「method of test」に関連した英語例文の一覧と使い方(13ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD FOR DETERMINING REPRESENTATIVE DENSITY VALUE OF TEST EXPOSURE DOT LINE例文帳に追加

テスト露光ドットラインの代表濃度値を決定する方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR MAINTAINABILITY TEST OF POROUS MATERIAL例文帳に追加

多孔性材料の保全性試験のための方法及びシステム - 特許庁

TEST CARRIER AND MOUNTING METHOD OF SEMICONDUCTOR ELEMENT THEREON例文帳に追加

テストキャリアとそのテストキャリアへの半導体素子の実装方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR MAINTAINABILITY TEST BETWEEN PROCESSES OF FILTER例文帳に追加

フィルタの工程間保全性試験のためのシステム及び方法 - 特許庁

JUDGEMENT METHOD OF TEST RESULT FOR SEMICONDUCTOR, AND JUDGEMENT CIRCUIT THEREOF例文帳に追加

半導体試験結果の判定方法及び判定回路 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR LEAKAGE TEST OF SPOUT AND SPOUT SETTING MACHINE例文帳に追加

注出口のリークテスト方法、装置及び注出口セット機 - 特許庁

SIMPLE TEST METHOD FOR CONTENT OF HARMFUL SUBSTANCE IN SOIL例文帳に追加

土壌中有害物質の含有量の簡易試験方法 - 特許庁

CONTROL METHOD AND DEVICE FOR FLOW OF LIQUID TEST PACKAGE AND例文帳に追加

液体試験パッケ—ジの流れの制御法及び制御装置 - 特許庁

ROUGHNESS JUDGMENT METHOD OF TEST PIECE AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

試料の凹凸判定方法、及び荷電粒子線装置 - 特許庁

SAMPLE TO BE DETERMINED FOR O-RING TEST AND ITS METHOD OF MANUFACTURE例文帳に追加

Ｏ−リングテスト用定量サンプル及びその製造方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR RUNNING TEST OF VEHICLE例文帳に追加

車両走行試験装置及び車両走行試験方法 - 特許庁

TEST PATTERN FOR MEASURING CONTACT RESISTANCE AND METHOD OF MANUFACTURING SAME例文帳に追加

コンタクト抵抗測定用テストパターン及びその製造方法 - 特許庁

FIRE DETECTOR AND METHOD FOR MEASURING POLLUTION RATE OF ITS TEST WINDOW例文帳に追加

火災検知器及びその試験窓の汚損率測定方法 - 特許庁

TEST METHOD OF EMBEDDED CORE IN SYSTEM-ON-CHIP AND CONSTITUTION THEREOF例文帳に追加

システムオンチップにおける埋込コアの試験方法及び構成 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF TEST PIECE FOR DETECTING LIVING BODY RELATED SUBSTANCE例文帳に追加

生体関連物質検出用試験片の製造方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INFERRING TEST TIME OF INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

集積回路装置のテスト時間推定方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE OF REDUNDANCY ARITHMETIC OPERATION, AND MEMORY TEST DEVICE例文帳に追加

リダンダンシ演算方法及び装置並びにメモリ試験装置 - 特許庁

TEST EQUIPMENT AND INSPECTION METHOD OF ELEMENT FOR METAL BELT例文帳に追加

金属ベルト用エレメントの検査装置及び同検査方法 - 特許庁

To provide a method for forecasting the toxicity of a test substance.例文帳に追加

被検物質の毒性を予測する方法を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR CARRYING OUT ABRASION TEST OF METALLIC WIRE FOR CARD, AND APPARATUS THEREFOR例文帳に追加

紡機用メタリックワイヤの摩耗試験方法及びその装置 - 特許庁

DURABILITY TESTING METHOD OF COATING MEMBER AND TEST DEVICE THEREFOR例文帳に追加

コーティング部材の耐久性試験方法および試験装置 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR OPPORTUNISTIC TRANSMISSION OF TEST PROBE METADATA例文帳に追加

テストプローブメタデータを便宜的に送信するシステムおよび方法 - 特許庁

(3) Method of calculating insurance liabilities, etc. in the field test 例文帳に追加

③ 今回のフィールドテストにおける保険負債等の計算方法 - 金融庁

METHOD AND DEVICE FOR ADJUSTING BUFFER TRAY PITCH OF TEST HANDLER例文帳に追加

テストハンドラーのバッファトレイピッチを調節する方法及び装置 - 特許庁

TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE, RELAY CIRCUIT, AND PROBE CARD例文帳に追加

半導体装置の試験方法、中継回路、及びプローブカード - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置および半導体装置の試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体試験システム及び半導体デバイスの試験方法 - 特許庁

CALIBRATION METHOD OF MULTIPATH FADING SIGNAL LEVEL AND CORRECTION METHOD IN SENSITIVITY TEST OF MOBILE WIRELESS MACHINE AND MOBILE WIRELESS MACHINE TEST SYSTEM例文帳に追加

移動無線機の感度試験におけるマルチパスフェージング信号レベルの校正方法、補正方法及び移動無線機テストシステム - 特許庁

RECOGNITION METHOD OF REAGENT PART IN ANALYSIS USING TEST PIECE例文帳に追加

試験片を用いる分析における試薬部の認識方法 - 特許庁

RELIABILITY EVALUATION TEST METHOD OF GAS TURBINE, AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

ガスタービンの信頼性評価試験方法およびその装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST APPARATUS AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体テスト装置および半導体装置の製造方法 - 特許庁

WIRE HARNESS WIRING BOARD AND SHEATH TEST METHOD OF WIRE HARNESS例文帳に追加

ワイヤーハーネス布線ボード及びワイヤーハーネス外装検査方法 - 特許庁

MICRO-ARRAY, MICRO-ARRAY SYSTEM AND MEASURING METHOD OF TEST MATERIAL例文帳に追加

マイクロアレイ、マイクロアレイシステム及び被検物質の測定方法 - 特許庁

TEST AND MEASUREMENT INSTRUMENT AND METHOD OF DISPLAYING TIME DOMAIN INFORMATION例文帳に追加

試験測定装置及び時間領域情報表示方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR VIBRATION TEST OF RAILROAD VEHICLE例文帳に追加

鉄道車両の振動試験方法及び振動試験装置 - 特許庁

PSEUDO-FECES AND METHOD OF CONTROLLING ACCURACY OF FECES HEMOCCULT TEST USING THE SAME例文帳に追加

擬似便およびそれを用いる便潜血試験の精度管理方法 - 特許庁

METHOD OF TEST OF CLOCK GENERATION CIRCUIT IN ELECTRONIC DEVICE, AND ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

電子装置のクロック発生回路の検査方法及び電子装置 - 特許庁

DETERMINATION METHOD FOR CENTER OF LAMP OF VEHICLE UNDER TEST, AND HEADLIGHT TESTER例文帳に追加

被試験車両のランプの中心決定方法及びヘッドライトテスタ - 特許庁

METHOD FOR JUDGMENT OF PRESENCE OR ABSENCE OF READING OF DENSITY OF FOREIGN OBJECT AND METHOD FOR CALCULATION OF REPRESENTATIVE VALUE OF DENSITY OF TEST PATTERN例文帳に追加

異物濃度の読み取り有無の判定方法、及び、テストパターンの濃度の代表値を算出する方法 - 特許庁

To provide a transmission characteristic test device for an analog subscriber circuit that can reduce the cost of a test system by decreasing number of test devices and conduct a test in the device of subscriber circuits so as to reduce the test time and to provide a transmission characteristic test method.例文帳に追加

計測器を削減することで試験システムを低価格化でき、かつ、複数の加入者回路単位で試験を行ない、試験時間を短縮できるアナログ加入者回路の伝送特性試験装置および方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test case generation device, a test case generation method and a test case generation program which improve the test efficiency of a computer program represented by a source code.例文帳に追加

ソースコードが表すコンピュータプログラムのテスト効率を向上するテストケース生成装置、テストケース生成方法およびテストケース生成プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a tool for test and test method capable of performing chip unit test, even if the chip to be mounted in an MCM does not have a built-in test circuit.例文帳に追加

ＭＣＭに搭載されるチップがテスト回路を内蔵していなくても、チップ単体テストを行うことのできるテスト用治具およびテスト手法を提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit and a test method of a semiconductor integrated circuit in which the number of test terminals is decreased and the scale of the circuit is reduced.例文帳に追加

テスト端子数を少なくすると共に、回路規模を小さくした半導体集積回路のテスト回路及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD OF MANUFACTURING THE DEVICE, AND TEST METHOD OF THE DEVICE例文帳に追加

半導体装置、半導体装置の製造方法及び半導体装置のテスト方法 - 特許庁

To provide a test paper supplying method which eliminates the need for adjusting the location of the tip part of urine test paper in the case of placing the test paper to a holder of a urine analyzing device.例文帳に追加

尿分析装置のホルダーに試験紙を載置する場合に、尿試験紙先端部の位置調整を不要とする試験紙供給方法を提供する。 - 特許庁