「method of test」に関連した英語例文の一覧と使い方(16ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD AND PROGRAM FOR TEST AUTOMATION OF FORM IN WEB APPLICATION例文帳に追加

ウェブアプリケーションのフォームの自動テストのための方法及びプログラム - 特許庁

To provide a simple, quick and sure marking method of a defective test element.例文帳に追加

不良テストエレメントの簡略で迅速かつ確実なマーキング法。 - 特許庁

OPTICAL-MODULE TEST APPARATUS AND MEASUREMENT METHOD OF OPTICAL MODULE CHARACTERISTICS例文帳に追加

光モジュール試験装置及び光モジュール特性の測定方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR LATERAL LOAD IMPACT TEST OF FUEL ASSEMBLY例文帳に追加

燃料集合体の横荷重衝撃試験方法及び装置 - 特許庁

TEST METHOD OF ELECTRICAL LEAK DETECTING CIRCUIT AND ELECTRICAL LEAK DETECTOR例文帳に追加

漏電検出回路のテスト方法及び漏電検出装置 - 特許庁

MEASURING INSTRUMENT AND METHOD CONCERNING TYPE APPROVAL AND TEST OF MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加

計器及び当該計器の型式承認・検定に係る方法 - 特許庁

METHOD FOR MANAGING QUALITY OF CONCRETE AND FORM FOR CONCRETE TEST BODY例文帳に追加

コンクリートの品質管理方法及びコンクリート試験体用型枠 - 特許庁

To provide a test case management method which can collectively process maintenance of addition/deletion/copying of test cases while considering a combination of a test target screen and a test condition.例文帳に追加

本発明は、テストケースの追加・削除・コピーのメンテナンスを行う際に、テスト対象画面・テスト条件の組み合わせを考慮して一括で処理が可能なテストケース管理方法を提供する。 - 特許庁

IDENTIFIER OF TEST PIECE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, HOLDER OF TEST PIECE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND OBSERVATION METHOD OF TEST PIECE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡用試料の識別子、走査型電子顕微鏡用試料のホルダーおよび走査型電子顕微鏡用試料の観察方法 - 特許庁

A test result adjusting method comprises steps of assigning the identifier to the test result of first test execution, specifying the starting point, and assigning the identifier to the test result of second test execution.例文帳に追加

一実施形態に係るテスト結果調整方法は、第１のテスト実行のテスト結果に識別子を割り当てることと、開始点を指定することと、第２のテスト実行のテスト結果に識別子を割り当てることとを含みうる。 - 特許庁

METHOD OF CONFIRMING WORKING POSITION OF ELEMENT CONVEYOR FOR TEST HANDLER OF SEMICONDUCTOR ELEMENT例文帳に追加

半導体素子のテストハンドラの素子搬送装置の作業位置の認識方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR FOCUS TEST OF LITHOGRAPHIC APPARATUS AND METHOD FOR MANUFACTURING DEVICE例文帳に追加

リソグラフィ装置の焦点試験方法およびシステム、およびデバイス製造方法 - 特許庁

TEST METHOD AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, AND SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体記憶装置のテスト方法及び製造方法並びに半導体ウェハ - 特許庁

TEST METHOD, OPERATING CONDITION SETTING METHOD AND DEVICE CAPABLE OF SETTING OPERATING CONDITION例文帳に追加

試験方法、動作条件設定方法及び動作条件設定可能な装置 - 特許庁

To provide a test device and a test method which can test simultaneously a plurality of memory devices of which performances such as pause capability or the like are different.例文帳に追加

ポーズ実力等の性能の異なる複数個のメモリデバイスを同時に試験することができる試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test program generation device and a test program generation method capable of inputting a parameter corresponding to a template of the test program.例文帳に追加

テストプログラムのテンプレートに応じて、パラメータが入力できるテストプログラム作成装置及びテストプログラム作成方法を実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide a test method and a test system of a semiconductor integrated circuit capable of easily testing contact between a test probe and a pad.例文帳に追加

テスト用のプローブとパッドとの接触を容易にテストすることが可能な半導体集積回路のテスト方法およびテストシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a test print and its calorimetric method capable of shortening a time required for manufacturing the test print and reducing a cost of the test print.例文帳に追加

テストプリントの作製に要する時間を短縮しかつテストプリントのコストを削減できる、テストプリントおよびその測色方法を提供する。 - 特許庁

To provide a computer program, a test support method and a test support device capable of supporting setting of an expectation value used for a program test.例文帳に追加

プログラムテストに使用される期待値の設定を支援することができるコンピュータプログラム、テスト支援方法及びテスト支援装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test method for fitting, capable of performing test taking deformation into consideration by mounting of fitting.例文帳に追加

建具の取り付けによる変形も加味した試験を行うことが可能な建具の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a software test method for effectively detecting a failure by using of a small number of test items.例文帳に追加

少ない試験項目で効果的に不具合を検出することの可能なソフトウェア試験方法を提供する。 - 特許庁

This method has a process of performing one or more test cycles of an LBIST system in a device during the test.例文帳に追加

この方法は、テスト中のデバイス内のＬＢＩＳＴシステムの１つ以上のテストサイクルを行う工程を具備する。 - 特許庁

To provide a test terminal and a test method capable of easily testing a circuit or operation of a protection relay device.例文帳に追加

保護継電装置の回路や動作の試験を容易に実施できる試験端子と試験方法を提供すること。 - 特許庁

TEST QUALITY EVALUATION DEVICE OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND TEST QUALITY EVALUATION METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト品質評価装置、および半導体集積回路のテスト品質評価方法 - 特許庁

To provide a ground test machine and a ground test method capable of obtaining data concerning the settlement characteristic of ground.例文帳に追加

地盤の沈下特性についてのデータを得ることができる地盤試験機及び地盤試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for attaching a mark to a test piece and measuring the deformation property of the test piece to decide the deformation property of the test piece by including the measurement of the macro or micro deformation of the test piece.例文帳に追加

試験片のマクロまたはミクロの変形の測定を含め、試験片の変形特性を決定するために試験片にマークを付けて測定するための方法および装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an automatic test method for preparing for file creation for execution of a test or establishing test environments easily.例文帳に追加

試験の実施のためのファイル作成等の準備や、試験環境構築が簡単な自動試験方法を提供することを目的する。 - 特許庁

To provide a client-server system, a load test method, and a load test program capable of performing a proper load test using a simple structure.例文帳に追加

簡易な構成で適切な負荷テストを行なうことが可能なクライアント−サーバシステム、負荷テスト方法、および負荷テストプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a scan test circuit with a multiplication circuit for performing a test by changing the speed of a clock by N-multiplication, and to provide a scan test method.例文帳に追加

クロックのスピードをＮ逓倍変化させてテストを行う逓倍回路を設けたスキャンテスト回路およびスキャンテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a biaxial testing device and a biaxial test method capable of enlarging a test space and reducing test cost.例文帳に追加

試験スペースの拡大化及び試験コストの低減化を実現することが可能である二軸試験装置及び二軸試験方法を提供する。 - 特許庁

In this method (900) for assigning the test number, present test flow context information is maintained during execution of a test flow 200 (902).例文帳に追加

テスト番号を割り当てる方法（９００）において、現在のテストフローコンテキスト情報は、テストフロー２００の実行中維持される（９０２）。 - 特許庁

MEASUREMENT INSTRUMENT HAVING A PLURALITY OF DETERMINATION PARTS AND MEASUREMENT METHOD FOR SUBJECT OF TEST例文帳に追加

判定部を複数有する被検物質の測定器具及び測定方法 - 特許庁

PURIFICATION TEST METHOD OF CONTAMINATED SOIL, AND PURIFICATION TESTING DEVICE OF CONTAMINATED SOIL例文帳に追加

汚染土壌の浄化試験方法および汚染土壌の浄化試験装置 - 特許庁

SIMPLIFIED TEST METHOD AND DEVICE OF INSULATION TEMPERATURE RISE CHARACTERISTIC OF CONCRETE例文帳に追加

コンクリートの断熱温度上昇特性の簡易測定方法および装置 - 特許庁

COLLECTING METHOD OF SPECIMEN FOR STRENGTH TEST OF SECONDARY LINING BACK-FILLING MATERIAL例文帳に追加

二次覆工用裏込め材の強度試験用供試体の採取方法 - 特許庁

METHOD FOR RESISTANCE VALUE COMPENSATION, CIRCUIT HAVING RESISTANCE VALUE COMPENSATION FUNCTION, TEST METHOD OF RESISTANCE VALUE OF CIRCUIT, RESISTANCE VALUE COMPENSATION PROGRAM, TEST PROGRAM OF RESISTANCE VALUE OF CIRCUIT, AND SYSTEM例文帳に追加

抵抗値補償方法、抵抗値補償機能を有する回路、回路の抵抗値試験方法、抵抗値補償プログラム、回路の抵抗値試験プログラム及びシステム - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING DEGREE OF CONTAMINATION CAUSED BY PATHOGENIC MICROORGANISM OF TEST SPECIMEN例文帳に追加

被検対象物の病原性微生物による汚染度を評価する方法 - 特許庁

TEST METHOD FOR MATERIAL EVALUATION OF COMPONENT OF INJECTION MOLDING APPARATUS AND TESTING DEVICE例文帳に追加

射出成形機部品用材料評価試験方法及び試験装置 - 特許庁

METHOD OF TEST FOR CONNECTION SYSTEM OF SEMICONDUCTOR MEMORY, DEVICE, AND PICTURE FORMING DEVICE例文帳に追加

半導体メモリ接続系統の検査方法，装置及び画像形成装置 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR FACILITATING TEST OF PAD RECEIVER OF INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路のパッド受信器のテストを容易にするためのシステム及び方法 - 特許庁

To provide a burn-in test apparatus and test method capable of reducing the cost required for test by performing a characteristic analyzing test in a short time.例文帳に追加

短時間で特性解析用試験を行うことで、試験に要するコストを低減することができるバーンイン試験装置及び試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a test base apparatus, a test base program and a test base method for automating a test for a Web application for which a name of a parameter received at each access is varied.例文帳に追加

アクセスの都度受け付けるパラメータの名前が変化するＷｅｂアプリケーションに対するテストを自動化するテスト基盤装置、テスト基盤プログラム、テスト基盤方法を提供する。 - 特許庁

A Propagation Test instruction, a Decay Test instruction and a Cycle Test instruction are added to the interconnect circuit test method of a circuit including a conventional JTAG boundary scan cell.例文帳に追加

伝搬テスト命令、減衰テスト命令、およびサイクル・テスト命令を従来型ＪＴＡＧ境界スキャン・セルを含む回路の相互接続回路テスト方法に追加する。 - 特許庁

To provide an error correction test method capable of executing a test based on an accurate data error.例文帳に追加

正確なデータエラーに基づいてテストを実行することができるエラー訂正試験方法を提供する。 - 特許庁

SYSTEM FOR PROVIDING ANIMAL TEST INFORMATION, CENTRAL DEVICE, METHOD OF PROVIDING ANIMAL TEST INFORMATION AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

動物検査情報提供システム、中央装置、動物検査情報提供方法及びコンピュータプログラム - 特許庁