「method of test」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

ANTENNA TRANSMISSION TEST SYSTEM, METHOD AND PROGRAM OF WIRELESS DEVICE, WIRELESS DEVICE AND ANTENNA TRANSMISSION TEST DEVICE例文帳に追加

無線機のアンテナ送信試験システム、方法、プログラム、無線機及びアンテナ送信試験装置 - 特許庁

ADAPTOR FOR PRESSURE-RESISTANT EXPANSION TEST OF COMPACT HIGH-PRESSURE GAS CONTAINER, AND PRESSURE-RESISTANT EXPANSION TEST METHOD例文帳に追加

小型高圧ガス容器の耐圧膨張試験用アダプタ及び耐圧膨張試験方法 - 特許庁

To provide test equipment, testing method and program which can reduce dependency on measurements such as leak current for logic pattern of test vector in testing of devices under test.例文帳に追加

被試験デバイスの試験において、試験ベクタの論理パターンに対する、リーク電流等の測定値の依存性を低減する。 - 特許庁

When the test is run, the fixture initialization is run first; if it succeeds, the cleanup method is run after the test has been executed, regardless of the outcome of the test.例文帳に追加

初期設定が正常終了した場合、テスト実行後にはテスト結果に関わらず終了処理が実行されます。 - Python

The test conditions are: the electrodes of ϕ25 mm cylindrical column/ϕ25 mm cylindrical column; the sample thickness of 0.5 mm; the test method of short time process; and the test temperature of 23°C.例文帳に追加

＜試験条件＞ 電極：φ２５ｍｍ円柱／φ２５ｍｍ円柱 試料厚み：０．５ｍｍ 試験方法：短時間法 試験温度：２３℃ - 特許庁

AIRTIGHTNESS TEST DEVICE AND METHOD OF WASTE WATER TRAP, AND MANUFACTURING METHOD OF SAME例文帳に追加

排水トラップの気密性検査装置、気密性検査方法、及び製造方法 - 特許庁

AIR PERMEABILITY TEST METHOD OF COATING MATERIAL, AND NEUTRALIZATION RATE CALCULATION METHOD OF CONCRETE例文帳に追加

塗材の透気性試験方法及びコンクリートの中性化率算出方法 - 特許庁

TEST METHOD AND MANUFACTURING METHOD OF DISK DRIVE DEVICE IN CONSIDERATION OF MANUFACTURING EFFICIENCY例文帳に追加

生産効率を考慮したディスク・ドライブ装置のテスト方法及び製造方法 - 特許庁

To achieve reduction of time for calibration of an output and improvement of precision of a test device itself in a characteristics test method and the test device of a panel type display.例文帳に追加

パネル型表示器の特性検査方法および検査装置において、検査装置自身の出力校正の時間短縮と精度の向上を行う。 - 特許庁

TEST METHOD FOR DATA STORAGE DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING DATA STORAGE DEVICE例文帳に追加

データ記憶装置のテスト方法及びデータ記憶装置の製造方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR DETERMINING CLINICAL EQUIVALENCE OF TEST METHOD例文帳に追加

試験方法の臨床的等価を判定するためのシステムおよび方法 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING IMMUNOCHROMATOGRAPHY OF PSILOCIN BY COMPETITION METHOD, AND TEST KIT例文帳に追加

競合法によるサイロシン類のイムノクロマトグラフィー検出法及びテストキット - 特許庁

METHOD FOR INDIVIDUAL IDENTIFICATION AND METHOD FOR PARENTAGE TEST OF CATTLE USING SINGLE NUCLEOTIDE POLYMORPHISM例文帳に追加

一塩基多型を用いた牛の個体識別法と親子鑑別法 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE TEST ELEMENT AND METHOD OF MEASURING PHYSICAL CHARACTERISTICS OF THIN FILM例文帳に追加

半導体装置テストエレメントの製造方法及びその薄膜物性値測定方法 - 特許庁

METHOD OF DETECTING FAILURE OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD OF GENERATING DC TEST PATTERN例文帳に追加

半導体集積回路の故障検出方法およびＤＣテストパターン発生方法 - 特許庁

The present invention is a test method for testing the characteristics of a columnar test object by loading compressive or tensile force on the test object.例文帳に追加

柱状の試験体の特性を試験するために当該試験体を圧縮・引張する載荷試験方法である。 - 特許庁

To provide a leak test method using a differential pressure type leak test device, which is capable of performing a leak test accurately in a shorter time.例文帳に追加

リークテストを、より短時間で精度良く行うことができる、差圧式リークテスト装置によるリークテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scan test circuit for a semiconductor integrated circuit capable of shortening a scan test time, and to provide a scan test circuit design method.例文帳に追加

スキャンテスト時間を短縮する半導体集積回路のスキャンテスト回路、スキャンテスト回路設計方法を提供する。 - 特許庁

VIRTUAL TESTER, TEST DEVICE, TEST SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND VERIFICATION METHOD OF TEST PROGRAM FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

仮想テスタ、テスト装置、半導体集積回路用テストシステム、及び半導体集積回路用テストプログラムの検証方法 - 特許庁

To provide a test system, a test method and a sensor, allowing reduction of a time required for a test of a tester even when requiring a time for a test of the sensor, especially allowing confirmation of whether or not the sensor normally operates even without performing the sensitivity test of the sensor.例文帳に追加

感知器の試験に時間を要する場合でも、試験器における試験に要する時間を短縮することの可能な試験システムおよび試験方法および感知器を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a test device and a test method for a semiconductor device, for realizing reduction of test cost and the number of test processes, in a functional test in the semiconductor having a large number of signal terminals.例文帳に追加

多数の信号端子を有する半導体装置の機能試験において、その試験工程数及び試験コストの削減を実現するための半導体装置の試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

The non-evaporating getter material (ZrV) of raw material ( test piece A) is pulverized by a jet mill method and a test piece B is manufactured, and by pulverizing the test piece B by a bead mill method, a test piece C and a test piece D are manufactured.例文帳に追加

原料（試料Ａ）の非蒸発ゲッター材料（ＺｒＶ）を、ジェットミル法により粉砕して試料Ｂを製造し、その試料Ｂをビーズミル法により粉砕して試料Ｃ、試料Ｄを製造する。 - 特許庁

To provide a test method for radiation of a SDRAM (synchronized dynamic random access memory).例文帳に追加

ＳＤＲＡＭ(synchronized dynamic random access memory)の放射線試験方法を提供する。 - 特許庁

LIGHT SENSOR TEST UNIT, METHOD OF TESTING LIGHT SENSOR, AND DISPLAY DEVICE例文帳に追加

光センサ検査ユニット、これの検査方法及び表示装置 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR SHARING TEST TERMINAL OF INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路のテスト端子共用化方法および方式 - 特許庁

WATERTIGHT TESTING DEVICE AND WATERTIGHT TEST METHOD OF GLAZING CHANNEL例文帳に追加

グレージングチャンネルの水密試験装置及び水密試験方法 - 特許庁

TEST METHOD FOR EVALUATING WEARING AND ABRASION AND HARDNESS OF POWDER AND ITS DEVICE例文帳に追加

粉体摩耗、硬さ評価試験方法およびその装置 - 特許庁

CORE LIBRARY TEST PATTERN EDITOR AND METHOD OF DESIGNING LSI例文帳に追加

コアライブラリテストパターン編集装置およびＬＳＩ設計方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR AUTOMATING TEST OF IMAGE PROCESSING SYSTEM例文帳に追加

画像処理システムの試験を自動化するシステムおよび方法 - 特許庁

GENERATING METHOD AND DEVICE OF MENU SELECTABLE TEST PROGRAM TOOL例文帳に追加

メニュー選択型試験プログラムツールの生成方法及び装置 - 特許庁

DISPLAY METHOD OF SOIL CONSTITUTION BASED ON CONE PENETRATION TEST例文帳に追加

コーン貫入試験に基づく土質構成の表示方法 - 特許庁

AUXILIARY DEVICE AND METHOD FOR VISUAL TEST OF PRISM例文帳に追加

プリズム外観検査用補助具、及びプリズム外観検査方法 - 特許庁

TEST METHOD AND TESTING DEVICE OF RUBBER ELASTICITY CHARACTERISTIC MATERIAL例文帳に追加

ゴム弾性特性材料の試験方法および試験装置 - 特許庁

TESTING DEVICE AND METHOD OF CONTROLLING THE SAME, AND TEST SYSTEM例文帳に追加

試験装置およびその制御方法、ならびに試験システム - 特許庁

VISCOELASTICITY MEASURING DEVICE, AND TEST METHOD OF VISCO-ELASTIC BODY例文帳に追加

粘弾性計測装置および粘弾性体の試験方法 - 特許庁

FLOORING MADE OF FIBER AND TEST METHOD FOR ITS STATIC ELECTRICITY-PREVENTIVE FUNCTION例文帳に追加

繊維製床敷物及びその除電性能試験方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING MOTION SIMULATION OF TEST MODEL例文帳に追加

試験模型の移動シミュレーション試験方法及びその装置 - 特許庁

TEST METHOD FOR TESTER OF SEMICONDUCTOR MEMORY AND ITS DEVICE例文帳に追加

半導体メモリ装置のテスタのテスト方法及びその装置 - 特許庁

TUBULAR BODY SEALING DEVICE, AND AIRTIGHT TEST METHOD OF WELD PART例文帳に追加

管体封止装置及び溶接部の気密試験方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING TRANSMISSION WAVE FRONT ABERRATION OF TEST LENS例文帳に追加

被検レンズの透過波面収差測定方法及び装置 - 特許庁

TEST SIGNAL GENERATOR AND METHOD OF EVALUATING DISPLAY DEVICE例文帳に追加

テスト信号発生装置及び表示装置の評価方法 - 特許庁

METHOD OF DISPLAYING COMMUNICATION TEST RESULT AND COMMUNICATION TESTING DEVICE例文帳に追加

通信試験結果表示方法および通信試験装置 - 特許庁

TISSUE FUSION SYSTEM, AND METHOD OF PERFORMING FUNCTIONAL VERIFICATION TEST例文帳に追加

組織融合システムおよび機能検証試験の実施方法 - 特許庁

SETTING METHOD OF CORRECTION VALUE, AND TEST PATTERN FOR DENSITY CORRECTION例文帳に追加

補正値の設定方法、及び濃度補正用のテストパターン - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR ACQUIRING PROFILE DATA OF MACRO- GRATING TEST PATTERN例文帳に追加

マクロ格子テストパターンプロファイルデータ取得システムおよび方法 - 特許庁