sampleを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 30653件
SEMICONDUCTOR DEVICE AND SAMPLE-HOLD CIRCUIT例文帳に追加
半導体装置及びサンプルホールド回路 - 特許庁
SAMPLE PREPARATION METHOD FOR FOAMED URETHANE例文帳に追加
発泡ウレタンの供試体作成方法。 - 特許庁
SAMPLE HEATING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡用試料加熱装置 - 特許庁
SAMPLE STAGE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
走査電子顕微鏡用試料ステージ - 特許庁
We need to take a blood sample, and also we’ll put you on a drip.例文帳に追加
採血や点滴もしますよ。 - 旅行・ビジネス英会話翻訳例文
OBSERVATION OF SAMPLE AND DEVICE THEREOF例文帳に追加
試料の観察方法およびその装置 - 特許庁
STANDARD SAMPLE FOR ELECTRIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
電気力顕微鏡用標準試料 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR COLLECTING BLOOD SAMPLE例文帳に追加
血液試料採取方法及び装置 - 特許庁
TRADE SAMPLE PROVIDING VIRTUAL STORE SYSTEM例文帳に追加
商品サンプル提供仮想店舗システム - 特許庁
SAMPLE MEASURING METHOD USING PHOTOMETER例文帳に追加
光度計を用いた試料測定方法 - 特許庁
SAMPLE DEPOSITING METHOD AND APPARATUS例文帳に追加
試料堆積方法、試料堆積装置 - 特許庁
SEPARATING APPARATUS AND METHOD OF SAMPLE例文帳に追加
試料の分離装置及び分離方法 - 特許庁
SAMPLE ANALYZER AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加
試料分析装置およびコンピュータプログラム - 特許庁
MICROCHEMICAL CHIP AND SAMPLE TREATMENT DEVICE例文帳に追加
マイクロ化学チップ及び検体処理装置 - 特許庁
PLASMA TREATMENT APPARATUS AND SAMPLE STAGE THEREFOR例文帳に追加
プラズマ処理装置及びその試料台 - 特許庁
The sample liquid is sampled from a first injection port (14) for the sample liquid obtained using the puncture element while the sample liquid is injected in a second injection port (201) for the sample liquid obtained using the sample injection element.例文帳に追加
穿刺具を用いて得られる試料液の場合は第1の注入口(14)から採取し、試料注入具を用いて得られる試料液の場合には第2の注入口(201)に注入する。 - 特許庁
EUCENTRIC ADJUSTMENT MECHANISM OF SAMPLE DEVICE例文帳に追加
試料装置のユーセントリック調整機構 - 特許庁
SURFACE EVALUATION DEVICE AND PAINTING SAMPLE例文帳に追加
表面評価装置及び塗装標本 - 特許庁
SAMPLE OBSERVING DEVICE AND ITS CORRECTING METHOD例文帳に追加
試料観察装置とその補正方法 - 特許庁
SYSTEM FOR FORMING ATOMIZED SAMPLE SPECIMEN-CONTAINING SOLUTION TO BE INTRODUCED INTO SAMPLE ANALYZING SYSTEM AND SAMPLE INTRODUCING SYSTEM例文帳に追加
試料分析システムに導入する霧状試料検体含有溶液を作成するシステムおよび試料導入システム - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR COLLECTING GAS SAMPLE例文帳に追加
気体試料採集方法及び装置 - 特許庁
METHOD FOR COLLECTING SAMPLE OF MILK OF MILKING MACHINE例文帳に追加
搾乳機の試料乳採取方法 - 特許庁
SAMPLE HOLDER, APPARATUS AND METHOD FOR LASER ABLATION AND FOR ANALYZING SAMPLE, AND HOLDING BASE FOR SAMPLE HOLDER例文帳に追加
試料ホルダ、レーザアブレーション装置、レーザアブレーション方法、試料分析装置、試料分析方法及び試料ホルダ用保持台 - 特許庁
To provide a sample plate being a functional sample plate which has a sample fixed to its surface and ionizes the sample by applying energy to the sample, simplified in manufacturing process and flexibly altered in its constitution.例文帳に追加
表面に固着されるサンプルにエネルギーを与えることによりこれをイオン化させる機能性サンプルプレートであって、製作工程が簡略化され、構成を柔軟に変更可能なサンプルプレートを提供する。 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR LAMINA SAMPLE PREPARATION例文帳に追加
薄片試料作製装置及び方法 - 特許庁
To provide a sample measuring apparatus capable of accurately determining the reaction end point of a sample and the characteristic of the sample.例文帳に追加
試料の反応終了点及び試料の特性を正確に求めることができる試料測定装置を提供する。 - 特許庁
Besides, the analysis method includes: a process for putting a sample into the inner tube 12 of the NMR sample tube 10; and a process for measuring the NMR of the sample by using the NMR sample tube 10 in which the sample is put.例文帳に追加
また、分析方法は、NMR試料管10の内管12に試料を入れる工程と、試料が入れられたNMR試料管10を用いて、試料のNMRを測定する工程を有する。 - 特許庁
An input data sample acquisition part 11 obtains a first data sample and a second data sample, both of which are composed of multi-dimensions.例文帳に追加
入力データサンプル取得部11は、いずれも多次元である第1のデータサンプル、および第2のデータサンプルを取得する。 - 特許庁
INSPECTION APPARATUS AND INSPECTION METHOD FOR SAMPLE例文帳に追加
試料の検査装置及び検査方法 - 特許庁
INSPECTION METHOD AND INSPECTING APPARATUS FOR SAMPLE例文帳に追加
検体の検査方法及び検査装置 - 特許庁
COLLECTION METHOD OF SAMPLE FOR CONTAMINATION MEASUREMENT例文帳に追加
汚染測定用サンプルの採取方法 - 特許庁
To provide a sample enabling the clearer observation or analysis, a sample preparing method, and a sample preparing device.例文帳に追加
より明瞭な観察又は分析を可能にする試料、試料作製方法及び試料作製装置を提供すること。 - 特許庁
SAMPLE-AND-HOLD CIRCUIT AND AD CONVERTER例文帳に追加
サンプルホールド回路及びAD変換器 - 特許庁
SAMPLE INJECTION METHOD AND MICRO DEVICE例文帳に追加
試料注入方法及びマイクロデバイス - 特許庁
SAMPLE SURFACE DEPOSIT INSPECTION SYSTEM, SAMPLE SURFACE DEPOSIT INSPECTION METHOD, SAMPLE SURFACE DEPOSIT ELIMINATION SYSTEM, SAMPLE SURFACE DEPOSIT STICKING SYSTEM AND SAMPLE SURFACE DEPOSIT DISPOSAL SYSTEM例文帳に追加
試料表面の付着物検査システム,試料表面の付着物検査方法,試料表面の付着物除去システム,試料表面の付着物固着システム並びに試料表面の付着物処理システム - 特許庁
SOLID PHASE EXTRACTION APPARATUS OF SAMPLE SOLUTION例文帳に追加
試料溶液の固相抽出装置 - 特許庁
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