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scanning interferometerの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 20件
WAVELENGTH SCANNING INTERFEROMETER例文帳に追加
波長走査干渉計 - 特許庁
MEASURING METHOD USING SINUSOIDAL WAVE-LIKE WAVELENGTH SCANNING INTERFEROMETER AND SINUSOIDAL WAVELIKE WAVELENGTH SCANNING INTERFEROMETER例文帳に追加
正弦波状波長走査干渉計による計測方法及び正弦波状波長走査干渉計 - 特許庁
SINUSOIDAL WAVELENGTH SCANNING INTERFEROMETER AND SINUSOIDAL WAVELENGTH SCANNING LIGHT SOURCE UNIT例文帳に追加
正弦波状波長走査干渉計及び正弦波状波長走査光源装置 - 特許庁
ERROR CORRECTION METHOD IN FREQUENCY ANALYSIS BY USING WAVELENGTH SCANNING LASER INTERFEROMETER例文帳に追加
波長走査レーザ干渉計を用いた周波数解析における誤差補正方法 - 特許庁
To provide a wavelength scanning interferometer advantageously used for highly accurately measuring an absolute distance to a moving object.例文帳に追加
移動する被検体までの絶対距離を高精度に計測するために有利な波長走査干渉計を提供する。 - 特許庁
DETECTION POINT SCANNING METHOD BY OPTICAL INTERFEROMETER INTEGRATED DRIVING IN OPTICAL COHERENCE TOMOGRAPHY AND OPTICAL COHERENCE TOMOGRAPHY DEVICE例文帳に追加
光コヒーレンストモグラフィーにおける光干渉計一体駆動による検知点走査方法及び光コヒーレンストモグラフィー装置 - 特許庁
As a reticle stage is 19 moved, a reference phase cycle which is a reference for scanning exposure is generated, using an interferometer 22A.例文帳に追加
また、レチクルステージ19の移動に伴い、干渉計22Aにより走査露光の基準となる基準位相周期を発生させる。 - 特許庁
The optical system of the present invention comprises any one or more of reflectometer, polarimeter, imaging, interferometer, and/or scanning angle system.例文帳に追加
本光学システムは、反射計、偏光計、画像化、干渉計、および/または走査角システムのうちの任意の1つ以上を備える。 - 特許庁
To highly accurately measure a scanning quantity of an aspherical face to be inspected without using reflected rays of light in the neighborhood of a vertex of the aspherical face to be inspected in aspherical face measurement by a scanning type interferometer.例文帳に追加
走査型干渉計による非球面測定において、被検非球面の頂点付近反射光を使用せずに被検非球面の走査量を高精度に測定する。 - 特許庁
To measure an optical path difference above wavelength with high accuracy and in real time by a sinusoidal wave-like wavelength scanning interferometer.例文帳に追加
正弦波状波長走査干渉計により波長以上の光路差を高精度で、かつ実時間で測定することができるようにする。 - 特許庁
To provide a low-coherence interferometer which improves measurement efficiency by reducing the width of the scanning range of an optical path length difference.例文帳に追加
光路長差のスキャン範囲の幅を縮小して測定の効率化を図るのに適した構成の低コヒーレンス干渉計を提供する。 - 特許庁
CANTILEVER ARRAY, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE SAME, SLIDING DEVICE FOR GUIDE AND ROTATION MECHANISM, SENSOR, HOMODYNE LASER INTERFEROMETER, LASER DOPPLER INTERFEROMETER WITH PHOTOEXCITATION FUNCTION OF SAMPLE AND EXCITATION METHOD FOR CANTILEVER例文帳に追加
カンチレバーアレイ、その製造方法及びそれを用いた走査型プローブ顕微鏡、案内・回転機構の摺動装置、センサ、ホモダインレーザ干渉計、試料の光励振機能を有するレーザドップラー干渉計ならびにカンチレバーの励振方法 - 特許庁
To facilitate quick and highly-accurate shape measurement by using a simple constitution, concerning a fringe scanning interference fringe measuring method and an interferometer.例文帳に追加
フリンジスキャン干渉縞計測方法および干渉計において、簡素な構成を用いて、容易かつ高精度な形状測定を迅速に行うことができるようにする。 - 特許庁
To provide a scanning type plane shape measuring device which takes highly accurate surface shape measurement of a large-size inspection surface by using an interferometer having a small observation region by reducing the influence of a movement error in scanning.例文帳に追加
走査時の運動誤差の影響を減少させ、観測領域が小さい干渉計を用いて大きなサイズの被検面に対して高精度な面形状測定を行うことができる走査型平面形状測定装置を提供する。 - 特許庁
To provide a system for spectroscopic analysis so as to preclude a stand-by time for obtaining an interferogram of an average frequency of a CPU and a period during which an interferometer does not obtain the interferogram from being generated during a prescribed frequency of scanning executed by the interferometer, so as to output spectroscopic analysis results continuously in plural channels.例文帳に追加
干渉計が行う所定の回数の走査中に、CPUの平均回数分のインターフェログラム取得時の待機時間と干渉計がインターフェログラムを取得していない期間が発生せず、複数チャンネルで連続して分光分析結果を出力する分光分析システムを提供する。 - 特許庁
An interferometer 10 having a measuring aperture opening to the side of a plane 11a to be measured is fixed movably to a direct driven stage 12 and scanning is performed by driving the direct driven stage 12 in the X direction.例文帳に追加
干渉計10は、被測定面11a側に開口した測定開口を有して直動ステージ12に移動可能に取り付けられ、直動ステージ12を駆動させることによりX方向に走査される。 - 特許庁
A wavelength scanning interferometer measures an absolute distance to an object on the basis of a signal of interference light between reference light, which is divided from a light flux emitted from a light source while changing a wavelength of the light flux, and test light.例文帳に追加
波長走査干渉計は、光源から射出される光束の波長を変更しながら該光束から分割された参照光と被検光との干渉光の信号に基づいて被検体までの絶対距離を計測する。 - 特許庁
The wavelength scanning interferometer comprises a processing unit for calculating an absolute distance, in which an error component derived from movement of the object is reduced, on the basis of first time and subsequent second time at which the light flux emitted from the light source has the same wavelength, and a first frequency and a second frequency respectively corresponding to frequencies of the signal of the interference light at the first time and the second time.例文帳に追加
波長走査干渉計は、前記光源から射出される光束の波長が互いに等しい時刻である第1時刻およびその後の第2時刻と、前記第1時刻、前記第2時刻のそれぞれにおける前記干渉光の信号の周波数である第1周波数、第2周波数とに基づいて、前記被検体の移動による誤差成分が低減された絶対距離を算出する処理部を備える。 - 特許庁
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