「function test」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

The initialization function is responsible for allocating and populating test resources, such as photomaps and LUTs, and for creating a stored photoflo which will be executed by the test function.例文帳に追加

初期化関数は、フォトマップや LUT 等のテストのリソースを確保し、割り当てる責任や、テスト関数が実行する格納される photoflo を生成する責任を負う。 - XFree86

The test program is defined as a function with which the language for generating a test program is not provided, and a generic function is designated in a stack part 50 for calling a function with which the general function is provided, and the general argument is saved.例文帳に追加

テスト・プログラムは、テスト・プログラム作成用言語が備えていない関数であって、汎用関数が備えている関数を呼び出すべく、スタック部５０に汎用関数を指定し、汎用引数を待避させる。 - 特許庁

A stub function I/F extraction part 3 extracts the I/F of the input/output between the function of the test target and the lower function called by the function of the test target, and a stub function I/F analysis part 4 analyzes the extracted I/F.例文帳に追加

スタブ関数Ｉ／Ｆ抽出部３は試験対象の関数とこの試験対象の関数が呼び出す下位関数との間の入出力のＩ／Ｆを抽出し、スタブ関数Ｉ／Ｆ分析部４は抽出されたＩ／Ｆを分析する。 - 特許庁

To provide a computer system, a test device, a test method, and a test program for reliably testing whether an overtaking function works normally or not.例文帳に追加

追い越し機能が正常に動作しているか否かを信頼性よく試験することができる、コンピュータシステム、試験装置、試験方法、及び試験プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a test provided with a function for realizing an access test to the same address in a memory access test by specifying the timing of instruction execution.例文帳に追加

メモリアクセス試験において同一アドレスへのアクセス試験を命令実行のタイミングを特定することで実現する機能を有する試験を提供する。 - 特許庁

Therefore, even though a function block that operates in accordance with a test condition is not set, a test case generating part 131 acquires information about a function block that operates in accordance with the test condition from the function block specification information storing part 111 and can automatically generate a test case in which a plurality of function blocks operate in association with one another.例文帳に追加

このため、試験条件に関連して動作する機能ブロックが設定されていなくても、テストケース生成部１３１は、機能ブロック仕様情報記憶部１１１より関連して動作する機能ブロックに関する情報を取得して、複数の機能ブロックが関連して動作するテストケースを自動的に生成することができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device having both of a self-test function and a self-redundancy function with simple constitution.例文帳に追加

自己テスト機能と自己冗長機能とを併せ持つ半導体記憶装置を簡単な構成で提供する。 - 特許庁

INTERNET COMMODITY BUYING AND SELLING SYSTEM MOUNTED WITH TEST HTML OUTPUT FUNCTION AND ACTUAL HTML OUTPUT FUNCTION例文帳に追加

テストＨＴＭＬ出力機能と、本番ＨＴＭＬ出力機能を実装した、インターネット商品売買システム - 特許庁

PREPARATION USEFUL FOR NORMAL RECOVERY OF FUNCTIONAL REDUCTION IN BOTH OR EITHER IN LIVER FUNCTION AND RENAL FUNCTION TEST例文帳に追加

肝機能および腎機能検査で両方或いは片方の機能低下の正常回復に役立つ調製物 - 特許庁

The test data generation device previously stores basic test data wherein information related to a date is configured by a date function, substitutes information showing a test day inputted by an operator for the date function of the stored basic test data to generate the test data, and outputs the generated test data.例文帳に追加

テストデータ生成装置は、日付に関する情報が日付関数により構成されているベーシックテストデータを予め記憶し、前記記憶している前記ベーシックテストデータの日付関数に、操作者により入力されるテスト日を示す情報を代入し、テストデータを生成し、前記生成した前記テストデータを出力する。 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT WITH BUILT-IN ROM HAVING ERROR CORRECTION FUNCTION, AND TEST METHOD THEREOF例文帳に追加

誤り訂正機能付きＲＯＭ内蔵集積回路およびそのテスト方法 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit having short test time for self testing of function.例文帳に追加

自己機能テストのテスト時間が短い半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

FLIP-FLOP CIRCUIT WITH SCANNING FUNCTION, SCANNING TEST CIRCUIT, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

スキャン機能付きフリップフロップ回路、スキャンテスト回路および半導体集積回路 - 特許庁

(a) Knowledge of structure, function, performance, maintenance, remodeling, and test of airframe accessory 例文帳に追加

イ　機体装備品の構造、機能、性能、整備、改造及び試験に関する知識 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(b) Knowledge of structure, function, performance, maintenance, remodeling, and test of piston engine 例文帳に追加

ロ　ピストン発動機の構造、機能、性能、整備、改造及び試験に関する知識 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(b) Knowledge of structure, function, performance, maintenance, remodeling, and test of turbine engine 例文帳に追加

ロ　タービン発動機の構造、機能、性能、整備、改造及び試験に関する知識 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(b) Knowledge of structure, function, performance, maintenance, remodeling, and test of electronic accessory 例文帳に追加

ロ　電子装備品の構造、機能、性能、整備、改造及び試験に関する知識 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(b) knowledge of structure, function, performance, maintenance, remodeling, and test of electric accessory 例文帳に追加

ロ　電気装備品の構造、機能、性能、整備、改造及び試験に関する知識 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(a) Knowledge necessary for structure, function, maintenance, remodeling, and test of radio communication device 例文帳に追加

イ　無線通信機器の構造、機能、整備、改造及び試験に必要な知見 - 日本法令外国語訳データベースシステム

METHOD AND DEVICE FOR PREPARING TEST CASE RELATED TO FUNCTION COMPETITION AND PROGRAM THEREFOR例文帳に追加

機能競合に関するテストケース生成方法とその装置、そのためのプログラム - 特許庁

TEST RESERVATION SYSTEM AND METHOD INCORPORATED WITH AUTOMATIC TESTING DATE DECISION FUNCTION例文帳に追加

検査日時自動決定機能組み込み検査予約システム及び検査予約方法 - 特許庁

To enable decision on quality of an overcurrent detection function in a wafer test process.例文帳に追加

ウエハテストの工程で過電流検出機能の良否判定を可能にする。 - 特許庁

DATA DISASSEMBLING/ASSEMBLING DEVICE WITH TEST FUNCTION AND DATA TRANSFER SYSTEM PROVIDED WITH THE SAME例文帳に追加

試験機能付きデータ分割組立装置及びそれを備えたデータ転送システム - 特許庁

To conduct a radio reception characteristic test and a radio function test while maximizing the transmitting power of a mobile terminal device.例文帳に追加

移動端末装置の送信電力を最大にして無線受信特性試験及び無線機能試験を行うこと。 - 特許庁

To improve the efficiency of debug by expanding a test function for a system test and accelerate the simulation execution time.例文帳に追加

システムテストのためのテスト機能を拡大しデバッグの効率を向上すると共に、シミュレーション実行時間を高速化する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test circuit having a function for implementing an isolation test of semiconductor macros, and reducing a chip area.例文帳に追加

半導体マクロのアイソレーションテストの機能を有し、かつ、チップ面積を削減した半導体テスト回路を提供すること。 - 特許庁

The semiconductor integrated circuit comprises a function macro circuit 11, performing the operation of function macro, and other circuits 12 and 13 where the functional macro circuit comprises function circuits (DRAM 111, I/F 112) performing function operation, and a test circuit 113, having a power supply separated from the function circuits and evaluating the function of the function circuits.例文帳に追加

機能マクロの動作をする機能マクロ回路11と、他の回路12,13 とを備え、機能マクロ回路は、機能動作をする機能回路（DRAM111,I/F112）と、機能回路とは電源が分離され、機能回路の機能を評価するためのテスト回路113 を含む。 - 特許庁

When it is determined that the test code generation program is a function to refer to a hardware register, hardware reference is replaced with an emulation function, and a test function as the hardware non-reference function is automatically generated in compilation.例文帳に追加

テストコード生成プログラムがハードウエアレジスタを参照する関数であると判定した場合には、コンパイル時に、ハードウエア参照をエミュレーション関数に置き換えてそのハードウエア非参照関数であるテスト関数を自動的に生成する。 - 特許庁

A system test information generation means 14 generates system test information showing arrangement order of the function test arranged correspondingly to arrangement order of the business step composing the business flow in each business flow shown in the flow information from the function test information.例文帳に追加

システムテスト情報生成手段１４は、機能テスト情報から、フロー情報に示された業務フローごとに、業務フローを構成する業務ステップの並び順に対応して並べた機能テストの並び順を示すシステムテスト情報を生成する。 - 特許庁

At the start of a test process, the information of test item inputted to a test terminal 1 is transferred to a test management server 3 through a host computer 2 and registered in a progress management DB 5 by a test registering function 33 of the server 3.例文帳に追加

テスト工程開始時には、テスト端末機１に入力されたテスト項目の情報を、ホストコンピュータ２を介してテスト管理サーバ３に転送し、テスト管理サーバ３のテスト登録機能３３により進捗管理ＤＢ５に登録する。 - 特許庁

To provide a macro test circuit that can reduce test cost by reducing a test pattern length, shortening a test time and effectively using scan flip-flop circuits in a SCAN test including a high function macro.例文帳に追加

高機能マクロを含むＳＣＡＮテストにおいて、テストパターン長を削減し且つテスト時間を短縮し、然もスキャンフリップフロップ回路を有効に利用し、その結果としてテストコストを下げることが可能なマクロテスト回路を提供すること。 - 特許庁

This semiconductor integrated circuit device is provided with a cache BIST controller 204 for performing the function test of a cache memory including a function test unique to a cache memory, and for diagnosing the defective part of the cache memory 202.例文帳に追加

キャッシュメモリ固有の機能テストを含めたキャッシュメモリの機能テストを実行しキャッシュメモリ２０２の不良個所を診断するキャッシュＢＩＳＴコントローラ２０４を設ける。 - 特許庁

This eliminates the need of a plurality of scenarios to enable the Web application function test terminal 1 to execute a multiple Web application function test despite a low throughput.例文帳に追加

よって、複数のシナリオが必要なく、Webアプリケーション機能試験端末１の処理能力が低くてもWebアプリケーション機能試験を多重化して実施することができる。 - 特許庁

The electronic control device 2 for the vehicle executes function tests following the command transmitted from the test machine 4, and transmits the execution result of the function tests to the test machine 4.例文帳に追加

車両用電子制御装置２が、試験機４から送信されたコマンドに従って機能検査を実行し、機能検査の実行結果を試験機４に送信する。 - 特許庁

To separately test blocks having a different function respectively.例文帳に追加

それぞれが異なる機能を有するブロックをそれぞれ分けて試験することを可能にする。 - 特許庁

TRANSMISSION/RECEPTION SYSTEM HAVING FUNCTION OF DETERMINING DEGRADED PORTION OF CHANNEL BY TEST SIGNAL例文帳に追加

テスト信号による通信路の劣化部位の判定機能を有する送受信システム - 特許庁

Each of the first and second test circuit sections has a parallel/serial conversion function.例文帳に追加

第１テスト回路部および第２テスト回路部は，パラレル／シリアル変換機能を有する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING SELF-TEST FUNCTION AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

自己テスト機能を備える半導体装置および当該半導体装置のテスト方法 - 特許庁

(c) Knowledge of structure, function, performance, maintenance, remodeling, and test of piston engine accessory 例文帳に追加

ハ　ピストン発動機補機の構造、機能、性能、整備、改造及び試験に関する知識 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(c) Knowledge of structure, function, performance, maintenance, remodeling, and test of turbine engine accessory 例文帳に追加

ハ　タービン発動機補機の構造、機能、性能、整備、改造及び試験に関する知識 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(b) knowledge of structure, function, performance, maintenance, remodeling, and test of radio communication device 例文帳に追加

ロ　無線通信機器の構造、機能、性能、整備、改造及び試験に関する知識 - 日本法令外国語訳データベースシステム

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WITH BUILT-IN TEST FUNCTION, STORAGE MEDIUM FOR STORING ELECTRONIC DESIGN DATA COMPRISING TEST CODE GENERATION PROGRAM, TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TEST CODE GENERATION AUTOMATIZING METHOD AND ITS PROGRAM例文帳に追加

組込みテスト機能付き半導体集積回路、テストコード生成プログラムから成る電子設計データを保存する記憶媒体、該半導体集積回路のテスト方法、テストコード生成自動化方法及びそのプログラム - 特許庁

In the function test item development support system, a product name of a product to be referred to in quality function development operation is retrieved from quality function development data in product name retrieval processing S1.例文帳に追加

製品名検索処理Ｓ１では、品質機能展開作業時において参考にする製品の製品名を品質機能展開データから検索する。 - 特許庁

A 1st test program 1 is installed to the 1st terminal device 10 and the communicating function which is to be the subject of the test is integrated.例文帳に追加

第１の端末装置１０には、第１テストプログラム１がインストールされ、試験対象となる通信機能が組み込まれる。 - 特許庁

Since this function is adapted even to various test pieces in the same way, √At=f(hr) is determined even if a plurality of test pieces are used.例文帳に追加

この関数は多様な試験片に対しても同様に適用できるため、複数の試験片を用いても、√At = f(hr)を定め得る。 - 特許庁