に追加

テストデータとして格納した電子帳票ファイルをテストデータと識別可能に電子帳票システムへ登録する。 - 特許庁

TEST PULSE GENERATION METHOD AND SYSTEM FOR TESTING ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加

電子装置試験用の試験パルス生成方法とシステム - 特許庁

COMPONENT FOR TESTING DEVICE OF ELECTRONIC COMPONENT, AND TEST METHOD例文帳に追加

電子部品の試験装置用部品及び試験方法 - 特許庁

ELECTRONIC TEST SYSTEM AND METHOD FOR CREATING ITS SOFTWARE PROGRAM例文帳に追加

電子テストシステム及びそのソフトウエアプログラムの作成方法 - 特許庁

A test chart 35 is imaged by the electronic endoscope 11.例文帳に追加

電子内視鏡11でテストチャート35を撮像する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TEST OF TEMPERATURE CHARACTERISTIC OF ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加

電子部品の温度特性試験方法および装置 - 特許庁

TRAY FOR ELECTRONIC PART SUBSTRATE, TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF ELECTRONIC PART SUBSTRATE例文帳に追加

電子部品基板用トレイ、電子部品基板の試験装置および試験方法 - 特許庁

To provide an electronic component testing apparatus which can correctly control a temperature of an electronic part even when the electronic component generates heat by itself at a test time, and can test the electronic component at a desired test temperature.例文帳に追加

試験時に電子部品が自己発熱しても、電子部品の温度を正確に制御し、所望の試験温度にて電子部品を試験することができる電子部品試験装置を提供すること。 - 特許庁

ELECTRONIC PART TESTING TRAY CONVEYANCE DEVICE, TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF ELECTRONIC PART例文帳に追加

電子部品試験用トレイ搬送装置、電子部品の試験装置および試験方法 - 特許庁

SIMULATOR FOR TEST FOR ELECTRONIC INTERLOCKING DEVICE, AND SIMULATION METHOD FOR ELECTRONIC INTERLOCKING DEVICE例文帳に追加

電子連動装置の試験用シミュレータ及び電子連動装置のシミュレーション方法 - 特許庁

TESTING DEVICE, TEST METHOD, ELECTRONIC DEVICE AND DEVICE PRODUCTION METHOD例文帳に追加

試験装置、試験方法、電子デバイス、及びデバイス生産方法 - 特許庁

ELECTRO-OPTICAL DEVICE AND ITS TEST METHOD, AND ELECTRONIC EQUIPMENT例文帳に追加

電気光学装置及びその検査方法並びに電子機器 - 特許庁

JITTER APPLICATION CIRCUIT, PATTERN GENERATOR, TEST APPARATUS, AND ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

ジッタ印加回路、パターン発生器、試験装置、および、電子デバイス - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS TEST METHOD, AND ELECTRONIC EQUIPMENT例文帳に追加

半導体装置およびその検査方法ならびに電子機器 - 特許庁

NONSUCTION HEAD PICKUP FOR ELECTRONIC DEVICE WAITING TEST例文帳に追加

試験待機電子装置用無吸着ヘッド式ピックアップ装置 - 特許庁

The test head comprises an electronic component connecting part and a measuring part.例文帳に追加

テストヘッドは、電子部品差込部及び測定部を有する。 - 特許庁

The Ikoma test institute of Kansai Electronic Industry Development Center 例文帳に追加

(社)関西電子工業振興センター「生駒試験所」 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

An electronic test system having an object oriented hierarchical structure including classes that allow a test developer to design a desired electronic test system is provided.例文帳に追加

試験開発者が所望の電子テストシステムを設計できるクラスを含むオブジェクト指向型階層構造を有する電子テストシステムが提供される。 - 特許庁

The electric test system is equipped with: an electric test device; and an electronic device to be tested by the electric test device.例文帳に追加

電気的試験システムは、電気的試験装置と、電気的試験装置によって試験される電子装置と、を備える。 - 特許庁

RECHARGEABLE ELECTRONIC TIMEPIECE AND CHARACTERISTIC TEST METHOD OF POWER GENERATION MEANS OF RECHARGEABLE ELECTRONIC TIMEPIECE例文帳に追加

充電式電子時計及び充電式電子時計の発電手段の特性テスト方法 - 特許庁

TESTING DEVICE, TESTING METHOD, PRODUCTION METHOD FOR ELECTRONIC DEVICE, TEST SIMULATOR, AND TEST SIMULATION METHOD例文帳に追加

試験装置、試験方法、電子デバイスの生産方法、試験シミュレータ、及び試験シミュレーション方法 - 特許庁

ELECTRONIC DICTIONARY PROVIDED WITH CONFIRMATION TEST FUNCTION AND ITS CONTROLLING METHOD例文帳に追加

確認テスト機能を備えた電子辞書及びその制御方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, ELECTRONIC DEVICE, CONNECTION TEST METHOD OF THE SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置、電子機器、半導体装置の接続試験方法 - 特許庁

ELECTROOPTIC DEVICE, ITS TEST METHOD, AND ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

電気光学装置、電気光学装置の検査方法及び電子機器 - 特許庁

TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY, MICROCOMPUTER, AND ELECTRONIC EQUIPMENT例文帳に追加

半導体記憶装置のテスト方法、マイクロコンピュータ及び電子機器 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, ITS TEST METHOD, AND ELECTRONIC INFORMATION APPLIANCE例文帳に追加

半導体集積回路およびそのテスト方法、電子情報機器 - 特許庁

ELECTRONIC DEVICE, LOAD VARIATION COMPENSATION CIRCUIT, POWER SUPPLY APPARATUS, AND TEST APPARATUS例文帳に追加

電子デバイス、負荷変動補償回路、電源装置、及び試験装置 - 特許庁

To reduce the test cost of an electronic device for outputting analog signals.例文帳に追加

アナログ信号を出力する電子デバイスのテストコストを低減する。 - 特許庁

例文

LOW TEMPERATURE TEST APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR DEVICE USING ELECTRONIC COOLING ELEMENT例文帳に追加

電子冷却素子を利用した半導体装置の低温試験装置 - 特許庁




  
本サービスで使用している「Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス」はWikipediaの日本語文を独立行政法人情報通信研究機構が英訳したものを、Creative Comons Attribution-Share-Alike License 3.0による利用許諾のもと使用しております。詳細はhttp://creativecommons.org/licenses/by-sa/3.0/ および http://alaginrc.nict.go.jp/WikiCorpus/ をご覧下さい。
  
Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する
英→日 日→英
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する

©2026 GRAS Group, Inc.RSS