「method of test」に関連した英語例文の一覧と使い方(17ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor test system and test method capable of efficiently testing a semiconductor device with many pins.例文帳に追加

多数ピンの半導体装置を効率よくテストできる半導体テストシステム及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

TEST SIGNAL FAN-OUT DEVICE, AND METHOD OF SUPPLYING SIMULTANEOUSLY TEST DATA BLOCK TO AT LEAST ONE DEVICE例文帳に追加

テスト信号ファンアウト装置および少なくとも一つのデバイスにテストデータブロックを同時に供給する方法 - 特許庁

METHOD OF CHOOSING MEDICAL DIAGNOSTIC TEST AND BIOCHEMISTRY DIAGNOSTIC TEST EMPLOYING NEURAL NETWORK RELATED APPLICATION例文帳に追加

ニューラルネットワーク関連アプリケーションを使用して医療診断テストおよび生化学診断テストを選択する方法 - 特許庁

To provide a test item creation device which can be used in an upstream step of a software test, and to provide a test item creation system, a test item creation method, and a test item creation program.例文帳に追加

ソフトウェア・テストの上流工程においても用いることの可能なテスト項目生成装置、テスト項目生成システム、テスト項目生成方法、およびテスト項目生成プログラムを提供すること。 - 特許庁

There is provided the test method for the computer system including a test environment in which one or more test servers are installed and a test management server which manages an operation test of a system to be tested in the tests environment.例文帳に追加

１以上のテスト用サーバを備えたテスト環境と、テスト環境におけるテスト対象システムの動作テストを管理するテスト管理サーバとを備えた計算機システムにおけるテスト方法である。 - 特許庁

TEST APPARATUS AND METHOD OF RESISTANCE CHANGE MEMORY, AND RESISTANCE CHANGE MEMORY DEVICE例文帳に追加

抵抗変化メモリのテスト装置、方法および抵抗変化メモリ装置 - 特許庁

TEST METHOD FOR PREDICTING RECURRENCE OF SOLID CANCER AND RECURRENCE PROPHYLACTIC例文帳に追加

固形癌の再発予測のための試験方法および再発予防剤 - 特許庁

BELT MEANDERING PREVENTING DEVICE AND MEANDERING PREVENTING METHOD OF RUNNING TEST DEVICE例文帳に追加

走行試験装置のベルト蛇行防止装置及び蛇行防止方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR WEDGE PRESSURE TEST OF GENERATOR STATOR BAR例文帳に追加

発電機ステータ・バーのくさび圧力試験のための方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR PERFORMING TEST DURING OPERATION OF RING OPTICAL NETWORK例文帳に追加

リング光ネットワークの動作中に試験を行う方法及びシステム - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR GENERATING TEST PATTERN OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置のテストパタン生成方法およびテストパタン生成装置 - 特許庁

PRINTER, PRINTING METHOD OF TEST PRINTING, AND POS TERMINAL DEVICE例文帳に追加

印刷装置、テスト印刷の印刷方法、及びＰＯＳ端末装置 - 特許庁

TEST METHOD AND DEVICE OF IGNITION RELATED APPARATUS IN MULTIPLE CYLINDER ENGINE例文帳に追加

多気筒エンジンにおける着火関連機器の試験方法及び装置 - 特許庁

WITHSTAND VOLTAGE TEST METHOD FOR PLANT JOINT PART OF LONG POWER CABLE例文帳に追加

長尺電力ケーブルの工場ジョイント部の耐電圧試験方法 - 特許庁

METHOD OF CONDUCTING CRASH TEST USING CARRIAGE AND CORRESPONDING DEVICE例文帳に追加

キャリッジを用いてクラッシュテストを行う方法および対応する機器 - 特許庁

To provide a method of evaluating a blurring caused by video processing in a test video sequence.例文帳に追加

テスト・ビデオ・シーケンスにおけるビデオ処理によるブレを評価する。 - 特許庁

SCAN TEST CIRCUIT, LOGICAL CONNECTION INFORMATION GENERATING METHOD OF THE SAME, AND PROGRAM例文帳に追加

スキャンテスト回路、その論理接続情報生成方法及びプログラム - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND OPERATIONAL AMPLIFIER AND TEST METHOD OF THE SAME例文帳に追加

半導体集積回路およびオペアンプならびにそれらのテスト方法 - 特許庁

TEST METHOD, ITS DEVICE, AND MULTIPOINT MEASURING DEVICE OF MULTIPLEXER SWITCH例文帳に追加

マルチプレクサスイッチの試験方法とその装置および多点測定装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR ESTIMATING NECESSARY NUMBER OF TESTS IN ACCELERATED TEST例文帳に追加

加速試験における必要試験個数見積もり方法および装置 - 特許庁

METHOD FOR INSPECTING INSECTICIDE RESISTANCE OF MEDIATOR INSECT AND TEST KIT例文帳に追加

媒介昆虫の殺虫剤耐性の検査方法および試験キット - 特許庁

METHOD AND APPARATUS OF PROGRAMMABLE MEMORY BUILT-IN SELF TEST (MBIST)例文帳に追加

プログラマブル・メモリ・ビルト・イン・セルフ・テスト（ＭＢＩＳＴ）の方法及び装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR POSITIONING INTERFACE UNIT OF AUTOMATIC TEST SYSTEM例文帳に追加

自動試験システムのインタフェースユニットを位置付ける装置及び方法 - 特許庁

LOW VACUUM SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS METHOD FOR EXCHANGE OF TEST PIECE例文帳に追加

低真空走査電子顕微鏡及びその試料交換方法 - 特許庁

ELECTRIC EQUIPMENT AND TEST METHOD OF THE ELECTRIC EQUIPMENT WITH AUDIO PORT例文帳に追加

オーディオポートを有する電気機器およびこの電気機器の検査方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR THERMAL VACUUM TEST OF SATELLITE例文帳に追加

衛星用熱真空試験装置及び衛星用熱真空試験方法 - 特許庁

JOB OPERATION MANAGEMENT SYSTEM AND JOB SCHEDULE TEST METHOD OF THE SAME SYSTEM例文帳に追加

ジョブ運用管理システムおよび同システムのジョブスケジュールテスト方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD OF EXCHANGE TEST, AND RECORDING MEDIUM THEREOF例文帳に追加

交換機試験装置及び交換機試験方法、並びに記録媒体 - 特許庁

APPARATUS FOR PUSHING AND HITTING TESTING OF DEVICE- MOUNTED SUBSTRATE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

デバイス実装済み基板の押打試験装置及びその試験方法 - 特許庁

TESTING FIXTURE SUBSTRATE, TEST DEVICE, AND TESTING METHOD OF SENSOR例文帳に追加

センサの試験用治具基板及び試験装置並びに試験方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR CARRYING OUT AIRTIGHT TEST OF SEALING MEMBER例文帳に追加

シール部材の気密試験装置及びシール部材の気密試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路及び半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路、および、半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁

METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TEST PATTERN GENERATION CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト方法及びテストパターン発生回路 - 特許庁

DEVICE WITH OVERVOLTAGE PROTECTION FUNCTION AND METHOD FOR TEST OF THE SAME例文帳に追加

過電圧保護機能を備えたデバイス及びその試験のための方法 - 特許庁

INDEX DEVICE OF HANDLER FOR SEMICONDUCTOR DEVICE TEST AND ITS OPERATING METHOD例文帳に追加

半導体素子テスト用ハンドラのインデックス装置及びその動作方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体試験装置及び半導体集積回路の試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体試験装置および半導体集積回路の試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING ADHESION STRENGTH OF LOCK BOLT AND GROUT AND TEST PIECE THEREOF例文帳に追加

ロックボルトとグラウトの付着強度試験方法およびその供試体 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM TO TEST SLIDER FOR HEAD GIMBAL ASSEMBLY OF DISK DRIVE例文帳に追加

ディスク装置のヘッドジンバルアセンブリ用スライダの試験方法及びシステム - 特許庁

MANAGEMENT SYSTEM AND MANAGEMENT METHOD OF MEDICAL TEST INFORMATION例文帳に追加

医療検査情報管理システム及び医療検査情報管理方法 - 特許庁

DEVICE MEASURING APPARATUS AND SUPPRESSION METHOD FOR TEMPERATURE CHANGE OF DEVICE UNDER TEST例文帳に追加

デバイス測定装置及び被測定デバイスの温度変化抑制方法 - 特許庁

A pile loading test method: installs a test pile 10 deeper than a level of a prescribed depth; excavates the ground from a ground surface to the prescribed depth; and executes a loading test of the test pile 10.例文帳に追加

杭の載荷試験方法は、所定深さのレベルより下側に試験杭１０を構築し、その後、地表面から所定深さまで掘削して、この試験杭１０に載荷試験を行う。 - 特許庁

To provide a test scenario creation program, test scenario creation apparatus, and test scenario creation method for creating a test scenario which not only covers paths of a screen transition diagram but also has a variety of perspectives.例文帳に追加

画面遷移図のパスを網羅するだけでなく、様々な観点を持つテストシナリオを作成するテストシナリオ作成プログラム、テストシナリオ作成装置、テストシナリオ作成方法を提供する。 - 特許庁

To perform at low cost the durability test of a test target, in a durability testing method for performing the durability test of the test target arranged between a drive body and the load and that receives twisting.例文帳に追加

本発明は、駆動体と負荷との間に配置されて、ねじりを受ける被試験体の耐久試験を行なう耐久試験方法等に関し、被試験体の耐久試験を安価に行なう。 - 特許庁