「method of test」に関連した英語例文の一覧と使い方(22ページ目) - Weblio英語例文検索

TEST DEVICE OF SEMICONDUCTOR WAFER, TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR WAFER, AND PROBE CARD FOR SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体ウェハのテスト装置、半導体ウェハのテスト方法及び半導体ウェハ用プローブカード - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, TEST SUBSTRATE, TESTING SYSTEM OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置、テスト基板、半導体装置のテストシステム及び半導体装置のテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND METHOD OF GATE SCREENING TEST OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路および半導体集積回路に対するゲートスクリーニング試験の方法 - 特許庁

CALCULATION METHOD FOR ALLOWABLE STRESS AND SETTLEMENT OF IMPROVED GROUND MAKING USE OF SOUNDING TEST例文帳に追加

サウンディング試験を用いた改良地盤の許容応力度と沈下量の算定法 - 特許庁

EVALUATION METHOD FOR BIOLOGICAL EFFECT OF TEST MATERIAL USING GENE EXPRESSION OF ASCIDIAN AS INDEX例文帳に追加

ホヤの遺伝子発現を指標とした被検物質の生物学的影響の評価法 - 特許庁

The logic verification method is provided with: a means of determining whether the output of a functional block test is an input to another functional block test; and a means of making the output be the input to the other functional block test.例文帳に追加

機能ブロックテストの出力が他の機能ブロックテストの入力となるかどうかを判定する手段と、出力を他の機能ブロックテストの入力とする手段を設ける。 - 特許庁

To provide a test circuit capable of performing a DC test with a smaller number of pins, while suppressing the area of a test circuit which a semiconductor device has within to be small, and to provide a method for testing.例文帳に追加

半導体装置に内蔵されたテスト回路の回路面積を抑えながら直流試験を少ないピン数で行うことができるテスト回路及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method or the like capable of shortening the execution time and starting time of a test more when a multi-processor system performs a test of a main memory more than when one processor performs the test.例文帳に追加

マルチ・プロセッサ・システムでメイン・メモリのテストを行う場合に、１つのプロセッサが行う場合に比べてテストの実行時間や起動時間を短縮可能な方法等を提供する。 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR SINGLET-OXYGEN GENERATION QUANTUM EFFICIENCY AND TEST METHOD FOR LIGHT STABILITY OF COMPOUND例文帳に追加

一重項酸素発生量子効率の測定方法および化合物の耐光性試験方法 - 特許庁

TEST METHOD FOR DETECTING DEFECT ON MAGNETIC DISK, AND MANUFACTURING METHOD OF MAGNETIC DISK DRIVE DEVICE例文帳に追加

磁気ディスク上の欠陥検出のためのテスト方法及び磁気ディスク・ドライブ装置の製造方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE, AND CONTROL METHOD AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加

半導体記憶装置、半導体記憶装置の制御方法及び半導体記憶装置の試験方法 - 特許庁

TEST-WRITE-IN METHOD FOR CELL ARRAY OF SEMICONDUCTOR MEMORY, AND CIRCUIT PERFORMING THE METHOD例文帳に追加

半導体メモリーのセルアレイへの試験的書き込み方法およびその方法を実行する回路 - 特許庁

To provide an endurance test apparatus for a golf club head to automatically carry out an endurance test with requiring by an observer to always stays at a test site for visual examination and without stop of the test device, provide a method for the endurance test for the golf club head, and provide an endurance test program for the golf club head.例文帳に追加

常時観察者が付いて目視観察することがなく、さらに装置を停止することなく自動的に耐久試験を行うゴルフクラブヘッド耐久試験装置、ゴルフクラブヘッド耐久試験方法およびゴルフクラブヘッド耐久試験プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a different type inclusion test method and a test device having high detection capability of a different type inclusion.例文帳に追加

異品種の混入に対して高い検知力をもつ異品種混入検査方法及び検査装置を提供する。 - 特許庁

To enhance the selectivity of a specific component in a test solution while speeding up an elution test due to an ultraviolet absorbing method.例文帳に追加

試験液中の特定成分の選択性を高め、紫外線吸収法による溶出試験の迅速化を図る。 - 特許庁

To reduce the scale of a circuit to be added for a test by reducing a test series length in a strong possibility inspection DFT method.例文帳に追加

強可検査ＤＦＴ法において、テスト系列長を短縮し、テストのために付加される回路の規模を削減する。 - 特許庁

TEST PATTERN HARDLY-PERCEPTIBLE TO HUMAN OBSERVATION, AND METHOD FOR ANALYZING IMAGE DATA CORRESPONDING TO TEST PATTERN OF INKJET PRINTER例文帳に追加

人間観察に知覚されにくいテストパターン、およびインクジェットプリンタのテストパターンに対応する画像データの分析方法 - 特許庁

To provide a method and a system of loop back test by which a loop back test is executed between devices in a LAN (local area network).例文帳に追加

ＬＡＮ内の装置間でループバックテストを実行することができるループバックテスト方法及びループバックテストシステムを提供する。 - 特許庁

To provide an electrochemical detection method for a test substance, capable of detecting the test substance with high detection sensitivity.例文帳に追加

高い検出感度で被検物質を検出することができる被検物質の電気化学的検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for evaluating a test substance capable of evaluating the effect that an orally ingested test substance has on a nematode.例文帳に追加

経口摂取した被検物質が線虫に与える影響を評価できる被検物質評価方法を提供する。 - 特許庁

MULTI PROBE CARD UNIT, PROBE TEST DEVICE INCLUDING THE SAME, THEIR MANUFACTURING METHODS, AND METHOD OF USING PROBE TEST DEVICE例文帳に追加

マルチプローブカードユニット、それを備えたプローブ検査装置、それらの製造方法、及びプローブ検査装置を利用する方法 - 特許庁

To provide a semiconductor memory having a test mode in which defect of a boosting circuit system can be specified and its test method.例文帳に追加

昇圧回路系の不良特定を可能としたテストモードを有する半導体メモリ及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide an immunoassay reagent, a method and a test kit, each for specific quantification and of vancomycin in a test sample.例文帳に追加

供試試料中のバンコマイシンの特異的定量化のための免疫検定試薬、方法および試験キットを開示する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR IMPLEMENTING AT LEAST ONE OF TEST OF, DIAGNOSIS, AND OBSERVATION OF OPERATION OF ELECTRONIC CIRCUIT例文帳に追加

電子回路の動作の試験、診断および観測の少なくとも１つを行う方法および装置 - 特許庁

To provide an ultrahigh temperature thermal expansion testing device capable of simultaneously measuring a thermal expansion test by a contact method using a bar-shaped test piece and a thermal expansion test by a non-contact method.例文帳に追加

棒状試験片を用いた接触法による熱膨張試験と非接触法による熱膨張試験とを同時に計測できる超高温熱膨張試験装置を提供する。 - 特許庁

In an ozone exposure test method and an ozone exposure test apparatus, the humidity in a test tank during the ozone exposure test of a material to be measured is adjusted to a range of ±2%RH with respect to predetermined humidity to perform an ozone exposure test.例文帳に追加

被測定試料のオゾン暴露試験を行なう間の試験槽内の湿度を所定の湿度に対して±２％ＲＨの範囲内で調整してオゾン暴露試験を行なうことを特徴とするオゾン暴露試験方法、並びにオゾン暴露装置。 - 特許庁

To provide a thermal shock test device, a thermal shock test method, and a method of inspecting a semiconductor wafer, wherein a productivity and an authenticity of a thermal shock test can be simultaneously enhanced.例文帳に追加

冷熱衝撃試験の生産性及び信憑性を同時に向上することができる冷熱衝撃試験装置、冷熱衝撃試験方法及び半導体ウェハの検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test method for controlling the operation state of an activated sludge method and a biological denitrification method.例文帳に追加

活性汚泥法及び生物学的脱窒素法の運転状況を管理する試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test method and a test device of terminal fittings wherein acceptability of mounting situation of terminal fittings on an insulator can be judged accurately.例文帳に追加

端子金具の絶縁体への取付状況の良否を正確に判定できる端子金具の検査方法及び検査装置を提供する。 - 特許庁

To solve problems of a method for printing the test pattern of a printing image on the end of a continuous paper that the test pattern print area is limited, and the resulting information is little.例文帳に追加

連続紙の端部に印刷画像のテストパターンを印刷する方法では、テストパターン印刷領域が限られ、得られる情報が少ない。 - 特許庁

To provide test progress management method and system by which the change of the transition relation of test items is suppressed to absolute minimum even in the case that the test items are changed during a test and a person easily performs the operations of increasing/decreasing the test items and changing a performance order or the like.例文帳に追加

テスト中にテスト項目の変更が発生した場合でも、テスト項目の遷移関係の変更を最小限に抑え、かつ、人がテスト項目の増減や実施順序の変更などの操作を行いやすいテスト進捗管理方法及びシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a test specification preparation support device and a test specification preparation method, allowing storage/reuse of a test policy to efficiently prepare test specifications by a unified procedure, to provide a test specification preparation program making a computer execute the method, and to provide a construction method for a database used for the method.例文帳に追加

テスト方針の蓄積・再利用を可能にして統一した手順でテスト仕様書を効率的に作成し得るテスト仕様作成支援装置、テスト仕様作成方法、この方法をコンピュータに実行させるテスト仕様作成プログラムおよびこの方法に用いるデータベースの構築方法を提供すること。 - 特許庁

The screening method for a test article includes culture of a highly hydrogen-producing bacterium in the presence of the test article and determination of the variation of hydrogen production of the bacterium, thereby determining biotoxicity of the test article.例文帳に追加

被験物の存在下に高度水素生産菌を培養し、該菌の水素生成量の変化を測定することによって、被験物の生物毒性を判定することを特徴とする被験物のスクリーニング方法。 - 特許庁

To provide a friction test device and a friction test method advantageous for improving friction test accuracy, capable of forming a frozen surface similar to a frozen surface of an ordinary road or a test course which has been changed into a frozen road.例文帳に追加

アイスバーンとなった一般道やテストコースの氷結表面に近似した氷結表面を形成でき、摩擦試験精度の向上を図る上で有利な摩擦試験装置及び摩擦試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a sequence test apparatus and a sequence test method capable of allowing a user to easily identify the latencies of terminals to be tested.例文帳に追加

被試験端末のレイテンシをユーザに容易に識別させることができるシーケンス試験装置及びシーケンス試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test tool and a test method for efficiently testing basic software corresponding to the difference of the specifications of hardware.例文帳に追加

ハードウェアの仕様の違いに対応した基本ソフトウェアを効率的にテストする、テストツール及びテスト方法を提供することができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, a test method, and a program capable of performing a test within a short period of time.例文帳に追加

本発明は、短い時間でテストを行うことが出来る半導体装置、試験方法及びプログラムを提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a tire abrasion test method capable of setting easily and properly a travel mode to test precisely abrasion of a tire.例文帳に追加

走行モードを簡易且つ適切に設定して、タイヤ摩耗を精度良く試験することができるタイヤ摩耗試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a simple inspecting method of an organic thin film capable of enlarging a test area and conducting a test speedily; and to provide a device for the inspection.例文帳に追加

検査面積の大型化が可能で、検査速度の速い簡便な有機薄膜の検査方法及びその装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a test configuration capable of rapidly and perfectly executing a test of a tire; its device; and its method.例文帳に追加

タイヤの試験を素早くかつ完全に実施可能にする、タイヤを試験するための試験配置並びに装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device and its test method improving reliability of the operation test while suppressing the increase of a chip size.例文帳に追加

チップサイズの増加を抑制しつつ動作テストの信頼性を向上出来る半導体記憶装置及びそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATION METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TEST PATTERN GENERATOR OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, CONTROL PROGRAM, READABLE RECORDING MEDIUM例文帳に追加

半導体集積回路のテストパターン生成方法および半導体集積回路のテストパターン生成装置、制御プログラム、可読記録媒体 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM AND METHOD OF REMOVING OXIDE FILM ON SURFACE OF SEMICONDUCTOR ELECTRODE PAD TO BE INSPECTED IN SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM例文帳に追加

半導体テストシステムおよび半導体テストシステムにおける検査対象となる半導の電極パッド表面の酸化被膜除去方法 - 特許庁

To provide a method for an external appearance test of a semiconductor chip and a probing test in a state of a wafer.例文帳に追加

ウエハの状態で半導体チップの外観検査とプロービングテストを行う方法において、外観検査が適切に行われるようにする。 - 特許庁

A test method has plural test flows corresponding to an estimated result of a process in a post-process test after assembly of a semiconductor memory, and a test flow is selected in accordance with an estimated result of a process measured by an estimation pattern at the time of a post-process test.例文帳に追加

検査方法は、半導体記憶装置の組立後の後工程検査において、プロセスの出来ばえ評価結果に対応する複数の検査フローを有し、後工程検査時に評価パターンにて測定したプロセスの出来映え評価結果に応じて検査フローを選択している。 - 特許庁