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method of testの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 4450件
To provide a method of processing a test current for measuring an analyte in a fluid by using a test strip and a test meter.例文帳に追加
テストストリップと、検査計測器とを使用して、液体の中の分析物の測定のために検査電流を処理する方法を提供すること。 - 特許庁
In this method (100) for assigning the test number, present test flow context information 300 is maintained during execution of a test flow 200 (102).例文帳に追加
テスト番号を割り当てる方法(100)において、テストフロー200の実行中、現在のテストフローコンテキスト情報300を維持する(102)。 - 特許庁
To improve the reliability of electrical test in a semiconductor integrated circuit, a manufacturing method of a semiconductor device, and a test method of the semiconductor device.例文帳に追加
半導体集積回路、半導体装置の製造方法、及び半導体装置の試験方法において、電気的な試験の信頼性を高めること。 - 特許庁
METHOD OF PREPARING ELECTROLYTIC CORROSION TEST SAMPLE FROM DEFECT GENERATING BASE MATERIAL OF THROUGH HOLE SECTION OF PRINTED BOARD例文帳に追加
プリント板のスルーホール部基材欠陥発生品の電食試験サンプル作製方法 - 特許庁
To provide a method and device for testing semiconductor capable of reducing the test pattern storage media cost and the communication cost in the transmission of a test pattern and shortening the time of a test pattern.例文帳に追加
テストパターン記憶メディアコストおよびテストパターン伝送時の通信コストの軽減、テストパターンの時間短縮を図ることができる半導体試験方法および装置を得る。 - 特許庁
To provide a determination method of a test object, capable of measuring simply and accurately the concentration of the test object in a test sample having a coexisting interfering material.例文帳に追加
妨害物質が共存する被検試料中の被検物質の濃度を簡便、かつ正確に測定することができる被検物質の定量方法を提供すること。 - 特許庁
CORROSION ACCELERATION TEST METHOD AND CORROSION AMOUNT PREDICTION METHOD OF ORGANIC COATING STEEL MATERIAL FOR CIVIL ENGINEERING例文帳に追加
土木用有機被覆鋼材の腐食促進試験方法および腐食量予測方法 - 特許庁
METHOD OF ALIGNING WAFER AND PROBE NEEDLE WITH EACH OTHER AND METHOD AND DEVICE FOR PROBE TEST例文帳に追加
ウエーハとプローブ針との位置合わせ方法、プローブ検査方法及びプローブ検査装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE, MONITORING METHOD FOR VOLTAGE OF INTERNAL POWER SOURCE LINE, AND METHOD FOR DISCRIMINATING TEST MODE例文帳に追加
半導体装置、内部電源線の電圧のモニタ方法および試験モードの判別方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR GENERATING TEST PATTERN AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
テストパターン発生方法、テストパターン発生装置及び半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁
IMPACT TEST METHOD, IMPACT TESTING DEVICE AND RELIABILITY EVALUATION METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
衝撃試験方法、衝撃試験装置および半導体装置の信頼性評価方法 - 特許庁
STANDARD TEST PIECE FOR ANTIGENECITY STUDY, ITS MANUFACTURING METHOD, AND METHOD OF ANTIGENECITY STUDY例文帳に追加
抗菌性試験用標準試験片、その製造方法、及び抗菌性試験方法 - 特許庁
TEST METHOD FOR DETERMINING OIL SEPARABILITY OF LUBRICATING GREASE, AND TESTING DEVICE FOR EXECUTING METHOD例文帳に追加
潤滑グリースの油分離性を求める試験方法及びこれを実施する試験装置 - 特許庁
To provide an inter-station test performance method and system applied to ring network system, capable of reducing the test time of an inter-station test and continuing the present operating state of all the stations at the execution of the inter-station test.例文帳に追加
局間テストのテスト時間の短縮を可能とし、また局間テスト実行時に全局の現状運転状態を継続可能とするリング状ネットワークシステムにおける局間テスト実施方法及びシステムを得ること。 - 特許庁
METHOD FOR SYNTHESIZING FULL APERTURE NUMERICAL DATA MAP OF OBJECT TEST SURFACE例文帳に追加
物体試験表面の完全アパーチャ数値データマップを合成する方法 - 特許庁
IMAGE PROCESSING UNIT, METHOD OF GENERATING CHART, TEST CHART, AND CHART GENERATION PROGRAM例文帳に追加
画像処理装置、チャート生成方法、テストチャート及びチャート生成プログラム - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR ATMOSPHERIC CORROSION TEST OF METAL MATERIAL FOR HOME ELECTRICAL APPLIANCE例文帳に追加
家電用金属材料の大気腐食試験方法およびその装置 - 特許庁
DETERMINATION METHOD AND DETERMINING DEVICE FOR STRAIN AND TENSILE FORCE OF TEST PIECE例文帳に追加
テストピ—スのひずみおよび引張力決定方法ならびに決定装置 - 特許庁
WHEEL OF TEST VEHICLE, EXPERIMENTAL DEVICE AND AERODYNAMIC CHARACTERISTIC DETECTION METHOD例文帳に追加
テスト車両の車輪、実験装置及び空力特性検出方法 - 特許庁
To provide an acceleration test method for a life time evaluation of a fuel cell.例文帳に追加
燃料電池の寿命評価用の加速テスト方法を提供する。 - 特許庁
IN-SERVICE TESTING METHOD AND DETERMINATION DEVICE FOR DETERMINING EXISTENCE/ABSENCE OF TEST LIGHT CUTOFF FILTER例文帳に追加
インサービス試験方法および試験光遮断フィルタ有無判定装置 - 特許庁
ABNORMALITY DETECTING METHOD OF TEST WATER PASSAGE IN CONTINUOUS ORGANIC POLLUTION MONITOR例文帳に追加
連続式有機汚濁モニタにおける検水流路の異常検知方法 - 特許庁
PRINT CONTROLLER, PROGRAM, AND TEST PRINTING METHOD OF PRINT CONTROLLER例文帳に追加
印刷制御装置、プログラム、および印刷制御装置のテスト印刷方法 - 特許庁
TEST PIECE FOR SENSITIVITY CALIBRATION OF ULTRASONIC TESTING, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
超音波探傷試験の感度校正用試験片とその製造方法 - 特許庁
TEST METHOD FOR COLOR FILTER SUBSTRATE, TEST DEVICE FOR PICTURE ELEMENT OF COLOR FILTER SUBSTRATE, MANUFACTURING METHOD OF COLOR FILTER SUBSTRATE AND DISPLAY DEVICE WITH COLOR FILTER SUBSTRATE例文帳に追加
カラーフィルタ基板の検査方法、カラーフィルタ基板の絵素の検査装置、カラーフィルタ基板の製造方法及びカラーフィルタ基板を備えた表示装置 - 特許庁
ALTERNATIVE TEST METHOD FOR EFFECT OF ENVIRONMENTAL POLLUTANT ON BONE例文帳に追加
環境汚染物質の骨に及ぼす影響に関する代替試験方法 - 特許庁
MATERIAL TESTING MACHINE AND METHOD FOR MEASURING TEST PIECE WIDTH OF MATERIAL TESTING MACHINE例文帳に追加
材料試験機および材料試験機の試験片の幅測定方法 - 特許庁
SIMULATED WIRING PATTERN AND EVALUATION TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR ELEMENT USING THE SAME例文帳に追加
模擬配線パターンとこれを用いた半導体素子の評価試験方法 - 特許庁
TEST STRUCTURE FOR EVALUATING INSULATION FILM, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
絶縁膜評価用テスト構造及び、半導体装置の製造方法 - 特許庁
(iv) Division of the Testing Method for which the test shall be conducted in the testing laboratory accredited 例文帳に追加
四 登録を受けた試験所において行う試験方法の区分 - 日本法令外国語訳データベースシステム
CONCEALMENT TEST PAPER AND COLOR TONE CONFIRMING METHOD OF REPAIRING COLOR COATING例文帳に追加
隠蔽試験紙及び補修用着色塗料の色調確認方法 - 特許庁
CHROMATOGRAPHIC INSPECTION APPARATUS AND METHOD FOR DETERMINING DEGRADATION OF CHROMATOGRAPHIC TEST PIECE例文帳に追加
クロマトグラフィー検査装置およびクロマトグラフィー試験片の劣化判定方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR WRITING DATA IN MEMORY OF INTEGRATED CIRCUIT TEST APPARATUS例文帳に追加
集積回路試験装置のメモリにおけるデータ書込方法及び装置 - 特許庁
To provide an air leak test method capable of performing highly accurate tests in a short time.例文帳に追加
短時間で高精度に行えるエアリークテスト方法を提供する。 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR DIELECTRIC BREAKDOWN TEST OF COATED WIRE例文帳に追加
被膜付電線の絶縁破壊試験装置及び絶縁破壊試験方法 - 特許庁
METHOD FOR CREATING HARDENED LAYER OF RAIL IN RAIL TEST SPECIMEN, AND APPARATUS THEREFOR例文帳に追加
レール試験片におけるレール硬化層の作成方法及びその装置 - 特許庁
METHOD FOR SPECIFIC DETECTION OF OBJECT, DETECTION APPARATUS, AND TEST CHIP例文帳に追加
被検物質の特異的検出方法および装置、ならびに検査チップ - 特許庁
ADJUSTMENT METHOD FOR STROBE TIMING, AND FUNCTION TEST DEVICE OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
ストローブタイミングの調整方法及び半導体装置のファンクションテスト装置 - 特許庁
POLISHING TOOL OF CONTACT PIN FOR ELECTRIC CHARACTERISTIC TEST OF SEMICONDUCTOR IC, METHOD FOR MANUFACTURING THE POLISHING TOOL, AND ELECTRIC CHARACTERISTIC TEST METHOD USING THE POLISHING TOOL例文帳に追加
半導体ICの電気特性試験用コンタクトピンの研磨治具、研磨治具の製造方法および研磨治具を用いた電気特性試験方法 - 特許庁
METHOD FOR EVALUATING DEMETHYLATION ACTIVITY AGAINST DNA OF TEST SPECIMEN例文帳に追加
被検物質のDNAに対する脱メチル化作用を評価する方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR IC AND METHOD OF AUTOMATIC INSERTING TEST FACILITATING CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路及びテスト容易化回路の自動挿入方法 - 特許庁
MEMORY TEST SYSTEM/METHOD AT THE TIME OF STARTING SYSTEM BY CONTROL FIRMWARE例文帳に追加
制御ファームウェアによるシステム立ち上げ時のメモリ試験システム及び方法 - 特許庁
ELECTRIC CIRCUIT HAVING CIRCUIT COMPONENT AND TEST METHOD OF CIRCUIT COMPONENT例文帳に追加
回路コンポーネントを有する電気回路、および回路コンポーネントのテスト方法 - 特許庁
SIGNAL PROCESSING CIRCUIT, ELECTRONIC DEVICE, AND TEST METHOD OF SIGNAL PROCESSING CIRCUIT例文帳に追加
信号処理回路、電子装置、および信号処理回路の試験方法 - 特許庁
TACKINESS TESTING DEVICE FOR PREPREG AND TACKINESS TEST METHOD OF PREPREG例文帳に追加
プリプレグの粘着性試験装置およびプリプレグの粘着性試験方法 - 特許庁
GAS SUPPLY FACILITY FOR AIRTIGHT TEST AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
気密試験用ガス供給設備及び半導体装置の製造方法 - 特許庁
METHOD AND SYSTEM FOR RECOVERING DYESTUFF FOR NONDESTRUCTIVE TEST OF CERAMICS例文帳に追加
セラミックス非破壊検査用染料回収方法及びその回収システム - 特許庁
METHOD AND SYSTEM FOR DERIVATION OF MISSING DATA OBJECTS FROM TEST DATA例文帳に追加
テストデータから欠落データオブジェクトを導出するための方法およびシステム - 特許庁
String giving the prefix of method names which will be interpreted as test methods.例文帳に追加
テストメソッドの名前と判断されるメソッド名の接頭語を示す文字列。 - Python
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| ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。 |
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| この対訳コーパスは独立行政法人情報通信研究機構の研究成果であり、Creative Commons Attribution-Share Alike 3.0 Unportedでライセンスされています。 |
| Copyright 2001-2004 Python Software Foundation.All rights reserved. Copyright 2000 BeOpen.com.All rights reserved. Copyright 1995-2000 Corporation for National Research Initiatives.All rights reserved. Copyright 1991-1995 Stichting Mathematisch Centrum.All rights reserved. |
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