「method of test」に関連した英語例文の一覧と使い方(20ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a multi-test kit for screening a disease of a cat in a household test form, and provide a method using it.例文帳に追加

家庭用試験形態の、ネコの病気をスクリーニングするためのマルチ試験キットおよび方法を提供する。 - 特許庁

MEASURING METHOD OF REDUCING SUBSTANCE, TEST PIECE FOR REDUCING SUBSTANCE MEASUREMENT AND TEST LIQUID FOR REDUCING SUBSTANCE MEASUREMENT例文帳に追加

還元性物質の測定方法、還元性物質測定用試験片及び還元性物質測定用試験液 - 特許庁

To provide a vibration test method capable of easily and precisely performing the vibration test corresponding to a real environment.例文帳に追加

実環境に合致した振動試験を容易に高精度で行うことができる振動試験方法を提供する。 - 特許庁

TEST CIRCUIT FOR HYSTERESIS VOLTAGE WIDTH MEASUREMENT AND MEASURING METHOD OF HYSTERESIS VOLTAGE WIDTH BY USING TEST CIRCUIT例文帳に追加

ヒステリシス電圧幅測定用のテスト回路およびそのテスト回路を用いたヒステリシス電圧幅の測定方法 - 特許庁

To provide a semiconductor testing method capable of simultaneously performing a function test and a power supply voltage test.例文帳に追加

ファンクションテストと電源電圧試験とを同時に行うことの可能な半導体装置方法を提供する。 - 特許庁

TEST SERVER FOR TECHNICAL STANDARD CONFORMANCE, SOFTWARE RADIO DEVICE, AND TECHNICAL STANDARD CONFORMANCE TEST METHOD OF THE SOFTWARE RADIO DEVICE例文帳に追加

技術基準適合試験サーバ、ソフトウェア無線機、およびソフトウェア無線機の技術基準適合試験の方法 - 特許庁

The test pattern generation method, test pattern generation system, and test pattern generation device generate the test pattern through the use of a failure simulation execution means for executing failure simulation, and a test pattern generation means for generating the test pattern.例文帳に追加

テストパターンの生成方法及びテストパターンの生成システム並びにテストパターン生成装置において、故障シミュレーションを実行する故障シミュレーション実行手段と、テストパターンを生成するテストパターン生成手段とを用いて、テストパターンを生成する。 - 特許庁

If you selected JUnit 3 as the version for your tests, the IDE can generate JUnit 3 test suitesbased on the test classes in the test package.In JUnit 3 you specify the test classes to include in the test suite by creating an instance of TestSuite and using the addTest method for each test.例文帳に追加

テストのバージョンとして JUnit 3 を選択した場合、IDE ではテストパッケージのテストクラスに基づいて JUnit 3 テストスイートが生成されます。 JUnit 3 では、TestSuite のインスタンスを作成し、各テストに対して addTest メソッドを使用することによって、テストスイートに含めるテストクラスを指定します。 - NetBeans

To provide a PT test supporting method which can perform unitary management of test data, can make data electronic without having errors and systematically, efficiently and easily prepares test data when preparing test data necessary to a PT test.例文帳に追加

ＰＴ試験で必要なテストデータの作成を行うに当り、テストデータの一元管理をし、データの電子化をしてミス無く、体系的・効率的にテストデータを簡易に作成することができるＰＴ試験支援方法の提供。 - 特許庁

To provide an observing method of test allowing an attester present in a place distant from a test field to observe a test on the spot without going to the test field.例文帳に追加

試験現場から離れた場所に居る立会者が試験現場に出向くことなく、その場に居ながら試験の立会いを行うことが可能な試験の立会い方法を提供する。 - 特許庁

To provide a pumping test method and a pumping test device capable of performing a pumping test at relatively inexpensive test cost, and highly accurately determining a hydraulic constant.例文帳に追加

高い精度で水理定数を求めることができると共に、比較的安価な試験コストで揚水試験を行なうことができる揚水試験方法と揚水試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test pattern generation method, a test pattern generation system, and a test pattern generation device capable of efficiently generating a test pattern which is used for testing a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路のテストに用いるテストパターンを効率よく生成可能としたテストパターンの生成方法及びテストパターンの生成システム並びにテストパターン生成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit and a test method for executing a plurality of different tests as one continuous test in a burn-in test.例文帳に追加

バーンインテストにおいて複数の異なるテストを１つの連続したテストとして実施することが可能なテスト回路及びテスト方法を提供することを提供することを目的とする。 - 特許庁

The test handler has a method of opening an insert which is arranged at the other part of area, by moving a test tray after opening the insert which is arranged at one part of area of the test tray.例文帳に追加

テストトレイの一部面積に配列されたインサートを開放した後、テストトレイを移動させて他の一部面積に配列されたインサートを開放する方式を有するテストハンドラーを提供する。 - 特許庁

To provide the test circuit of a semiconductor device capable of dispensing with a specific test terminal or a specific circuit and a manufacturing method for setting the mode of the test circuit of a mounted function core.例文帳に追加

搭載された機能コアのテスト回路のモード設定のために特別なテスト端子、もしくは特殊な回路や製造方法を必要としない半導体装置のテスト回路を提供する。 - 特許庁

To provide a method of preparing a test sample for a triaxial test wherein the test sample can be properly saturated with water without changing the particle size and a difference in a saturation rate of the test sample is not caused by a particle size difference of the test sample.例文帳に追加

粒度を変化させることなく供試体を水で確実に飽和させることができると共に、供試体の粒度差により供試体の飽和速度に差が生じることがない三軸試験用供試体を作製する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test method of semiconductor device which can enhance an efficiency of a tester.例文帳に追加

テスタの効率を向上させ得る半導体素子の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test method capable of exactly judging good or bad of a plasma display panel.例文帳に追加

プラズマディスプレイパネルの正確な良否判定ができる検査方法を提供する。 - 特許庁

CONSTRUCTION METHOD OF COMBINATORIAL SWITCHING MATRIX AND TEST SYSTEM OF SEMICONDUCTOR DEVICE THEREOF例文帳に追加

組合せ型スイッチングマトリクスの構築方法およびその半導体装置の試験システム - 特許庁

PATTERN SHAPE OF PRINTED CIRCUIT BOARD, AND INSULATION DETERIORATION TEST METHOD OF PRINTED CIRCUIT BOARD例文帳に追加

プリント配線板のパターン形状及びプリント配線板の絶縁劣化試験方法 - 特許庁

FOOD FOR EVALUATION TEST OF CHOLESTEROL RESPONSIVENESS AND EVALUATION METHOD OF CHOLESTEROL RESPONSIVENESS例文帳に追加

コレステロール応答性評価試験用食品及びコレステロール応答性の評価方法 - 特許庁

TESTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND TEST METHOD OF THE SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の試験装置および半導体集積回路の試験方法 - 特許庁

To provide a test facilitation design method of shortening the design period of an LSI.例文帳に追加

ＬＳＩの設計期間を短縮するテスト容易化設計方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test planning method capable of saving effort and time to plan a performing schedule of a test and capable of preventing planning errors.例文帳に追加

試験の実施日程の計画にかかる手間と時間の節約並びに計画ミスの防止が可能な試験計画方法を提供する。 - 特許庁

To provide a system for testing a semiconductor device, capable of reflecting a result of a sample test to another test, and to provide a method of testing.例文帳に追加

サンプルテストの結果を他のテストに反映させることができる半導体装置のテストシステムおよびテスト方法に関するものである。 - 特許庁

To provide a method for predicting the time of deterioration of a paint film occurring after a long-term weathering test from the result of a short-time weathering test.例文帳に追加

長期間の耐候性試験の後に起こる塗膜劣化の時期を、短時間の耐候性試験の結果から予測する方法の提供。 - 特許庁

BLEEDING TEST DEVICE AND BLEEDING TEST METHOD IN GROUT INJECTION CONSTRUCTION METHOD INCLUDING EVACUATION PROCESS INTO CABLE SHEATH OF PC STRUCTURE例文帳に追加

ＰＣ構造物のケーブルシース内への真空引き工程を含むグラウト注入工法におけるブリージングテスト装置、及びブリージングテスト方法。 - 特許庁

To provide a formation method of a dynamic test pattern, a diagnostic method of image quality base in which document processing system is automated, and a system of the diagnostic method.例文帳に追加

動的テストパターン生成方法、ドキュメント処理システムの自動化された画質ベースの診断方法、及びシステムを提供する。 - 特許庁

In the high-speed test method of ICs, a test device main body 1 produces a pattern for testing and inputs it to a socket substrate 3 connected to the test device main body through connector.例文帳に追加

試験装置本体で試験のためのパターンを生成して，試験装置本体とコネクタを介して接続されたソケット基板に入力する。 - 特許庁

To provide a test apparatus and a test method for discriminating between foreign substances and scars, capable of discriminating between minute foreign substances and scars without taking time in test work.例文帳に追加

検査作業に手間取ることなく微小な異物とキズ痕とを判別可能な異物とキズ痕との判別検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a leak test method for a gas supply inner pipe and a tool for leak test capable of efficiently conducting a leak test by shortening work time.例文帳に追加

作業時間の短縮を図って効率よく漏洩試験を行い得るガス供内管の漏洩試験方法および漏洩試験用工具を提供する。 - 特許庁

To provide a test method of a data processor capable of executing a determination test for quality of a plurality of modules in a relatively short time, in a test method of a data processor composed by mounting a plurality of modules having the same function.例文帳に追加

同一機能を有するモジュールが複数個搭載されたデータ処理装置の試験方法において、より短時間で該複数個のモジュールの良品、不良品の判定試験が実施可能なデータ処理装置の試験方法を得ること。 - 特許庁

To provide a test data generation device and method that enable generation of test data capable of controlling processing branching by arriving at and solving a constraint satisfaction problem.例文帳に追加

処理の分岐を制御できるようなテストデータを制約充足問題に帰着して解くテストデータの生成を可能にする。 - 特許庁

To provide a sequence test device and a sequence test method capable of easily specifying log information beyond the range of expectations.例文帳に追加

期待値範囲外のログ情報を容易に特定することができるシーケンス試験装置及びシーケンス試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device and semiconductor test a method capable of simultaneously and correctly inspecting a plurality of wafer dies.例文帳に追加

複数のウエハダイを同時に正確に検査することができる半導体試験装置及び半導体試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for performing an LBIST test capable of determining the origin of an error occurring during the test.例文帳に追加

テスト中に発生したエラーの根源を決定することが可能となるＬＢＩＳＴテストを行うための方法を提供する。 - 特許庁

To provide a design method for a scan test circuit allowing the inspection of a critical path of a semiconductor integrated circuit by a scan test.例文帳に追加

スキャンテストによって半導体集積回路のクリティカルパスの検査を可能にするスキャンテスト回路の設計方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and its test method capable of performing a test having high reliability, while keeping performance of a multichip module.例文帳に追加

マルチチップモジュールの性能を維持しつつ、信頼性の高い試験を可能にした半導体装置とテスト方法を提供する。 - 特許庁

The advantages of this equilibrium dialytic device are cost saving, efficiency enhancement, test easiness, flexibility of a test method and the like.例文帳に追加

この平衡透析装置の利点は、コストの低減、効率の向上、試験の容易さ、及び試験方法の柔軟性等である。 - 特許庁

To provide a test method and a test apparatus for a semiconductor device which test a high speed memory interface section at a low speed, dispenses with the mounting of a semiconductor memory device onto a test board and also dispenses with confirmation of operation of the semiconductor memory device itself thereby enabling the mounting area of the test board to be reduced.例文帳に追加

低速で高速メモリインタフェース部の試験ができ、半導体記憶装置のテストボード上への実装が不要で半導体記憶装置自体の動作確認が不要でテストボード実装面積の低減が可能な半導体装置のテスト方法、装置を提供する。 - 特許庁

To perform a stable test of a test object by a suction method, even when the whole test object is covered with a cover or a cover is divided into those for a large number of leaking spots, like cases where leaking spots of the test object are not clear, or the test object has a large number of leaking spots.例文帳に追加

検査対象物のどこから漏れか分らない場合や漏れ個所が多数ある場合のように、カバーで検査対象物全体を覆う場合やカバーを多数の漏れ個所に分ける場合でも、吸引法によって安定した検査を行える。 - 特許庁

COMPUTATIONAL METHOD FOR SUPPORT FORCE OF SPLICED PILE, LOADING TESTER FOR PILE. AND TEST METHOD FOR PERIPHERAL FACE FRICTION FORCE OF PILE例文帳に追加

継ぎ杭の支持力算定方法、杭の載荷試験装置、杭の周面摩擦力の試験方法 - 特許庁

ELECTROCHEMICAL DETECTION METHOD OF DETECTION SUBSTANCE, ELECTROCHEMICAL DETECTION METHOD OF TEST SUBSTANCE AND DETECTION SET例文帳に追加

検出物質の電気化学的検出方法、被検物質の電気化学的検出方法及び検出セット - 特許庁

METHOD OF PERFORMING FUNCTIONAL TEST OF POSITION MEASURING DEVICE, AND POSITION MEASURING DEVICE FOR PERFORMING THIS METHOD例文帳に追加

位置測定装置の機能テストを実施する方法およびこの方法を実施するための位置測定装置 - 特許庁

To provide a test pattern producing apparatus, a circuit design apparatus, a test pattern producing method, a circuit design method, a test pattern producing program, and a circuit design program, for reducing the processing time in test pattern production and the amount of memory used.例文帳に追加

テストパターン生成時の処理時間や使用メモリ量の削減を図るテストパターン生成装置、回路設計装置、テストパターン生成方法、回路設計方法、テストパターン生成プログラム、回路設計プログラムを提供する。 - 特許庁