「method of test」に関連した英語例文の一覧と使い方(18ページ目) - Weblio英語例文検索

SEPARATION MEMBRANE MODULE AND ITS PRODUCTION METHOD, AND AIRTIGHT TEST METHOD OF SEPARATION MEMBRANE MODULE例文帳に追加

分離膜モジュールとその製造方法並びに分離膜モジュールの気密検査方法 - 特許庁

Out of one or a plurality of test case candidates generated by a conventional method and one or a plurality of test case candidates selected from the set of input test cases, test cases having the highest score are added to the set of output test cases (716).例文帳に追加

従来手法によって生成されたひとつ又は複数のテストケース候補と、入力テスト・ケースの集合から選択されたひとつまたは複数のテストケース候補のうち、最もスコアが高いものを出力テスト・ケースの集合に追加する（７１６）。 - 特許庁

To provide a test support device, a test device, a test support method and a computer program which can appropriately select a test node for obtaining a snapshot so that a test can be completed in the minimum time along all of test scenarios.例文帳に追加

全てのテストシナリオに沿ってテストを最小時間で完了させることができるよう、スナップショットを取得するテストノードを適切に選択することができるテスト支援装置、テスト装置、テスト支援方法及びコンピュータプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a test pattern generation managing system for easy storing and managing of the test pattern of a semiconductor memory, and to provide a test pattern generation management method for the semiconductor memory.例文帳に追加

半導体メモリのテストパターンの保存及び管理が容易なテストパターン生成管理システムおよび半導体メモリのテストパターン生成管理方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scan test device of which the number of input terminals for inputting test data can be reduced without increasing a circuit scale, and to provide a scan test method.例文帳に追加

回路規模が増大することなく、テストデータを入力する入力端子の個数を削減できるスキャンテスト装置及びスキャンテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a test support system, a test support method, and a program capable of easily generating a test satisfying requirements of a software structure coverage analysis.例文帳に追加

ソフトウェア構造カバレッジ分析の要件を満たすテストを容易に生成することができるテスト支援システム、テスト支援方法、及びプログラムを提供すること - 特許庁

To provide test data for allowing anyone to adequately judge good or bad of a processed result in an RIP (Raster Image Processor), a test print material, and a method of forming the test print material.例文帳に追加

誰でもがＲＩＰにおける処理結果の良否を正しく判断できるようにするためのテストデータ、テスト印刷物と、その作成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method, device and program for creating the test scenario, capable of effectively obtaining the test scenario meeting to the test object of high level importance.例文帳に追加

テスト目的に即した重要度の高いテストシナリオを効率的に得ることができるテストシナリオ作成方法、テストシナリオ作成装置およびプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a method for estimating a test process period in software development capable of accurately calculating a test process period based on the information of the number of finished test items and the number of discovered errors until a cretin point of time in a test process.例文帳に追加

試験工程のある時点までの消化試験項目数と発見エラー数の情報に基づいて試験工程期間を適確に算出し得るソフトウェア開発における試験工程期間見積り方法を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR PREVENTING ADHESION OF RESIST TO BACKSIDE OF TEST SAMPLE AND CHUCKING DEVICE OF SAMPLE USED FOR SAME METHOD例文帳に追加

試料裏面に対するレジストの付着防止方法及び同方法に使用する試料のチャック装置 - 特許庁

METHOD OF GENERATING DELAY TROUBLE TEST PATTERN FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND METHOD OF INSPECTING DELAY TROUBLE THEREFOR例文帳に追加

半導体集積回路の遅延故障テストパターン生成方法および遅延故障検査方法 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING COMPONENT INCLUDING HEAD ELEMENT PART, ITS TEST DEVICE, AND METHOD OF MANUFACTURING ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加

ヘッド素子部を備える部品の製造方法、そのテスト装置及び電子機器の製造方法 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR INSULATING OIL, TEST METHOD OF INSULATING OIL, AND MAINTENANCE CONTROL METHOD OF TRANSFORMER例文帳に追加

絶縁油の試験装置及び絶縁油の試験方法ならびに変圧器の保守管理方法 - 特許庁

TEST METHOD OF LOAD CONNECTION OF SERVER AND RECORD MEDIUM RECORDING PROGRAM USING FOR THE METHOD例文帳に追加

サーバの接続負荷テスト方法及びこの方法に使用されるプログラムを記憶した記憶媒体 - 特許庁

To provide a pattern generation circuit of a BIST(build in self test) circuit capable of generating a prescribed test pattern in a small area by reducing the number of test pattern generation circuits, and a test pattern generation method for the BIST circuit.例文帳に追加

テストパターン発生回路の数を減じることにより、小面積で所定のテストパターンを発生することができるＢＩＳＴ回路のパターン発生回路及び発生方法を提供する。 - 特許庁

To provide a nobel and improved device test system, setting state display device and setting state display method capable of improving the test efficiency by a user who is grasping the test terminal number and the name of the terminal and simultaneously grasping the attribute information of the test terminal visually and sensuously.例文帳に追加

ユーザが、テスト端子番号やテスト端子名と同時に、そのテスト端子の属性情報を視覚的かつ感覚的に把握し、作業効率を向上させることが可能となる。 - 特許庁

In the test method, a number of test machines are accumulated in a test environment of optical transceivers, and an user uses the test system for optical transceivers to enable quick and simultaneous measurement of many products, resulting in enhancing productive efficiency.例文帳に追加

多数のテストマシンを光トランシーバのテスト環境に集積し、ユーザが光トランシーバ用テストシステムを使用して多数の製品の迅速且つ同時測定を可能にして生産効率を改善する。 - 特許庁

The test handler provides the test handler, having a method opening an insert which is arranged at the other part of area, by making a test tray moved after opening the insert which is arranged at one part of area of the test tray.例文帳に追加

テストトレイの一部面積に配列されたインサートを開放した後、テストトレイを移動させて他の一部面積に配列されたインサートを開放する方式を有するテストハンドラーを提供する。 - 特許庁

To provide a test method of a short-circuited pixel of an organic EL panel capable of easily and simply test the short-circuited pixel.例文帳に追加

短絡画素を簡単かつ容易に検査することができる有機ＥＬ表示パネルの短絡画素検査方法を提供する。 - 特許庁

To reduce the cost of a substitute power supply device for a secondary battery to test on-vehicle motors, and of the control method of a secondary battery substitution test.例文帳に追加

車載モータを試験する二次電池代替電源装置及び二次電池代替試験制御方法に関し、コストダウンを図る。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WITH BUILT-IN TEST FUNCTION, STORAGE MEDIUM FOR STORING ELECTRONIC DESIGN DATA COMPRISING TEST CODE GENERATION PROGRAM, TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TEST CODE GENERATION AUTOMATIZING METHOD AND ITS PROGRAM例文帳に追加

組込みテスト機能付き半導体集積回路、テストコード生成プログラムから成る電子設計データを保存する記憶媒体、該半導体集積回路のテスト方法、テストコード生成自動化方法及びそのプログラム - 特許庁

To obtain a method of storing a test result, a method of displaying a test result, and a test result display device, capable of facilitating verifying whether reliability of a designed semiconductor integrated circuit with time can be guaranteed.例文帳に追加

設計した半導体集積回路の経時的な信頼性を保証できるか否かを容易に検証できる試験結果記憶方法、試験結果表示方法、及び試験結果表示装置を得る。 - 特許庁

To provide a current applying test method of a power cable hardly influenced by a change of the outside air temperature, capable of performing a current applying test excellently, and to provide a current applying test system of the power cable utilized for execution of the test method.例文帳に追加

外気温の変化に伴う影響を受け難く、良好に課通電試験を行うことができる電力ケーブルの課通電試験方法、及びこの試験方法の実施に利用される電力ケーブルの課通電試験システムを提供する。 - 特許庁

The test factor classification table generating part 12 analyzes design information of a class of software designed by object orientation and generates a test factor that affects the operation of a method of a test object and a model of a test factor classification table that enumerates conditions of the test factor.例文帳に追加

テスト因子分類表生成部１２は、オブジェクト指向により設計されたソフトウェアのクラスの設計情報を解析して、テスト対象のメソッドの動作に影響するテスト因子とその条件を列挙したテスト因子分類表の雛型を生成する。 - 特許庁

The method body of each generated test is provided solely as a guide and needs to be modified to be an actual test case.You can deselect Default Method Bodies in the Create Tests dialog if you do not want the code generated for you.例文帳に追加

コードを生成しない場合は、「テストを作成」ダイアログの「デフォルトのメソッド本体」を選択解除します。 - NetBeans

SEMICONDUCTOR TESTER, SEMICONDUCTOR DEVICE TEST CONTACT SUBSTRATE, TEST METHOD OF THE SEMICONDUCTOR DEVICE, THE SEMICONDUCTOR DEVICE, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

半導体試験装置、半導体装置試験用コンタクト基板、半導体装置の試験方法、半導体装置及びその製造方法 - 特許庁

To provide a test sequence determination method capable of preventing a throughput of a test from getting low caused by fluctuation of a fraction defective in test items in every production lot, as to test sequence determination for a device, saying in detail, when a test for the device such as a semiconductor and a magnetic head comprises the plurality of test items.例文帳に追加

デバイスの試験順序決定に関し、より詳細には半導体や磁気ヘッドなどのデバイスの試験が複数の試験項目からなる場合に、製造ロット毎の試験項目に対する不良率変動に起因する試験のスループット低下を防ぐための試験順序最適化に関する。 - 特許庁

To provide a function test method of an electronic control device for a vehicle capable of shortening a time required for a function test.例文帳に追加

機能検査に要する時間を短縮可能な車両用電子制御装置の機能検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit test device and method, capable of improving the efficiency of a test.例文帳に追加

試験の効率を極力向上させることができる半導体集積回路試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a nonvolatile semiconductor memory device capable of shortening the test period, and to provide a test method of the same.例文帳に追加

試験時間を短縮することが可能な不揮発性半導体記憶装置及びその試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor wafer capable of more easily performing alignment with a test apparatus than conventional, and to provide a test method of the same.例文帳に追加

試験装置との位置合わせが従来よりも容易に行える半導体ウエハとその試験方法を提供する。 - 特許庁

This sliding test device/sliding test method is provided with thermocouples 118A, 118C for measuring temperatures of both end parts in one side of a slide bearing 3.例文帳に追加

すべり軸受３の一側の両端部の温度を測定する熱電対１１８Ａ，１１８Ｃを備えている。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DISCRIMINATING RESULT OF SPEECH UNDERSTANDING TEST AND STORAGE MEDIUM STORING DISCRIMINATING PROGRAM FOR RESULT OF SPEECH UNDERSTANDING TEST例文帳に追加

音声疎通試験結果判定方法及び装置及び音声疎通試験結果判定プログラムを格納した記憶媒体 - 特許庁

To provide a scan test method capable of readily performing scan test between chips at actual operation timing of each chip.例文帳に追加

各チップの実動作タイミングでチップ間のスキャンテストを簡単に行うことができるスキャンテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a fatigue test method capable of confirming a crack developing state on a plurality of repetition rates by a one-time test.例文帳に追加

１回の試験で複数の繰返し速度についてのき裂進展状況を確認可能な疲労試験方法の提供。 - 特許庁

TEST APPARATUS FOR EVALUATING DURABILITY OF CONCRETE, AND DURABILITY EVALUATING METHOD OF CONCRETE例文帳に追加

コンクリ—ト等の耐久性評価試験装置及びその耐久性評価方法 - 特許庁

To realize a method for a self-test of constitution elements of a semiconductor memory.例文帳に追加

半導体メモリー構成要素の自己試験のための方法を実現すること。 - 特許庁

MEDICAL TECHNOLOGY EQUIPMENT, TEST SPECIMEN AND CHECK METHOD OF POSITIONING ACCURACY OF PATIENT TABLE例文帳に追加

医療技術機器、試験体、および患者テーブルの位置決め精度のチェック方法 - 特許庁

TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR STORAGE CIRCUIT, AND READOUT CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR STORAGE CIRCUIT例文帳に追加

半導体記憶回路のテスト方法及び半導体記憶回路の読み出し回路 - 特許庁

HUMIDIFICATION CIRCUIT CONTROL DEVICE OF ENVIRONMENTAL TEST INSTRUMENT AND CONTROL METHOD OF THE HUMIDIFICATION CIRCUIT例文帳に追加

環境試験器の加湿回路制御装置及びその加湿回路制御方法 - 特許庁

TEST CHART OF LENS PROPERTY EVALUATING DEVICE AND MEASURING METHOD OF IMAGE MAGNIFICATION例文帳に追加

レンズの性能評価装置におけるテストチャート及び結像倍率の測定方法 - 特許庁

To provide a semiconductor test apparatus which can reduce the measurement time of a current test on a semiconductor device, and semiconductor test method.例文帳に追加

半導体素子の電流試験の測定時間を短縮することができる半導体試験装置及び半導体試験方法を提供すること。 - 特許庁

In this method 100 for assigning the test number, present test flow context information 300 is maintained during execution of a test flow 200 (102).例文帳に追加

テスト番号を割り当てる方法１００において、現行テストフローコンテキスト情報３００は、テストフロー２００の実行中維持される（１０２）。 - 特許庁

In this method (100) for assigning the test number, present test flow context information 300 is maintained during execution of a test flow 200 (102).例文帳に追加

テスト番号を割り当てる方法（１００）において、現在のテストフローコンテキスト情報３００は、テストフロー２００の実行中、維持される（１０２）。 - 特許庁

In this method for assigning the test number, present test flow context information 300 is maintained during execution of a test flow 200 (102).例文帳に追加

テスト番号を割り当てるための方法において、現行のテストフローコンテキスト情報３００は、テストフロー２００の実行中、維持される（１０２）。 - 特許庁