「parameter extraction method」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

SPICE PARAMETER EXTRACTION METHOD FOR TRANSISTOR例文帳に追加

トランジスタにおけるＳＰＩＣＥパラメータの抽出方法 - 特許庁

MOSFET MODEL AND PARAMETER EXTRACTION METHOD THEREOF例文帳に追加

ＭＯＳＦＥＴモデル及びそのパラメータ抽出方法 - 特許庁

PARAMETER SETTING METHOD, IMAGE PATTERN EXTRACTION METHOD, PARAMETER SETTING DEVICE, IMAGE PATTERN EXTRACTION DEVICE, AND PROGRAM FOR THESE METHODS例文帳に追加

パラメータ設定方法、画像パターン抽出方法、パラメータ設定装置、画像パターン抽出装置、およびこれら方法のプログラム - 特許庁

WIRING MODEL LIBRARY CONSTRUCTION DEVICE AND CONSTRUCTION METHOD, LAYOUT PARAMETER EXTRACTION DEVICE AND EXTRACTION METHOD例文帳に追加

配線モデルライブラリ構築装置及び構築方法、レイアウトパラメータ抽出装置及び抽出方法 - 特許庁

PATTERN RECOGNITION APPARATUS AND CREATING METHOD OF FEATURE EXTRACTION PARAMETER例文帳に追加

パターン認識装置および特徴抽出パラメータの生成方法 - 特許庁

PARAMETER EXTRACTION METHOD AND COMPUTER-READABLE STORAGE MEDIUM HAVING PROGRAM FOR EXECUTING PARAMETER EXTRACTION METHOD例文帳に追加

パラメータ抽出方法及び当該パラメータ抽出方法を実行させるプログラムを具備するコンピュータ読み取り可能な記憶媒体 - 特許庁

FUNDAMENTAL FREQUENCY TRAJECTORY MODEL PARAMETER EXTRACTION DEVICE, FUNDAMENTAL FREQUENCY TRAJECTORY MODEL PARAMETER EXTRACTION METHOD, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

基本周波数軌跡モデルパラメータ抽出装置、基本周波数軌跡モデルパラメータ抽出方法、プログラム及び記録媒体 - 特許庁

PARAMETER EXTRACTION METHOD, CIRCUIT OPERATION VERIFICATION METHOD, AND STORAGE MEDIUM HAVING PROGRAM FOR EXECUTING PARAMETER EXTRACTION METHOD例文帳に追加

パラメータ抽出方法及び回路動作検証方法並びに当該パラメータ抽出方法を実行させるためのプログラムを具備する記憶媒体 - 特許庁

MODELING METHOD OF DEVICE MISMATCH CHARACTERISTIC, AND EXTRACTION DEVICE OF MODEL PARAMETER例文帳に追加

デバイスミスマッチ特性のモデル化方法及びモデルパラメータの抽出装置 - 特許庁

PARAMETER EXTRACTION PROGRAM AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

パラメータ抽出プログラムおよび半導体集積回路の製造方法 - 特許庁

EXTRACTION METHOD FOR DEFECT ON PATTERN AND DECISION METHOD FOR PARAMETER USE THEREFOR例文帳に追加

パターンの欠陥抽出方法及びこれに用いられるパラメータ決定方法 - 特許庁

PATTERN RECOGNITION DEVICE, PATTERN RECOGNITION METHOD, AND METHOD FOR GENERATING CHARACTERISTIC EXTRACTION PARAMETER例文帳に追加

パターン認識装置、パターン認識方法、および特徴抽出パラメータの生成方法 - 特許庁

OPTIMUM PARAMETER EXTRACTION DEVICE AND EXTRACTION METHOD, AND MASK DATA, MASK AND PRODUCTION METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE USING THE METHOD例文帳に追加

最適パラメータ抽出装置及び抽出方法、並びに本方法を用いるマスクデータ、マスク及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

SIMULATOR OF TRANSISTOR, ITS PARAMETER EXTRACTOR, SIMULATION METHOD, PARAMETER EXTRACTION METHOD, AND ITS PROGRAM AND RECORD MEDIUM例文帳に追加

トランジスタのシミュレータ、そのパラメータ抽出装置、シミュレート方法、パラメータ抽出方法、並びに、そのプログラムおよび記録媒体 - 特許庁

EXTRACTION METHOD FOR PARAMETER OF CHARACTERISTIC MODEL AND RECORDING MEDIUM AS WELL AS MANUFACTURING METHOD FOR NONLINEAR ELEMENT例文帳に追加

物性モデルのパラメータ抽出方法及び記録媒体、並びに非線形素子の製造方法 - 特許庁

To provide a circuit parameter extraction apparatus and a circuit parameter extraction method with and by which characteristics of a semiconductor device can be simulated with a high degree of accuracy.例文帳に追加

半導体デバイスの特性シミュレーションを高精度で行なうことが可能な回路パラメータ抽出装置および回路パラメータ抽出方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image conversion parameter operation method allowing extraction of an optimum conversion parameter with a comparatively small calculation amount.例文帳に追加

比較的少ない計算量で最適な変換パラメータの抽出を可能とする画像変換パラメータ演算方法を提供する。 - 特許庁

To provide a stream information extracting method and stream information extraction device for efficiently acquiring an attribute from a parameter set extracted from stream data.例文帳に追加

ストリームデータから抽出されるパラメータセットからの属性取得を効率的に行うこと - 特許庁

AUTOMATIC EXTRACTION METHOD FOR INSTALLATION ATTITUDE PARAMETER OF IMAGE PICKUP DEVICE AND MONITORING SYSTEM USING THE IMAGE PICKUP DEVICE例文帳に追加

撮像装置の設置姿勢パラメータ自動抽出方法及び撮像装置を用いた監視システム - 特許庁

To provide a parameter extraction method for extracting an optimum value for a parameter of an element without depending on setting of a proper initial value based on a deep understanding and experience of a model and actual element characteristics in parameter extraction for a parameter element in a model expression having physical meanings.例文帳に追加

物理的な意味を有するモデル式におけるパラメータ素子のパラメータ抽出方法において、モデルや実際の素子特性などの深い理解や経験による適正な初期値を設定することによらず、素子のパラメータの最適値を抽出するパラメータ抽出方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

METHOD FOR SPICE PARAMETER EXTRACTION, SPICE CALCULATION AND DEVICE ANALYSIS OF PARTIAL DEPLETION TYPE SOI MOSFET例文帳に追加

部分空乏型のＳＯＩＭＯＳＦＥＴのＳＰＩＣＥパラメータ抽出、ＳＰＩＣＥ計算及びデバイス解析の方法 - 特許庁

The method for adaptively adjusting communication operations by revising a transmission parameter requires extraction of a communication parameter from a memory 215 and comparison between the extracted parameter with a prescribed threshold value 220.例文帳に追加

送信パラメータを変更することによって、適応的に通信動作を調整する方法は、メモリ２１５から通信パラメータを取り出すこと、およびその取り出したパラメータを所定の閾値２２０と比較することを必要とする。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR OBTAINING ESTIMATED VALUE VALUATING EXTENT OF DESIRED SIGNAL EXTRACTION AND METHOD AND DEVICE FOR CONTROLLING PARAMETER OF SIGNAL EXTRACTING DEVICE例文帳に追加

所望信号抽出の度合いを評価する評価値を求める方法および装置、ならびに信号抽出装置のパラメ—タ制御方法および装置 - 特許庁

To provide a diffusion resistance model that enables high-precision, practical simulations, and a parameter extraction method using the model.例文帳に追加

高精度で実用的なシミュレーションを可能にする拡散抵抗モデルと、これを用いたパラメータ抽出方法とを提供することを目的とする。 - 特許庁

To shorten a parameter extracting time in extraction technique for a parameter for expressing bias base current dependency as to a 1/f noise, as a large number of measuring data and a long time for extraction are required in a conventional method.例文帳に追加

１/ｆ雑音に関し、そのバイアスベース電流依存性をあらわすパラメータの抽出技術において従来の方法では抽出のための測定データの量が多く長時間を要していたので、このパラメータ抽出時間を短縮することを課題とする。 - 特許庁

To provide a modeling method of a device mismatch characteristic and an extraction device of a model parameter capable of optimizing balance between improvement of model error accuracy and shortage of a simulation time.例文帳に追加

モデル誤差精度の向上とシミュレーション時間の短縮とのバランスを最適化するデバイスミスマッチ特性のモデル化方法及びモデルパラメータの抽出装置を提供する。 - 特許庁

This method includes the reception of an analizable stream including a command and at least one parameter, the extraction of definition information describing an estimated parameter concerning the command, the generation of the object for storing at least one parameter with a format following the description of the estimated parameter by using the definition information and the transfer of the object to the command.例文帳に追加

この方法は、コマンドと少なくとも１つのパラメータとを含む解析可能ストリームを受け取ること、コマンドについての予想されるパラメータを記述する定義情報を取り出すこと、定義情報を使用して、予想されるパラメータの記述に従ったフォーマットで少なくとも１つのパラメータを記憶するためのオブジェクトを生成すること、および、オブジェクトをコマンドに渡すことを含む。 - 特許庁

The feature extraction parts b1-bn of the plural systems (n) similarly extract feature extraction data α1-αn from the rotary image data P1-Pn and a judgment part 4 obtains a parameter (estimated value) ω closest to a character corresponding to the image data Dc by executing a signal processing by a maximum likelihood estimation method to the feature extraction data α1-αn.例文帳に追加

同じく複数系統ｎの特徴抽出部ｂ１〜ｂｎが回転画像データＰ１〜Ｐｎから特徴抽出データα１〜αｎを抽出し、判定部４が特徴抽出データα１〜αｎに対して最尤推定法による信号処理を施すことで、画像データＤｃに対応する文字に最も近いパラメータ（推定値）ωを求める。 - 特許庁

To provide a camera work parameter calculation method necessary for a preprocess of sprite coding and moving object extraction of a video stored in a technological field of moving image processing, and to provide a device and a program executing the method, and a recording medium therefor.例文帳に追加

動画像処理の技術分野において蓄積された映像の移動物体抽出、スプライト符号化の前処理に必要なカメラワークパラメータ算出方法、この方法を実施する装置、プログラムおよびその記録媒体を提供する。 - 特許庁

To obtain technology which can speedily perform parameter extraction for obtaining a real solution as a parameter extracting method for a physical property model which can sufficiently decrease the values of errors that feature values in an error function have by the feature values even if the values of the errors have large and small differences.例文帳に追加

誤差関数内の各特性量において生じる誤差の値に大小の差があったとしても誤差の値を各特性量ごとに充分に減少できる物性モデルのパラメータ抽出方法であって、真の解を得るためのパラメータ抽出を迅速に行える技術を得る。 - 特許庁

To provide a method for cleaning an ion implanter, capable of cleaning using a raw material gas without additionally providing a complicated parameter setup or mechanism and a cleaning gas introduction system, for removing a W deposit between slits of extraction electrodes comprising tungsten W after performing ion implantation using BF_3 as a raw material gas, and to provide a cleaning device having a mechanism for the method.例文帳に追加

ＢＦ_３を原料ガスとするイオン注入を実施した後に、タングステンＷで構成される引き出し電極のスリット間のＷ堆積物を除去するため、複雑なパラメータ設定あるいは機構、クリーニング用ガスの導入系を別途設けることなく、原料ガスを用いたクリーニングを可能とするイオン注入装置のクリーニング方法及びそのための機構を有するクリーニング装置を提供する。 - 特許庁