| 例文 |
small scale testの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 26件
To provide a small-scale hydraulic test apparatus with high test precision.例文帳に追加
小型で、試験精度の高いものとする。 - 特許庁
To provide a large scale integrated circuit chip with test pins small in number.例文帳に追加
テストピンの数が少ない大規模集積回路チップを提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor integrated circuit including a self-test circuit having a small circuit scale.例文帳に追加
回路規模の小さい自己テスト回路を備えた半導体集積回路を提供する。 - 特許庁
To provide an image data rotation processing apparatus where the number of SRAMs in use is small, the circuit scale is small and the number of external test terminals is small.例文帳に追加
使用するSRAMの数が少なく、回路規模が小さく、テスト用の外部端子が少ない画像データ回転処理装置を得る。 - 特許庁
The load test program includes a small-scale test program 8 having few hardware resources to be assigned, compared with a hardware configuration of large computer, and control information 8a is added to the small-scale test program 8.例文帳に追加
負荷試験プログラムは、大規模コンピュータのハードウェア構成と比較して、割り当てるべきハードウェア資源が少ない小規模試験プログラム8を備え、小規模試験プログラム8には、制御情報8aが付加されている。 - 特許庁
To input a test signal in small scale without providing a test signal line in addition to a normal operation line.例文帳に追加
テスト信号ラインを通常動作用のラインとは別に設けることなく、小規模でテスト信号を入力することを可能とする。 - 特許庁
To provide a single test equipment that can realize normality test of a plurality of functions with a small circuit scale where components are shared in common.例文帳に追加
複数の機能の正常性試験を、単一の試験装置内で素子を共有化し、小規模な回路構成で実現可能な手段を提供する。 - 特許庁
To provide an integrated circuit(IC) incorporating a functional test circuit capable of testing a complicated logical process with a small circuit scale.例文帳に追加
小さな回路規模で複雑な論理処理を試験できる機能試験用の回路を内蔵したICを提供する。 - 特許庁
To test a multistage tristate control logic formed by connecting tristate logics in a serial direction simply and by a small-scale circuit.例文帳に追加
トライステートを直列方向に接続した多段のトライステート制御論理のテストを簡便かつ小規模回路で実現する。 - 特許庁
To provide a serial interface circuit surely conducting an operation confirmation test, while keeping the circuit scale small.例文帳に追加
回路規模を小さく抑えたまま、動作確認テストを確実に行なうことができるシリアルインターフェース回路を提供する。 - 特許庁
A plurality of small-scale test programs 8 is developed based on the selected rule and the control information 8a.例文帳に追加
そして、選択されたルールおよび制御情報8aに基づいて、小規模試験プログラム8を複数展開していく。 - 特許庁
To achieve device test equipment which can measure distribution of a busy time in a short period of time with a small scale circuit.例文帳に追加
ビジー時間の分布を短時間かつ小規模な回路で測定することができるデバイス試験装置を実現する。 - 特許庁
To produce a silver halide photographic sensitive material with photographic materials whose qualities are guaranteed without depending on a so-called "photographic property test", that is, a small-scale production test, and to produce pharmaceuticals, agricultural chemicals or cosmetics whose qualities are guaranteed without depending on an animal test.例文帳に追加
いわゆる「写真性試験」すなわち小規模製造試験に頼ることなく、品質を保証した写真用原料を用いてハロゲン化銀写真感光材料を製造すること。 - 特許庁
To enable a connection test between chips with a smaller scale circuit in a multi-chip module formed by mounting small chips on a large chip.例文帳に追加
大チップの上に小チップを実装してなるマルチチップモジュールにおいて、より小規模な回路で、チップ間接続テストを可能とする。 - 特許庁
To provide a method for a fermentation test of yeast by which the amount of a volatile component formed by the yeast can properly be evaluated in a small scale, and to provide an apparatus for the fermentation test.例文帳に追加
小スケールで酵母により生成された揮発性成分の量を適切に評価できる酵母の発酵試験方法及び発酵試験装置を提供する。 - 特許庁
To generate a varied large-scale test command sequence by a method arbitrarily combining plural small-scale unit command sequences, different from a conventional large-scale test command sequence-generating method requiring a complicated automatic command generation process for realizing a varied large-scale test because contents of the test command sequence are poor on account of difficulty of generation algorithm.例文帳に追加
大規模なテスト命令列の生成においては、生成アルゴリズムの難しさからテスト命令列の内容が乏しく、変化のある大規模なテストを実現するためには、複雑な処理を持つ命令自動生成処理を必要としていたが、本発明に示す方式により小規模な単位命令列を任意に複数組み合わせることによって、変化に富んだ大規模なテスト命令列を生成することを可能とする。 - 特許庁
To accurately measure pause times by simultaneously finishing a test sequence in a plurality of memories through a small scale circuit addition, in a memory pause test method and test circuit for a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加
半導体集積回路のメモリポーズテスト方法およびテスト回路において、小規模な回路の増加で、複数のメモリのテストシーケンスを同時に完了させることが可能となり、正確にポーズタイム測定が可能となることを目的とする。 - 特許庁
To implement a function verification by inputting arbitrary image data within small circuit scale, without the need to prepare a test pattern or an expected value.例文帳に追加
テストパターンや期待値を予め用意する必要がなく、少ない回路規模で、任意の画像データを入力して機能検証の実施を可能にする。 - 特許庁
In the material designing device 100 for a thin film stock produced by continuous casting, a solidified structure obtained by a small-scale test by a casting apparatus 210 for a test is arranged by local temperature history obtained by performing casting simulation obtained by simulating the small-scale test, thus the specification of a large-scale continuous casting apparatus 220 for mass production capable of reproducing the same local temperature history is decided by casting simulation.例文帳に追加
連続鋳造によって製造される薄膜素材の材料設計装置100において、試験用鋳造装置210による小規模試験で得られた凝固組織を、この小規模試験を模擬した鋳造シミュレーションを実施して得られた局所温度履歴で整理することによって、同一の局所温度履歴を再現し得る大規模な量産用連続鋳造装置220の仕様を、鋳造シミュレーションによって決定する。 - 特許庁
One test sequence can be thus finished simultaneously in the plurality of memories, so that a pause time of each memory can be accurately measured with a small scale circuit.例文帳に追加
この構成によれば、複数のメモリの1つのテストシーケンスを同時に完了させることが可能となり、各々メモリのポーズタイム測定を小規模な回路で、正確に実現できる。 - 特許庁
To provide a method for verifying non-damage property of a wooden framework member that can efficiently verify a non-damage property in high accuracy only through a small-scale combustion test on a test piece of wood constituting the wooden framework member.例文帳に追加
木製軸組部材を構成する木材の試験体について小規模な燃焼試験を行うだけで、精度の良い非損傷性の検証を効率良く行うことのできる木製軸組部材の非損傷性検証方法を提供する。 - 特許庁
To effectively utilize an existing pattern memory to conduct a desired IC test without increasing memories, even in an IC of which the number of pins is extremely small although a circuit scale is large.例文帳に追加
回路規模は大きいが、その一方、ピン数が極端に少ないICに対しても、既存のパターンメモリを有効に活用して、メモリの増強をすることなく、所望のICテストを行うことを可能とすること。 - 特許庁
To provide a semiconductor integrated circuit which can reduce a chip surface area by making small the scale of a wiring resource for obtaining a control signal, for example, during a scan chain or a scan test to increase wiring utilization efficiency.例文帳に追加
半導体集積回路において、例えばスキャンチェーンやスキャンテスト時の制御信号を実現するための配線リソースの規模を小さくし、配線の利用効率を高めて、チップ面積の削減を図る。 - 特許庁
To provide a burner for a gasification furnace, capable of finely spraying a fuel slurry without causing plugging of a passage even in a small- scale gasification furnace such as a test facility, enabling a stable operation by promoting the mixing with an oxidant, and improving gasification efficiency.例文帳に追加
試験設備等のような小型のガス化炉であっても、流路の閉塞を生じることなく燃料スラリーを微細に噴霧し得、酸化剤との混合を促進して安定した運転を行うことができ、ガス化効率の向上を図り得るガス化炉用バーナを提供する。 - 特許庁
| 例文 |
| Copyright © National Institute of Information and Communications Technology. All Rights Reserved. |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
